JP2013242177A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2013242177A5
JP2013242177A5 JP2012114336A JP2012114336A JP2013242177A5 JP 2013242177 A5 JP2013242177 A5 JP 2013242177A5 JP 2012114336 A JP2012114336 A JP 2012114336A JP 2012114336 A JP2012114336 A JP 2012114336A JP 2013242177 A5 JP2013242177 A5 JP 2013242177A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
filter
filter region
mirror layer
region
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012114336A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5875936B2 (ja
JP2013242177A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority claimed from JP2012114336A external-priority patent/JP5875936B2/ja
Priority to JP2012114336A priority Critical patent/JP5875936B2/ja
Priority to PCT/JP2013/062953 priority patent/WO2013172234A1/ja
Priority to DE112013002560.4T priority patent/DE112013002560B4/de
Priority to US14/400,702 priority patent/US9671286B2/en
Priority to CN201380023041.6A priority patent/CN104272069B/zh
Publication of JP2013242177A publication Critical patent/JP2013242177A/ja
Publication of JP2013242177A5 publication Critical patent/JP2013242177A5/ja
Publication of JP5875936B2 publication Critical patent/JP5875936B2/ja
Application granted granted Critical
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (8)

  1. キャビティ層並びに前記キャビティ層を介して対向する第1及び第2のミラー層を有し、前記第1のミラー層側から前記第2のミラー層側に入射位置に応じて決定された波長の光を透過させる干渉フィルタ部と、
    前記干渉フィルタ部を透過した光が入射する受光面を有し、前記受光面に入射した光を検出する光検出基板と、を備え、
    前記干渉フィルタ部は、
    前記受光面と交差する所定の方向から見た場合に、前記受光面に対応する第1のフィルタ領域と、
    前記所定の方向から見た場合に、前記第1のフィルタ領域を包囲する環状の第2のフィルタ領域と、を有し、
    前記光検出基板が有する配線のパッド部は、前記所定の方向から見た場合に前記第2のフィルタ領域に含まれるように複数設けられており、
    前記第2のフィルタ領域には、前記パッド部を外部に露出させるための貫通孔が形成されており、
    前記パッド部のそれぞれには、前記貫通孔を介してワイヤが接続されている、分光センサ。
  2. 前記貫通孔は、前記パッド部ごとに複数形成されている、請求項1記載の分光センサ。
  3. 前記第1のフィルタ領域においては、前記第1のミラー層と前記第2のミラー層との間の前記所定の方向における距離が変化しており、
    前記第2のフィルタ領域においては、前記第1のミラー層と前記第2のミラー層との間の前記所定の方向における距離が一定となっている、請求項1又は2記載の分光センサ。
  4. 少なくとも前記第2のフィルタ領域に入射する光を透過させる光学フィルタ部を更に備え、
    前記光学フィルタ部を透過する光の波長範囲と、前記第2のフィルタ領域を透過する光の波長範囲とは、互いに異なっている、請求項1〜3のいずれか一項記載の分光センサ。
  5. 前記第1のフィルタ領域における前記キャビティ層と、前記第2のフィルタ領域における前記キャビティ層とは、連続して形成されている、請求項1〜4のいずれか一項記載の分光センサ。
  6. 前記第1のフィルタ領域における前記第1のミラー層と、前記第2のフィルタ領域における前記第1のミラー層とは、連続して形成されており、
    前記第1のフィルタ領域における前記第2のミラー層と、前記第2のフィルタ領域における前記第2のミラー層とは、連続して形成されている、請求項1〜5のいずれか一項記載の分光センサ。
  7. 前記第2のフィルタ領域は、前記受光面に平行な方向から見た場合に、前記第1のフィルタ領域を含んでいる、請求項1〜6のいずれか一項記載の分光センサ。
  8. 前記所定の方向は、前記受光面に垂直な方向である、請求項1〜7のいずれか一項記載の分光センサ。
JP2012114336A 2012-05-18 2012-05-18 分光センサ Active JP5875936B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012114336A JP5875936B2 (ja) 2012-05-18 2012-05-18 分光センサ
CN201380023041.6A CN104272069B (zh) 2012-05-18 2013-05-08 分光传感器
DE112013002560.4T DE112013002560B4 (de) 2012-05-18 2013-05-08 Spektralsensor
US14/400,702 US9671286B2 (en) 2012-05-18 2013-05-08 Spectroscopic sensor having a wire connected to a substrate through a hole of a filter region
PCT/JP2013/062953 WO2013172234A1 (ja) 2012-05-18 2013-05-08 分光センサ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012114336A JP5875936B2 (ja) 2012-05-18 2012-05-18 分光センサ

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2013242177A JP2013242177A (ja) 2013-12-05
JP2013242177A5 true JP2013242177A5 (ja) 2015-05-28
JP5875936B2 JP5875936B2 (ja) 2016-03-02

Family

ID=49583641

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012114336A Active JP5875936B2 (ja) 2012-05-18 2012-05-18 分光センサ

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9671286B2 (ja)
JP (1) JP5875936B2 (ja)
CN (1) CN104272069B (ja)
DE (1) DE112013002560B4 (ja)
WO (1) WO2013172234A1 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102013104968B4 (de) * 2013-05-14 2020-12-31 ams Sensors Germany GmbH Sensoranordnung mit einem siliziumbasierten optischen Sensor und einem Substrat für funktionelle Schichtsysteme
JP6290594B2 (ja) 2013-10-31 2018-03-07 浜松ホトニクス株式会社 光検出装置
JP6390117B2 (ja) * 2014-02-26 2018-09-19 セイコーエプソン株式会社 光学モジュール、及び電子機器
JP6671860B2 (ja) * 2015-04-28 2020-03-25 浜松ホトニクス株式会社 光検出装置
EP3358320A4 (en) * 2015-10-02 2019-07-17 Hamamatsu Photonics K.K. LIGHT DETECTION DEVICE
FR3116899B1 (fr) * 2020-11-30 2023-07-21 Silios Tech Imageur multispectral à domaine spectral élargi.

Family Cites Families (43)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4054389A (en) * 1976-09-23 1977-10-18 International Business Machines Corporation Spectrophotometer with photodiode array
JPS57151830A (en) 1981-03-13 1982-09-20 Union Giken:Kk Spectrophotometer
JPS58195127A (ja) * 1982-05-10 1983-11-14 Japan Spectroscopic Co マルチチヤネル検知器及びマルチチヤネル分光測定装置
JPS5972861A (ja) 1982-10-19 1984-04-24 Canon Inc 画像読取り装置
JPS62170647U (ja) * 1986-04-17 1987-10-29
JPH0814509B2 (ja) 1986-05-15 1996-02-14 ミノルタ株式会社 分光測定センサ
JPS6435325A (en) * 1987-07-31 1989-02-06 Shimadzu Corp Spectral sensor
US4957371A (en) 1987-12-11 1990-09-18 Santa Barbara Research Center Wedge-filter spectrometer
US5144498A (en) 1990-02-14 1992-09-01 Hewlett-Packard Company Variable wavelength light filter and sensor system
JPH076839B2 (ja) 1991-03-29 1995-01-30 株式会社島津製作所 分光光度計
US5784507A (en) * 1991-04-05 1998-07-21 Holm-Kennedy; James W. Integrated optical wavelength discrimination devices and methods for fabricating same
JP3375147B2 (ja) * 1992-05-26 2003-02-10 浜松ホトニクス株式会社 半導体光検出装置
JPH06120462A (ja) * 1992-10-01 1994-04-28 Matsushita Electron Corp 固体撮像装置
JP2713838B2 (ja) 1992-10-15 1998-02-16 浜松ホトニクス株式会社 分光イメージングセンサ
JPH1078353A (ja) 1996-09-02 1998-03-24 Yokogawa Electric Corp 分光装置および分光装置のダイクロイックミラーアレイの製造方法
US6785002B2 (en) 2001-03-16 2004-08-31 Optical Coating Laboratory, Inc. Variable filter-based optical spectrometer
US7015457B2 (en) 2002-03-18 2006-03-21 Honeywell International Inc. Spectrally tunable detector
CN1518660A (zh) * 2002-04-23 2004-08-04 ǰ����� 小型封装分光传感器组件
JP2005037762A (ja) 2003-07-17 2005-02-10 Sun Tec Kk 光学素子、波長可変光フィルタ、光アドドロップモジュールおよび波長可変光源
EP1784678A2 (en) 2004-08-19 2007-05-16 University of Pittsburgh Chip-scale optical spectrum analyzers with enhanced resolution
US7310153B2 (en) 2004-08-23 2007-12-18 Palo Alto Research Center, Incorporated Using position-sensitive detectors for wavelength determination
JP2006284474A (ja) * 2005-04-04 2006-10-19 Nikon Corp フォトセンサ
CN1888833A (zh) 2005-06-30 2007-01-03 天津麦索特科技发展有限公司 全光谱、双cmos线性成像传感器检测装置及其检测方法
US8437582B2 (en) 2005-12-22 2013-05-07 Palo Alto Research Center Incorporated Transmitting light with lateral variation
US7386199B2 (en) 2005-12-22 2008-06-10 Palo Alto Research Center Incorporated Providing light to channels or portions
US7718948B2 (en) 2006-12-04 2010-05-18 Palo Alto Research Center Incorporated Monitoring light pulses
US7852490B2 (en) 2007-02-05 2010-12-14 Palo Alto Research Center Incorporated Implanting optical cavity structures
JP5230952B2 (ja) * 2007-02-13 2013-07-10 オリンパス株式会社 内視鏡用可変分光素子、分光装置および内視鏡システム
JP2010520615A (ja) * 2007-03-01 2010-06-10 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 光検出器装置
JP2008232843A (ja) 2007-03-20 2008-10-02 Casio Comput Co Ltd 分光強度測定素子
CN102494776B (zh) 2007-04-03 2014-11-19 武藤工业株式会社 分光光度计和方法
JP5207938B2 (ja) 2008-05-15 2013-06-12 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール及び分光モジュールの製造方法
JP5074291B2 (ja) 2008-05-15 2012-11-14 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
JP2011169943A (ja) 2010-02-16 2011-09-01 Seiko Epson Corp 波長可変干渉フィルター、光センサーおよび分析機器
JP5998426B2 (ja) 2010-03-05 2016-09-28 セイコーエプソン株式会社 光学センサー及び電子機器
JP5609542B2 (ja) 2010-10-28 2014-10-22 セイコーエプソン株式会社 光測定装置
JP5641220B2 (ja) 2010-11-12 2014-12-17 セイコーエプソン株式会社 波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び光分析装置
JP5707107B2 (ja) 2010-11-22 2015-04-22 浜松ホトニクス株式会社 分光センサ
JP5634836B2 (ja) 2010-11-22 2014-12-03 浜松ホトニクス株式会社 分光センサの製造方法
WO2013084746A1 (ja) * 2011-12-06 2013-06-13 コニカミノルタ株式会社 光半導体パッケージ、マイケルソン干渉計、およびフーリエ変換分光分析装置
JP5926610B2 (ja) 2012-05-18 2016-05-25 浜松ホトニクス株式会社 分光センサ
JP6119325B2 (ja) 2013-03-14 2017-04-26 セイコーエプソン株式会社 干渉フィルター、干渉フィルターの製造方法、光学モジュール、電子機器、及び接合基板
JP6390090B2 (ja) 2013-11-19 2018-09-19 セイコーエプソン株式会社 光学フィルターデバイス、光学モジュール、及び電子機器

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2013242178A5 (ja)
JP2013242177A5 (ja)
JP2013242179A5 (ja)
JP2015087318A5 (ja)
JP2016211860A5 (ja)
JP2009300414A5 (ja)
JP2015534168A5 (ja)
JP2011185634A5 (ja)
JP2014086551A5 (ja)
JP2014096540A5 (ja)
JP2015536037A5 (ja)
JP2015532713A5 (ja)
JP2016164562A5 (ja)
JP2008304379A5 (ja)
JP2014179457A5 (ja)
JP2016001633A5 (ja)
JP2005294825A5 (ja)
JP2009300419A5 (ja)
ATE557266T1 (de) Integrierter polarisationssensor
EP2944987A3 (en) Optical module and electronic apparatus
JP2013036766A5 (ja)
WO2019060348A3 (en) Solid state image sensor with on-chip filter and extended spectral response
WO2015021899A3 (en) Device and Method for Micro-Electro-Mechanical-System Photonic Switch
JP2009276244A5 (ja)
WO2014026867A3 (de) Planaroptisches element, sensorelement und verfahren zu dessen herstellung