JP2013242162A - 超音波探傷装置およびその方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】プローブ11に任意波形の電位差を印加する電位差印加部12と、電位差を印加する圧電素子21を選択して切り替える駆動素子切替部22と、各圧電素子21から得られた信号から波形データを得るAD変換部23と、検査対象2の表面の形状データを取得する表面形状取得部27と、探傷に使用される圧電素子群であり検査対象の表面形状を考慮して決定された駆動素子が形状データから得られる検査対象2の表面に超音波を送信したと仮定した場合に、所望の屈折角を得るための超音波送受信の遅延時間を計算する遅延時間計算部29と、各圧電素子21の波形データから駆動素子の波形データを抽出し、遅延時間に従って抽出された波形データを時間軸上で移動した後合成し、合成波形データを探傷結果として得る信号合成部30とを備えた。
【選択図】 図1
Description
これらの課題を、図5を用いて説明する。
次に、図7の各ステップの詳細を説明する。
2 検査対象
3 音響接触媒質
11 超音波アレイプローブ(プローブ)
12 電位差印加部
13 駆動素子制御部
14 演算制御部
15 表示部
21 圧電素子
22 駆動素子切替部
23 AD変換部
24 遅延制御部
26 記録部
27 表面形状計測部
28 駆動素子定義部
29 遅延時間計算部
30 信号合成部
31 制御部
Claims (10)
- 検査対象へ超音波を送受信する複数個の圧電素子を有する超音波アレイプローブと、
前記超音波アレイプローブに任意波形の電位差を印加する電位差印加部と、
前記電位差を印加する1または複数の圧電素子を選択して切り替える素子切替部と、
各前記圧電素子から得られた信号から受信超音波波形データを得るAD変換部と、
前記受信超音波波形データを記録する記録部と、
前記検査対象の表面形状データを取得する表面形状取得部と、
探傷に使用される圧電素子群であり前記検査対象の表面形状を考慮して決定された駆動素子が前記表面形状データから得られる前記検査対象の表面に超音波を送信したと仮定した場合に、所望の探傷屈折角を得るための超音波送受信の遅延時間を計算する遅延時間計算部と、
前記記録部に記録された各前記圧電素子の受信超音波波形データから前記駆動素子の前記受信超音波波形データを抽出し、前記遅延時間に従って抽出された前記受信超音波波形データを時間軸上で移動した後合成し、合成波形データを探傷結果として得る信号合成部と、
を備えたことを特徴とする超音波探傷装置。 - 前記受信超音波波形データは、1つまたは複数の前記圧電素子で前記超音波を送信し、複数の各前記圧電素子で前記超音波を受信することにより得られた信号に基づくデータである請求項1記載の超音波探傷装置。
- 前記遅延時間計算部は、
前記表面形状が平面であると仮定した場合に用いられる探傷条件で複数の前記圧電素子を駆動した場合の前記超音波の焦点と前記探傷屈折角と、
前記焦点、前記探傷屈折角、および前記表面形状データに基づいて算出される前記検査対象表面上の前記超音波の入射位置と、
前記焦点、前記探傷屈折角、前記入射位置および前記検査対象表面上の傾きを含む情報に基づいて算出される前記超音波の入射角度と、
前記入射位置および前記入射角度に基づいて算出される圧電素子と、
前記圧電素子を中心に隣接する任意の数の圧電素子からなる駆動素子と、
所定の前記探傷屈折角が得られる、前記駆動素子に含まれる各前記圧電素子の遅延時間と、を求める請求項1または2記載の超音波探傷装置。 - 平面が保証されている対象物に対して一の前記圧電素子で超音波を送信し、同じ前記圧電素子で受信した超音波を参照信号として取得する処理を任意の圧電素子ごとに行い、各前記参照信号を用いて前記任意の圧電素子の感度差を補償する感度補償部をさらに備えた請求項1〜3のいずれか一項記載の超音波探傷装置。
- 前記信号合成部は、複数の前記探傷屈折角または前記焦点を用いて得られた複数の前記合成波形データを合算し、前記探傷結果として得る請求項1〜4のいずれか一項記載の超音波探傷装置。
- 前記信号合成部は、前記探傷屈折角または前記焦点に応じた入射効率の違いに伴う感度差を補償するための係数を乗じて前記合成波形データを合算する請求項5記載の超音波探傷装置。
- 前記表面形状データ、前記駆動素子の中心座標、各前記圧電素子の座標を二次元または三次元画像上に定義し、前記探傷屈折角および前記超音波の焦点に基づいて、前記駆動素子の中心座標と前記検査対象表面における前記超音波の入射位置と前記焦点とを結ぶ音線を算出し、前記合成波形データの強度を時間および音速を考慮して前記画像上にプロットすることにより探傷結果を画像化する画像化部をさらに備えた請求項1〜6のいずれか一項記載の超音波探傷装置。
- 前記合成波形データからしきい値を超えるエコーが検出された時間を取得し、前記画像上の前記音線からその時間が位置する座標を特定することで、エコーが検出された座標を特定する散乱源特定部をさらに備えた請求項7記載の超音波探傷装置。
- 前記画像上においてしきい値を超えるエコーが検出された座標を特定する散乱源特定部をさらに備えた請求項7に記載の超音波探傷装置。
- 複数個の圧電素子により超音波を検査対象へ送受信し、各前記圧電素子から得られた信号から受信超音波波形データを得るデータ取得ステップと、
前記受信超音波波形データを記録する記録ステップと、
前記検査対象の表面形状データを取得する表面形状取得ステップと、
探傷に使用される圧電素子群であり前記検査対象の表面形状を考慮して決定された駆動素子が前記表面形状データから得られる前記検査対象の表面に超音波を送信したと仮定した場合に、所望の探傷屈折角を得るための超音波送受信の遅延時間を計算する遅延時間計算ステップと、
前記記録ステップで記録された各前記圧電素子の受信超音波波形データから前記駆動素子の前記受信超音波波形データを抽出し、前記遅延時間に従って抽出された前記受信超音波波形データを時間軸上で移動した後合成し、合成波形データを探傷結果として得る信号合成ステップと、
を備えたことを特徴とする超音波探傷方法。
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016161423A (ja) * | 2015-03-03 | 2016-09-05 | 株式会社東芝 | 超音波探傷装置及び方法 |
JP2017009313A (ja) * | 2015-06-17 | 2017-01-12 | 株式会社東芝 | 超音波探傷装置、データ処理装置および超音波探傷方法 |
JP2018054354A (ja) * | 2016-09-27 | 2018-04-05 | 株式会社東芝 | 超音波探傷装置、データ処理装置および超音波探傷方法 |
JP2019191043A (ja) * | 2018-04-26 | 2019-10-31 | 株式会社東芝 | 超音波計測装置、超音波計測方法および部材の接合方法 |
US10718741B2 (en) | 2017-04-03 | 2020-07-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Ultrasonic flaw detecting apparatus, ultrasonic flaw detecting method, and manufacturing method of product |
JP2021072048A (ja) * | 2019-11-01 | 2021-05-06 | 株式会社東芝 | 画像処理システムおよび画像処理方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11281633A (ja) * | 1998-03-30 | 1999-10-15 | Hitachi Ltd | アレイ型超音波探触子による硬化層評価装置 |
JP2006047328A (ja) * | 2005-10-24 | 2006-02-16 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 超音波探傷方法 |
JP2008122209A (ja) * | 2006-11-10 | 2008-05-29 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 超音波探傷装置及び方法 |
JP2008139304A (ja) * | 2006-11-29 | 2008-06-19 | Bwx Technologies Inc | 任意の表面輪郭を有する部材の超音波浸漬検査 |
JP2009281805A (ja) * | 2008-05-21 | 2009-12-03 | Hitachi Engineering & Services Co Ltd | 超音波探傷方法及び装置 |
JP2012021814A (ja) * | 2010-07-12 | 2012-02-02 | Toshiba Corp | 超音波探傷装置および超音波探傷方法 |
JP2012022013A (ja) * | 2005-04-01 | 2012-02-02 | Hitachi Ltd | 超音波探傷方法及び超音波探傷装置 |
-
2012
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11281633A (ja) * | 1998-03-30 | 1999-10-15 | Hitachi Ltd | アレイ型超音波探触子による硬化層評価装置 |
JP2012022013A (ja) * | 2005-04-01 | 2012-02-02 | Hitachi Ltd | 超音波探傷方法及び超音波探傷装置 |
JP2006047328A (ja) * | 2005-10-24 | 2006-02-16 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 超音波探傷方法 |
JP2008122209A (ja) * | 2006-11-10 | 2008-05-29 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 超音波探傷装置及び方法 |
JP2008139304A (ja) * | 2006-11-29 | 2008-06-19 | Bwx Technologies Inc | 任意の表面輪郭を有する部材の超音波浸漬検査 |
JP2009281805A (ja) * | 2008-05-21 | 2009-12-03 | Hitachi Engineering & Services Co Ltd | 超音波探傷方法及び装置 |
JP2012021814A (ja) * | 2010-07-12 | 2012-02-02 | Toshiba Corp | 超音波探傷装置および超音波探傷方法 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016161423A (ja) * | 2015-03-03 | 2016-09-05 | 株式会社東芝 | 超音波探傷装置及び方法 |
JP2017009313A (ja) * | 2015-06-17 | 2017-01-12 | 株式会社東芝 | 超音波探傷装置、データ処理装置および超音波探傷方法 |
JP2018054354A (ja) * | 2016-09-27 | 2018-04-05 | 株式会社東芝 | 超音波探傷装置、データ処理装置および超音波探傷方法 |
US10718741B2 (en) | 2017-04-03 | 2020-07-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Ultrasonic flaw detecting apparatus, ultrasonic flaw detecting method, and manufacturing method of product |
JP2019191043A (ja) * | 2018-04-26 | 2019-10-31 | 株式会社東芝 | 超音波計測装置、超音波計測方法および部材の接合方法 |
JP7109980B2 (ja) | 2018-04-26 | 2022-08-01 | 株式会社東芝 | 超音波計測装置、超音波計測方法および部材の接合方法 |
JP2021072048A (ja) * | 2019-11-01 | 2021-05-06 | 株式会社東芝 | 画像処理システムおよび画像処理方法 |
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