JP2013517622A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2013517622A5
JP2013517622A5 JP2012548509A JP2012548509A JP2013517622A5 JP 2013517622 A5 JP2013517622 A5 JP 2013517622A5 JP 2012548509 A JP2012548509 A JP 2012548509A JP 2012548509 A JP2012548509 A JP 2012548509A JP 2013517622 A5 JP2013517622 A5 JP 2013517622A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
seed layer
region
semiconductor structure
interface
regions
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012548509A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2013517622A (ja
JP5727514B2 (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from US12/688,382 external-priority patent/US8105852B2/en
Application filed filed Critical
Publication of JP2013517622A publication Critical patent/JP2013517622A/ja
Publication of JP2013517622A5 publication Critical patent/JP2013517622A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5727514B2 publication Critical patent/JP5727514B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (11)

  1. ホスト基板部、及び
    前記ホスト基板部へ接合されるシード層であって、各領域が領域間の界面において最も近い隣り合う領域から完全に分離されている複数の領域を有するシード層、
    を含む基板を提供するステップと、
    前記シード層を緩和させるステップであって、前記シード層の隣接する領域は、前記緩和後、隣接する領域間における界面において互いに直接接触にある、ステップと、
    前記基板において、n型領域及びp型領域との間に配置される発光層を含む半導体構造を成長させるステップと、
    を含む方法であって、
    前記シード層に成長させられる半導体構造の上部表面は、前記複数のシード層領域のそれぞれよりも大きいか等しい横方向の拡がりの度合いを有し、
    前記半導体構造をマウント部へ接続するステップと、
    前記ホスト基板部を取り除くステップと、
    前記シード層を取り除くステップと、
    を有する、
    方法
  2. 請求項1に記載の方法であって、前記発光層はIII-窒化物層である、方法。
  3. 請求項1に記載の方法であって、前記界面は、前記シード層の厚さ全体を通じて延在する、方法。
  4. 請求項1に記載の方法であって、各領域は、前記界面により最も近い隣り合う領域から完全に分離されている、方法。
  5. 請求項1に記載の方法であって、前記界面は、前記シード層の隣接する領域間において化学的接合が実質的にない、方法。
  6. 請求項1に記載の方法であって、各領域は、1乃至10ミクロンの間の横方向の拡がりの度合いを有する、方法。
  7. ホスト基板部、及び
    前記ホスト基板部へ接合されるシード層であって、界面により分離される複数の領域を有するシード層、
    を含む基板を提供するステップであって、前記隣接する領域は、シード層材料の連続的なクモの巣状構造を形成するように接続され、シード層領域間の前記界面における隙間が1ミクロン幅よりも小さい、ステップと、
    前記基板において、n型領域及びp型領域との間に配置される発光層を含む半導体構造を成長させるステップと、
    を含む方法であって、
    前記シード層に成長させられる半導体構造の上部表面は、前記複数のシード層領域のそれぞれよりも大きいか等しい横方向の拡がりの度合いを有し、
    前記半導体構造をマウント部へ接続するステップと、
    前記ホスト基板部を取り除くステップと、
    前記シード層を取り除くステップと、
    を有する、
    方法。
  8. 請求項に記載の方法であって、前記発光層はIII-窒化物層である、方法
  9. ホスト基板部、及び
    前記ホスト基板部へ接合されるシード層であって、複数の領域を有するシード層、
    を含む基板を提供するステップであって、前記シード層は、結晶ユニットセルを有する結晶材料であり、各シード層領域は、前記結晶ユニットセルの回転対称性と同じ回転対称性を有するように形成され、各シード層領域が隙間又は界面によって最も近い隣り合うシード層領域から完全に分離される、ステップと、
    前記基板において、n型領域及びp型領域との間に配置される発光層を含む半導体構造を成長させるステップと、
    を含む方法であって、
    前記シード層に成長させられる半導体構造の上部表面は、前記複数のシード層領域のそれぞれよりも大きいか等しい横方向の拡がりの度合いを有し、
    前記半導体構造をマウント部へ接続するステップと、
    前記ホスト基板部を取り除くステップと、
    前記シード層を取り除くステップと、
    を有する、
    方法。
  10. 請求項に記載の方法であって、前記発光層はIII-窒化物層である、方法。
  11. 請求項に記載の方法であって、前記シード層は、ウルツ鉱であり、各シード層領域は、三角形又は六角形として成形される、方法
JP2012548509A 2010-01-15 2011-01-10 複合基板を形成し当該複合基板にiii−v発光装置を成長させる方法 Active JP5727514B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US12/688,382 US8105852B2 (en) 2010-01-15 2010-01-15 Method of forming a composite substrate and growing a III-V light emitting device over the composite substrate
US12/688,382 2010-01-15
PCT/IB2011/050096 WO2011086494A1 (en) 2010-01-15 2011-01-10 Method of forming a composite substrate and growing a iii-v light emitting device over the composite substrate

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2013517622A JP2013517622A (ja) 2013-05-16
JP2013517622A5 true JP2013517622A5 (ja) 2014-02-20
JP5727514B2 JP5727514B2 (ja) 2015-06-03

Family

ID=43827123

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012548509A Active JP5727514B2 (ja) 2010-01-15 2011-01-10 複合基板を形成し当該複合基板にiii−v発光装置を成長させる方法

Country Status (7)

Country Link
US (1) US8105852B2 (ja)
EP (1) EP2524400B1 (ja)
JP (1) JP5727514B2 (ja)
KR (2) KR101783796B1 (ja)
CN (1) CN102696120B (ja)
TW (1) TWI523256B (ja)
WO (1) WO2011086494A1 (ja)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8247886B1 (en) 2009-03-09 2012-08-21 Soraa, Inc. Polarization direction of optical devices using selected spatial configurations
US9583678B2 (en) 2009-09-18 2017-02-28 Soraa, Inc. High-performance LED fabrication
US10147850B1 (en) 2010-02-03 2018-12-04 Soraa, Inc. System and method for providing color light sources in proximity to predetermined wavelength conversion structures
US8536022B2 (en) * 2010-05-19 2013-09-17 Koninklijke Philips N.V. Method of growing composite substrate using a relaxed strained layer
US9450143B2 (en) * 2010-06-18 2016-09-20 Soraa, Inc. Gallium and nitrogen containing triangular or diamond-shaped configuration for optical devices
US8686461B2 (en) 2011-01-03 2014-04-01 SemiLEDs Optoelectronics Co., Ltd. Light emitting diode (LED) die having stepped substrates and method of fabrication
US8786053B2 (en) 2011-01-24 2014-07-22 Soraa, Inc. Gallium-nitride-on-handle substrate materials and devices and method of manufacture
US8686431B2 (en) 2011-08-22 2014-04-01 Soraa, Inc. Gallium and nitrogen containing trilateral configuration for optical devices
US9646827B1 (en) 2011-08-23 2017-05-09 Soraa, Inc. Method for smoothing surface of a substrate containing gallium and nitrogen
US9978904B2 (en) 2012-10-16 2018-05-22 Soraa, Inc. Indium gallium nitride light emitting devices
US8994033B2 (en) 2013-07-09 2015-03-31 Soraa, Inc. Contacts for an n-type gallium and nitrogen substrate for optical devices
US9419189B1 (en) 2013-11-04 2016-08-16 Soraa, Inc. Small LED source with high brightness and high efficiency
CN105244423B (zh) * 2015-10-30 2018-11-20 漳州立达信光电子科技有限公司 无衬底led芯片的封装方法及无衬底led芯片
US10756235B2 (en) 2017-03-09 2020-08-25 Enkris Semiconductor, Inc Stripped method for preparing semiconductor structure
CN110600435A (zh) * 2019-09-05 2019-12-20 方天琦 多层复合基板结构及其制备方法
GB2586862B (en) * 2019-09-06 2021-12-15 Plessey Semiconductors Ltd LED precursor incorporating strain relaxing structure
GB2593693B (en) * 2020-03-30 2022-08-03 Plessey Semiconductors Ltd LED precursor

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2681472B1 (fr) * 1991-09-18 1993-10-29 Commissariat Energie Atomique Procede de fabrication de films minces de materiau semiconducteur.
US6265289B1 (en) * 1998-06-10 2001-07-24 North Carolina State University Methods of fabricating gallium nitride semiconductor layers by lateral growth from sidewalls into trenches, and gallium nitride semiconductor structures fabricated thereby
US6177688B1 (en) * 1998-11-24 2001-01-23 North Carolina State University Pendeoepitaxial gallium nitride semiconductor layers on silcon carbide substrates
US6261929B1 (en) * 2000-02-24 2001-07-17 North Carolina State University Methods of forming a plurality of semiconductor layers using spaced trench arrays
FR2817394B1 (fr) * 2000-11-27 2003-10-31 Soitec Silicon On Insulator Procede de fabrication d'un substrat notamment pour l'optique, l'electronique ou l'optoelectronique et substrat obtenu par ce procede
JP4422473B2 (ja) * 2003-01-20 2010-02-24 パナソニック株式会社 Iii族窒化物基板の製造方法
US7361938B2 (en) * 2004-06-03 2008-04-22 Philips Lumileds Lighting Company Llc Luminescent ceramic for a light emitting device
EP1897151A4 (en) * 2005-06-22 2010-03-10 Seoul Opto Device Co Ltd ILLUMINATING ELEMENT AND METHOD FOR THE PRODUCTION THEREOF
US7273798B2 (en) * 2005-08-01 2007-09-25 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. Gallium nitride device substrate containing a lattice parameter altering element
JP2007048869A (ja) * 2005-08-09 2007-02-22 Sony Corp GaN系半導体発光素子の製造方法
KR100753152B1 (ko) * 2005-08-12 2007-08-30 삼성전자주식회사 질화물계 발광소자 및 그 제조방법
US7795050B2 (en) * 2005-08-12 2010-09-14 Samsung Electronics Co., Ltd. Single-crystal nitride-based semiconductor substrate and method of manufacturing high-quality nitride-based light emitting device by using the same
US8334155B2 (en) * 2005-09-27 2012-12-18 Philips Lumileds Lighting Company Llc Substrate for growing a III-V light emitting device
JP2007142345A (ja) * 2005-11-22 2007-06-07 Rohm Co Ltd 窒化物半導体発光素子
JP4807081B2 (ja) * 2006-01-16 2011-11-02 ソニー株式会社 GaN系化合物半導体から成る下地層の形成方法、並びに、GaN系半導体発光素子の製造方法
US7692198B2 (en) * 2007-02-19 2010-04-06 Alcatel-Lucent Usa Inc. Wide-bandgap semiconductor devices
FR2936903B1 (fr) * 2008-10-07 2011-01-14 Soitec Silicon On Insulator Relaxation d'une couche de materiau contraint avec application d'un raidisseur

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2013517622A5 (ja)
JP2016518713A5 (ja)
JP2016001738A5 (ja)
JP2017529692A5 (ja)
JP2014110333A5 (ja) Led装置の製造方法
JP2016100593A5 (ja)
WO2014068511A3 (en) Semiconductor device
JP2012142629A5 (ja)
WO2007036858A3 (en) Iii-v light emitting device
JP2012253293A5 (ja)
JP2009123717A5 (ja)
JP2010153823A5 (ja)
WO2012164437A3 (en) Light emitting device bonded to a support substrate
EP2595194A3 (en) Solar cell and method for manufacturing the same
JP2011009595A5 (ja) 半導体装置
JP2014072418A5 (ja)
WO2012108627A3 (en) Light emitting diode having photonic crystal structure and method of fabricating the same
WO2014144698A3 (en) Large-area, laterally-grown epitaxial semiconductor layers
JP2011060807A5 (ja) 半導体チップの製造方法
JP2009164593A5 (ja)
JP2014179569A5 (ja)
JP2012129518A5 (ja) 光電変換装置の作製方法
JP2012023343A5 (ja) 光電変換装置
JP2012023344A5 (ja) 光電変換装置
JP2012023348A5 (ja) 半導体装置