JP2013231780A - 反射防止構造及び光学部材 - Google Patents

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Abstract

【課題】設計と異なる波長の光や斜め入射の光に対しても低い反射率を得ることができ、かつ機械的な強度や防汚性に優れた反射防止構造を提供する。
【解決手段】この反射防止構造は、媒質1と媒質2との境界に設けられ、少なくとも、媒質1に接する層Aと、該層Aに接する層Bとを備え、層Aが媒質Cによって形成され、層Bが、媒質1と、媒質2又は媒質3とからなる反射防止波長域の最小波長以下の2次元凹凸構造(凸形微細構造4)を有している。
【選択図】図1

Description

本発明は、微細な2次元凹凸構造を有する反射防止構造、及び該反射防止構造を表面に有する光学部材に関する。
照明機器、ディスプレイ装置、情報機器、撮影機器などの光を利用する各種製品には、ガラスやプラスチックなどからなる透光性を有する光学部材が多く用いられている。これら光学部材は、光の方向を制御して集光する、製品内部を汚れや衝撃などから保護するなどの機能を有している。しかし一方で、光学部材に光が入射、或いは出射する際に界面で生じる反射光は、照明機器の効率を低下させる、ディスプレイ機器の視認性を低下させる、情報機器のノイズの原因となる、撮影機器による撮影画像の画質を低下させるなど、性能低下の一因ともなる。
即ち、これら光学部材の界面で生じる反射光は、空気など周囲の媒質の屈折率と光学部材の屈折率とが異なることに起因して生じる。これは、屈折率の異なる媒質に光が入射する際に、界面における波の連続性によって入射側へ戻る成分が生じるためである。
例えば、照明機器では、光学部材の表面で生じた反射光は光源側へと戻り、出射面から放射されずに吸収されてしまうことから、照明効率が低下する要因となる。また、ディスプレイ機器を備えた画像表示装置では、外光の一部がディスプレイ装置のパネル表面で反射され観察者へと届くために、本来このパネル表面から出射している光の割合が低下し、コントラストが低下する要因となる。
このため、従来では上記したような性能低下の原因となる光学部材の界面での反射を低減するために、光学部材の表面に薄膜をコーティングする方法が一般的に用いられている。光学部材の表面に薄膜をコーティングすることによって、周囲の媒質、薄膜、光学部材のそれぞれの界面で生じる反射光を干渉させて、入射側へと戻る光の振幅を低減させることができる。
ところで、近年、より優れた反射防止効果を得るために、上記の薄膜とは異なる技術として、光学部材の表面に微細な凹凸構造を形成して反射防止効果を得る技術が提案されている。
例えば、特許文献1に記載の技術では、光の波長以下の微細な反射防止構造を付与することにより、通常の材料にない反射防止に最適な屈折率を得て、干渉効果を利用し低い反射率を実現している。
また、例えば、特許文献2に記載の技術では、「モスアイ構造」と呼ばれる光の波長よりも小さい構造の形を制御することにより、段階的に屈折率を変化させる効果と、光の干渉効果を組み合わせて、低い反射率を実現している。
特開2006−133722号公報 特開2006−171219号公報
ところで、薄膜を利用した反射防止技術は、限られた材料で干渉効果を利用するために、設計と異なる波長や斜め入射の光では反射率が上昇する問題があった。
また、前記特許文献1、2に記載の技術では、表面に光の波長よりも小さい微細な凹凸構造を付与するために、他の部材や指先等が接触した場合にこの構造が倒れたり、傷が生じたりするなど、強度が低い。また、表面の凹凸構造間に汚れが浸入した場合などの除去が困難であるなど、防汚性についても問題があった。
そこで、本発明は、設計と異なる波長の光や斜め入射の光に対しても低い反射率を得ることができ、かつ機械的な強度や防汚性に優れた反射防止構造、及び該反射防止構造を表面に有する光学部材を提供することを目的とする。
前記目的を達成するために請求項1に記載の発明は、第1の媒質と第2の媒質との境界に設けられた反射防止構造であって、前記反射防止構造は、少なくとも、前記第1の媒質に接する第1の層と、該第1の層に接する第2の層とを備え、前記第1の層が第3の媒質によって形成され、前記第2の層が、前記第1の媒質と、前記第2の媒質又は前記第3の媒質とからなる反射防止波長域の最小波長以下の2次元凹凸構造を有していることを特徴としている。
請求項2に記載の発明は、反射防止波長域の任意の波長をλとして、前記第1の層の厚みをdとしたときに、d<λ/15であることを特徴としている。
請求項3に記載の発明は、前記第2の層における、前記第1の媒質の占有する面積割合が60%以上であることを特徴としている。
請求項4に記載の発明は、前記第2の層と前記第2の媒質との間に、第3の層を有し、該第3の層が、前記第1の媒質と、前記第2の媒質又は前記第3の媒質とからなる反射防止波長域の最小波長以下の2次元凹凸構造を有していることを特徴としている。
請求項5に記載の光学部材は、光学部材の前記第1の媒質からなる透光性基材上に、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の反射防止構造を有することを特徴としている。
本発明に係る反射防止構造によれば、設計と異なる波長の光や斜め入射の光に対しても低い反射率を得ることができ、かつ機械的な強度や防汚性に優れた反射防止構造を提供することができる。
また、本発明に係る光学部材によれば、光学部材の透光性基材上に本発明に係る反射防止構造を有しているので、高い反射防止効果のある光学部材を提供することができる。
次に、本発明に係る反射防止構造について説明する前に、例えば図28に示すような、媒質1と媒質2の間に媒質3を有する場合の反射防止構造において、反射光が低減できる原理について以下に説明する。
図28に示すように、媒質1側から光の波長と同等程度の厚さの媒質3を通り、媒質2へ光が入射する場合、媒質1と媒質3の界面、媒質3と媒質2の界面で、それぞれ入射側に戻る成分I、Iが発生する。I、Iの波の振幅が同じで、位相が逆になる場合、この2つの成分I、Iは打ち消しあい、合成された反射光は低減される。
干渉によって反射光を低減するためには、それぞれの界面で入射側に戻る成分が、干渉によってそれぞれ打ち消しあう振幅を有する必要がある。この振幅は界面を形成している媒体の屈折率によって決まるため、望む振幅が得られる材料を用いればよいが、屈折率の低い材料など得ることが困難である場合が多い。
例えば、屈折率N=1の空気と屈折率N=1.5の基板の場合、屈折率が1.22の薄膜を設けることによってIとIの振幅を等しくすることができる。しかし、低屈折率材料であるMgFであっても屈折率は1.38であり、この場合、Iに対してIの振幅が大きくなる。従って、反射防止効果が減少し、特に波長が異なる場合や斜め方向から入射した場合に反射率が上昇する。
また、媒質1と媒質2を用いて、反射防止波長域の最小波長以下の構造を設けることによって、通常の物質では実現不可能な、反射防止に効果的な屈折率を得ることが可能である。光の波長以下の構造では、光はその構造を認識することができず、構造を形成する媒体それぞれの平均的な媒質が存在するものとして振る舞う。
このとき、この平均的な媒質の屈折率は、有効屈折率をNeffとして、以下の式で求められる。
eff=r+r
、r:媒質1、2の体積率
、N:媒質1、2の屈折率
また、干渉の効果は、ベクトル図を用いて説明することができる。各界面での入射側に戻る成分を、例えば図29で示すようなベクトルで表すことができる。このベクトルは、X軸の正方向からの傾きが波の位相を、長さが振幅を表し、波の重ね合わせはこのベクトルの和で表現される。よって、各界面での入射側に戻る成分をベクトルで表し、和を取ることによって反射光の波の振幅を考えることができる。
図30(a)は、図28に示した反射防止構造で、N=1(空気)、N=1.5、N=1.22とした場合のベクトルを表した図である。この図に示すように、IとIが同じ振幅で、逆の位相であるために、反射光はゼロとなる。ここで、IとIの振幅は、反射防止構造がない場合を「1」とするとその半分である。
これに対して、例えば図30(b)に示した図は、波長が異なる、斜めから入射するなどの反射防止の条件から外れた場合のベクトルを表したものである。この図に示すように、波長が異なる光や、斜めから入射する場合などは、Iに対してIの位相がずれ、合成された波I+Iが発生し、この合成波の振幅の2乗分の反射光が発生することになる。しかし、この場合でもIとIの振幅が同じであることから打ち消し合いの効果が働き、低い反射率を実現可能である。
図31(a)は、図28に示した反射防止構造で、N=1(空気)、N=1.5、N=1.38(MgF)とした場合のベクトルを表した図である。この場合、Iの振幅{(N−N)/(N+N)}/{(N−N)/(N+N)}=0.8であり、Iの振幅{(N−N)/(N+N)}/{(N−N)/(N+N)}=0.2である。IとIの振幅が異なるため、逆の位相であっても合成波I+Iが発生し、反射の低減効果が不十分となる。
また、図31(b)は、波長が異なる、斜めから入射するなどの反射防止の条件から外れた場合のベクトルを表したものである。この図に示すように、Iに対してIの位相がずれた場合には、ほとんど打ち消しあいの効果が働かないため、反射防止効果が得られない。
本発明の実施形態1に係る反射防止構造を有する光学部材を示す概略断面図。 本発明の実施形態1に係る反射防止構造を有する光学部材を示す概略斜視図。 本発明の実施形態1の変形例に係る反射防止構造を有する光学部材を示す概略斜視図。 本発明の実施形態1の反射防止構造による反射率の低減効果を説明するための図。 本発明の実施形態1の反射防止構造による反射率の低減効果を説明するための図。 本発明の実施形態2に係る反射防止構造を有する光学部材を示す概略斜視図。 本発明の実施形態2の反射防止構造による反射率の低減効果を説明するための図。 本発明の実施例1に係る反射防止構造を有する光学部材を示す概略斜視図 本発明の実施例1に係る反射防止構造による反射率の算出結果を示す図。 本発明の実施例2に係る反射防止構造を有する光学部材を示す概略斜視図。 本発明の実施例2に係る反射防止構造による反射率の算出結果を示す図。 本発明の実施例3に係る反射防止構造を有する光学部材を示す概略斜視図。 本発明の実施例3に係る反射防止構造による反射率の算出結果を示す図。 本発明の実施例4に係る反射防止構造を有する光学部材を示す概略斜視図。 本発明の実施例4に係る反射防止構造による反射率の算出結果を示す図。 本発明の実施例5に係る反射防止構造を有する光学部材を示す概略斜視図。 本発明の実施例5に係る反射防止構造による反射率の算出結果を示す図。 本発明の実施例6に係る反射防止構造を有する光学部材を示す概略斜視図。 本発明の実施例6に係る反射防止構造による反射率の算出結果を示す図。 本発明の実施例7に係る反射防止構造を有する光学部材を示す概略斜視図。 本発明の実施例7に係る反射防止構造による反射率の算出結果を示す図。 本発明の比較例1に係る反射防止構造を有していない光学部材を示す概略斜視図。 本発明の比較例1に係る反射防止構造を有していない場合の反射率の算出結果を示す図。 本発明の比較例2に係る反射防止構造を有する光学部材を示す概略斜視図。 本発明の比較例2に係る反射防止構造による反射率の算出結果を示す図。 本発明の比較例3に係る反射防止構造を有する光学部材を示す概略斜視図。 本発明の比較例3に係る反射防止構造による反射率の算出結果を示す図。 一般的な反射防止構造による反射率低減の原理を説明するための図。 一般的な反射防止構造による反射率低減の原理を説明するための図。 一般的な反射防止構造による反射率低減の原理を説明するための図。 一般的な反射防止構造による反射率低減の原理を説明するための図。
以下、本発明を図示の実施形態に基づいて説明する。
〈実施形態1〉
図1は、本発明の実施形態1に係る反射防止構造を有する光学部材を示す概略断面図、図2は、その概略斜視図である。
図1、図2に示すように、本実施形態に係る反射防止構造は、第1の媒質としての媒質1と、光学部材(例えば、太陽電池や固体照明などの半導体基板や、情報機器などに用いられるレンズなど)の透光性基材としての媒質2(第2の媒質)との境界に設けられており、この反射防止構造は、第1の層としての層Aと、第2の層としての層Bの2層を備えている。
媒質1は、例えば空気や水などであり、使用環境の周囲の媒体を選択することができる。
媒質2は、光学部材を構成する透光性基材であり、反射率を低減したい部材の材質を選択することができる。媒質2の材質としては、例えば、ガラス、Siやサファイヤなどの無機物、樹脂などが挙げられる。
層Aは、媒質1との略平坦な界面を有する第3の媒質としての媒質3によって平坦状に形成されており、作製方法や強度によって選択することができる。媒質3の材質としては、例えばガラス、Siやサファイヤなどの無機物、樹脂などが挙げられる。なお、層Aを形成する媒質として、前記媒質2と同じ材質を用いてもよい。
層Bは、媒質2上に形成した媒質2からなる2次元に配列された反射防止波長域の最小波長以下の凸形微細構造4と、各凸形微細構造4の間に位置する媒質1によって構成されている。なお、凸形微細構造4を前記媒質3と同じ材質で形成してもよい。凸形微細構造4は所定の周期で格子状に配列されている。
層Bの凸形微細構造4は、本実施形態では円柱状に形成されている。また、図3に示すように、層Bに媒質2(又は媒質3)からなる2次元に配列された反射防止波長域の最小波長以下の円形孔状の凹形微細構造4aを設けてよい。このように凹形微細構造4aとすることによって、構造の繋がった平坦面が上面にあるため、製造時に傷つき難く、生産性が向上する。更に、円柱状の凸形微細構造3や円形穴状の凹形微細構造4a以外にも、例えば、四角柱状の凸形微細構造や四角穴状の凹形微細構造としてもよい。このように、層Bは2次元に配列された凹凸構造を有している。
層Bの凹凸構造(凸形微細構造4、凹形微細構造4a)は、例えば、ガラス、無機物などを用いて、エッチングなどで形成することができる。
層Bの凹凸構造(凸形微細構造4、凹形微細構造4a)の製造方法としては、例えば、フォトリソグラフィーによるレジストの露光後に、レジストをマスクにしてエッチングする。また、電子線リソグラフィーによるレジストの露光後に、レジストをマスクにしたエッチングを行う。更に、粒子を配列させ、粒子をマスクにしたエッチングを行う。これらの製造方法によって、反射防止波長域の最小波長以下の凹凸構造(図1では円柱状の凸形微細構造3)を形成することができる。
また、層Bの凹凸構造(凸形微細構造4、凹形微細構造4a)は、光硬化性樹脂や熱硬化性、熱可塑性樹脂などを用いて型から転写することで形成することもできる。この場合は、媒質2(光学素子の構成する透光性基材)の形と層Bの凹凸構造を一括で転写することが可能であり、生産性の向上と低コスト化を図ることができる。
層Bの凹凸構造(凸形微細構造4、凹形微細構造4a)の大きさ(凸部の間隔や凹部の間隔)は、反射防止波長域の最小波長以下に設定されている。この層Bの凹凸構造の大きさが最小波長より大きいと、回折光が発生し、反射率の上昇や着色の原因となる。
層Bの凹凸構造(凸形微細構造4、凹形微細構造4a)の大きさは、反射防止波長域の最小波長以下の範囲で、生産性や構造の強度に応じて適切に選択可能であり、例えば、波長380nm〜780nmの可視光に対しては、最小波長の380nm以下、望ましくは300nm以下、更に望ましくは250nm以下の大きさに形成する。
層Bの凹凸構造(凸形微細構造4、凹形微細構造4a)の大きさが300nm以下の場合には、斜め入射の光に対しても回折光の発生を抑制可能であり、また250nm以下の場合には、周期的な構造であっても幅広い入射角度に対して回折光が生じない。
なお、層Bの2次元に配列される凹凸構造(凸形微細構造4、凹形微細構造4a)の周期性に関しては、例えばフォトリソグラフィーや電子線リソグラフィーによる製造の場合には、規則的な構造の作製が容易である。
層Bの有効屈折率Neff2は、媒質1と、媒質2又は媒質3の屈折率と、それぞれの占有する体積割合(体積率)から、以下の式によって決定される。
eff2=r+r
ただし、r:媒質1の体積率
:媒質2の体積率
:媒質1の屈折率
:媒質2の屈折率
または、Neff2=r+r
ただし、r:媒質1の体積率
:媒質3の体積率
:媒質1の屈折率
:媒質3の屈折率
層Bは2次元に配列された凹凸構造から成っており、層Bにおける媒質1と、媒質2又は媒質3の面積割合が、層Bの有効屈折率を決定する。また、層Bの有効屈折率は、層Aと層Bの界面、層Bと媒質1の界面における反射波の振幅を決定する。
層Bにおける媒質1の占有する面積割合は、60%以上であることが望ましい。これより面積割合が大きいと、層Bと媒質1の界面における反射波を打ち消すことができ、高い反射防止効果が得られる。更に望ましくは、層Bにおける媒質1の占有する面積割合は65%以上である。
層Bの厚さdは、層Aと層Bの界面における反射波と、層Bと媒質1の界面における反射波の位相の差を決定する。この厚さが大きいと、位相の差が大きくなって打ち消しあいの効果が得られない。また、作製が困難となる。望ましくは、反射防止波長域の任意の波長をλとして、層Bの厚さdは、λ/4以下(d<λ/4)が望ましい。
また、本発明の反射防止構造における層Aは、媒質3によって構成される。媒質3の屈折率は、媒質2よりも低い方が望ましいが、材料の硬さや強度等を勘案して決定すればよい。
層Aの厚さd1は、媒質1とA層の界面における反射波と、層Aと層Bの界面における反射波の位相の差を決定する。層Aの厚さd1が0の場合は、半位相だけずれるために2つの波が打ち消しあう。また、層Aの厚さd1が大きいと、この位相からのずれが大きくなって打ち消しあいの効果が得られない。
よって、望ましくは、反射防止波長域の任意の波長をλとして、層Aの厚さd1がλ/15以下(d1<λ/15)の場合は、打ち消しあいの効果が働き、高い反射防止効果が得られる。更に望ましくは、層Aの厚さd1は、λ/20以下(d1<λ/20)である。
また、層Aは、例えば、別の基板上に形成した薄膜を層Bの上に転写することによって形成可能である。薄膜の形成方法は、スピンコートやスパッタ、蒸着など一般的に用いられる方法を用いることが可能である。
実施形態1の反射防止構造(層A、層B)を用いた場合、図4に示すように、媒質1と層Aの界面、層Aと層Bの界面、層Bと媒質2の界面でそれぞれ入射側に戻る成分IA1、I12、I2Bが発生する。図5に示したベクトルを用いて、本発明の反射防止構造の効果について説明する。
図5(a)は、本発明の反射防止構造を用いた場合のベクトルを表した図である。本発明の反射防止構造では、媒質1と層Aの界面において、反射防構造を設けない場合と同じ振幅で入射側に戻る成分が発生する。
しかしながら、層Aと層Bの界面において、屈折率が高い媒質から屈折率が低い媒質へと光が進行するために、反対の位相を有した成分が発生し、媒質1と層Aの界面における成分と打ち消しあう。また、層Bと媒質2の界面における成分が、残りの成分を打ち消すように働くため、合成波IA1+I12+I2Bが小さくなり、高い反射防止効果が得られる。
また、図5(b)は、波長が異なる、斜めから入射するなどの反射防止の条件から外れた場合のベクトルを表したものである。実施形態1の反射防止構造においては、屈折率が低い媒質から高い媒質へと入射する際に生じるIA1とI2Bと、屈折率が高い媒質から低い媒質へと入射する際に生じるI12が逆の位相を取ることを利用しているため、波長や入射角度による位相ずれの影響を小さくすることが可能である。
従って、この場合でもIA1とI12とI2Bによる打ち消し合いの効果が働き、低い反射率を実現可能である。
このように、実施形態1の反射防止構造は、異なる波長の光や斜め入射の光に対しても低い反射率を得ることができ、また、2次元凹凸構造を有する層Bの上に平坦な層Aの面が存在するため、機械的な強度や、防汚性についても優れている。
更に、この反射防止構造は、媒質Aと媒質B、または媒質Cの体積率によってのみ決定される有効屈折率の異なる層によって形成され、特殊な異種材料を用いる必要がないため、生産性が高い。
また、本実施形態の反射防止構造を有する光学部材によれば、高い反射防止効果を得ることができる光学部材を提供することができる。このように、本発明の反射防止構造を有する光学部材は表面の反射を低く抑えることができるために、例えば照明や太陽電池、表示素子、情報機器などの高効率化、高品位化、低ノイズ化を実現することが可能となる。なお、ここで光学部材とは、例えば太陽電池や固体照明などの半導体基板や、情報機器などに用いられるレンズなどが挙げられる。
〈実施形態2〉
図6は、本発明の実施形態2に係る反射防止構造を有する光学部材を示す概略斜視図である。
図6に示した実施形態2の反射防止構造では、層Bと媒質2との間に第3の層としての層Cを有し、層Bと層Cによって2次元に配列された反射防止波長域の最小波長以下の凸形微細構造4’を形成している。他の構成は実施形態1と同様である。
この凸形微細構造4’はその高さ方向において幅(径)の異なる円柱が2段に形成されている。なお、凸形微細構造4’を、その高さ方向において幅の異なる四角柱が2段に形成された形状としてもよい。また、凸形微細構造4’以外にも、円形孔や四角形孔が2段に形成された凹形微細構造でもよい。
層Cにおける2次元に配列された凹凸構造は、実施形態1で述べた層Bの凹凸構造の製造方法と同様にして形成することが可能である。また、2段の径の異なる凹凸構造を有した型から転写するなど、層Bと一括で作製することも可能である。
層Bの有効屈折率Neff3は、前記した層Bと同様に、媒質1と、媒質2又は媒質3の屈折率と、それぞれの占有する体積割合(体積率)から、以下の式によって決定される。
eff3=r+r
ただし、r:媒質1の体積率
:媒質2の体積率
:媒質1の屈折率
:媒質2の屈折率
または、Neff3=r+r
ただし、r:媒質1の体積率
:媒質3の体積率
:媒質1の屈折率
:媒質3の屈折率
層Cは2次元に配列された凹凸構造から成っており、層Cにおける媒質1と、媒質2又は媒質3の面積割合が、層Cの有効屈折率を決定する。また、層Cの有効屈折率は、層Bと層Cの界面、層Cと媒体1の界面における反射波の振幅を決定する。
層Cにおける媒質1の占有する面積割合は、40%以下であることが望ましい。これより面積割合が小さいと、層Cと媒質1の界面における反射波は、干渉による反射防止効果において補助的に用いることができ、高い反射防止効果を得ることができる。更に望ましくは、層Cにおける媒質1の占有する面積割合は30%以下である。
本実施形態の反射防止構造は、層Bと媒質2との間に層Cを有し、層Bと層Cによって2次元に配列された反射防止波長域の最小波長以下の凸形微細構造4’を形成している。これにより、図7に示すように、媒質1と層Aの界面、層Aと層Bの界面、層Bと層Cの界面、層Cと媒質2の界面でそれぞれ入射側に戻る成分IA1、I12、I23、I2Bが発生する。
このように、本実施形態の反射防止構造においても、実施形態1の反射防止構造と同様に、IA1とI12とI2Bによる打ち消し合いの効果が働き、低い反射率を実現可能である。
次に、本発明の反射防止構造による反射率の低減効果を評価するために、以下に示す実施例1〜7と比較用の比較例1〜3の反射防止構造を作製した。
なお、反射率の低減効果を評価するために、RCWA(厳密結合波解析)法による電磁波解析シミュレーションソフトDiffract MOD(R-Soft社)を用いて、反射率計算を行った。
この反射率計算における条件を、以下のように設定した。
入射する光は可視光とし、波長の範囲を380〜780nmとした。また、媒質1を空気(屈折率n=1)、媒質2をガラス(屈折率n=1.52)とした。光は媒質1から媒質2に向かって、媒質1と媒質2の界面の法線方向からの傾斜角を0°、40°、60°とし、それぞれの入射角度での反射率を算出した。以下の表は、実施例1〜7と比較例1〜3の反射防止構造による、波長380〜780nmでの平均反射率の評価結果である。

〈実施例1〉
実施例1では、図8に示した反射防止構造(図3と同じ構成の反射防止構造)において、層Bの2次元に配列された凹形微細構造4aは、媒質2で形成された径180nm、深さ(厚さ)55nm、周期200nmの円形孔状構造体である。
層Aは、媒質3によって厚さ30nmに形成されている。なお、媒質2と媒質3は、屈折率1.52の同じ材料である。図9は、実施例1における反射率の算出結果を示す図である。
〈実施例2〉
実施例2では、図10に示した反射防止構造(図1、図2と同じ構成の反射防止構造)において、層Bの2次元に配列された凸形微細構造4は、媒質2で形成された径100nm、高さ(厚さ)55nm、周期200nmの円柱状構造体である。
層Aは、媒質3によって厚さ20nmに形成されている。なお、媒質2と媒質3は、屈折率1.52の同じ材料である。図11は、実施例2における反射率の算出結果を示す図である。
〈実施例3〉
実施例3では、図12に示した反射防止構造(図1、図2と同じ構成の反射防止構造)において、層Bの2次元に配列された凸形微細構造4は、媒質2で形成された径100nm、高さ(厚さ)70nm、周期200nmの円柱状構造体である。
層Aは、媒質3によって厚さ20nmに形成されている。なお、媒質2と媒質3は、屈折率1.52の同じ材料である。図13は、実施例3における反射率の算出結果を示す図である。
〈実施例4〉
実施例4では、図14に示した反射防止構造(図1、図2と同じ構成の反射防止構造)において、層Bの2次元に配列された凸形微細構造4は、媒質2で形成された径140nm、高さ(厚さ)70nm、周期200nmの円柱状構造体である。
層Aは、媒質3によって厚さ20nmに形成されている。なお、媒質2と媒質3は、屈折率1.52の同じ材料である。図15は、実施例4における反射率の算出結果を示す図である。
〈実施例5〉
実施例5では、図16に示した反射防止構造(図3と同じ構成の反射防止構造)において、層Bの2次元に配列された凹形微細構造4aは、媒質2で形成された径180nm、深さ(厚さ)55nm、周期200nmの円形孔状構造体である。
層Aは、媒質3によって厚さ30nmに形成されている。なお、媒質2は屈折率1.52の材料、媒質3は屈折率1.40の材料である。図17は、実施例5における反射率の算出結果を示す図である。
〈実施例6〉
実施例6では、図18に示した反射防止構造(図6と同じ構成の反射防止構造)において、層Bの2次元に配列された凸形微細構造4’は、媒質2で形成された径170nm、高さ(厚さ)100nmの円柱(層C)の上に、径100nm、高さ(厚さ)55nmの円柱を重ねた2段の円柱状構造体である。
層Aは、媒質3によって厚さ20nmに形成されている。なお、媒質2と媒質3は、屈折率1.52の同じ材料である。図19は、実施例6における反射率の算出結果を示す図である。
〈実施例7〉
実施例7では、図20に示した反射防止構造において、層Bの2次元に配列された凹形微細構造4a’は、媒質2で形成された径100nm、深さ(厚さ)110nmの孔(層C)の上に、径180nm、深さ(厚さ)55nmの孔を重ねた2段の円形孔状構造体である。
層Aは、媒質3によって厚さ20nmに形成されている。なお、媒質2と媒質3は、屈折率1.52の同じ材料である。図21は、実施例6における反射率の算出結果を示す図である。
〈比較例1〉
比較例1では、図22に示すように、媒質2によって形成された光学部材の透光性基材に可視光を入射させた場合である(反射防止構造を設けていない)。なお、媒体2の屈折率は1.52である。図23は、比較例1における反射率の算出結果を示す図である。
〈比較例2〉
比較例2では、図24に示すように、媒質2によって形成された光学部材の透光性基材の上に、3層の多層薄膜(膜厚84nm、膜厚138nm、膜厚100nmの3層)10からなる反射防止構造を設けた構成である。図25は、比較例2における反射率の算出結果を示す図である。
〈比較例3〉
比較例3では、図26に示すように、媒質2によって形成された光学部材の透光性基材の上に、媒質2で形成された径140nm、高さ(厚さ)112nmの円柱11を周期200nmで格子状に配列した構造を備えている。図27は、比較例3における反射率の算出結果を示す図である。
上記の表に示しように、実施例1〜7における本発明の反射防止構造を設けることにより、高い反射防止効果を得ることができる。また、層Aと層Bの厚みを調整することによって、特に目的とする波長や入射角度において低い反射率を実現することができる。
例えば、実施例1のように長波長域での反射率を低減した場合や、実施例3のように斜入射での反射率を特に低減した場合や、実施例2、4、5のように可視光の波長域全体での低減効果を得られる場合などである。
また、実施例6、7のように、層Cを設けることによってさらに斜入射においての反射防止効果を向上させることが可能となる。更に、実施例7では、層B及び層Cの厚みと有効屈折率を調整することにより、可視光の波長域全体での低い反射率と、反射率の波長依存性の低減を実現している。これにより、反射率の低減効果のみならず、着色を抑制することができ、視認性や外観品位が向上する。
一方、比較例1では、反射防止構造を設けていないため、反射率が高く、視認性の低下や情報機器におけるノイズの原因となる等の問題が生じる。また、比較例2のような多層の反射防止膜を設けた構成では、斜入射では反射率の低減効果が低く、反射率の波長依存性が大きいため、着色や外観品位の低下などの問題が生じる。更に、比較例3のような光の波長以下の構造のみによる反射防止構造では、低い反射率が実現可能であるものの、この構造が表面に露出しているので、機械的な強度に劣り、また、汚れに対して弱いなどの使用上の問題が生じる。
1 媒体(第1の媒体)
2 媒体(第2の媒体)
3 媒体(第3の媒体)
4 凸形微細構造(2次元凹凸構造)
4a 凹形微細構造(2次元凹凸構造)
A 層(第1の層)
B 層(第2の層)
C 層(第3の層)

Claims (5)

  1. 第1の媒質と第2の媒質との境界に設けられた反射防止構造であって、
    前記反射防止構造は、少なくとも、前記第1の媒質に接する第1の層と、該第1の層に接する第2の層とを備え、
    前記第1の層が第3の媒質によって形成され、
    前記第2の層が、前記第1の媒質と、前記第2の媒質又は前記第3の媒質とからなる反射防止波長域の最小波長以下の2次元凹凸構造を有していることを特徴とする反射防止構造。
  2. 反射防止波長域の任意の波長をλとして、前記第1の層の厚みをdとしたときに、
    <λ/15
    であることを特徴とする請求項1に記載の反射防止構造。
  3. 前記第2の層における、前記第1の媒質の占有する面積割合が60%以上であることを特徴とする請求項1又は2に記載の反射防止構造。
  4. 前記第2の層と前記第2の媒質との間に、第3の層を有し、
    該第3の層が、前記第1の媒質と、前記第2の媒質又は前記第3の媒質とからなる反射防止波長域の最小波長以下の2次元凹凸構造を有していることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の反射防止構造。
  5. 光学部材の前記第2の媒質からなる透光性基材上に、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の反射防止構造を有することを特徴とする光学部材。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015210531A (ja) * 2014-04-28 2015-11-24 フラウンホーファー−ゲゼルシャフト ツル フェルデルング デル アンゲヴァンテン フォルシュング エー ファウFraunhofer−Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V. シリコーン表面上に反射防止層を製造する方法及び光学素子
JP2015212809A (ja) * 2014-04-18 2015-11-26 王子ホールディングス株式会社 光学素子
JP6046860B2 (ja) * 2014-03-13 2016-12-21 富士フイルム株式会社 光学部品,赤外線カメラおよび光学部品の製造方法
JP2017102408A (ja) * 2015-12-04 2017-06-08 東ソー株式会社 微粒子配列膜及び反射防止膜
CN113678028A (zh) * 2019-03-27 2021-11-19 株式会社可乐丽 微细凹凸图案薄膜和平视显示器装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57133401A (en) * 1981-02-10 1982-08-18 Fuji Photo Optical Co Ltd Reflection preventing film
JP2003302532A (ja) * 2002-04-12 2003-10-24 Mitsubishi Chemicals Corp 偏光板およびその製造方法
JP2007076242A (ja) * 2005-09-15 2007-03-29 Fujifilm Corp 保護フィルム
JP2010281876A (ja) * 2009-06-02 2010-12-16 Canon Inc 光学素子及びそれを有する光学系
JP2012048239A (ja) * 2011-08-23 2012-03-08 Dainippon Printing Co Ltd 反射防止フィルムの製造方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57133401A (en) * 1981-02-10 1982-08-18 Fuji Photo Optical Co Ltd Reflection preventing film
JP2003302532A (ja) * 2002-04-12 2003-10-24 Mitsubishi Chemicals Corp 偏光板およびその製造方法
JP2007076242A (ja) * 2005-09-15 2007-03-29 Fujifilm Corp 保護フィルム
JP2010281876A (ja) * 2009-06-02 2010-12-16 Canon Inc 光学素子及びそれを有する光学系
JP2012048239A (ja) * 2011-08-23 2012-03-08 Dainippon Printing Co Ltd 反射防止フィルムの製造方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6046860B2 (ja) * 2014-03-13 2016-12-21 富士フイルム株式会社 光学部品,赤外線カメラおよび光学部品の製造方法
JPWO2015137197A1 (ja) * 2014-03-13 2017-04-06 富士フイルム株式会社 光学部品,赤外線カメラおよび光学部品の製造方法
JP2015212809A (ja) * 2014-04-18 2015-11-26 王子ホールディングス株式会社 光学素子
JP2015210531A (ja) * 2014-04-28 2015-11-24 フラウンホーファー−ゲゼルシャフト ツル フェルデルング デル アンゲヴァンテン フォルシュング エー ファウFraunhofer−Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V. シリコーン表面上に反射防止層を製造する方法及び光学素子
US10247856B2 (en) 2014-04-28 2019-04-02 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Method for producing an antireflection layer on a silicone surface and optical element
US10656307B2 (en) 2014-04-28 2020-05-19 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung E.V. Optical element
JP2017102408A (ja) * 2015-12-04 2017-06-08 東ソー株式会社 微粒子配列膜及び反射防止膜
CN113678028A (zh) * 2019-03-27 2021-11-19 株式会社可乐丽 微细凹凸图案薄膜和平视显示器装置

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