JP2013251473A - 電力用半導体装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】放熱性に優れた電力用半導体装置を得手段を提供する。
【解決手段】基板の他方の面となるヒートスプレッダ4の放熱面4frに、熱伝導性グリース9を介して伝熱接合された冷却器6と、基板および冷却器6の外縁部に配置され、冷却器6と基板との間隔Gfを維持するように締め付ける締め付け機構7と、熱伝導性グリース9を保持するために、冷却器6と基板との間における締め付け機構よりも内側の所定範囲内に閉鎖空間を形成するグリース保持機構8と、を備え、グリース保持機構は、締め付け機構による締め付けが完了する前には閉鎖空間の内と外とを連通する連通孔を形成するとともに、締め付けが完了したときには連通孔が塞がるように構成した。
【選択図】図1

Description

本発明は、冷却器を備えた電力用半導体装置に関するものである。
一般的な電力用半導体装置では、スイッチング素子や整流素子として機能する電力用半導体素子が基板の一方の面に設けられ、電力用半導体素子で発生した熱を除去するための冷却器が他方の面側にネジを用いて取り付けられている。ところで、冷却器と基板との熱抵抗を低減するために、冷却器と基板との間に熱伝導性グリースを介在させている。そのため、取り付け作業時に、ネジのトルクが大きかったり、塗布した熱伝導性グリースが厚かったりすると、熱伝導性グリースがネジ穴に侵入する場合がある。熱伝導性グリースがネジ穴に侵入すると、ネジの締め付けトルクが経時的に減少して基板と冷却器との間隔が広がり、放熱性が悪化する問題がある。一方、熱伝導性グリースの進入を抑制するために、熱伝導性グリースの塗布範囲を制限しすぎると、熱抵抗を十分低減できず、かえって放熱性が低下することになる。
そこで、熱伝導性グリースの固定用ネジ穴への侵入を防ぐために、溝や突起で塗布面を囲うように構成したグリース拡散防止部を備えたパワーモジュール(電力用半導体装置)が提案されている(例えば、特許文献1参照。)。
特開2003−168772号公報(段落0013〜0029、図1〜図4)
しかしながら、溝で構成したグリース拡散防止部を使用した場合、取付作業時に熱伝導性グリースがネジ穴に侵入するのを防げたとしても、流動性のある熱伝導性グリースが使用中に徐々にネジ穴に浸入していくことを防ぐことは困難である。また、突起で構成、あるいは突起としてO−リングを用いたグリース拡散防止部を使用した場合、取り付け作業時に熱伝導性グリースに発生した気泡の排出が妨げられる。そのため、結果として、基板と冷却器間の熱伝導を損ねてしまい、所定の放熱効果が得られなくなるという問題点があった。
この発明は、上記のような問題点を解決するためになされたものであり、放熱性に優れた電力用半導体装置を得ることを目的とする。
本発明にかかる電力用半導体装置は、電力用半導体素子を含む電力回路が一方の面に形成された基板と、前記基板の他方の面に、熱伝導性グリースを介して伝熱接合された冷却器と、前記基板および前記冷却器の外縁部に配置され、前記冷却器と前記基板との間隔を維持するように締め付ける締め付け機構と、前記熱伝導性グリースを保持するために、前記冷却器と前記基板との間における前記締め付け機構よりも内側の所定範囲内に閉鎖空間を形成するグリース保持機構と、を備え、前記グリース保持機構は、前記締め付け機構による締め付けが完了する前には前記閉鎖空間の内と外とを連通する連通孔を形成するとともに、前記締め付けが完了したときには前記連通孔が塞がるように構成していることを特徴とする。
この発明によれば、組立中は連通孔によって熱伝導性グリースから発生する気泡を排出できるとともに、組立完了後は連通孔が塞がって熱伝導性グリースを所定範囲内にとどめることができるので、基板から冷却器への熱伝導が維持され、放熱性に優れた電力用半導体装置を得ることができる。
本発明の実施の形態1にかかる電力用半導体装置の構成を説明するための断面図である。 本発明の実施の形態1にかかる電力用半導体装置のグリース保持機構を構成する部材の平面図および部分側面図である。 本発明の実施の形態1にかかる電力用半導体装置のグリース保持機構の構成を説明するための組立工程中の状態を示す部分断面図である。 本発明の実施の形態1にかかる電力用半導体装置のグリース保持機構で使用するパッキンの変形例の部分側面図である。 本発明の実施の形態2にかかる電力用半導体装置のグリース保持機構を構成する部材の平面図および部分側面図である。 本発明の実施の形態2にかかる電力用半導体装置のグリース保持機構で使用するパッキンの平面図である。 本発明の実施の形態3にかかる電力用半導体装置のグリース保持機構で使用するパッキンの平面図である。
実施の形態1.
図1〜図3は、本発明の実施の形態1にかかる電力用半導体装置の構成を説明するためのもので、図1は電力用半導体装置の断面図、図2はグリース保持機構を構成する部材を説明するためのもので、図2(a)はヒートスプレッダの平面図、図2(b)はパッキンの平面図、図2(c)は図2(b)の視点cから見たときの部分側面図である。また、図3は、グリース保持機構の構成を説明するために、組立工程におけるパッキンおよびパッキンを設置するための溝近傍部分の状態を示したもので、図3(a)は冷却器を取り付ける際の締め込み前の状態の部分断面図、図3(b)は締め付け(取付)を完了したときの部分断面図である。なお、図1は図2(a)におけるA−A線の位置に対応する部分の断面を示している。
以下、図に基づいて説明する。
図1に示すように、電力用半導体装置1は、スイッチング素子や整流素子といった電力を制御する電力用半導体素子2と、一方の面(回路面3fc)に電力用半導体素子2を含む電力回路が形成された回路基板3と、回路基板3の他方の面(裏面3fr)に接合されたヒートスプレッダ4と、ネジ7によって、ヒートスプレッダ4の放熱面4fr側に取り付けられた冷却器6とを備え、ヒートスプレッダ4と冷却器6間には熱伝導性グリース9が充填されている。そして、本発明の実施の形態にかかる電力用半導体装置1の最大の特徴は、熱伝導性グリース9を所定領域内に保持するグリース保持機構の構成にある。
図2(a)に示すように、ヒートスプレッダ4の放熱面4frには、回路基板3の発熱領域を囲むように溝4gが設けられ、溝4gにパッキン8(Oリング)が設置されている。そして、放熱面4frの延在方向における溝4gの外側の4隅近傍部分にネジ締め用の穴4hが設けられ、冷却器6にも穴4hに対応したネジ穴6bが設けられている。そして、溝4gよりも内側の領域に熱伝導性グリース9を塗布し、ヒートスプレッダ4の放熱面4frと冷却器6の取付面6fcとが所定間隔になるまでネジ7を締め込み固定する。これにより、所定厚みの熱伝導性グリース9を介してヒートスプレッダ4と冷却器6とが伝熱接合される。このとき、図1に示すように放熱面4frとパッキン8の内側の面および冷却器6の取付面6fcとで閉鎖空間が形成され、熱伝導性グリース9は溝4g(厳密にはパッキン8と取付面6fcまたは放熱面4frとの境目)の内部に閉じ込められる。
熱伝導性グリース9のようなグリースは流動性を有すため、塗布、成形が容易であり界面熱抵抗が低いため、ヒートスプレッダ4から冷却器6への伝熱がスムーズに行われ、電力用半導体装置1の温度を最適に保つことが可能となる。しかし、その反面、使用中に、とくに高温の条件下では、経時変化によりグリースのオイル成分とフィラー成分の分離に伴うオイルブリードが発生することがある。その場合、熱伝導性グリース9がネジ7まではみ出てくるとネジ7の緩みにともなう放熱性の悪化だけでなく、回路基板3に達すると、電子部品が汚染されてしまうこともある。また、ヒートサイクルによりポンピングアウト、すなわち、気泡によりグリースが外に押し出される現象もあり、長時間使用すると、オイルブリードやポンピングアウトによって、放熱性が悪化するとともに装置が汚染される恐れがある。
しかし、上記のように、パッキン8を用いて熱伝導性グリース9を閉鎖空間内に閉じ込めるようにすることで、熱伝導性グリース9の流出による放熱性の悪化や回路部材の汚染を防止することができる。しかし、熱伝導性グリース9内に気泡を抱えていると、上述したポンピングアウトによってパッキン8によるシールを破り、熱伝導性グリース9が漏れ出てくるおそれがある。また、パッキン8により、熱伝導性グリース9の流出を防げたとしても、熱伝導性グリース9内に溜まった気泡によって、伝熱経路が寸断され、熱伝導性が低下する場合がある。
そこで、本実施の形態にかかる電力用半導体装置1では、グリース保持機構を構成するパッキン8に、図2(b)、(c)に示すように、パッキン8の内周側から外周側に抜ける切欠8nを設けている。切欠8nは、パッキン8の展開(周)方向に垂直な方向において一方の面側、つまり、冷却器6またはヒートスプレッダ4bに最初に接する部分から深さdまで切り込んであり、パッキン8の周方向に沿って4か所設けている。なお、パッキン8を溝4gに取り付ける際は、切欠8nを設けていない面が溝4gに向く(切欠8nがフラットな面(図では6fc)に向く)ように設置する。つまり、切欠8nは、少なくとも、ネジ7の締め込みによってパッキン8が圧縮されてしまうまでは、熱伝導性グリース9の塗布領域の内側と外側に連通する連通孔として機能する。
このような構成のパッキン8を用いてグリース保持機構を構成することにより、以下のように動作する。
冷却器6の取付面6fcとヒートスプレッダ4の放熱面4fr間には、熱伝導性グリース9を介在させているので、冷却器6の取り付け工程において、ネジ7の締め付けに伴い、熱伝導性グリース9が取付面6fcの延在方向に広がり、場合によっては、気泡が発生することがある。この際、熱伝導性グリース9の広がりは上述したようにパッキン8によって止められるので、ネジ穴6bに侵入することはない。また、熱伝導性グリース9が広がる際に発生した気泡は、連通孔として機能する切欠8nを介して外部に排出することが可能である。
その結果、ヒートスプレッダ4に冷却器6を取り付けるときには、熱伝導性グリース9が所定領域(溝4gより内側の領域)からはみ出してネジ穴6bに侵入することを防止できるとともに、熱伝導性グリース9の中の気泡を排出することによって、放熱性の低下を防止することができる。なお、パッキン8および切欠8nはネジ締めの途中で徐々に変形し、切欠8nによって形成された連通孔が、ネジ7による締め付けが完了した時点で、切欠8nがつぶれることにより塞がるように切欠8nの寸法等を設定する。これにより、締め付けが完了した後は、完全な閉鎖空間が形成され、使用中に熱伝導性グリース9が流出するのを防止することができる。その結果、オイルブリード及び熱伝導性グリース9のポンピングアウトによる放熱性の悪化が防止でき、パワーモジュールの長期信頼性を向上することができる。
このようにして、切欠8nを有するパッキン8を用いたグリース保持機構では、冷却器6の取付(ネジ7による締め込み)が完了する前には、保持領域の内と外とを連通する連通孔を保有し、取付が完了した際に保持領域を閉鎖空間にすることができる。これにより、組立中に発生した気泡を排除できるとともに、運転中に熱伝導性グリース9が保持領域内から外に出ることを防止することができ、電力用半導体装置1の信頼性を向上させることができる。
上記のように、締め付けが完了するまでは連通し、締め付け完了後に塞がる連通孔を有するために、塗布される熱伝導性グリース9の厚みや固定時の加圧力、ネジ7による締め付けトルク等の条件に応じて、パッキン8、切欠8n、および溝4gの形状や寸法が設定される。
例えば、パッキン8、溝4g及び切欠8nの寸法関係について、図3を参照しつつ説明する。図3(a)は、パッキン8の切欠8nが設けられた部分以外の部分を溝4gに設置した状態の断面の模式図を示す。なお、図3は、図1とは上下を逆に描いている。パッキン8は直径φのOリングであり、φの好適範囲は0.5〜4mmである。ヒートスプレッダ4には、幅Wg、深さDgの溝4gを設けており、幅Wgはパッキン8の直径φに合わせて設定する。基本的に、Wg≧φである。溝4gの深さDgは、必要な熱伝導性グリース9の厚さに応じて設定する。言うまでもなくDg<φである。
そして、ネジ7による締め込みが完了すると、図3(b)に示すように、取付面6fcと放熱面4frとの間隔は、設定値Gfになる。このときの、パッキン8の厚みの変形量をΔtとすると、切欠8nの深さdが変形量Δtの半分より小さい(d<Δt/2)値に設定した場合に、切欠8nによる連通孔は、ネジ締め付けが完了したときに塞がる。パッキン8の変形量Δtは、パッキン8の初期高さ(断面が円の場合は直径φ)と溝深さDgと取付面6fcと放熱面4frとの間隔Gfにより、式(1)のように表現できる。そのため、式(2)の関係を保つように各寸法を調整すれば、締め付けが完了した時点で塞がる連通孔を有することができる。
Δt=φ−Dg−Gf ・・・・(1)
2d<φ−Dg−Gf ・・・・(2)
さらに、本実施の形態においては、ネジ7による締込みが完了した時点において、変形したパッキン8の両サイドが、溝4gの側壁4gsと接触するように溝幅Wgを設定した。そのため、溝4gの側壁4gsとパッキン8間も密着するので、熱伝導性グリース9のはみ出し防止効果がさらに高まる。
なお、パッキン8の直径φを溝4gの幅Wgより小さくした場合は、パッキン8を溝4g内に設置した段階ではパッキン8と溝4gの側壁4gsとの間には隙間が生じることになる。その場合、切欠8nを設けている側を溝4g側になるようにパッキン8を溝4gに取りつけるようにしてもよい。さらに、この場合において、ネジ7による締込みが完了した時点で、変形したパッキン8の両サイドが溝4gの両側壁4gsと密着する場合には、必ずしも切欠8n自身がつぶれていなくてもよい。切欠8n部分で連通していても、溝4gより内側あるいは外側に通じる経路がパッキン8と両側壁4gsとで塞がれるので、結果として連通孔が塞がれることになるからである。。
なお、上述したように取付完了時に塞がる連通孔を有するように構成できれば、パッキン8の切欠8nの断面形状については、図2(c)に示すV形に限ることはなく、例えば、図4に示すような台形でもよい。また、図では単純に頂点を直線でつないだ形状のように記載しているが、接線を共有する曲線(円弧)を介して滑らかに変化するような形状であってよい。また、表面から切欠を設けることに限られず、厚み方向における中間部分に切れ目を設けるようにしてもよい。さらに、当然のことながら、切欠8nの数は4つに限ることなく、適宜増減すればよい。
熱伝導性グリース9としては、シリコーングリースを用いることができる。取付面6fcまたは放熱面4frへの塗布方法としては、へら塗り、スクリーン印刷、デスペンス、グラビア印刷、スタンピング等が用いられる。また、冷却器6は、熱交換により冷却できるものであり、水冷式でも空冷式でもよい。パッキン8はゴム系材料、例えば、シリコーンゴム、フッ素ゴムなどを用いることができる。パッキン8の断面形状は、上述したOリングのような円形に限ることはなく、四角形、円形などでもよい。
以上の説明では、溝4gはヒートスプレッダ4の放熱面4fr側に設ける例について示したが、言うまでもなく、冷却器6の取付面6fc側に設けても同様の効果を得ることが可能である。
金属製のヒートスプレッダ4は、アルミニウムの他に銅などの熱伝導性の高い金属が用いられる。なお、本実施の形態においては、ヒートスプレッダ4は回路基板3と別体で構成した例について説明したが、これに限ることはない。ヒートスプレッダ4自体に電力回路が形成されていてもよく、基本的にはヒートスプレッダ4と回路基板3とで電力回路を形成するための基板を構成すると考えてよい。つまり、本実施の形態や以降の実施の形態において、グリース保持機構における「ヒートスプレッダ4側」との表現は、「基板側」と読み替えればよい。
以上のように、本発明の実施の形態1にかかる電力用半導体装置1によれば、電力用半導体素子2を含む電力回路が一方の面に形成された基板である回路基板3とヒートスプレッダ4と、基板の他方の面となるヒートスプレッダ4の放熱面4frに、熱伝導性グリース9を介して伝熱接合された冷却器6と、基板(4)および冷却器6の外縁部に配置され、冷却器6と基板(4)との間隔Gfを維持するように締め付ける締め付け機構として機能するネジ7、ネジ穴6b、および穴4hと、熱伝導性グリース9を保持するために、冷却器6と基板(4)との間における締め付け機構よりも内側の所定範囲内に閉鎖空間を形成するために所定範囲を囲むように配置したグリース保持機構として機能するパッキン8と、を備え、グリース保持機構は、締め付け機構による締め付けが完了する前には閉鎖空間の内と外とを連通する連通孔を形成するとともに、締め付けが完了したときには連通孔が塞がるようにパッキン8に内周側から外周側に向かって抜ける欠損部として、切欠8nを設けた。これにより、取り付け時に熱伝導性グリース9がネジ穴6bに侵入することを防ぐとともに、熱伝導性グリース9の中の気泡を排出でき、放熱性の悪化を防止することが可能となり、また、使用中には、オイル成分または熱伝導性グリース9の流出を防止でき、パワーモジュールの信頼性を向上することができる。
さらに、グリース保持機構として、パッキン8を設置(位置決め)するために基板(4)および冷却器6の対向面4fr、6fcの内の少なくともいずれかの対向面に設けられた溝4gを有し、締め付けが完了したときにパッキン8と溝4gの側壁4gsが密着することによって連通孔が塞がるように構成したので、組立完了後の閉鎖空間の密閉度がさらに高まり、熱伝導性グリース9をしっかりと所定範囲内に保持することができる。
実施の形態2.
本実施の形態2では、実施の形態1で示したパッキンに切欠きのような欠損部を設けるのではなく、パッキンが取り付けられる側に突起を設けることにより連通孔を形成するようにしたものである。図5および図6は、本発明の実施の形態2にかかる電力用半導体装置のグリース保持機構の構成を説明するためのものである。図5(a)〜(c)は、パッキンが取り付けられる側であるヒートスプレッダの放熱面と冷却器の取付面の構成を説明するためのもので、図5(a)はヒートスプレッダの放熱面側の平面図、図5(b)は図5(a)の視点bから見たときのヒートスプレッダの部分側面図、図5(c)は冷却器の取付面側の平面図である。そして、図6はパッキンの平面図である。図5および図6に記載していない他の構成部分については実施の形態1で説明したものと同様であるので説明を省略する。
図5(a)および(b)に示すように、ヒートスプレッダ4の放熱面4fr側には、放熱面4frから突出する突起4pが設けられている。突起4pの配置位置は、図5(c)に示す冷却器6の取付面6fc側に設けられたパッキン用の溝6gに対応し、取付工程において溝6gに設置したパッキン8に当たるようになっている。そして、突起4pの高さ(放熱面4frからの突出高さ)は、溝6gの深さより低く設定され、ネジ7による締め付けが完了した時点での放熱面4frと取付面6fcとの間隔Gf(=熱伝導性グリース9の厚さ)は、突起4pがない時と同じように設計される。また、突起4pの幅は溝6gの幅より狭く、ネジ7による締め付け時、突起4pの先端が取付面6fcより奥に進行しても、突起4pが冷却器6に当たらないように設計される。なお、突起4pの先端が取付面6fcに達しないように設定している場合は、突起4pの幅は溝6gの幅より広くなってもよい。また、突起4pの先端が取付面6fcより奥に進行するように設定されている場合でも、取付面6fcより奥の部分(突起4pの先端部分)が溝6g内に収まるように設定していればよい。そして、図6に示すように、本発明の実施の形態2に使用するパッキン8は、実施の形態1と異なり、切欠8nのないものを使用している。
このように構成することで、冷却器6の取付は以下のように進行する。
冷却器6の溝6gにパッキン8を設置するとともに、溝6gよりも内側の領域に所定厚みの熱伝導性グリース9を塗布し、ヒートスプレッダ4の放熱面4frと取付面6fcとを位置を合わせて対向させる。そして、ネジ7により締め込みを行う。このとき、各突起4pがパッキン8に当たることになるので、ネジ7による締め付けの進行に伴い、パッキン8の突起4pが当たっている部分でわずかな変形が発生する。この変形により生じたパッキン8と突起4pの根元部分との隙間が熱伝導性グリース9を保持すべき領域と外部との連通孔となる。したがって、ネジ締めの進行にともない熱伝導性グリース9が面の延在方向に拡がる際に発生した気泡を連通孔を通じて外部に排出させることができる。一方、ネジ7による締め付けが完了した時点では、パッキン8の変形により、突起4pとパッキン8とが完全に密着するように設計することにより、熱伝導性グリース9を所定範囲内にとどめるグリース保持機構として機能する。
なお、本実施の形態2においては、パッキン8用の溝6gを冷却器6側に設けた例について説明したが、実施の形態1で説明したのと同様に、ヒートスプレッダ4側に溝を設け、冷却器6側に突起を設けるようにしてもよい。また、実施の形態1で説明したのと同様に、締め付け完了前は、パッキン8と溝6gの側面(符号を付けるとすると6gs)との間に隙間があり、締め付け完了後にパッキン8と溝6gの側面とが密着する場合には、溝6g内に突起(符号を付けるとすると6p)を設けるようにしてもよい。また、突起4pの形状は、例えば台形、半球形などでもよい。さらに突起4pの数も切欠8nと同様、適宜増減すればよい。
以上のように、本発明の実施の形態2にかかる電力用半導体装置1によれば、電力用半導体素子2を含む電力回路が一方の面に形成された基板である回路基板3とヒートスプレッダ4と、基板の他方の面となるヒートスプレッダ4の放熱面4frに、熱伝導性グリース9を介して伝熱接合された冷却器6と、基板(4)および冷却器6の外縁部に配置され、冷却器6と基板(4)との間隔Gfを維持するように締め付ける締め付け機構として機能するネジ7、ネジ穴6b、および穴4hと、熱伝導性グリース9を保持するために、冷却器6と基板(4)との間における締め付け機構よりも内側の所定範囲内に閉鎖空間を形成するために所定範囲を囲むように配置したパッキン8と、基板(4)および冷却器6のそれぞれの対向面4fr、6fcの少なくともいずれかの対向面から突出してパッキン8に対向する突起4pとを有するグリース保持機構と、を備え、突起4pがパッキン8を押圧した際に突起4pの根元とパッキン8との間に隙間が生じることによって閉鎖空間のの内と外とを連通する連通孔を形成するとともに、締め付けが完了したときには連通孔が塞がるように構成したので、取り付け時に熱伝導性グリース9がネジ穴6bに侵入することを防ぐとともに、熱伝導性グリース9の中の気泡を排出でき、放熱性の悪化を防止することが可能となり、また、使用中には、オイル成分または熱伝導性グリース9の流出を防止でき、パワーモジュールの信頼性を向上することができる。
さらに、グリース保持機構として、パッキン8を設置(位置決め)するために基板(4)および冷却器6の対向面4fr、6fcの内の少なくともいずれかの対向面に設けられた溝4gを有し、締め付けが完了したときにパッキン8と溝4gの側壁4gsが密着することによって連通孔が塞がるように構成したので、組立完了後の閉鎖空間の密閉度がさらに高まり、熱伝導性グリース9をしっかりと所定範囲内に保持することができる。
実施の形態3.
本実施の形態3では、実施の形態1においてパッキンに切欠を設ける代わりに、パッキンを周方向に分割した複数のパーツで構成するようにしたものである。図7はパッキンの平面図である。パッキン以外の構成部分については実施の形態1で説明したものと同様であるので説明を省略するとともに、一部説明等において符号等を援用する。
図7に示すように、パッキン8は、周方向に4分割された各パーツ8p1〜8p4で構成され、切欠8nの代わりに、溝4g内に配置した時に、パーツ間に隙間8sが生じるようにしたものである。溝4gに少なくとも一つ以上の隙間8sが形成されるよう各パーツ8p1〜8p4を周方向に並べたパッキン8が設置される。なお、隙間8sは、ネジの締め付け後、パッキン8の変形により、塞がるように設計する。具体的には、隙間8s、つまりパーツ間の間隔は0.5mmm以下が望ましい。
このように構成することで、冷却器6の取付は以下のように進行する。
ヒートスプレッダ4の溝4gにパッキン8の各パーツ8p1〜8p4を設置するとともに、溝4gよりも内側の領域に所定厚みの熱伝導性グリース9を塗布し、ヒートスプレッダ4の放熱面4frと取付面6fcとを位置を合わせて対向させる。そして、ネジ7により締め込みを行う。ネジ7を締め付ける前には、パッキン8の周方向の不連続部である隙間8sは熱伝導性グリース9を保持すべき領域と外部との連通孔となる。したがって、ネジ締めの進行にともない熱伝導性グリース9が面の延在方向に拡がる際に発生した気泡を連通孔を通じて外部に排出させることができる。
一方、ネジ7による締め付けの途中でパッキン8(の各パーツ8p1〜8p4)の変形により、隙間8sの間隔が徐々に狭くなる。そして、ネジ7による締め付けが完了した時点では、隙間8sの間隔がほぼゼロになるように設計することにより、熱伝導性グリース9を所定範囲内にとどめるグリース保持機構として機能する。つまり、実施の形態1におけるグリース保持機構と同様の効果が得られる。
なお、図7ではパッキン8を4つのパーツ8p1〜8p4で構成し、隙間8sを4つ設けた例について示したが、言うまでもなく、適宜増減しても上述した効果を得ることができる。また、各パーツ8p1〜8p2の端部形状も図示したように、内周側から外周側に直線状に形成することに限定されることはなく、例えば、斜めにしたり、部分的にかみ合うような形状にしてもよい。また、本実施の形態においても、溝は基板側に設けても、冷却器側に設けてもよい。
以上のように、本実施の形態3にかかる電力用半導体装置1によれば、電力用半導体素子2を含む電力回路が一方の面に形成された基板である回路基板3とヒートスプレッダ4と、基板の他方の面となるヒートスプレッダ4の放熱面4frに、熱伝導性グリース9を介して伝熱接合された冷却器6と、基板(4)および冷却器6の外縁部に配置され、冷却器6と基板(4)との間隔Gfを維持するように締め付ける締め付け機構として機能するネジ7、ネジ穴6b、および穴4hと、熱伝導性グリース9を保持するために、冷却器6と基板(4)との間における締め付け機構よりも内側の所定範囲内に閉鎖空間を形成するために所定範囲を囲むように複数のパーツ8ps〜8p4を配置して構成し、グリース保持機構として機能するパッキン8と、を備え、グリース保持機構は、締め付け機構による締め付けが完了する前には各パーツ間の隙間8sによって閉鎖空間の内と外とを連通する連通孔を形成するとともに、締め付けが完了したときには連通孔が塞がるように構成した。これにより、取り付け時に熱伝導性グリース9がネジ穴6bに侵入することを防ぐとともに、熱伝導性グリース9の中の気泡を排出でき、放熱性の悪化を防止することが可能となり、また、使用中には、オイル成分または熱伝導性グリース9の流出を防止でき、パワーモジュールの信頼性を向上することができる。
さらに、グリース保持機構として、パッキン8を設置(位置決め)するための基板(4)および冷却器6の対向面4fr、6fcの内の少なくともいずれかの対向面に設けられた溝4gを有し、締め付けが完了したときにパッキン8と溝4gの側壁4gsが密着することによって連通孔が塞がるように構成したので、組立完了後の閉鎖空間の密閉度がさらに高まり、熱伝導性グリース9をしっかりと所定範囲内に保持することができる。
なお、上記各実施の形態においては、温度変化等において部材が熱変形した際にも、熱伝導性グリース9を介して冷却器6とヒートスプレッダ4間の面圧が維持できるよう、圧縮に応じて変形するパッキン8を用いてグリース保持機構を構成する例について説明した。そのため、組立完了時には塞がる連通孔をパッキン8の変形を利用して形成したり塞いだりした例について説明したがこれに限ることはない。例えば、それ自体は変形しなくても、スリットの入った板材を互いにすれ違わせるように構成してもよい。この場合でも、熱伝導性グリース9を介した面圧が維持でき、かつ、組立が完了するまでは連通孔を有し、組立が完了すれば連通孔が塞がって所定領域を閉鎖空間にできる。つまり、上述した条件を満たす限り、形態を適宜変更可能である。
以上のように、上記各実施の形態にかかる電力用半導体装置1によれば、電力用半導体素子2を含む電力回路が一方の面に形成された基板である回路基板3とヒートスプレッダ4と、基板の他方の面となるヒートスプレッダ4の放熱面4frに、熱伝導性グリース9を介して伝熱接合された冷却器6と、基板(4)および冷却器6の外縁部に配置され、冷却器6と基板(4)との間隔Gfを維持するように締め付ける締め付け機構として機能するネジ7、ネジ穴6b、および穴4hと、熱伝導性グリース9を保持するために、冷却器6と基板(4)との間における締め付け機構よりも内側の所定範囲内に閉鎖空間を形成するグリース保持機構(パッキン8を用いる場合およびパッキンを用いない場合も含む)と、を備え、グリース保持機構は、締め付け機構による締め付けが完了する前には閉鎖空間の内と外とを連通する連通孔を形成するとともに、締め付けが完了したときには連通孔が塞がるように構成したので、組立中は連通孔によって熱伝導性グリース9から発生する気泡を排出できるとともに、組立完了後は連通孔が塞がって熱伝導性グリース9を所定範囲内にとどめることができるので、基板(3,4)から冷却器6への熱伝導が維持され、放熱性に優れた電力用半導体装置1を得ることができる。
なお、上記各実施の形態における電力用半導体装置1として図1によって示した構成は、主要部材のみを示した簡略図であり、例えば回路面3fc上の構成は適宜変更してもよいことは言うまでもない。なお、電力用半導体装置1内の主な発熱源となる電力用半導体素子2としては、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)やMOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)などのスイッチング素子や整流素子として機能する素子である。半導体材料としては、炭化ケイ素(SiC)を基材とするいわゆるワイドバンドギャップ半導体であり、裏面が回路基板3の回路面3fc側の銅の電極パターン3e上に接合され、能動面側は、例えば図示しない銅のリードが接続されている。そして、回路基板3の裏面側にはべた状の銅のパターンが形成され、ヒートスプレッダ4が接合されている。そして、ヒートスプレッダ4の放熱面4frと、図示しない端子の端部が露出するように、回路面3fcを含む全体をエポキシ樹脂5で封止して一体化(パッケージ化)している。
電力用半導体素子2は、上述した炭化ケイ素以外にも、シリコンやいわゆるワイドバンドギャップ半導体である、窒化ガリウム、ダイヤモンドなどが用いられる。
このような構成によれば、電力用半導体素子2で発生した熱は、回路基板3、ヒートスプレッダ4、熱伝導性グリース9を介して冷却器6に伝わる。このとき、熱伝導性グリース9内に気泡が溜まったり、あるいは、放熱面4frと取付面6fc間に熱伝導性グリース9が充填されていない隙間が生じると、熱抵抗が増大し、冷却能力が低下してしまう。つまり、電力用半導体素子2の温度を好適範囲に保つことができず、電力用半導体素子2の能力を十分に生かすことができなくなる。しかし、本実施の形態にかかる電力用半導体装置1では、組立中に熱伝導性グリース9で発生した気泡を抱え込んでしまうことなく、組立完了後は熱伝導性グリース9を所定範囲内に保持することがきるので、伝熱性を維持して温度を好適範囲に保ち、安定して性能を発揮することができる。
ここで、たとえば、スイッチング素子や整流素子として機能する電力用半導体素子2に、本実施の形態にかかる電力用半導体装置1で用いた炭化ケイ素のほか、窒化ガリウム系材料又はダイヤモンドといったワイドバンドギャップ半導体素子を用いた場合、従来から用いられてきたケイ素で形成された素子よりも電力損失が低いため、電力用半導体装置1の高効率化が可能となる。また、耐電圧性が高く、許容電流密度も高いため、電力用半導体装置1の小型化が可能となる。さらにワイドバンドギャップ半導体素子は、耐熱性が高いので、高温動作が可能であり、冷却器6の放熱フィンの小型化や、水冷部の空冷化も可能となるので、電力用半導体装置1の一層の小型化が可能になる。
しかし、SiC素子は従来のSi素子よりも高温の温度に耐え得るという特徴があることから、熱伝導性グリース9の使用温度環境は、従来よりも更に高温の温度領域に達する可能性がある。したがって、オイルブリードあるいはポンピングアウトがより生じやすい環境となり、本発明による、気泡を抱え込むことなく、グリースを保持する効果がより顕著に顕れる。
つまり、ワイドバンドギャップ半導体の特性を活かして、小型化や高効率化を進めても電力用半導体装置1のヒートサイクル耐性、パワーサイクル耐性を向上させ、電力用半導体装置1の長寿命化を実現することができる。つまり、本発明の各実施の形態による効果を発揮することで、ワイドバンドギャップ半導体の特性を活かすことができるようになる。
1:電力用半導体装置、
2:電力用半導体素子、
3:回路基板(基板)、
4:ヒートスプレッダ(基板)、
4fr:放熱面、4g:溝(グリース保持機構)、
4h:穴(締め付け機構)、4p:突起(グリース保持機構)、
6:冷却器、
6b:ネジ穴(締め付け機構)、6fc:取付面、
6g:溝(グリース保持機構)
7:ネジ(締め付け機構)、
8:パッキン(グリース保持機構)、
8n:切欠、 8p:パーツ、 8s:隙間、
9:熱伝導性グリース。

Claims (8)

  1. 電力用半導体素子を含む電力回路が一方の面に形成された基板と、
    前記基板の他方の面に、熱伝導性グリースを介して伝熱接合された冷却器と、
    前記基板および前記冷却器の外縁部に配置され、前記冷却器と前記基板との間隔を維持するように締め付ける締め付け機構と、
    前記熱伝導性グリースを保持するために、前記冷却器と前記基板との間における前記締め付け機構よりも内側の所定範囲内に閉鎖空間を形成するグリース保持機構と、を備え、
    前記グリース保持機構は、前記締め付け機構による締め付けが完了する前には前記閉鎖空間の内と外とを連通する連通孔を形成するとともに、前記締め付けが完了したときには前記連通孔が塞がるように構成していることを特徴とする電力用半導体装置。
  2. 前記グリース保持機構は、前記所定範囲を囲むように配置されたパッキンを有し、
    前記パッキンに内周側から外周側に向かって抜ける欠損部を設けることにより、前記連通孔が形成されるようにしたことを特徴とする請求項1に記載の電力用半導体装置。
  3. 前記欠損部は、前記パッキンの前記基板および前記冷却器の少なくともいずれかに接触する部分から所定深さに切欠いた切欠であることを特徴とする請求項2に記載の電力用半導体装置。
  4. 前記パッキンは、複数のパーツを前記所定範囲を囲むように周方向に並べたものであり、
    前記欠損部は、前記周方向に並べたパーツ間の隙間であることを特徴とする請求項2に記載の電力用半導体装置。
  5. 前記グリース保持機構は、前記所定範囲を囲むように配置されたパッキンと、前記基板および前記冷却器のそれぞれの対向面の少なくともいずれかの対向面から突出して前記パッキンに対向する突起とを有し、
    前記連通孔は、前記突起が前記パッキンを押圧した際に前記突起の根元と前記パッキンとの間に隙間が生じることによって形成されることを特徴とする請求項1に記載の電力用半導体装置。
  6. 前記グリース保持機構は、前記基板および前記冷却器の対向面の内の少なくともいずれかの対向面に設けられた前記パッキンを位置決めするための溝を有し、
    前記連通孔は、前記締め付けが完了したときに前記パッキンと前記溝の側壁が密着することによって塞がることを特徴とする請求項2ないし5のいずれか1項に記載の電力用半導体装置。
  7. 前記電力用半導体素子がワイドバンドギャップ半導体材料により形成されていることを特徴とする請求項1ないし6のいずれか1項に記載の電力用半導体装置。
  8. 前記ワイドバンドギャップ半導体材料は、炭化ケイ素、窒化ガリウム系材料、およびダイヤモンドのうちのいずれかであることを特徴とする請求項7に記載の電力用半導体装置。
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