JP2013527466A5 - - Google Patents

Description

図８に、連続塗膜ラインに埋め込まれることが意図される渦電流センサを使用して、厚さを測定する設備の自動制御の構造を概略的に示す。この図では、渦電流センサは１５Ａとして記され、温度測定信号を温度レコーダ２００に送信し得る。渦電流センサ１５Ａは、渦電流を測定する制御ボックス１０Ｂに接続され、制御ボックス１０Ｂは、当分野でそれ自体が既知である、渦電流による測定の実行に必要なすべての電子装置を含む。ボックスは、条片の横方向ガイドロールにより駆動されるパルス生成器１６にも接続される。パルス生成器１６のパルスは、それ自体が当業者に既知の電子整形手段１６Ａにより整形される。渦電流センサの電子制御ボックス１０Ｂは、条片の溶接の検出器１２にも接続され、検出器１２により、条片の発端を検出することができ、したがって、条片に対して行われた測定の位置を特定する。渦電流センサの電子制御手段１０Ｂはコンピュータ１００に接続され、コンピュータ１００はそれ自体、塗膜設備のプロセスを制御するコンピュータ１９に接続されて、一方では、条片の幅、長さ、及び厚さについての情報、一方では、条片の標的塗膜厚及び条片を構成する鋼の性質についての情報を受信することができ、他方では、このコンピュータに厚さ測定の結果を送信して、塗膜の厚さのマッピングとして記憶することができる。厚さ測定方法を行うコンピュータ１００は、渦電流センサにより測定される機械的装置１５にそれ自体が接続されたオートマトン１０１にも接続されて、この設備を制御し、すなわち、センサの位置決めを制御して、測定を実行できるようにし、条片の幾何学的厚さ欠陥がオートマトン１０１に接続された検出手段１３により検出された場合、退避位置へのセンサの高速設定を作動させ、平衡サンプルの位置決め、特に、液圧アクチュエータの膨脹を制御して、センサの平衡を実行することができる。オートマトン１０１は、電子整形ボックス１４Ａを介して消磁手段１４にも接続される。

Claims (19)

1. 渦電流を用いるセンサにより、条片の少なくとも１つのエリアで、塗膜層の厚さを表す数量が測定され、このエリアの前記塗膜層の厚さは、測定された前記数量と少なくとも１つの較正値から決定される、流れる条片の塗膜材料層の厚さを測定する方法において、
   渦電流センサを用いて行われる前記測定は、低励起周波数及び高励起周波数で前記流れる条片に面するコイルの複素インピーダンスの測定と、前記複素インピーダンス測定からの前記塗膜層の厚さを表す数量の生成とを含み、
   少なくとも１つの前記較正値は、渦電流センサを用いる前記測定が実行されるエリアの少なくとも１つの点で、Ｘ蛍光厚さゲージを用いて前記塗膜層の厚さ測定を実行することにより決定されることを特徴とする、方法。
2. 前記低励起周波数が、４０ｋＨｚ〜１５０ｋＨｚに含まれ、前記高励起周波数が４００ｋＨｚ〜１０００ｋＨｚに含まれることを特徴とする、請求項１に記載の方法。
3. 渦電流センサを用いて行われる前記測定が、基準サンプルに面するコイルの低励起周波数及び高励起周波数での前記複素インピーダンスの測定をさらに含み、前記塗膜層の厚さを表す数量が、前記条片に面する前記コイルの前記複素インピーダンスと、前記基準サンプルに面する前記コイルの前記複素インピーダンスとの差から決定されることを特徴とする、請求項１〜２のいずれか一項に記載の方法。
4. 前記条片が金属条片であることを特徴とする、請求項１〜３のいずれか一項に記載の方法。
5. 前記金属条片が鋼であり、前記塗膜が金属塗膜であることを特徴とする、請求項４に記載の方法。
6. 前記金属塗膜が、亜鉛又は亜鉛合金からなることを特徴とする、請求項５に記載の方法。
7. 渦電流センサを用いる測定を実行する前に、前記条片が消磁されることを特徴とする、請求項４〜６のいずれか一項に記載の方法。
8. 渦電流センサを用いる前記測定を実行するために、前記条片の表面に略平行し、且つ前記条片の流れる方向を横断して延びる少なくとも１つのラインに沿って配置された複数の渦電流センサが使用され、前記センサが順次励起して、前記条片の幅にわたって分布する一連の測定を得ることを特徴とする、請求項１〜７のいずれか一項に記載の方法。
9. 前記条片の幅にわたって分布する複数の前記一連の測定が、前記条片の縦方向変位信号から、前記一連の測定のそれぞれを作動させるタイミングをとることにより実行されることを特徴とする、請求項８に記載の方法。
10. 前記条片の縦方向変位信号が、前記条片に接触するロールにより駆動されるパルス生成器により生成されることを特徴とする、請求項９に記載の方法。
11. 前記少なくとも１つのラインの渦電流センサに対する前記条片の横方向位置が検出され、前記少なくとも１つのラインの渦電流センサに対する前記条片の横方向位置及び前記ラインのプローブ内の各センサの位置により、前記条片の幅に対する各測定エリアの位置が決定されることを特徴とする、請求項８〜１０のいずれか一項に記載の方法。
12. ２つの連続する条片間の溶接のような条片の発端が検出され、次に、前記条片の変位が連続して検出され、測定毎に、測定点と前記条片の発端を隔てる条片の長さが決定されて、前記条片の長さに対する前記測定エリアの位置が決定されることを特徴とする、請求項１１に記載の方法。
13. 前記条片の長さと幅に対する前記測定エリアの位置が、前記条片にわたる塗膜厚のマッピングを生成するために記録されることを特徴とする、請求項１２に記載の方法。
14. 前記条片が、溶融亜鉛めっき設備のような連続塗膜設備内を流れ、前記マッピングの少なくとも一部分が、閲覧手段を用いて前記塗膜設備の制御キャビン内でリアルタイムで表示され、及び／又は前記マッピングの少なくとも一部分が、前記塗膜設備の自動制御装置にリアルタイムで送信されて、前記制御装置が、前記塗膜設備の設定調整値を生成し、及び／又は前記マッピングが、品質制御目的でコンピュータ手段に記録されることを特徴とする、請求項１３に記載の方法。
15. 流れる条片（１）の塗膜層の厚さを連続測定する装置（９）において、
    支持梁（１５０）に少なくとも１つのラインで配置され、前記塗膜層の厚さを表す複数の数量を測定する複数の渦電流センサ（１５Ａ）と、
    前記条片（１）の進行を辿る少なくとも１つの手段（１２、１６）に接続された、前記渦電流センサ（１５Ａ）を制御する装置（１０Ｂ）と、
    前記複数の渦電流センサ（１５Ａ）及び較正値を決定するＸ蛍光厚さゲージ（１１）に対する前記条片（１）の横方向位置を検出する手段（１７）に特に接続された自動制御手段（１０）と、
    前記センサを制御する前記装置（１０Ｂ）及び前記自動制御手段（１０）に接続された、測定を制御し管理するコンピュータ手段（１００）と、を備え、
    前記コンピュータ手段（１００）は、前記条片（１）の横方向位置と前記条片（１）の進行とから、前記流れる条片（１）の長さと幅に対する、前記複数の渦電流センサ（１５Ａ）の位置を決定することと、前記複数の測定された数量と前記較正値とから前記塗膜層の厚みを決定することのために適合され、
    前記装置（９）は、請求項１〜１４のいずれか一項に記載の方法を実行するために適合されることを特徴とする、装置。
16. 前記渦電流センサ（１５Ａ）が差動型且つ２周波数型であることを特徴とする、請求項１５に記載の装置。
17. 前記渦電流センサのための前記支持梁（１５０）が、サービス位置（１６０）と退避位置（１６１）との間で移動可能に取り付けられ、前記装置が、前記自動制御手段（１０）により前記梁を前記サービス位置と前記退避位置との間で変位させる手段を備え、前記自動制御手段（１０）が、前記条片の幾何学的厚さ欠陥を検出する手段（１３）にも接続され、前記条片の幾何学的厚さ欠陥を検出した場合、前記自動制御手段（１０）及び前記梁を変位させる前記手段が、前記渦電流センサ（１５Ａ）を前記退避位置（１６１）に向けて変位させ、前記複数の渦電流センサ（１５Ａ）の変位は、前記条片（１）の幾何学的厚さ欠陥を避けられる程度に高速であることを特徴とする、請求項１５又は１６に記載の装置。
18. 塗膜装置と、塗膜後に条片を排出して処理するラインとを備え、流れる条片を連続塗膜する設備において、前記条片の排出・処理ラインに配置された請求項１５〜１７のいずれか一項に記載の装置（９）を備えることを特徴とする、設備。
19. 連続溶融亜鉛めっき設備のような金属又は金属合金で金属条片を溶融塗膜する設備であることを特徴とする、請求項１８に記載の条片を連続塗膜する設備。