JP2013250248A - 試験システムおよびサーバ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】サーバ300は、複数のコンフィギュレーションデータ306を格納する。テスターハードウェア100は、書き換え可能な不揮発性メモリ102に格納されたコンフィギュレーションデータ306に応じて、少なくともその機能の一部が変更可能に構成され、DUT4に対して電源電圧を供給し、DUT4に信号を送信し、DUT4からの信号を受信可能に構成される。情報処理装置200は、(i)試験システム2のセットアップ時に、ユーザの入力に応答してサーバ300からコンフィギュレーションデータ306を取得し、不揮発性メモリ102に書き込む。また情報処理装置200は、(ii)DUT4の試験時に、テストプログラムを実行し、テスターハードウェア100を制御するとともに、テスターハードウェア100によって取得されたデータを処理可能に構成される。
【選択図】図1
Description
たとえばメモリの機能検証試験では、まずメモリに所定のテストパターンが書き込まれる。続いて、DUTに書き込まれたデータがメモリから読み出され、それらが期待値と比較され、比較結果を示すパス・フェイルデータが生成される。同じメモリであっても、RAMとフラッシュメモリでは、書き込まれるテストパターンは異なる。また、書き込み、読み出しを行う単位や、シーケンスも異なっている。
また多くの半導体デバイスにおいて、バウンダリスキャンテストが実行される。
特に半導体デバイスは、世代によって規格が変更されることが多く、規格ごとに試験アルゴリズムは異なりうる。言い換えればユーザは、規格が変更になるたびに、膨大な量のテストプログラムを自ら作成し直す必要があった。
一例として、プロセッサのリーク電流のみを検査したいユーザがいるとする。従来のプロセッサ用試験装置にも、リーク電流の測定機能は備わっているが、それらを測定するためだけに、巨大で高価な試験装置を購入、使用することは、現実的ではない。したがって、従来ではユーザは、プロセッサに対する電源電圧を生成する電源装置、リーク電流を測定する電流計、プロセッサを所望の状態(ベクター)に制御するためのコントローラ、を用いて測定系を構築する必要があった。
またA/Dコンバータを評価したいユーザは、A/Dコンバータに対する電源電圧を生成する電源装置、A/Dコンバータの入力電圧を制御する任意波形発生器、を用いて測定系を構築する必要がある。
このように、個別に構築される試験システムは汎用性に乏しく、またその制御や得られるデータの処理も煩雑であった。
サーバは、それぞれが試験システムに異なる機能を提供するための複数のコンフィギュレーションデータを格納する。テスターハードウェアは、試験システムに関するサービス提供者によって設計、提供される。テスターハードウェアは、書き換え可能な不揮発性メモリを含み、当該不揮発性メモリに格納されたコンフィギュレーションデータに応じて、少なくともその機能の一部が変更可能に構成される。テスターハードウェアは、少なくとも、被試験デバイスに対して電源電圧を供給し、被試験デバイスに信号を送信し、被試験デバイスからの信号を受信可能に構成される。
情報処理装置は、(i)試験システムのセットアップ時に、ユーザが指定した試験内容に適したコンフィギュレーションデータを取得し、テスターハードウェアの不揮発性メモリにコンフィギュレーションデータを書き込む。さらに情報処理装置は、(ii)被試験デバイスの試験時に、テストプログラムを実行し、テストプログラムに応じて、テスターハードウェアを制御するとともに、テスターハードウェアによって取得されたデータを処理可能に構成される。
ユーザは、検査対象の被試験デバイスに最適なコンフィギュレーションデータを選択し、テスターハードウェアの不揮発性メモリに書き込むことにより、被試験デバイスを試験することができる。この態様によれば、被試験デバイスの種類や試験項目ごとに個別の試験装置(ハードウェア)を用意する必要がなくなるため、ユーザのコストの負担を軽減することができる。
また、新規のデバイスが開発され、従来存在しない試験が必要となった場合、サービス提供者あるいは第3者によって、その試験を実現するためのコンフィギュレーションデータが提供されるであろう。したがってユーザは、テスターハードウェアの処理能力の範囲内において、現在から将来にわたって開発されるデバイスを試験することが可能となる。
また従来では、開発段階の半導体デバイスを検査する際に、電源装置、任意波形発生器、オシロスコープやデジタイザなどを個別に用意し、それらを組み合わせて、所望の特性を測定する必要があったが、この試験システムによれば、情報処理装置とテスターハードウェアを用意すれば、さまざまな半導体デバイスを簡易かつ適切に試験できる。
この場合、ユーザの観点からは、研究者・開発者ごと、あるいは研究開発グループごとに、テスターハードウェアを保有することが可能となる。サービス提供者の観点からは、テスターハードウェアの普及を促すことができ、収益の機会を拡大することができる。
また従来の試験装置は巨大であったため、その移動は現実的には不可能であり、ユーザが被試験デバイスを試験装置まで搬送する必要があった。これに対してテスターハードウェアを小型化することにより、被試験デバイスの場所まで移動することが可能となり、試験装置を利用可能な状況を、従来よりも格段に広げることができる。
情報処理装置は、現在接続されているテスターハードウェアの不揮発性メモリに格納されたコンフィギュレーションデータの情報を取得し、そのコンフィギュレーションデータの識別情報を含む第1ライセンスキーが存在する場合に、その第1ライセンスキーに含まれる情報処理装置の識別情報が、自らの識別情報と一致するかを判定可能に構成されてもよい。テスターハードウェアは、それらの識別情報が一致する場合に、コンフィギュレーションデータに応じて動作可能に構成される。
つまり、サービス提供者は、コンフィギュレーションデータの許諾を、特定のテスターハードウェアとの組み合わせではなく、特定の情報処理装置との組み合わせを条件として、コントロールしてもよい。
使用ケースとして、ユーザが複数のテスターハードウェアを所持し、それらに同じコンフィギュレーションデータを書き込んでおき、それらを共通の情報処理装置によって制御したい場合がある。この場合に、ユーザの立場に立てば、個々のテスターハードウェアに対して許諾を得る必要がなくなり、ひとつの情報処理装置に対して、コンフィギュレーションデータの使用許諾を得れば足りるため、コストの観点でメリットを享受できる。特に、テスターハードウェア本体は、無償、あるいはきわめて安価に貸与、販売される場合には、このメリットは顕著である。
また、第1のテスターハードウェアが第1の場所にあり、第2のテスターハードウェアが第2の場所にあり、それらを移動させたくない場合もある。この場合、許諾された情報処理装置を、第1の場所、第2の場所に移動させることにより、第1、第2のテスターハードウェアを同じ情報処理装置で制御でき、共通の情報処理装置に、試験結果に関するデータを蓄積できる。
また、この態様では、テスターハードウェアによる試験時に、許諾された情報処理装置と接続されていれば足り、コンフィギュレーションデータの書き込みは、かならずしも許諾された情報処理装置によって行う必要はない。したがって、ユーザによる情報処理装置およびテスターハードウェアの管理に、柔軟性を提供することができる。
この態様によれば、サービス提供者およびユーザは、ある期間ごとに、コンフィギュレーションデータの使用許諾の契約を結ぶことができ、契約形態に柔軟性をもたらすことができる。
この態様によれば、ユーザは、従来のように煩雑なテストプログラムを自ら作成することなく、試験内容に適したプログラムモジュールを取得することにより、被試験デバイスを適切に試験できる。
この態様によれば、ユーザは、従来のように評価プログラムを自ら作成することなく、所望の評価手法に適したプログラムモジュールを取得することにより、被試験デバイスを適切に評価できる。
サーバは、それぞれが試験システムに異なる機能を提供するための複数のコンフィギュレーションデータを格納する。テスターハードウェアは、試験システムに関するサービス提供者によって設計、提供される。テスターハードウェアは、書き換え可能な不揮発性メモリを含み、当該不揮発性メモリに格納されたコンフィギュレーションデータに応じて、少なくともその機能の一部が変更可能に構成される。テスターハードウェアは、少なくとも、被試験デバイスに対して電源電圧を供給し、被試験デバイスに信号を送信し、被試験デバイスからの信号を受信可能に構成される。
情報処理装置は、(i)試験システムのセットアップ時に、ユーザが指定した試験内容に適したコンフィギュレーションデータを取得し、テスターハードウェアの不揮発性メモリにコンフィギュレーションデータを書き込む。さらに情報処理装置は、(ii)被試験デバイスの試験時に、テストプログラムを実行し、テストプログラムに応じて、テスターハードウェアを制御するとともに、テスターハードウェアによって取得されたデータを処理可能に構成される。
サーバは、複数のコンフィギュレーションデータおよびデータベースを格納する記憶部と、ユーザからの試験システムに関するサービスの利用申請を受け付け、ユーザの情報およびユーザが指定した情報処理装置の識別情報を、データベースに登録するデータベース登録部と、ユーザのログイン認証を行う認証部と、複数のコンフィギュレーションデータのリストを表示するリスト表示部と、ユーザからのコンフィギュレーションデータのダウンロード要求に応答して、コンフィギュレーションデータを情報処理装置に提供するダウンロード制御部と、ユーザからコンフィギュレーションデータの使用許諾の申請を受け付け、許諾すべきユーザに対して第1ライセンスキーを発行するライセンスキー発行部と、を備える。
図1は、実施の形態に係る試験システム2の構成を示すブロック図である。本明細書において、この試験システム2に関して提供されるサービスを、クラウドテスティングサービスとも称する。クラウドテスティングサービスは、サービス提供者PRVによって提供される。これに対して、試験システム2を利用してDUT4を試験する主体をユーザUSRという。
情報処理装置200_iは、汎用的なデスクトップPC(Personal Computer)、ラップトップPC、タブレットPC、ワークステーションなどを含む。情報処理装置200_iに最低限要求される機能は、(a)ネットワーク8に接続し、サーバ300にアクセスする機能、(b)サービス提供者から提供されるテストプログラムを実行する機能、(c)テスターハードウェア100との間でデータの送受信を行う機能であり、一般的に市販される情報処理装置の多くがこれらの機能を標準で備えており、情報処理装置は安価に入手可能である。
(i)試験システム2_iのセットアップ時に、ユーザの入力に応答してサーバ300から所望の試験内容に適したコンフィギュレーションデータ306を取得し、接続されたテスターハードウェア100_iの不揮発性メモリ102にコンフィギュレーションデータ306を書き込む。
(ii)DUT4の試験時に、テストプログラムを実行し、テストプログラムに応じて、テスターハードウェア100_iを制御するとともに、テスターハードウェア100_iによって取得されたデータを処理する。
テストプログラム240は、制御プログラム302と、プログラムモジュール304で構成される。制御プログラム302は、テストプログラム240のテストプログラムの基本となる部分であり、被試験デバイスの種類や試験内容に依存せず、共通に使用される。制御プログラム302によって、図2のハードウェアアクセス部212、認証部214、実行部220、テストフロー制御部222、割込・マッチ検出部224の機能が提供される。
試験アルゴリズムモジュール304aは、試験アルゴリズム、具体的には試験項目、試験内容およびテストシーケンス、テストパターンなどを定義するプログラムである。試験アルゴリズムモジュール304aは、DUTの種類(機能)別に、以下のものが例示される。
(1)DRAM
・機能検証用プログラム
・DC検査用プログラム(電源電流検査プログラム、出力電圧検査プログラム、出力電流検査プログラムなどを含む)
(2)フラッシュメモリ
・機能検証用プログラム
・DC検査用プログラム
(3)マイクロコントローラ
・機能検証プログラム
・DC検査用プログラム
・内蔵フラッシュメモリ評価プログラム
(4)A/Dコンバータ、D/Aコンバータ
・コンタクト検証プログラム
・リニアリティ(INL、DNL)検証プログラム
・出力電圧オフセット検証プログラム
・出力電圧ゲイン検証プログラム
・シュムープロット(2次元特性評価)ツール
・オシロスコープツール
・ロジックアナライザーツール
・アナログ波形観測ツール
サーバ300には、複数の試験アルゴリズムモジュール304aがサービス提供者PRVによって用意されている。ユーザは、DUT4の種類や試験内容に応じて、必要な解析ツールモジュール304bを取得し、テストプログラム240に組み込む。このようにして、テストプログラム240は、組み込まれる解析ツールモジュール304bに応じて、試験システム2が実行する試験内容、取得するデータの種類を、選択、変更することができる。
サーバ300は、記憶部310、申請受付部312、データベース登録部314、リスト表示部320、ダウンロード制御部322、ライセンスキー発行部324を備える。
続いてテスターハードウェア100の構成を説明する。図5は、テスターハードウェア100の外観を示す図である。テスターハードウェア100は、デスクトップサイズでポータブルに構成される。
テスターハードウェア100は、ACプラグ110を介して商用交流電源からの電力を受ける。テスターハードウェア100の背面には、テスターハードウェア100の電源スイッチ112が設けられる。
DUT4は、ソケット120に装着される。DUT4の複数のデバイスピンは、コネクタ122の複数のピン124それぞれと、ケーブル126を介して結線されている。テスターハードウェア100の前面パネルには、コネクタ122を接続するためのコネクタ114が設けられる。DUT4のピン数、ピン配置、あるいは同時測定するDUT4の個数などに応じて、さまざまなソケット120が用意される。
メモリの機能検証試験には、主として、デバイス電源140、信号発生器142、信号受信器144が利用される。デバイス電源140は、メモリに対して供給すべき電源電圧を生成する。
なお電源電圧は、リレースイッチ群160を経由せずに、メモリの電源ピンに対して専用の電源ラインを介してDUT4に供給されてもよい。
メモリのDC試験時には、主としてデバイス電源140およびパラメトリックメジャメントユニット152が用いられる。デバイス電源140は、メモリに対して供給すべき電源電圧を生成する。デバイス電源140は、自らの出力である電源電圧および電源電流を測定可能に構成されている。パラメトリックメジャメントユニット152は、リレースイッチ群160によってメモリの任意のピンに対応するテスターピンPIOに割り当てられる。デバイス電源140によって、電源電流、電源電圧変動が測定され、パラメトリックメジャメントユニット152によって任意のピンのリーク電流などが測定される。
また、あるテスターピンの電位と、そこに流れる電流を測定することにより、それらの比から、インピーダンスを計算でき、コンタクト不良の検出などに利用できる。
(i)マイクロコントローラの内部のメモリの機能検証試験は、1aと同様のハードウェアを用いて試験可能である。
マイクロコントローラのDC試験は、1bと同様のハードウェアを用いて試験可能である。
A/Dコンバータの機能検証試験には、主としてデバイス電源140、任意波形発生器148および少なくともひとつの信号受信器144が利用される。任意波形発生器148は、リレースイッチ群160によって、A/Dコンバータのアナログ入力端子に割り当てられ、所定の電圧範囲をスイープするアナログ電圧を生成する。少なくともひとつの信号受信器144はそれぞれ、A/Dコンバータのデジタル出力端子に割り当てられ、A/Dコンバータから、アナログ電圧の階調に応じたデジタルコードの各ビットを受信する。
A/DコンバータのDC試験は、1bと同様のハードウェアを用いて試験可能である。
D/Aコンバータの機能検証試験には、主としてデバイス電源140、少なくともひとつの信号発生器142およびデジタイザ150が利用される。少なくともひとつの信号発生器142はそれぞれ、D/Aコンバータのデジタル入力端子に割り当てられる。信号発生器142は、D/Aコンバータの入力デジタル信号をそのフルスケールに渡ってスイープする。
D/AコンバータのDC試験は、1bと同様のハードウェアを用いて試験可能である。
デジタイザ150をリレースイッチ群160によって任意のチャンネルに割り当て、デジタイザ150のサンプリング周波数を高めることにより、そのチャンネルを通過する信号の波形データを取得できる。波形データを、情報処理装置200により可視化することにより、試験システム2をオシロスコープとして機能させることができる。
この場合、メモリやプロセッサ、A/Dコンバータ、D/Aコンバータなど被試験デバイスの機能検証試験を行う際に、デバイスの種類に応じて、コンフィギュレーションデータを選択することにより、個々のデバイスに対して最適なデジタル信号を供給でき、それらを適切に試験できる。
(i)SQPG(Sequential Pattern Generator)、
(ii)ALPG(Algorithmic Pattern Generator)、
(iii)SCPG(Scan Pattern Generator)、
のいずれかの機能を選択的に具備するよう構成される。
図7は、テスターハードウェア100の具体的な構成例を示す図である。
テスターハードウェア100は、主としてコントロールモジュール500、少なくともひとつのファンクションモジュール502、バスボード504を備える。ファンクションモジュール502は、所定数(32)のチャンネルを単位として構成される。図7のテスターハードウェア100は、4つのファンクションモジュール502を搭載しており、32×4=128チャンネルを有する。
第3プログラマブルデバイス510は、内部バス162を介して情報処理装置200から第3コンフィギュレーションデータ306cを受信し、それを第3不揮発性メモリ102cに書き込み可能となっている。第3プログラマブルデバイス510は、第3不揮発性メモリ102cに格納されたコンフィギュレーションデータ306cに応じて、内部の回路情報が定義される。
これにより、複数のテスターハードウェア100を数珠つなぎとし、先頭のテスターハードウェア100をマスターモード、残りをスレーブモードとすることにより、複数のテスターハードウェア100を、単一の情報処理装置200によって制御することができる。
バスセレクタ522は、コントロールモジュール500と接続される第1ポートa、第2ポートb、メインポート524と接続される第3ポートc、第4ポートd、拡張ポート526と接続される第5ポートe、第6ポートfを有する。
バスセレクタ522は、ポートaとc間、ポートdとb間が接続される第1状態、ポートaとc間、dとe間、fとb間が接続される第2状態、ポートaとb間が接続される第3状態が切りかえ可能に構成される。
第1D/Aコンバータ570は、対応するドライバDrの上側電源電圧VHを生成する。第2D/Aコンバータ572は、対応するドライバDrの下側電源電圧VLを生成する。ドライバDrは、PAT=0が入力されたとき電圧レベルVLを出力し、PAT=1が入力されたとき電圧レベルVHを出力する。
第3D/Aコンバータ574は、上側しきい値VTHHを生成し、第4D/Aコンバータ576は下側しきい値電圧VTHLを生成する。
第1に、DUT4の種類や検査項目などに応じて、パターン発生器542、タイミング発生器544、フォーマットコントローラ546それぞれが所望の機能を具備するように第1コンフィギュレーションデータ306aを用意し、それを第1コンフィギュレーションデータ306aに書き込むことにより、さまざまなDUT4に、適切なデジタル信号を供給できる。
続いて、クラウドテスティングサービスのフローを説明する。図11は、クラウドテスティングサービスのフローを示す図である。
ユーザUSRは、クラウドテスティングサービスの利用をサービス提供者PRVに申請する(S100)。申請にともない、ユーザUSRの情報がサービス提供者PRVのサーバ300に送信される。
コンフィギュレーションデータ306に対するライセンスキーを第1ライセンスキーKEY1、プログラムモジュール304に対するライセンスキーを第2ライセンスキーKEY2と称し、区別する。
図11のフローを経て、情報処理装置200には、制御プログラム302、プログラムモジュール304が格納されており、またテスターハードウェア100の不揮発性メモリ102には、コンフィギュレーションデータ306が書き込まれている。
図2のハードウェアアクセス部212は、テスターハードウェア100の不揮発性メモリ102に格納されるコンフィギュレーションデータ306の情報を取得する。認証部214は、コンフィギュレーションデータ306に対して発行された第1ライセンスキーKEY1を参照する。第1ライセンスキーKEY1が存在する場合、そのライセンスキーKEY1に含まれる情報処理装置の識別情報が、ユーザが現在使用する情報処理装置200のそれと一致するか、また現在の時刻が使用許諾期間に含まれるかが判定される。識別情報が一致し、使用許諾期間内である場合、認証部214は、コンフィギュレーションデータ306が情報処理装置200との組み合わせ時に使用が許諾されているものと判定し、テスターハードウェア100において、不揮発性メモリ102内のコンフィギュレーションデータ306の使用が許諾される。これにより、テスターハードウェア100は、第1ライセンスキーKEY1が発行済みである場合にのみ、コンフィギュレーションデータ306に応じて動作可能となる。使用許諾期間を過ぎている場合には、ユーザに、そのコンフィギュレーションデータ306に対する使用の再契約の申請を促す。
実行部220は、主として制御プログラム302および試験アルゴリズムモジュール304aで構成されるテストプログラム240にもとづいて、テスターハードウェア100を制御する。試験の結果得られたデータは、テスターハードウェア100から情報処理装置200に送信され、記憶装置206に格納される。
そしてユーザUSRは、検査対象のDUT4に最適なコンフィギュレーションデータ306を選択し、テスターハードウェアの不揮発性メモリ102に書き込むことにより、DUT4を適切に試験することができる。
つまり、この試験システム2によれば、DUT4の種類や試験項目ごとに個別の試験装置(ハードウェア)を用意する必要がなくなるため、ユーザのコストの負担を軽減することができる。
たとえばクリーンルーム内で、被試験デバイスを試験したいとする。試験装置の設置箇所が被試験デバイスと離れている場合、デバイスの汚染を考慮すると、クリーンルーム内といえども、デバイスを長距離移動させることは好ましくない。つまり従来では、被試験デバイスおよび試験装置の双方とも移動させることが困難であり、試験装置の利用が制限されるケースがあった。実施の形態に係る試験システム2は、クリーンルーム内のさまざまな箇所に設置することができ、また必要に応じてクリーンルーム内に持ち込んだり、持ち出したりできる。あるいは屋外の特殊環境下での試験も可能となる。つまり試験装置を利用可能な状況を、従来よりも格段に広げることができる。
実施の形態では、ライセンスキーは、登録された情報処理装置200との組み合わせを条件として、プログラムモジュール304やコンフィギュレーションデータ306の使用を許諾する仕様について説明した。
実施の形態では、プログラムモジュール304、コンフィギュレーションデータ306をサーバ300に格納しておき、それぞれに個別に使用許諾を与えるケースを説明したが、本発明はそれには限定されない。サーバ300は、プログラムモジュール304とコンフィギュレーションデータ306のいずれか一方を、ダウンロード可能に格納することによっても、試験システム2は、ユーザが希望する試験アルゴリズム、評価アルゴリズムにしたがってさまざまなデバイスを適切に試験できる。
実施の形態では、情報処理装置200において、認証やテストプログラムの実行が行われる場合を説明した。
これに対して、第3の変形例では、認証に関する処理は、サーバ300上で行ってもよい。具体的には、サーバ300がライセンスキーを発行する代わりに、ユーザが試験システム2を使用するたびに、情報処理装置200からサーバ300のウェブサイトにアクセス、ログインし、プログラムモジュール304やコンフィギュレーションデータ306の使用許諾を求める仕様としてもよい。この場合、サーバ300は、使用許諾を求めるユーザがデータベースに登録済みであり、かつ、同じユーザIDにて、現在、そのプログラムモジュール304やコンフィギュレーションデータ306が使用されていないことを条件として、プログラムモジュール304やコンフィギュレーションデータ306の使用を許諾してもよい。
Claims (10)
- 被試験デバイスを試験する試験システムであって、
それぞれが前記試験システムに異なる機能を提供するための複数のコンフィギュレーションデータを格納するサーバと、
書き換え可能な不揮発性メモリを含み、当該不揮発性メモリに格納されたコンフィギュレーションデータに応じて、少なくともその機能の一部が変更可能に構成され、少なくとも、前記被試験デバイスに対して電源電圧を供給し、前記被試験デバイスに信号を送信し、前記被試験デバイスからの信号を受信可能に構成されるテスターハードウェアと、
(i)前記試験システムのセットアップ時に、前記サーバからユーザが指定した試験内容に適した前記コンフィギュレーションデータを取得し、前記テスターハードウェアの前記不揮発性メモリに前記コンフィギュレーションデータを書き込むとともに、(ii)前記被試験デバイスの試験時に、テストプログラムを実行し、前記テストプログラムに応じて、前記テスターハードウェアを制御するとともに、前記テスターハードウェアによって取得されたデータを処理可能に構成された情報処理装置と、
を備えることを特徴とする試験システム。 - 前記サーバは、
前記複数のコンフィギュレーションデータおよびデータベースを格納する記憶部と、
ユーザからの前記試験システムに関するサービスの利用申請を受け付け、前記ユーザの情報および前記ユーザが指定した前記情報処理装置の識別情報を、前記データベースに登録するデータベース登録部と、
前記ユーザのログイン認証を行う認証部と、
前記複数のコンフィギュレーションデータのリストを表示するリスト表示部と、
前記ユーザからの前記コンフィギュレーションデータのダウンロード要求に応答して、前記コンフィギュレーションデータを前記情報処理装置に提供するダウンロード制御部と、
前記ユーザから前記コンフィギュレーションデータの使用許諾の申請を受け付け、許諾すべきユーザに対して第1ライセンスキーを発行するライセンスキー発行部と、
を備えることを特徴とする請求項1に記載の試験システム。 - 前記情報処理装置において実行される前記テストプログラムは、
制御プログラムと、
前記制御プログラムに組み込まれ、試験アルゴリズムを規定するプログラムモジュールと、
の組み合わせで構成され、
前記サーバの前記記憶部には、複数の前記プログラムモジュールであって、それぞれが異なる試験アルゴリズムを規定する複数のプログラムモジュールが格納され、
前記リスト表示部は、前記複数のプログラムモジュールのリストを表示し、
前記ダウンロード制御部は、ユーザからの前記プログラムモジュールのダウンロード要求に応答して、前記プログラムモジュールを前記情報処理装置に提供し、
前記ライセンスキー発行部は、前記ユーザから前記プログラムモジュールの使用許諾の申請を受け付け、許諾すべきユーザに対して第2ライセンスキーを発行する
ことを特徴とする請求項2に記載の試験システム。 - 前記試験システムに関するサービス提供者は、ユーザによるコンフィギュレーションデータの使用に先立ち、許諾対象となる前記コンフィギュレーションデータの識別情報と、使用を許諾すべき前記情報処理装置の識別情報と、を含む第1ライセンスキーを発行し、
前記情報処理装置は、
現在接続されている前記テスターハードウェアの前記不揮発性メモリに格納された前記コンフィギュレーションデータの情報を取得し、
そのコンフィギュレーションデータの識別情報を含む前記第1ライセンスキーが存在する場合に、その第1ライセンスキーに含まれる前記情報処理装置の識別情報が、自らの識別情報と一致するかを判定可能に構成され、
前記テスターハードウェアは、一致する場合に、前記コンフィギュレーションデータに応じて動作可能に構成されることを特徴とする請求項1に記載の試験システム。 - 前記第1ライセンスキーは、前記コンフィギュレーションデータの使用が許諾される使用許諾期間を示すデータをさらに含み、
前記情報処理装置は、前記コンフィギュレーションデータの使用時刻が、前記使用許諾期間に含まれるか否かを判定可能に構成され、
前記テスターハードウェアは、前記使用時刻が前記使用許諾期間に含まれる場合に、前記コンフィギュレーションデータに応じて動作可能に構成されることを特徴とする請求項4に記載の試験システム。 - 前記情報処理装置において実行される前記テストプログラムは、
制御プログラムと、
前記制御プログラムに組み込まれ、試験アルゴリズムを規定するプログラムモジュールと、
の組み合わせで構成され、
前記サーバは、それぞれが異なる試験アルゴリズムを規定する複数のプログラムモジュールを格納し、
前記情報処理装置は、前記サーバからユーザの指定した試験内容に適した前記プログラムモジュールを取得可能に構成されることを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載の試験システム。 - 前記情報処理装置において実行される前記テストプログラムは、
制御プログラムと、
前記制御プログラムに組み込まれ、試験の結果得られたデータを処理、解析する評価アルゴリズムを規定するプログラムモジュールと、
の組み合わせで構成され、
前記サーバは、それぞれが異なる評価アルゴリズムを規定する複数のプログラムモジュールを格納し、
前記情報処理装置は、前記サーバからユーザが指定した処理および/または解析手法に適した前記プログラムモジュールを取得可能に構成されることを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載の試験システム。 - 前記試験システムに関するサービス提供者は、ユーザによる前記プログラムモジュールの使用に先立ち、許諾対象となる前記プログラムモジュールの識別情報と、使用を許諾すべき前記情報処理装置の識別情報と、を含む第2ライセンスキーを発行し、
前記情報処理装置は、ユーザが利用しようとするプログラムモジュールの識別情報を含む前記第2ライセンスキーが存在する場合に、その第2ライセンスキーに含まれる前記情報処理装置の識別情報が、自らの識別情報と一致するかを判定可能に構成され、
一致する場合に、前記プログラムモジュールを前記テストプログラムの一部として使用可能であることを特徴とする請求項6または7に記載の試験システム。 - 被試験デバイスを試験する試験システムの一部を構成するサーバであって、
前記試験システムは、
それぞれが前記試験システムに異なる機能を提供するための複数のコンフィギュレーションデータを格納するサーバと、
書き換え可能な不揮発性メモリを含み、当該不揮発性メモリに格納されたコンフィギュレーションデータに応じて、少なくともその機能の一部が変更可能に構成され、少なくとも、前記被試験デバイスに対して電源電圧を供給し、前記被試験デバイスに信号を送信し、前記被試験デバイスからの信号を受信可能に構成されるテスターハードウェアと、
(i)前記試験システムのセットアップ時に、前記サーバからユーザが指定した試験内容に適した前記コンフィギュレーションデータを取得し、前記テスターハードウェアの前記不揮発性メモリに前記コンフィギュレーションデータを書き込むとともに、(ii)前記被試験デバイスの試験時に、テストプログラムを実行し、前記テストプログラムに応じて、前記テスターハードウェアを制御するとともに、前記テスターハードウェアによって取得されたデータを処理可能に構成された情報処理装置と、
を備え、
前記サーバは、
前記複数のコンフィギュレーションデータおよびデータベースを格納する記憶部と、
ユーザからの前記試験システムに関するサービスの利用申請を受け付け、前記ユーザの情報および前記ユーザが指定した前記情報処理装置の識別情報を、前記データベースに登録するデータベース登録部と、
前記ユーザのログイン認証を行う認証部と、
前記複数のコンフィギュレーションデータのリストを表示するリスト表示部と、
前記ユーザからの前記コンフィギュレーションデータのダウンロード要求に応答して、前記コンフィギュレーションデータを前記情報処理装置に提供するダウンロード制御部と、
前記ユーザから前記コンフィギュレーションデータの使用許諾の申請を受け付け、許諾すべきユーザに対して第1ライセンスキーを発行するライセンスキー発行部と、
を備えることを特徴とするサーバ。 - 前記情報処理装置において実行される前記テストプログラムは、
制御プログラムと、
前記制御プログラムに組み込まれ、試験アルゴリズムを規定するプログラムモジュールと、
の組み合わせで構成され、
前記サーバの前記記憶部には、複数の前記プログラムモジュールであって、それぞれが異なる試験アルゴリズムを規定する複数のプログラムモジュールが格納され、
前記リスト表示部は、前記複数のプログラムモジュールのリストを表示し、
前記ダウンロード制御部は、ユーザからの前記プログラムモジュールのダウンロード要求に応答して、前記プログラムモジュールを前記情報処理装置に提供し、
前記ライセンスキー発行部は、前記ユーザから前記プログラムモジュールの使用許諾の申請を受け付け、許諾すべきユーザに対して第2ライセンスキーを発行する
ことを特徴とする請求項9に記載のサーバ。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012127523A JP5833500B2 (ja) | 2012-06-04 | 2012-06-04 | 試験システム |
PCT/JP2013/003291 WO2013183245A1 (ja) | 2012-06-04 | 2013-05-23 | 試験システムおよびサーバ |
CN201380029368.4A CN104350472B (zh) | 2012-06-04 | 2013-05-23 | 试验系统及服务器 |
KR1020147033344A KR101635699B1 (ko) | 2012-06-04 | 2013-05-23 | 시험 시스템 및 서버 |
TW102119245A TWI499789B (zh) | 2012-06-04 | 2013-05-31 | 測試系統以及伺服器 |
US14/529,032 US20150066417A1 (en) | 2012-06-04 | 2014-10-30 | Test system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012127523A JP5833500B2 (ja) | 2012-06-04 | 2012-06-04 | 試験システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013250248A true JP2013250248A (ja) | 2013-12-12 |
JP5833500B2 JP5833500B2 (ja) | 2015-12-16 |
Family
ID=49711653
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012127523A Active JP5833500B2 (ja) | 2012-06-04 | 2012-06-04 | 試験システム |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20150066417A1 (ja) |
JP (1) | JP5833500B2 (ja) |
KR (1) | KR101635699B1 (ja) |
CN (1) | CN104350472B (ja) |
TW (1) | TWI499789B (ja) |
WO (1) | WO2013183245A1 (ja) |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010004755A1 (ja) * | 2008-07-09 | 2010-01-14 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置、及び試験方法 |
US9218261B2 (en) | 2013-09-18 | 2015-12-22 | Bank Of America Corporation | Test case execution |
US10429437B2 (en) * | 2015-05-28 | 2019-10-01 | Keysight Technologies, Inc. | Automatically generated test diagram |
CN106708718B (zh) * | 2015-07-22 | 2020-11-24 | 北京京东尚科信息技术有限公司 | 服务框架接口测试方法与装置 |
US9484116B1 (en) * | 2015-08-17 | 2016-11-01 | Advantest Corporation | Test system |
CN105678115B (zh) * | 2015-12-31 | 2018-05-25 | 北京神州绿盟信息安全科技股份有限公司 | 一种软件认证方法及相关设备与系统 |
KR101721825B1 (ko) * | 2016-03-07 | 2017-03-31 | 주식회사 제타 | 반도체 및 엘시디 공정 설비 검사 방법 및 장치 |
JP6729122B2 (ja) * | 2016-07-19 | 2020-07-22 | 富士通株式会社 | 情報処理装置、プログラムおよび情報処理システム |
US10127141B2 (en) | 2017-02-20 | 2018-11-13 | Bank Of America Corporation | Electronic technology resource evaluation system |
WO2019012606A1 (ja) * | 2017-07-11 | 2019-01-17 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 計算機更新試験支援装置 |
JP2020004070A (ja) * | 2018-06-28 | 2020-01-09 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体製品品質管理サーバ、半導体装置、および半導体製品品質管理システム |
TWI662553B (zh) * | 2018-08-27 | 2019-06-11 | 群聯電子股份有限公司 | 記憶體測試方法與記憶體測試系統 |
US11293969B2 (en) * | 2019-03-12 | 2022-04-05 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | System and method for automatic test-setup hardware detection and extension |
CN111367809B (zh) * | 2020-03-09 | 2024-06-14 | 中国电力科学研究院有限公司 | 一种程序标识认证与合并发行方法及系统 |
US11887685B2 (en) | 2020-08-18 | 2024-01-30 | Changxin Memory Technologies, Inc. | Fail Bit repair method and device |
EP3985675B1 (en) | 2020-08-18 | 2024-01-31 | Changxin Memory Technologies, Inc. | Method and device for repairing fail bits |
US11797371B2 (en) | 2020-08-18 | 2023-10-24 | Changxin Memory Technologies, Inc. | Method and device for determining fail bit repair scheme |
US11791010B2 (en) | 2020-08-18 | 2023-10-17 | Changxin Memory Technologies, Inc. | Method and device for fail bit repairing |
CN112783770A (zh) * | 2021-01-21 | 2021-05-11 | 深圳市杉川机器人有限公司 | 软件测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质 |
US11984179B2 (en) * | 2021-03-26 | 2024-05-14 | Changxin Memory Technologies, Inc. | Redundant circuit assigning method and device, and medium |
US11791012B2 (en) | 2021-03-31 | 2023-10-17 | Changxin Memory Technologies, Inc. | Standby circuit dispatch method, apparatus, device and medium |
US11881278B2 (en) * | 2021-03-31 | 2024-01-23 | Changxin Memory Technologies, Inc. | Redundant circuit assigning method and device, apparatus and medium |
US20220397601A1 (en) * | 2021-06-11 | 2022-12-15 | Nanya Technology Corporation | Test system and test method to a wafer |
WO2024092147A1 (en) * | 2022-10-26 | 2024-05-02 | University Of South Florida | Systems and methods for testing integrated circuits independent of chip package configuration |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004037086A (ja) * | 2002-06-28 | 2004-02-05 | Agilent Technologies Japan Ltd | データ解析方法及び装置 |
JP2005341424A (ja) * | 2004-05-28 | 2005-12-08 | Anritsu Corp | 通信試験装置及び通信試験方法 |
JP2006242638A (ja) * | 2005-03-01 | 2006-09-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体検査装置 |
JP2009198291A (ja) * | 2008-02-21 | 2009-09-03 | Yokogawa Electric Corp | 半導体試験装置 |
JP2011247589A (ja) * | 2010-05-21 | 2011-12-08 | Advantest Corp | 試験装置、制御ボード、および試験装置の構成方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4760329A (en) * | 1987-04-23 | 1988-07-26 | Grumman Aerospace Corporation | Programmable tester with bubble memory |
US6879940B1 (en) * | 2000-09-28 | 2005-04-12 | Credence Systems Corporation | Method and apparatus for remotely testing semiconductors |
US7290192B2 (en) * | 2003-03-31 | 2007-10-30 | Advantest Corporation | Test apparatus and test method for testing plurality of devices in parallel |
TWI287639B (en) * | 2003-02-14 | 2007-10-01 | Advantest Corp | A distributed operating system for a semiconductor test system for testing at least one device under test |
TWI398649B (zh) * | 2009-02-11 | 2013-06-11 | King Yuan Electronics Co Ltd | Semiconductor test system with self - test for electrical channel |
TWM397528U (en) * | 2010-08-23 | 2011-02-01 | Maintek Comp Suzhou Co Ltd | Testing system for graphics card |
US8855959B2 (en) * | 2010-08-30 | 2014-10-07 | International Business Machines Corporation | Integrated cross-tester analysis and real-time adaptive test |
CN103109275B (zh) * | 2010-09-07 | 2016-02-03 | 爱德万测试公司 | 在半导体测试环境中使用虚拟仪器的系统、方法和设备 |
US8606948B2 (en) * | 2010-09-24 | 2013-12-10 | Amazon Technologies, Inc. | Cloud-based device interaction |
-
2012
- 2012-06-04 JP JP2012127523A patent/JP5833500B2/ja active Active
-
2013
- 2013-05-23 WO PCT/JP2013/003291 patent/WO2013183245A1/ja active Application Filing
- 2013-05-23 KR KR1020147033344A patent/KR101635699B1/ko active IP Right Grant
- 2013-05-23 CN CN201380029368.4A patent/CN104350472B/zh active Active
- 2013-05-31 TW TW102119245A patent/TWI499789B/zh active
-
2014
- 2014-10-30 US US14/529,032 patent/US20150066417A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004037086A (ja) * | 2002-06-28 | 2004-02-05 | Agilent Technologies Japan Ltd | データ解析方法及び装置 |
JP2005341424A (ja) * | 2004-05-28 | 2005-12-08 | Anritsu Corp | 通信試験装置及び通信試験方法 |
JP2006242638A (ja) * | 2005-03-01 | 2006-09-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体検査装置 |
JP2009198291A (ja) * | 2008-02-21 | 2009-09-03 | Yokogawa Electric Corp | 半導体試験装置 |
JP2011247589A (ja) * | 2010-05-21 | 2011-12-08 | Advantest Corp | 試験装置、制御ボード、および試験装置の構成方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20150013208A (ko) | 2015-02-04 |
WO2013183245A1 (ja) | 2013-12-12 |
JP5833500B2 (ja) | 2015-12-16 |
CN104350472A (zh) | 2015-02-11 |
KR101635699B1 (ko) | 2016-07-01 |
CN104350472B (zh) | 2017-09-05 |
TW201403101A (zh) | 2014-01-16 |
TWI499789B (zh) | 2015-09-11 |
US20150066417A1 (en) | 2015-03-05 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140317 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
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