JP2010153823A5 - - Google Patents

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  1. 第1の基板上に第1の単結晶半導体層を設ける工程と、
    前記第1の単結晶半導体層上に、気相エピタキシャル成長法を用いて第2の単結晶半導体層を設ける工程と、
    前記第1の基板と第2の基板とを絶縁膜を介して貼り合わせ、前記第1の基板と第2の基板との間に前記第1の単結晶半導体層及び前記第2の単結晶半導体層を設ける工程と、
    前記第1の基板と前記第2の基板とを前記第1の単結晶半導体層と前記第2の単結晶半導体層との界面で分離して、前記第1の基板上に前記第1の単結晶半導体層を設け且つ前記第2の基板上に前記第2の単結晶半導体層を設ける工程と、
    を有することを特徴とする半導体基板の作製方法。
  2. 第1の基板と所定の深さに脆化層が形成された単結晶半導体基板とを絶縁膜を介して貼り合わせる工程と、
    前記単結晶半導体基板と前記第1の基板とを前記脆化層から分離して、前記第1の基板上に第1の単結晶半導体層を設ける工程と、
    前記第1の単結晶半導体層上に、気相エピタキシャル成長法を用いて第2の単結晶半導体層を設ける工程と、
    前記第1の基板と第2の基板とを絶縁膜を介して貼り合わせ、前記第1の基板と第2の基板との間に前記第1の単結晶半導体層及び前記第2の単結晶半導体層を設ける工程と、
    前記第1の基板と前記第2の基板とを前記第1の単結晶半導体層と前記第2の単結晶半導体層との界面で分離して、前記第1の基板上に前記第1の単結晶半導体層を設け且つ前記第2の基板上に前記第2の単結晶半導体層を設ける工程と、
    を有することを特徴とする半導体基板の作製方法。
  3. 第1の基板上に単結晶半導体層を設ける工程と、
    前記単結晶半導体層上に、気相エピタキシャル成長法を用いて、光電変換層を設ける工程と、
    前記光電変換層上に第1の導電膜を設ける工程と、
    前記第1の基板と第2の基板とを絶縁膜を介して貼り合わせ、前記第1の基板と第2の基板との間に、前記単結晶半導体層、前記光電変換層、及び前記第1の導電層を設ける工程と、
    前記第1の基板と前記第2の基板とを前記単結晶半導体層と前記光電変換層との界面で分離して、前記第1の基板上に前記単結晶半導体層を設け且つ前記第2の基板上に前記第1の導電層及び前記光電変換層を設ける工程と、
    前記光電変換層上に第2の導電層を設ける工程と、を有することを特徴とする半導体装置の作製方法。
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Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8048754B2 (en) * 2008-09-29 2011-11-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing SOI substrate and method for manufacturing single crystal semiconductor layer
JP2010114431A (ja) * 2008-10-10 2010-05-20 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Soi基板の作製方法
WO2011025939A1 (en) * 2009-08-28 2011-03-03 Analog Devices, Inc. Dual single-crystal backplate microphone system and method of fabricating same
US20110073967A1 (en) * 2009-08-28 2011-03-31 Analog Devices, Inc. Apparatus and method of forming a mems acoustic transducer with layer transfer processes
JP5755931B2 (ja) 2010-04-28 2015-07-29 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体膜の作製方法、電極の作製方法、2次電池の作製方法、および太陽電池の作製方法
KR101089948B1 (ko) * 2010-04-30 2011-12-05 삼성전기주식회사 회로기판 및 이의 제조방법
JP5912404B2 (ja) 2010-10-29 2016-04-27 株式会社半導体エネルギー研究所 光電変換装置
FR2967813B1 (fr) 2010-11-18 2013-10-04 Soitec Silicon On Insulator Procédé de réalisation d'une structure a couche métallique enterrée
DE102011080009A1 (de) * 2011-07-28 2013-01-31 Robert Bosch Gmbh Dünnschicht-Solarzelle
FR2998089A1 (fr) * 2012-11-09 2014-05-16 Soitec Silicon On Insulator Procede de transfert de couche
FR3061802B1 (fr) * 2017-01-11 2019-08-16 Soitec Substrat pour capteur d'image de type face avant et procede de fabrication d'un tel substrat
TWI692869B (zh) * 2019-05-03 2020-05-01 世界先進積體電路股份有限公司 基底及其製造方法
FR3098643B1 (fr) * 2019-07-09 2023-01-13 Commissariat Energie Atomique Fabrication d'un dispositif photosensible à semiconducteur
KR102590568B1 (ko) 2021-07-06 2023-10-18 한국과학기술연구원 이종 접합 반도체 기판, 그의 제조방법 및 그를 이용한 전자소자

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USRE29484E (en) * 1973-03-24 1977-11-29 Nippon Electric Company, Limited Barium titanate base ceramic composition having a high dielectric constant
FR2681472B1 (fr) 1991-09-18 1993-10-29 Commissariat Energie Atomique Procede de fabrication de films minces de materiau semiconducteur.
JP2994837B2 (ja) 1992-01-31 1999-12-27 キヤノン株式会社 半導体基板の平坦化方法、半導体基板の作製方法、及び半導体基板
EP1043768B1 (en) 1992-01-30 2004-09-08 Canon Kabushiki Kaisha Process for producing semiconductor substrates
JP3085184B2 (ja) 1996-03-22 2000-09-04 住友金属工業株式会社 Soi基板及びその製造方法
JPH1093122A (ja) 1996-09-10 1998-04-10 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 薄膜太陽電池の製造方法
JP3697052B2 (ja) * 1997-03-26 2005-09-21 キヤノン株式会社 基板の製造方法及び半導体膜の製造方法
CA2233096C (en) * 1997-03-26 2003-01-07 Canon Kabushiki Kaisha Substrate and production method thereof
JP3864495B2 (ja) 1997-05-15 2006-12-27 株式会社デンソー 半導体基板の製造方法
US6251754B1 (en) 1997-05-09 2001-06-26 Denso Corporation Semiconductor substrate manufacturing method
JPH1197379A (ja) 1997-07-25 1999-04-09 Denso Corp 半導体基板及び半導体基板の製造方法
US6534380B1 (en) 1997-07-18 2003-03-18 Denso Corporation Semiconductor substrate and method of manufacturing the same
JP3921823B2 (ja) 1998-07-15 2007-05-30 信越半導体株式会社 Soiウェーハの製造方法およびsoiウェーハ
JP4476390B2 (ja) * 1998-09-04 2010-06-09 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
JP2000349264A (ja) * 1998-12-04 2000-12-15 Canon Inc 半導体ウエハの製造方法、使用方法および利用方法
FR2817394B1 (fr) * 2000-11-27 2003-10-31 Soitec Silicon On Insulator Procede de fabrication d'un substrat notamment pour l'optique, l'electronique ou l'optoelectronique et substrat obtenu par ce procede
JP4296726B2 (ja) 2001-06-29 2009-07-15 株式会社Sumco 半導体基板の製造方法及び電界効果型トランジスタの製造方法
FR2855909B1 (fr) * 2003-06-06 2005-08-26 Soitec Silicon On Insulator Procede d'obtention concomitante d'au moins une paire de structures comprenant au moins une couche utile reportee sur un substrat
JP4771510B2 (ja) * 2004-06-23 2011-09-14 キヤノン株式会社 半導体層の製造方法及び基板の製造方法
JP2006216896A (ja) * 2005-02-07 2006-08-17 Canon Inc 太陽電池の製造方法
US20070063306A1 (en) * 2005-09-22 2007-03-22 Intel Corporation Multiple crystal orientations on the same substrate
JP2008001540A (ja) * 2006-06-21 2008-01-10 Mitsubishi Cable Ind Ltd 窒化物半導体結晶の製造方法
KR101503675B1 (ko) * 2007-04-06 2015-03-18 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 광기전력 장치 및 그 제조 방법
US7790563B2 (en) * 2007-07-13 2010-09-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device, electronic device and method for manufacturing semiconductor device
US7795114B2 (en) * 2007-08-10 2010-09-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Manufacturing methods of SOI substrate and semiconductor device
US7781308B2 (en) * 2007-12-03 2010-08-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing SOI substrate
CN101504930B (zh) * 2008-02-06 2013-10-16 株式会社半导体能源研究所 Soi衬底的制造方法
US8048754B2 (en) 2008-09-29 2011-11-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing SOI substrate and method for manufacturing single crystal semiconductor layer

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