JP2013539532A - 最適にパラメータ化されたスキャッタロメトリモデルを自動決定するための方法 - Google Patents
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Abstract
【選択図】図2A
Description
本出願は、2010年7月22日出願の「METHOD FOR AUTOMATED DETERMINATION OF AN OPTIMALLY PARAMETERIZED SCATTEROMETRY MODEL」という名称の米国特許出願第12/841,932号(代理人番号第8536P005号)の優先権を主張するものであり、その米国特許出願の内容全体が本明細書の内容となる。
Claims (20)
- 測定されたスペクトル情報にモデルを当てはめるために、スキャッタロメトリ分析中に浮動させるべきスキャッタロメトリモデルパラメータの集合を識別するための方法であって、
前記測定されたスペクトル情報を受信するステップと、
複数のモデルパラメータ(N)を有するスキャッタロメトリモデルを受信するステップと、
前記測定されたスペクトル情報のヤコビ行列を計算するステップであって、前記ヤコビ行列は、前記複数のモデルパラメータそれぞれに関する列を含むステップと、
複数のパラメータ組合せにおける各モデルパラメータに関して前記ヤコビ行列から決定される精度測定基準に基づいてモデルパラメータ集合を識別するステップであって、改訂したスキャッタロメトリモデルにおいて所定のパラメータ値にモデルパラメータの前記集合の各パラメータを固定すべきことを含むステップと、
シミュレートされたスペクトル情報を生成するために、前記改訂したスキャッタロメトリモデルを用いて、前記測定されたスペクトル情報に対して回帰を行うステップと
を含む方法。 - 固定すべきモデルパラメータの前記集合を識別するステップは、さらに、
前記ヤコビ行列から導出したパラメータ列の複数の組合せを含むテスト行列を生成するステップと、
各組合せにおける前記パラメータ列それぞれに関して相対精度測定基準を計算するステップであって、前記相対精度測定基準は、前記パラメータに関連付けられる前記精度測定基準および予想プロセスばらつきの関数であるステップと、
各組合せに関する前記相対精度測定基準の極値に基づいて、前記相対精度測定基準のしきい値を満足し、最大数のパラメータ列を含む組合せを識別するステップと、
モデルパラメータを所定の値に同定するステップであって、前記モデルパラメータの各々は、前記識別された組合せの前記パラメータ列に対応する集合から除外されていることを含むステップと
を含む請求項1に記載の方法。 - 各識別された組合せにおける前記パラメータ列それぞれに関して前記相対精度測定基準を計算するステップは、さらに、
すべてのモデルパラメータに関してスペクトル雑音共分散(S)を求めるステップと、
前記Sから、前記テスト行列の前記パラメータ空間内での摂動の共分散(Cp)を求めるステップと、
前記Cpから決定される前記パラメータ精度測定基準を、そのパラメータに関する前記予想プロセスばらつきで割ることによって、前記相対精度測定基準を求めるステップとを含み、
前記相対精度測定基準の極値は、前記相対精度測定基準の最大値である
請求項2に記載の方法。 - 前記テスト行列を生成するステップは、さらに、
前記テスト行列を反復して編集するステップを含み、ここで、各連続反復に関して、前の前記テスト行列反復よりも1つ多い浮動パラメータを有する列のN個の組合せが、前記ヤコビ行列から複製されて、前の反復から決定された最低の相対精度測定基準を有するすべてのパラメータ組合せに付加され、
前記相対精度測定基準のしきい値を満足し、最大数のパラメータ列を含む組合せを識別するステップは、さらに、
前の反復において浮動するものとして設定されたパラメータと組み合わせたときに、最低の相対精度測定基準を有する前記パラメータ組合せを浮動させるステップと、
前記浮動されたパラメータの最大相対精度がしきい値に達したことに応答して、前記反復テスト行列編集を終了するステップと、
固定すべきパラメータの前記集合を識別するステップであって、モデルパラメータの集合は、最後のテスト行列編集反復で浮動される組合せから除外されていることを含むステップと
を含む請求項2に記載の方法。 - 前記テスト行列を生成するステップは、さらに、
前記ヤコビ行列からの列のすべての可能な組合せを前記テスト行列に追加するステップと、
前記テスト行列を繰り返し縮小するステップとを含み、ここで、各連続反復に関して、最高の相対精度測定基準と、前のテスト行列反復よりも1つ少ない浮動パラメータとを有する列の組合せが保持されるステップと
を含み、
前記相対精度測定基準のしきい値を満足し、最大数のパラメータ列を含む組合せを識別するステップは、さらに、
前の反復において浮動するものとして設定されたパラメータと組み合わされたときに、最低の相対精度測定基準を有する前記パラメータ組合せを浮動させるステップと、
前記浮動されたパラメータの最大相対精度がしきい値に達したことに応答して、前記反復テスト行列編集を終了するステップと、
最後のテスト行列編集反復で浮動される組合せから除外されている前記モデルパラメータの集合を、固定すべきパラメータの前記集合として識別するステップと
を含む請求項2に記載の方法。 - 前記テスト行列を生成するステップは、複数のテスト行列を生成するステップを含み、前記複数のテスト行列はそれぞれ、前記N個のパラメータのすべての可能な組合せを含む請求項2に記載の方法。
- 固定パラメータの前記集合の部分集合における各パラメータを連続的に浮動させるステップであって、前記部分集合は、しきい値範囲内の前記相対精度測定基準を有するステップと、
各追加のパラメータが浮動された後に、検証回帰を行うステップと、
前記検証回帰の残差の改良に応答して、前記追加のパラメータを新たな固定パラメータ値に固定するステップであって、前記新たな固定パラメータ値は、前記検証回帰から決定されるステップと
をさらに含む請求項2に記載の方法。 - 前記所定のパラメータ値と前記新たな固定パラメータ値との差を求めるステップと、
前記パラメータの精度測定基準に対して前記差を正規化するステップと、
前記正規化した差がしきい値よりも大きいことに応答して、前記改訂したスキャッタロメトリモデルと、新たな固定パラメータ値とを使用して、前記測定されたスペクトル情報のヤコビ行列を再計算するステップと
をさらに含む請求項7に記載の方法。 - 複数のパラメータ組合せにおける各モデルパラメータに関して、前記再計算されたヤコビ行列から決定される精度測定基準に基づいてモデルパラメータ集合を識別するステップであって、新たに改訂したスキャッタロメトリモデルにおいて所定のパラメータ値にモデルパラメータの前記集合の各パラメータを固定すべきことを含むステップと、
新たにシミュレートされたスペクトル情報を生成するために、前記新たに改訂したスキャッタロメトリモデルを用いて、前記測定されたスペクトル情報に対する回帰を行うステップと
をさらに含む請求項8に記載の方法。 - 前記測定されたスペクトル情報は、半導体ウェハ上に形成された回折格子を特徴付ける請求項1に記載の方法。
- 測定されたスペクトル情報にモデルを当てはめるために、スキャッタロメトリ分析中に浮動させるべきスキャッタロメトリモデルパラメータの集合を識別するための方法を実施するためのデータ処理システムを作動し、
前記測定されたスペクトル情報を受信し、
複数(N)のモデルパラメータを有する初期スキャッタロメトリモデルを受信し、
前記測定されたスペクトル情報のヤコビ行列を計算し、前記ヤコビ行列は、前記複数のモデルパラメータそれぞれに関する列を含み、
複数のパラメータ組合せにおける各モデルパラメータに関して前記ヤコビ行列から決定される精度測定基準に基づいてモデルパラメータ集合を識別し、改訂したスキャッタロメトリモデルにおいて所定のパラメータ値にモデルパラメータの前記集合の各パラメータを固定し、
シミュレートされたスペクトル情報を生成するために、前記改訂したスキャッタロメトリモデルを用いて、前記測定されたスペクトル情報に対して回帰を行う、
指示を記憶する機械アクセス可能記憶媒体。 - 固定すべきモデルパラメータの前記集合を識別するための指示は、さらに、
前記ヤコビ行列から複製されるパラメータ列の複数の異なる組合せを含むテスト行列を生成するための指示と、
各組合せにおける前記パラメータ列それぞれに関して相対精度測定基準を計算するための指示であって、前記相対精度測定基準は、前記パラメータに関連付けられる前記精度測定基準および予想プロセスばらつきの関数である指示と、
各組合せに関する前記相対精度測定基準の極値に基づいて、前記相対精度測定基準のしきい値を満足し、最大数のパラメータ列を含む組合せを識別するための指示と、
前記識別された組合せの前記パラメータ列に対応する集合内にない前記モデルパラメータをそれぞれ前記所定の値に固定するための指示と
を含む請求項11に記載の記憶媒体。 - 各識別された組合せにおける前記パラメータ列それぞれに関して前記相対精度測定基準を計算するための指示は、さらに、
すべてのモデルパラメータに関してスペクトル雑音共分散(S)を求めるための指示と、
前記Sから、前記テスト行列の前記パラメータ空間内での摂動の共分散(Cp)を求めるための指示と、
前記Cpから決定される前記パラメータ精度測定基準を、そのパラメータに関する前記予想プロセスばらつきで割ることによって、前記相対精度測定基準を求めるための指示とを含み、
前記相対精度測定基準の極値は、前記相対精度測定基準の最大値である
請求項12に記載の記憶媒体。 - 前記テスト行列を生成するための前記指示は、さらに、
前記テスト行列を反復して編集するための指示を含み、ここで、各連続反復に関して、前の前記テスト行列反復よりも1つ多い浮動パラメータを有する列のN個の組合せが、前記ヤコビ行列から複製されて、前の反復から決定された最低の相対精度測定基準を有するすべてのパラメータ組合せに付加され、
前記相対精度測定基準のしきい値を満足し、最大数のパラメータ列を含む組合せを識別するための指示は、さらに、
前の反復において浮動するものとして設定されたパラメータと組み合わされたときに、最低の相対精度測定基準を有する前記パラメータ組合せを浮動させるための指示と、
前記浮動されたパラメータの最大相対精度がしきい値に達したことに応答して、前記反復テスト行列編集を終了するための指示と、
固定すべきパラメータの集合として識別するための手段であって、モデルパラメータの集合は最後のテスト行列編集反復で浮動される組合せから除外されていることを含む指示と
を含む請求項12に記載の記憶媒体。 - 指示を記憶する機械アクセス可能記憶媒体であり、さらに、
固定パラメータの前記集合の部分集合における各パラメータを連続的に浮動させるための方法であって、前記部分集合は、しきい値範囲内の相対精度測定基準を有するパラメータを含み、前記相対精度測定基準は、前記パラメータに関連付けられる前記精度測定基準および予想プロセスばらつきの関数である方法と、
各追加のパラメータが浮動された後に、検証回帰を行うための方法と、
前記検証回帰の残差の改良に応答して、前記追加のパラメータを新たな固定パラメータ値に固定するための方法であって、前記新たな固定パラメータ値は、前記検証回帰から決定される方法を、実施するためのデータ処理システムを作動する、請求項12に記載の機械アクセス可能記憶媒体。 - 指示を記憶する機械アクセス可能記憶媒体であり、さらに、
前記所定のパラメータ値と前記新たな固定パラメータ値との差を求めるための方法と、
前記パラメータの精度測定基準に対して前記差を正規化するための方法と、
前記正規化した差がしきい値よりも大きいことに応答して、前記改訂したスキャッタロメトリモデルと、新たな固定パラメータ値とを使用して、前記測定されたスペクトル情報のヤコビ行列を再計算するための方法を、実施するためのデータ処理システムを作動する、請求項15に記載の機械アクセス可能記憶媒体。 - 未知のパラメータを有する試料回折構造を分析するための光計測学システムであって、
スキャッタロメトリモデルプリプロセッサを備え、
計測学システムによって測定されたスペクトル情報のヤコビ行列であって、複数の初期モデルパラメータそれぞれに関する列を含む前記ヤコビ行列を計算し、
複数のパラメータ組合せにおける各モデルパラメータに関して前記ヤコビ行列から決定される精度測定基準に基づいてモデルパラメータ集合を識別し、改訂したスキャッタロメトリモデルにおいて所定のパラメータ値に各パラメータを固定すべきことを含むように構成されるスキャッタロメトリモデルプリプロセッサを含み、
光計測学システムはさらに、前記改訂したスキャッタロメトリモデルを用いて、前記測定されたスペクトル情報に対して回帰を行って、シミュレートされたスペクトル情報を生成するための計測学プロセッサを備える
光計測学システム。 - 前記スキャッタロメトリモデルプリプロセッサは、さらに、
前記ヤコビ行列からのパラメータ列の複数の組合せを含むテスト行列を生成し、
各組合せにおける前記パラメータ列それぞれに関して相対精度測定基準を計算するように構成され、前記相対精度測定基準は、前記パラメータに関連付けられる前記精度測定基準および予想プロセスばらつきの関数であり、
各組合せに関する前記相対精度測定基準の極値に基づいて、前記相対精度測定基準のしきい値を満足し、最大数のパラメータ列を含む組合せを識別し、
前記識別された組合せのパラメータ列に対応する集合内にない前記モデルパラメータをそれぞれ前記所定の値に固定する
ように構成される請求項17に記載の光計測学システム。 - 前記スキャッタロメトリモデルプリプロセッサは、さらに、
固定パラメータの前記集合の部分集合における各パラメータを連続的に浮動させるように構成され、前記部分集合は、しきい値範囲内の相対精度測定基準を有するパラメータを含み、前記相対精度測定基準は、前記パラメータに関連付けられる前記精度測定基準および予想プロセスばらつきの関数であり、
各追加のパラメータが浮動された後に、検証回帰を行い、
前記検証回帰の残差の改良に応答して、前記追加のパラメータを新たな固定パラメータ値に固定するように構成され、前記新たな固定パラメータ値は、前記検証回帰から決定される
請求項18に記載の光計測学システム。 - 前記スキャッタロメトリモデルプリプロセッサは、さらに、
前記所定のパラメータ値と前記新たな固定パラメータ値との差を求め、
前記パラメータの精度測定基準に対して前記差を正規化し、
前記正規化した差がしきい値よりも大きいことに応答して、前記改訂したスキャッタロメトリモデルと、新たな固定パラメータ値とを使用して、前記測定されたスペクトル情報のヤコビ行列を再計算する
ように構成される請求項17に記載の光計測学システム。
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