JP2013211459A - 光増幅器及び光増幅器の断線検出方法 - Google Patents

Abstract

【課題】光増幅器で光伝送路の断線が生じた場合に、断線を検出することができる光増幅器及び光増幅器の断線検出方法を提供すること。
【解決手段】光増幅器１００は、光強度検出器１及び４、ＥＤＦＡ３、断線検出器１０を有する。光強度検出器は、信号光ＩＮの光強度Ｌ１を検出し、検出結果を検出信号Ｓ１として出力する。ＥＤＦＡ３は、光強度検出器１を通過した信号光ＩＮを増幅し、信号光ＩＮａとして出力する。光強度検出器４は、信号光ＩＮａの光強度Ｌ２を検出し、検出結果を検出信号Ｓ２として出力する。断線検出器１０は、検出信号Ｓ１及びＳ２が入力され、信号光ＩＮの光強度Ｌ１がＬｔｈ１よりも小さい場合には光強度検出器１よりも前段での断線を検出し、信号光ＩＮの光強度Ｌ１がＬｔｈ１よりも大きく、かつ、信号光ＩＮａの光強度Ｌ２がＬｔｈ２よりも小さい場合には光強度検出器１と光強度検出器４との間の断線を検出する。
【選択図】図１

Description

本発明は光増幅器及び光増幅器の断線検出方に関し、例えば光通信で用いられる光増幅器及び光増幅器の断線検出方法に関する。

一般に、光通信を行うにあたり、光信号が伝送される伝送路には、光信号を増幅するための光増幅器が挿入される。こうした目的で用いられる光増幅器としては、例えば多段構成の光増幅器が挙げられる。

多段構成の光増幅器は一般的に高価である。そのため、低コスト化のために励起ＬＤ（Laser Diode）を複数のＥＤＦＡ（Erbium Doped Fiber Amplifier）で共用する手法や、受光レベルモニタ用のＰＤ（Photo Diode）を削減する手法が知られている。

ここで、低コスト化のために励起ＬＤを複数のＥＤＦＡで共用する一般的な光増幅器８００（特許文献１）について説明する。図１０は、一般的な光増幅器８００の構成を模式的に示すブロック図である。光増幅器８００は、分岐部８０１、合波部８０２、第１のＥＤＦ８０３、分波器８０４、ＶＯＡ８０５、合波器８０６、第２のＥＤＦ８０７、分岐部８０８、利得目標値算出部８０９、利得誤差検出部８１０、パワー制御部８１１、波長固定励起ＬＤ８１２及びＶＯＡ制御部８１３を有する。

分岐部８０１は、光増幅器８００への入力信号光をパワー分岐する。分岐部８０１によりパワー分岐された入力信号光は、合波部８０２、利得目標値算出部８０９、利得誤差検出部８１０及びＶＯＡ制御部８１３にそれぞれ分配される。

波長固定励起ＬＤ８１２は、予め設定された固定波長を有する励起光を生成、出力する。波長固定励起ＬＤ８１２により生成、出力された励起光は、合波部８０２に入力される。

合波部８０２は、分岐部８０１からの入力信号光と波長固定励起ＬＤ８１２からの励起光とを合波して、第１のＥＤＦ８０３へ出力する。

第１のＥＤＦ８０３は、波長固定励起ＬＤ８１２からの励起光を用いて入力信号光を光増幅する希土類添加媒質である。

分波器８０４は、第１のＥＤＦ８０３により光増幅された入力信号光と第１のＥＤＦ８０３から出力される励起光（残留励起光）とを分離（分波）する。分波器８０４には、例えば、波長選択フィルタなどを用いることができる。分波器８０４により分波された信号光は、ＶＯＡ８０５の方路へ出力される一方、分波器８０４により分波された残留励起光は、ＶＯＡ８０５を迂回（回避）する方路へ出力される。これにより、信号光をＶＯＡ８０５に入力できる一方、残留励起光は、ＶＯＡ８０５を回避させて、第２のＥＤＦ８０７に入力することができる。

ＶＯＡ８０５は、ＶＯＡ制御部８１３による制御に基づいて、分波器８０４からの信号光を減衰させる。ＶＯＡ８０５により減衰された信号光は、合波器８０６に入力される。即ち、ＶＯＡ８０５は、第１のＥＤＦ８０３と第２のＥＤＦ８０７との間に挿入され、前記第１のＥＤＦ８０３により増幅された入力信号光を減衰する光減衰器として機能する。また、分波器８０４は、第１のＥＤＦ８０３とＶＯＡ８０５との間に挿入され、残留励起光を分波してＶＯＡ８０５を迂回させる分波器として機能する。

合波器８０６は、ＶＯＡ８０５からの信号光とＶＯＡ８０５を迂回（回避）した残留励起光とを合波して、第２のＥＤＦ８０７へ出力する。合波器８０６には、即ち、合波器８０６は、ＶＯＡ８０５と第２のＥＤＦ８０７との間に挿入され、前記分波器８０４により分波された残留励起光を合波して第２のＥＤＦ８０７に入力させる合波器として機能する。

第２のＥＤＦ８０７は、合波器８０６からの残留励起光を用いて信号光を光増幅する希土類添加媒質である。

分岐部８０８は、第２のＥＤＦ８０７から出力される信号光（出力信号光）をパワー分岐する。分岐部８０８によりパワー分岐された出力信号光は、光増幅器８００から出力される一方、利得誤差検出部８１０に分配される。

利得目標値算出部８０９は、分岐部８０１により分岐された入力信号光の入力レベルを検出し、当該検出結果と、光増幅器８００に要求される出力レベルとに基づいて、光増幅器８００における増幅利得の目標値を算出する。利得目標値算出部８０９により算出された利得目標値は、利得誤差検出部８１０に入力される。

利得誤差検出部８１０は、分岐部８０１により分岐された入力信号光の入力レベルと、分岐部８０８により分岐された出力信号光の出力レベルとから現状の増幅利得を算出する。そして、現状の増幅利得と、利得目標値算出部８０９により算出された利得目標値とに基づいて、前記要求される出力レベルを得るための光増幅器８００の増幅利得と現状の増幅利得との誤差（利得誤差）を検出する。利得誤差検出部８１０により検出された利得誤差は、パワー制御部８１１に入力される。

パワー制御部８１１は、利得誤差検出部８１０により検出された利得誤差に基づいて、波長固定励起ＬＤ８１２により生成される励起光のパワーを制御する。パワー制御部８１１は、例えば、利得誤差がプラスの場合は、現状の増幅利得が前記要求される出力レベルを得るための増幅利得よりも利得誤差分だけ大きいと判断し、励起光のパワーを減少させる制御を行なう。一方、利得誤差がマイナスの場合、パワー制御部８１１は、例えば、現状の増幅利得が前記要求される出力レベルを得るための増幅利得よりも利得誤差分だけ小さいと判断し、励起光のパワーを増加させる制御を行なう。

ＶＯＡ制御部８１３は、分岐部８０１により分岐された入力信号光の入力レベルの変動を検出し、当該検出した入力レベルの変動に基づいて、ＶＯＡ８０５での減衰量（ロス）を制御する。

上記構成により、光増幅器８００は、入力信号光の入力レベルなどに基づき、励起光パワーを制御し、光増幅器８００の出力レベルが所望の出力レベルとなるように、第１のＥＤＦ８０３及び第２のＥＤＦ８０７での増幅利得を制御する。また、光増幅器８００は、入力信号光の入力レベルの変動に基づいて、ＶＯＡ８０５でのロスを制御する。これにより、光増幅器８００は、入力レベルの変動に対する出力波長特性の平坦性を維持しつつ、所望の出力レベルを得ることができる。

また、光増幅器８００は、第１のＥＤＦ８０３で吸収されきらずに漏れ出てきた励起光（残留励起光）が、ＶＯＡ８０５で減衰されないようにＶＯＡ８０５を迂回させ、第２のＥＤＦ８０７に再入力させる。これにより、波長固定励起ＬＤ（励起光源）１２の数を１個に抑えている。その結果、光増幅器８００の製造コストを削減することが可能となる。

他にも、光アンプ、光／電気変換器、分散補償器又は偏波分散補償器等を有する光伝送システムにおいて、光ファイバの断検知を行う光伝送装置（特許文献２）が提案されている。

特開２０１１−６６１４２号公報 特開２００３−１６３６４２号公報

ところが、発明者は、上述の複数のＥＤＦＡで励起ＬＤを共用する手法や、ＰＤの数を削減する手法を採用した光増幅器には、以下で説明する問題点が有ることを見出した。こうした光増幅器では、２つのＥＤＦ間に、光増幅器の外付けの光学部品が挿入される場合がある。このとき、光増幅器と２つのＥＤＦ間に挿入される外付けの光学部品との間でファイバ抜けが発生した場合、ファイバ抜けの発生を検出することができなという問題点を有する。その結果、正常な光増幅が行えないにもかかわらず励起光の出力が継続してしまう。ファイバ抜けの他にも、光増幅器内部での光伝送路の断線などが生じた場合にも、同様の問題が生じる。また、ファイバ抜けが生じている状態で励起光の出力が継続すると、抜けたファイバの端面から増幅された光が外部に出射する事態が生じてしまう。

よって、光増幅器でファイバ抜けなどの断線が生じた場合には、自動的に励起光の出力を停止することが求められる。

本発明は、上記の事情に鑑みてなされたものであり、本発明の目的は、光増幅器で光伝送路の断線が生じた場合に、断線を検出することができる光増幅器及び光増幅器の断線検出方法を提供することである。

本発明の一態様である光増幅器は、入力する第１の信号光の光強度を検出し、検出結果を第１の検出信号として出力する第１の光強度検出器と、前記第１の光強度検出器を通過した前記第１の信号光を増幅し、第２の信号光として出力する第１の光増幅部と、前記第２の光信号の光強度を検出し、検出結果を第２の検出信号として出力する第２の光強度検出器と、前記第１及び第２の検出信号が入力され、前記第１の信号光の光強度が第１の値よりも小さい場合には前記第１の光強度検出器よりも前段での断線を検出し、前記第１の信号光の光強度が前記第１の値よりも大きく、かつ、前記第２の信号光の光強度が第２の値よりも小さい場合には前記第１の光強度検出器と前記第２の光強度検出器との間の断線を検出する断線検出器と、を備えるものである。

本発明の一態様である光増幅器の断線検出方法は、第１の光強度検出器に、入力する第１の信号光の光強度を検出させて、検出結果を第１の検出信号として出力させ、前記第１の光強度検出器を通過した前記第１の信号光を第１の光増幅部に増幅させて、第２の信号光として出力させと、第２の光強度検出器に、前記第２の光信号の光強度を検出させ、検出結果を第２の検出信号として出力させ、前記第１及び第２の検出信号に応じて、前記第１の信号光の光強度が第１の値よりも小さい場合には前記第１の光強度検出器よりも前段での断線を検出し、前記第１の信号光の光強度が前記第１の値よりも大きく、かつ、前記第２の信号光の光強度が第２の値よりも小さい場合には前記第１の光強度検出器と前記第２の光強度検出器との間の断線を検出するものである。

本発明によれば、光増幅器で光伝送路の断線が生じた場合に、断線を検出することができる光増幅器及び光増幅器の断線検出方法を提供することができる。

実施の形態１にかかる光増幅器１００の構成を模式的に示すブロック図である。 実施の形態１にかかる光増幅器１００の断線検出動作を示すフローチャートである。 実施の形態２にかかる光増幅器２００の構成を模式的に示すブロック図である。 実施の形態２にかかる光増幅器２００動作を示すフローチャートである。 実施の形態３にかかる光増幅器３００の構成を模式的に示すブロック図である。 実施の形態４にかかる光増幅器４００の構成を模式的に示すブロック図である。 実施の形態５にかかる断線検出器１０の構成例を模式的に示すブロック図である。 実施の形態６にかかる断線検出器２０の構成例を模式的に示すブロック図である。 実施の形態７にかかる光強度検出器１の構成例を模式的に示すブロック図である。 一般的な光増幅器８００の構成を模式的に示すブロック図である。

以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。各図面においては、同一要素には同一の符号が付されており、必要に応じて重複説明は省略される。

実施の形態１
まず、本発明の実施の形態１にかかる光増幅器１００について説明する。図１は、実施の形態１にかかる光増幅器１００の構成を模式的に示すブロック図である。図１に示すように、光増幅器１００は、光ファイバＯＦ１、コネクタＣ１〜Ｃ４、光強度検出器１及び４、ＷＤＭ（Wavelength Division Multiplexing）カプラ２、ＥＤＦＡ（Erbium Doped Fiber Amplifier）３、励起ＬＤ（Laser Diode）５及び断線検出器１０を有する。

光ファイバＯＦ１には、入力側から順に、コネクタＣ１、光強度検出器１、ＷＤＭカプラ２、ＥＤＦＡ３、コネクタＣ２、分散補償器１０１、コネクタＣ３、光強度検出器４及びコネクタＣ４が挿入されている。

外部からコネクタＣ１に入力される信号光ＩＮは、光ファイバＯＦ１を介して光強度検出器１に伝搬する。なお、信号光ＩＮは、ＷＤＭ光であってもよいし、単一波長の信号光であってもよい。信号光ＩＮの波長帯は、例えば、ＥＤＦＡでの増幅効率が大きいＣバンド帯域とすることができる。また、信号光ＩＮの波長帯は、例えばＬバンド帯域とすることができる。ただし、これらの帯域は例示に過ぎず、増幅が可能な任意の帯域とすることができる。光強度検出器１は、信号光ＩＮの光強度を検出し、検出結果を検出信号Ｓ１として、断線検出器１０に出力する。

その後、信号光ＩＮは、光ファイバＯＦ１を介してＷＤＭカプラ２に伝搬する。また、励起ＬＤ５は、断線検出器１０からの制御信号ＣＯＮ１に応じて、ＷＤＭカプラ２に励起光ＥＸを出力する。ここで、励起光ＥＸの波長帯域は、Ｃバンド帯域の入力信号光への増幅寄与が大きい０．９８μｍ帯とすることができる。ＷＤＭカプラ２は、信号光ＩＮと励起光ＥＸとを合波して、ＥＤＦＡ３に出力する。

ＥＤＦＡ３は、励起光ＥＸにより励起され、信号光ＩＮの光強度を増幅する。ＥＤＦＡ３には、例えば、エルビウム（Ｅｒ）やツリウム（Ｔｍ）などの希土類イオンを添加（ドープ）した希土類添加媒質からなるファイバを用いることができる。増幅された信号光ＩＮａは、コネクタＣ２を介して、光増幅器１００の外部の分散補償器１０１に出力される。分散補償器１０１は、信号光ＩＮａに対する分散補償を行う。分散補償された信号光ＩＮａは、コネクタＣ３を介して、光強度検出器４に入力される。なお、分散補償器１０１は、光増幅器の外付け光学部品として、光増幅器１００に接続される。

光強度検出器４は、信号光ＩＮａの光強度を検出し、検出結果を検出信号Ｓ２として、断線検出器１０に出力する。断線検出器１０は、検出信号Ｓ１及びＳ２に応じて、励起ＬＤ５を制御する。

続いて、光増幅器１００の動作について説明する。光増幅器１００は、断線検出機能を有する。図２は、実施の形態１にかかる光増幅器１００の断線検出動作を示すフローチャートである。断線検出動作は、ステップＳ１１〜Ｓ１７により構成される。

ステップＳ１１
まず、断線検出器１０は、検出信号Ｓ１により、光強度検出器１で検出された信号光ＩＮの光強度Ｌ１を検出する。そして、光強度Ｌ１を、信号光ＩＮの光強度規格値Ｌｔｈ１と比較する。

ステップＳ１２
Ｌ１＞Ｌｔｈ１である場合には、信号光ＩＮがコネクタＣ１を介して、正常な状態で光強度検出器１に入力されていると判定する。続いて、断線検出器１０は、検出信号Ｓ２により、光強度検出器４で検出された信号光ＩＮａの光強度Ｌ２を検出する。そして、光強度Ｌ２を、信号光ＩＮａの光強度規格値Ｌｔｈ２と比較する。

ステップＳ１３
Ｌ２＞Ｌｔｈ２である場合には、正常な状態で、信号光ＩＮがＷＤＭカプラ２を介してＥＤＦＡ３に入力され、信号光ＩＮａがＥＤＦＡ３からコネクタＣ２、分散補償器１０１、コネクタＣ３を介して光強度検出器４に入力されていると判定する。従って、この場合、コネクタＣ１から光強度検出器４の間では断線は発生しておらず、信号光ＩＮ及びＩＮａは、正常に光ファイバＯＦ１を伝搬していると判定できる。

ステップＳ１４
Ｌ１≦Ｌｔｈ１である場合には、信号光ＩＮが光強度検出器１に到達しておらず、コネクタＣ１の入力側から光強度検出器１までの間で断線が発生していることを検出することができる。コネクタＣ１は、光ファイバＯＦ１又はコネクタＣ１の入力側に接続される光ファイバなどの信号光ＩＮの入力手段の抜き差しが可能である。つまり、コネクタＣ１では、光ファイバ等の予期しない抜けが発生する恐れがある。ステップＳ１４では、こうしたコネクタＣ１で生じる光ファイバ等の予期しない抜けを検出することができる。

ステップＳ１５
ステップＳ１４で断線が検出された場合、光増幅器１００には信号光ＩＮが入力されていないので、もはや正常な光増幅は行えない。よって、断線検出器１０は、励起ＬＤ５に、励起光ＥＸの出力を停止させる。

ステップＳ１６
Ｌ２≦Ｌｔｈ２である場合には、信号光ＩＮａが光強度検出器１に到達しておらず、光強度検出器１から光強度検出器４までの間で断線が発生していることを検出することができる。コネクタＣ２及びＣ３は、光ファイバＯＦ１又の抜き差しが可能である。つまり、コネクタＣ２及びＣ３では、光ファイバＯＦ１の予期しない抜けが発生する恐れがある。ステップＳ１６では、こうしたコネクタＣ２又はＣ３で生じる光ファイバＯＦ１の予期しない抜けを検出することができる。

ステップＳ１７
ステップＳ１６で断線が検出された場合、光増幅器１００は信号光ＩＮａを出力することができないので、もはや正常な光増幅は行えない。よって、断線検出器１０は、励起ＬＤ５に、励起光ＥＸの出力を停止させる。

以上、光増幅器１００は、断線検出器１０による断線検出動作により、光増幅器１００で発生する断線を検出することが可能である。特に、分散補償器１０１などの光増幅器１００の外付けの光学部品を接続するコネクタＣ２又はＣ３での断線を、コネクタＣ１での断線と切り分けて検出することができる。

ステップＳ１４での断線検出では、光強度検出器１より手前の断線の検出が可能である。また、ステップＳ１６での断線検出では、光強度検出器１から光強度検出器４までの間の断線の検出が可能である。これにより、故障個所の位置特定が容易になり、断線故障を迅速に復旧することができる。

特に、光強度検出器１から光強度検出器４までの間には、上述のように光ファイバの抜けが生じ易いコネクタＣ２及びＣ３が存在する。このため、光増幅器１００によれば、光ファイバの抜けが生じ易い、外付け光学部品が接続されるコネクタで生じる光ファイバの抜けを、迅速に復旧することができる。

実施の形態２
次に、本発明の実施の形態２にかかる光増幅器２００について説明する。図３は、実施の形態２にかかる光増幅器２００の構成を模式的に示すブロック図である。光増幅器２００は、実施の形態１にかかる光増幅器１００の断線検出器１０を断線検出器２０に置換し、更にタイマ２１を追加した構成を有する。

断線検出器２０は、検出信号Ｓ１に応じて、光強度検出器１よりも前段での断線を検出し、制御信号ＣＯＮ１ａにより、励起ＬＤ５を制御する。また、断線検出器２０は、検出信号Ｓ１及びＳ２に応じて、光強度検出器１と光強度検出器４との間の断線を検出し、制御信号ＣＯＮ１ｂを出力する。

タイマ２１は、断線検出器２０から出力される制御信号ＣＯＮ１ｂに応じて、時間計測を行う。タイマ２１は、時間計測の結果に応じて、励起ＬＤ５に制御信号ＣＯＮ２を出力する。

具体的には、光強度検出器１と光強度検出器４との間の断線が非検出であることが制御信号ＣＯＮ１ｂによって通知されている場合には、タイマ２１はオフとなり、時間計測を行わない。一方、光強度検出器１と光強度検出器４との間の断線が検出されたことが制御信号ＣＯＮ１ｂによって通知された場合には、タイマ２１は、制御信号ＣＯＮ２により、励起ＬＤ５をオフにする。そして、励起ＬＤ５をオフにしてからの経過時間ｔを計測する。励起ＬＤ５をオフしてからの経過時間ｔが設定時間ｔ０を超えたなら、タイマ２１は、制御信号ＣＯＮ２により、励起ＬＤ５をオンにする。光増幅器２００のその他の構成は、実施の形態１にかかる光増幅器１００と同様であるので、説明を省略する。

続いて、光増幅器２００の動作について説明する。図４は、実施の形態２にかかる光増幅器２００動作を示すフローチャートである。光増幅器２００動作は、ステップＳ２１〜Ｓ２９により構成される。光増幅器２００は、断線検出動作に加えて、その後の自動復旧動作を行う点で、動作が光増幅器１００と相違する。

ステップＳ２１〜Ｓ２７（断線検出動作）
ステップＳ２１〜Ｓ２７は、それぞれ図２のステップＳ１１〜Ｓ１７に対応し、断線検出を行う。

ステップＳ２１
まず、断線検出器２０は、ステップＳ１１と同様に、検出信号Ｓ１により、光強度検出器１で検出された信号光ＩＮの光強度Ｌ１を検出する。そして、光強度Ｌ１を、信号光ＩＮの光強度規格値Ｌｔｈ１と比較する。

ステップＳ２２
Ｌ１＞Ｌｔｈ１である場合には、ステップＳ１２と同様に、信号光ＩＮがコネクタＣ１を介して、正常な状態で光強度検出器１に入力されていると判定する。続いて、断線検出器２０は、検出信号Ｓ２により、光強度検出器４で検出された信号光ＩＮａの光強度Ｌ２を検出する。そして、光強度Ｌ２を、信号光ＩＮａの光強度規格値Ｌｔｈ２と比較する。

ステップＳ２３
Ｌ２＞Ｌｔｈ２である場合には、ステップＳ１３と同様に、正常な状態で、信号光ＩＮがＷＤＭカプラ２を介してＥＤＦＡ３に入力され、信号光ＩＮａがＥＤＦＡ３からコネクタＣ２、分散補償器１０１、コネクタＣ３を介して光強度検出器４に入力されていると判定する。従って、この場合、コネクタＣ１から光強度検出器４の間では断線は発生しておらず、信号光ＩＮ及びＩＮａは、正常に光ファイバＯＦ１を伝搬していると判定できる。

ステップＳ２４
Ｌ１≦Ｌｔｈ１である場合には、信号光ＩＮが光強度検出器１に到達しておらず、コネクタＣ１の入力側から光強度検出器１までの間で断線が発生していることを検出することができる。コネクタＣ１は、光ファイバＯＦ１又はコネクタＣ１の入力側に接続される光ファイバなどの信号光ＩＮの入力手段の抜き差しが可能である。つまり、コネクタＣ１では、光ファイバ等の予期しない抜けが発生する恐れがある。ステップＳ２４では、ステップＳ１４と同様に、こうしたコネクタＣ１で生じる光ファイバ等の予期しない抜けを検出することができる。

ステップＳ２５
ステップＳ２４で断線が検出された場合、光増幅器２００には信号光ＩＮが入力されていないので、もはや正常な光増幅は行えない。よって、断線検出器２０は、ステップＳ１５と同様に、制御信号ＣＯＮ１ａにより、励起ＬＤ５に、励起光ＥＸの出力を停止させる。

ステップＳ２６
Ｌ２≦Ｌｔｈ２である場合には、信号光ＩＮａが光強度検出器１に到達しておらず、光強度検出器１から光強度検出器４までの間で断線が発生していることを検出することができる。コネクタＣ２及びＣ３は、光ファイバＯＦ１又の抜き差しが可能である。つまり、コネクタＣ２及びＣ３では、光ファイバＯＦ１の予期しない抜けが発生する恐れがある。ステップＳ２６では、ステップＳ１６と同様に、こうしたコネクタＣ２又はＣ３で生じる光ファイバＯＦ１の予期しない抜けを検出することができる。

ステップＳ２７
ステップＳ２６で断線が検出された場合、光増幅器２００は信号光ＩＮａを出力することができないので、もはや正常な光増幅は行えない。よって、断線検出器２０は、励起ＬＤ５に、励起光ＥＸの出力を停止させる。

ステップＳ２８及びＳ２９（自動復旧動作）
断線検出動作（Ｓ２１〜Ｓ２７）の後、光増幅器２００は、自動復旧動作を行う。自動復旧動作を構成するステップＳ２８及びＳ２９での動作を、以下で説明する。

ステップＳ２８
ステップＳ２６で断線を検出した結果、断線検出器２０は、制御信号ＣＯＮ１ｂにより、タイマ２１に断線検出を通知する。タイマ２１は、制御信号１ｂに応じて、制御信号ＣＯＮ２により、励起ＬＤ５をオフにする。そして、タイマ２１は、励起ＬＤ５をオフにしてからの経過時間ｔを計測する。

ステップＳ２９
ｔ＞ｔ０となった場合には、タイマ２１は、制御信号ＣＯＮ２により、励起ＬＤ５をオンにする。その後、ステップＳ２１に戻り、再度断線検出動作を行う。

これにより、経過時間ｔが設定時間ｔ０を超える前に、ステップＳ２６で検出された光強度検出器１と光強度検出器４との間での断線故障が除去された場合には、再度断線検出動作を行うことにより、断線なしの状態（ステップＳ２３）に自動的に復旧させることが可能である。

例えば、上述のように、光強度検出器１と光強度検出器４との間には、光ファイバＯＦ１の抜けが生じ易いコネクタＣ２及びＣ３が存在する。このため、光ファイバＯＦ１の抜き差しなどを行って断線が除去された場合、別途の復旧作業を行わずとも、自動的に通信状態を正常に復旧することができる。これにより、復旧作業を、より容易かつ迅速に行うことが可能となる。

なお、経過時間ｔが設定時間ｔ０を超えても断線故障が除去されない場合は、再度断線が検出され（ステップＳ２６）、励起ＬＤ５はオフとなる（ステップＳ２７）。よって、断線状態が継続したことにより、断線検出処理と自動復旧処理を繰り返したとしても、大部分の時間、励起ＬＤ５をオフにすることができる。

以上より、光増幅器２００によれば、断線検出動作及び自動復旧動作を行うことができる。以上、本構成によれば、通信状態の復旧作業を容易かつ迅速に行うことができる光増幅器を実現することができる。

実施の形態３
次に、本発明の実施の形態３にかかる光増幅器３００について説明する。図５は、実施の形態３にかかる光増幅器３００の構成を模式的に示すブロック図である。光増幅器３００は、実施の形態２にかかる光増幅器２００の構成転換例である。光増幅器３００は、光増幅器２００に、ＷＤＭカプラ６及び７、ＥＤＦＡ８を追加した構成を有する。

ＷＤＭカプラ６は、ＥＤＦＡ３とコネクタＣ２との間に挿入される。ＷＤＭカプラ７は、コネクタＣ３と光強度検出器４との間に挿入される。ＷＤＭカプラ６は、光ファイバＯＦ１を伝搬する励起光ＥＸを、光ファイバＯＦ２に分岐する。分岐されたＯＦ２は、ＷＤＭ７の入力と接続され、ＷＤＭカプラ７は、光ファイバＯＦ１を伝搬する信号光ＩＮａと光ファイバＯＦ２を伝搬する励起光とを合波する。

ＥＤＦＡ８は、ＷＤＭカプラ７と光強度検出器４との間に挿入される。ＥＤＦＡ８は、励起光ＥＸにより励起され、信号光ＩＮａの光強度を増幅する。ＥＤＦＡ８には、例えば、エルビウム（Ｅｒ）やツリウム（Ｔｍ）などの希土類イオンを添加（ドープ）したファイバを用いることができる。また、ＥＤＦＡ３の媒質長（例えば、ファイバ長）は、例えば、励起光ＥＸの一部を吸収しつつも、後段のＥＤＦＡ８に励起光の一部（残留励起光）を出力する程度の長さであることが好ましい。さらに、ＥＤＦＡ８の媒質長（例えば、ファイバ長）は、ＥＤＦＡ３の媒質長よりも長く、ＥＤＦＡ３からの残留励起光を漏れなく吸収できる程度の長さであることが好ましい。増幅された信号光ＩＮｂは、光強度検出器４に入力される。光増幅器３００のその他の構成は、光増幅器２００と同様であるので、説明を省略する。

つまり、光増幅器３００は、光増幅器２００と比べて、分散補償器１０１よりも後段に、さらにＥＤＦＡをもう１つ設けられた構成を有する。これにより、光増幅器３００は、分散補償後でも光強度を増幅することが可能である。

実施の形態４
次に、本発明の実施の形態４にかかる光増幅器４００について説明する。図６は、実施の形態４にかかる光増幅器４００の構成を模式的に示すブロック図である。光増幅器４００は、実施の形態３にかかる光増幅器３００の構成転換例である。光増幅器４００は、光増幅器４００のＷＤＭカプラ６を削除し、分岐カプラ９を追加した構成を有する。

分岐カプラ９は、励起ＬＤ５から出力される励起光ＥＸを２つに分岐する。分岐された励起光ＥＸの一方は、ＷＤＭカプラ２に入力される。分岐された励起光ＥＸ他方は、ＷＤＭカプラ７に入力される。光増幅器４００のその他の構成は、光増幅器３００と同様であるので、説明を省略する。

光増幅器４００は、光増幅器３００と構成が異なるものの、光増幅器３００と同様に、ＥＤＦＡ３及び８の両方を、励起光ＥＸにより励起し、光ファイバＯＦ１を伝搬する光を増幅することができる。これにより、光増幅器４００によれば、光増幅器３００と同様に、分散補償後でも光強度を増幅することが可能である。

また、ＷＤＭカプラは、一般的に単なる分岐カプラにくらべて構成が複雑であるため、分岐カプラよりも高価である。よって、光増幅器４００は、ＷＤＭカプラを分岐カプラに置き換えることにより、より安価に製造することが可能である。

実施の形態５
次に、本発明の実施の形態５について説明する。実施の形態５では、実施の形態１で用いられる断線検出器１０の具体例について説明する。図７は、実施の形態５にかかる断線検出器１０の構成例を模式的に示すブロック図である。断線検出器１０は、コンパレータＣＯＭ１及びＣＯＭ２、ＯＲ回路ＯＲ１、参照電圧生成回路１１及び１２を有する。

以下、励起ＬＤ５は、制御信号ＣＯＮ１がローの場合に励起光ＥＸを出力し、制御信号ＣＯＮ１がハイの場合に励起光ＥＸの出力を停止するものとする。

参照電圧生成回路１１は、抵抗Ｒ１１及びＲ１２を有する。抵抗Ｒ１１及びＲ１２は、電源電圧ＶＤＤを出力する電源（以下、電源ＶＤＤとも称する）と、グランド電圧ＧＮＤを出力する電源（以下、電源ＧＮＤとも称する）と、の間に、この順で直列に接続される。抵抗Ｒ１１と抵抗Ｒ１２との間の接続点からは、参照電圧ＲＥＦ１が出力される。

参照電圧生成回路１２は、抵抗Ｒ２１及びＲ２２を有する。抵抗Ｒ２１及びＲ２２は、電源ＶＤＤと電源ＧＮＤとの間に、この順で直列に接続される。抵抗Ｒ２１と抵抗Ｒ２２との間の接続点からは、参照電圧ＲＥＦ２が出力される。

コンパレータＣＯＭ１の反転入力端子には、検出信号Ｓ１が入力される。コンパレータＣＯＭ１の非反転入力端子には、参照電圧ＲＥＦ１が入力される。つまり、コンパレータＣＯＭ１は、検出信号Ｓ１のレベルと参照電圧ＲＥＦ１とのレベルと比較することにより、光強度検出器１で検出される信号光ＩＮの光強度Ｌ１と信号光ＩＮの光強度規格値Ｌｔｈ１とを比較する動作を行う。コンパレータＣＯＭ１は、比較結果を、比較信号Ｓ３として出力する。その結果、Ｌ１＞Ｌｔｈ１であれば比較信号Ｓ３はローとなり、Ｌ１≦Ｌｔｈ１であれば比較信号Ｓ３はハイとなる。

コンパレータＣＯＭ２の反転入力端子には、検出信号Ｓ２が入力される。コンパレータＣＯＭ２の非反転入力端子には、参照電圧ＲＥＦ２が入力される。つまり、コンパレータＣＯＭ２は、検出信号Ｓ２のレベルと参照電圧ＲＥＦ２とのレベルと比較することにより、光強度検出器４で検出される信号光の光強度Ｌ２と信号光の光強度規格値Ｌｔｈ２とを比較する動作を行う。コンパレータＣＯＭ２は、比較結果を、比較信号Ｓ４として出力する。その結果、Ｌ２＞Ｌｔｈ２であれば比較信号Ｓ４はローとなり、Ｌ２≦Ｌｔｈ２であれば比較信号Ｓ４はハイとなる。

なお、コンパレータＣＯＭ２は、光増幅器１００にあっては、光強度検出器４で検出される信号光ＩＮａの光強度Ｌ２と信号光ＩＮａの光強度規格値Ｌｔｈ２とを比較する動作を行う。

ＯＲ回路ＯＲ１の一方の入力端子には比較信号Ｓ３が入力され、他方の入力端子には比較信号Ｓ４が入力される。ＯＲ回路ＯＲ１は、比較信号Ｓ３のレベルと比較信号Ｓ４とのレベルと比較することにより、図２のステップＳ１１、Ｓ１２に対応する動作を行う。

比較信号Ｓ３がローで断線非検出状態である場合（Ｌ１＞Ｌｔｈ１）、かつ、比較信号Ｓ４がローで断線非検出状態である場合（Ｌ２＞Ｌｔｈ２）には、ＯＲ回路ＯＲ１は、制御信号ＣＯＮ１としてローを出力する。つまり、この場合のＯＲ回路ＯＲ１の動作は、図２のステップＳ１２の比較結果「ＹＥＳ」の場合に対応する。

比較信号Ｓ３がハイで断線検出状態である場合（Ｌ１≦Ｌｔｈ１）には、比較信号Ｓ４もハイで断線検出状態（Ｌ２≦Ｌｔｈ２）となる。このとき、ＯＲ回路ＯＲ１は、制御信号ＣＯＮ１としてハイを出力する（図２のステップＳ１４に対応）。つまり、この場合のＯＲ回路ＯＲ１の動作は、図２のステップＳ１１の比較結果「ＮＯ」の場合に対応する。制御信号ＣＯＮ１がハイとなることにより、励起ＬＤ５はオフとなる（図２のステップＳ１５に対応）。

比較信号Ｓ３がローで断線非検出状態である場合（Ｌ１＞Ｌｔｈ１）、かつ、比較信号Ｓ４がハイで断線検出状態（Ｌ２≦Ｌｔｈ２）である場合には、ＯＲ回路ＯＲ１は、制御信号ＣＯＮ１としてハイを出力する（図２のステップＳ１６に対応）。つまり、この場合のＯＲ回路ＯＲ１の動作は、図２のステップＳ１２の比較結果「ＮＯ」の場合に対応する。制御信号ＣＯＮ１がハイとなることにより、励起ＬＤ５はオフとなる（図２のステップＳ１７に対応）。

以上説明したように、本実施の形態にかかる断線検出器１０を用いることにより、実施の形態１にかかる光増幅器１００を具体的に構成することが可能となる。

なお、本実施の形態にかかる断線検出器１０によれば、抵抗Ｒ１１及びＲ１２の抵抗値を適宜設定することにより、光強度規格値Ｌｔｈ１を調整することが可能である。また、抵抗Ｒ２１及びＲ２２の抵抗値を適宜設定することにより、光強度規格値Ｌｔｈ２を調整することが可能である。

実施の形態６
次に、本発明の実施の形態６について説明する。実施の形態６では、実施の形態２〜４で用いられる断線検出器２０の具体例について説明する。図８は、実施の形態６にかかる断線検出器２０の構成例を模式的に示すブロック図である。断線検出器２０は、図７に示す断線検出器１０のＯＲ回路ＯＲ１を削除し、ＡＮＤ回路ＡＮＤ１及びインバータＩＮＶ１を追加した構成を有する。

ＡＮＤ回路ＡＮＤ１の一方の入力には、インバータＩＮＶ１を介して、比較信号Ｓ３の反転信号が入力する。ＡＮＤ回路ＡＮＤ１の他方の入力には、比較信号Ｓ４が入力する。そして、ＡＮＤ回路ＡＮＤ１は、比較信号Ｓ３の反転信号と比較信号Ｓ４との論理積を制御信号ＣＯＮ１ｂとして出力する。

比較信号Ｓ３は、そのまま制御信号ＣＯＮ１ａとして出力される。断線検出器２０のその他の構成は、断線検出器１０と同様であるので、説明を省略する。

続いて、断線検出器２０の動作について説明する。以下、励起ＬＤ５は、制御信号ＣＯＮ１ａ及びＣＯＮ１ｂがいずれもローの場合に励起光ＥＸを出力し、制御信号ＣＯＮ１ａ又はＣＯＮ１ｂがハイの場合に励起光ＥＸの出力を停止するものとする。

断線検出器２０では、断線検出器１０と同様に、Ｌ１＞Ｌｔｈ１であれば比較信号Ｓ３はローとなり、Ｌ１≦Ｌｔｈ１であれば比較信号Ｓ３はハイとなる。また、Ｌ２＞Ｌｔｈ２であれば比較信号Ｓ４はローとなり、Ｌ２≦Ｌｔｈ２であれば比較信号Ｓ４はハイとなる。

コンパレータＣＯＭ１は、制御信号ＣＯＮ１ａとして、比較信号Ｓ３を出力する。よって、コンパレータＣＯＭ１は、図４のステップＳ２１に対応する動作を行う。

比較信号Ｓ３がローで断線非検出状態である場合（Ｌ１＞Ｌｔｈ１）には、制御信号ＣＯＮ１ａもローを出力する。つまり、この場合の動作は、図４のステップＳ２１の比較結果「ＹＥＳ」の場合に対応する。

比較信号Ｓ３がハイで断線検出状態である場合（Ｌ１≦Ｌｔｈ１）には、比較信号Ｓ４もハイで断線検出状態（Ｌ２≦Ｌｔｈ２）となる。よって、制御信号ＣＯＮ１ａ（すなわち、比較信号Ｓ３）はハイとなり（図４のステップＳ２４に対応）、励起ＬＤはオフとなる（図４のステップＳ２５に対応）。また、ＡＮＤ回路ＡＮＤ１は、制御信号ＣＯＮ１ｂとしてローを出力する。よって、タイマ２１は、オフのままで維持される。この場合の動作は、図４のステップＳ２１の比較結果「ＮＯ」の場合に対応する。

比較信号Ｓ３がローで断線非検出状態である場合（Ｌ１＞Ｌｔｈ１）、かつ、比較信号Ｓ４がハイで断線検出状態（Ｌ２≦Ｌｔｈ２）である場合には、ＡＮＤ回路ＡＮＤ１は、制御信号ＣＯＮ１ｂとしてハイを出力する（図４のステップＳ２６に対応）。つまり、この場合の動作は、図４のステップＳ２２の比較結果「ＮＯ」の場合でに対応する。

これにより、タイマ２１が作動し、制御信号ＣＯＮ２をローからハイに切り替えて、励起ＬＤ５をオフにする（図４のステップＳ２７に対応）。そして、励起ＬＤ５をオフにしてから設定時間ｔ０を経過した時に、制御信号ＣＯＮ２をハイからローに切り替えて、励起ＬＤ５をオンにする（図４のステップＳ２８及びＳ２９に対応）。

以上説明したように、本実施の形態にかかる断線検出器２０を用いることにより、実施の形態２〜４にかかる光増幅器２００、３００及び４００を具体的に構成することが可能となる。

なお、本実施の形態にかかる断線検出器２０によれば、抵抗Ｒ１１及びＲ１２の抵抗値を適宜設定することにより、光強度規格値Ｌｔｈ１を調整することが可能である。また、抵抗Ｒ２１及びＲ２２の抵抗値を適宜設定することにより、光強度規格値Ｌｔｈ２を調整することが可能である。

実施の形態７
次に、本発明の実施の形態７について説明する。実施の形態７では、実施の形態１〜４で用いられる光強度検出器１及び４の具体例について説明する。光強度検出器１及び４は、同様の構成を有するので、以下では、光強度検出器１について説明する。図９は、実施の形態７にかかる光強度検出器１の構成例を模式的に示すブロック図である。光強度検出器１は、分岐カプラ７１及びフォトダイオード（ＰＤ）７２を有する。分岐カプラ７１には、例えば、光カプラ（スプリッタ）などの光分岐ユニットを用いることができる。

分岐カプラ７１は、光ファイバＯＦ１に挿入され、光ファイバＯＦ１を伝搬する光の一部を分岐してＰＤ７２に入力させる。ＰＤ７２は、入力された光を光電変換した信号を、検出信号Ｓ１として出力する。

なお、光強度検出器４は、検出信号Ｓ２を出力する他は、光強度検出器１と同様の構成を有する。

以上説明したように、本実施の形態にかかる光強度検出器１及び４を用いることにより、実施の形態１〜４にかかる光増幅器１００、２００、３００及び４００を具体的に構成することが可能となる。

なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。例えば、上述の実施の形態にかかる光ファイバＯＦ１は、例えば平面光導波路（ＰＬＣ：Planar Lightwave Circuit）などの、別の光伝送路に置き換えることが可能である。

実施の形態３及び４にかかる光増幅器３００及び４００では、例えばコネクタＣ３と光強度検出器４との間に、例えばＶＯＡ（Variable Optical Attenuator）を挿入してもよい。

上述の実施の形態では、光増幅器の外付け光学部品として分散補償器を例示したが、分散補償器以外の他の光学部品を光増幅器の外付け光学部品として用いることが可能である。

実施の形態３及び４にかかる光増幅器３００及び４００は、タイマ２１を有する構成としたが、実施の形態１と同様に、タイマ２１を有しない構成とすることも可能である。

上記の実施の形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載され得るが、以下には限られない。

（付記１）入力する第１の信号光の光強度を検出し、検出結果を第１の検出信号として出力する第１の光強度検出器と、前記第１の光強度検出器を通過した前記第１の信号光を増幅し、第２の信号光として出力する第１の光増幅部と、前記第２の光信号の光強度を検出し、検出結果を第２の検出信号として出力する第２の光強度検出器と、前記第１及び第２の検出信号が入力され、前記第１の信号光の光強度が第１の値よりも小さい場合には前記第１の光強度検出器よりも前段での断線を検出し、前記第１の信号光の光強度が前記第１の値よりも大きく、かつ、前記第２の信号光の光強度が第２の値よりも小さい場合には前記第１の光強度検出器と前記第２の光強度検出器との間の断線を検出する断線検出器と、を備える、光増幅器。

（付記２）希土類添加媒質からなる光ファイバである前記第１の光増幅部に、励起光を供給する励起光源を更に備える、付記１に記載の光増幅器。

（付記３）前記断線検出器は、前記第１の検出信号に応じて、前記第１の断線を検出した場合に前記励起光源からの前記励起光の出力を停止させる第１の制御信号を、前記励起光源に出力する、付記２に記載の光増幅器。

（付記４）前記断線検出器は、前記第２の検出信号に応じて前記第２の断線を検出した場合、前記第１の制御信号により、前記励起光源からの前記励起光の出力を停止させる、付記に記載の光増幅器。

（付記５）前記断線検出器は、前記第１の検出信号と前記第１の値に対応する第１の参照電圧とを比較し、比較結果を第１の比較信号として出力する第１の比較器と、前記第２の検出信号と前記第２の値に対応する第２の参照電圧とを比較し、比較結果を第２の比較信号として出力する第２の比較器と、前記第１の比較信号と前記第２の比較信号との論理和を、前記第１の制御信号として出力するＯＲ論理回路と、を備える、付記４に記載の光増幅器。

（付記６）前記断線検出器は、前記第１の検出信号と前記第１の値に対応する第１の参照電圧とを比較し、比較結果である第１の比較信号を前記第１の制御信号として出力する第１の比較器と、前記第２の検出信号と前記第２の値に対応する第２の参照電圧とを比較し、比較結果を第２の比較信号として出力する第２の比較器と、前記第１の比較信号の反転信号と前記第２の比較信号との論理積を、第２の制御信号として出力するＡＮＤ論理回路と、を備える、付記３に記載の光増幅器。

（付記７）前記断線検出器が前記第２の断線を検出した場合、前記第２の制御信号に応じた第３の制御信号を出力することにより、前記励起光源からの前記励起光の出力を停止させるタイマを更に備え、前記タイマは、前記励起光源からの前記励起光の出力を停止させてから所定時間経過後、前記第３の制御信号により、前記励起光源からの前記励起光の出力を再開させる、付記６に記載の光増幅器。

（付記８）前記第１の比較器の反転入力端子には、前記第１の検出信号が入力され、前記第１の比較器の非反転入力端子には、前記第１の参照電圧が入力され、前記第２の比較器の反転入力端子には、前記第２の検出信号が入力され、前記第２の比較器の非反転入力端子には、前記第２の参照電圧が入力される、付記５乃至７のいずれかに記載の光増幅器。

（付記９）前記第１の光増幅部は、エルビウム又はツリウムを添加した前記希土類添加媒質からなる光ファイバである、付記２乃至８のいずれかに記載の光増幅器。

（付記１０）前記第１及び第２の光強度検出器、前記第１の光増幅部を接続する光伝送路と、前記第１の光増幅部と前記第２の光強度検出器との間の前記光伝送路上に挿入される第１及び第２のコネクタと、を更に備え、前記第１のコネクタと前記第２のコネクタとの間には、外付け光学部品が挿入される、付記２乃至９のいずれかに記載の光増幅器。

（付記１１）前記外付け光学部品は、分散補償器である、付記１０に記載の光増幅器。

（付記１３）前記第１の光増幅部と前記第２の光強度検出器との間に挿入され、前記第２の信号光を増幅して第３の信号光として出力する第２の光増幅部を更に備える、付記１乃至１１のいずれかに記載の光増幅器。

（付記１４）前記第２の光増幅部は、希土類添加媒質からなる光ファイバである、付記１３に記載の光増幅器。

（付記１５）前記第２の光増幅部は、エルビウム又はツリウムを添加した前記希土類添加媒質からなる光ファイバである、付記１４に記載の光増幅器。

（付記１６）前記第１の光強度検出器と前記第１の光増幅部との間に挿入され、前記励起光を前記第１の信号光に合波する第１の合波器と、前記第１の光増幅器と前記第２の光増幅部との間に挿入され、前記第１の光増幅部を通過した前記励起光と前記第２の信号光とを分波する分波器と、前記分波器と前記第２の光増幅部との間に挿入され、前記分波器で分波された前記励起光と前記第２の信号光とを合波する第２の合波器と、を更に備える、付記１４又は１５に記載の光増幅器。

（付記１７）前記励起光源から出力される前記励起光を第１及び第２の分岐励起光に分岐する分岐器と、前記第１の光強度検出器と前記第１の光増幅部との間に挿入され、前記第１の分岐励起光を前記第１の信号光に合波する第１の合波器と、前記第１の光増幅部と前記第２の光増幅部との間に挿入され、前記第２の分岐励起光と前記第２の信号光とを合波する第２の合波器と、を更に備える、付記１４又は１５に記載の光増幅器。

（付記１８）第１の光強度検出器に、入力する第１の信号光の光強度を検出させて、検出結果を第１の検出信号として出力させ、前記第１の光強度検出器を通過した前記第１の信号光を第１の光増幅部に増幅させて、第２の信号光として出力させ、第２の光強度検出器に、前記第２の光信号の光強度を検出させ、検出結果を第２の検出信号として出力させ、前記第１及び第２の検出信号に応じて、前記第１の信号光の光強度が第１の値よりも小さい場合には前記第１の光強度検出器よりも前段での断線を検出し、前記第１の信号光の光強度が前記第１の値よりも大きく、かつ、前記第２の信号光の光強度が第２の値よりも小さい場合には前記第１の光強度検出器と前記第２の光強度検出器との間の断線を検出する、光増幅器の断線検出方法。

１、４ 光強度検出器
２、６、７ ＷＤＭカプラ
３、８ ＥＤＦＡ
５ 励起ＬＤ
９ 分岐カプラ
１０、２０ 断線検出器
１１、１２ 参照電圧生成回路
２１ タイマ
７１ 分岐カプラ
７２ ＰＤ
１００、２００、３００、４００ 光増幅器
１０１ 分散補償器
８００ 一般的な光増幅器
８０１ 分岐部
８０２ 合波部
８０３ 第１のＥＤＦ
８０４ 分波器
８０５ ＶＯＡ
８０６ 合波器
８０７ 第２のＥＤＦ
８０８ 分岐部
８０９ 利得目標値算出部
８１０ 利得誤差検出部
８１１ パワー制御部
８１２ 波長固定励起ＬＤ
８１３ 制御部
Ｃ１〜Ｃ４ コネクタ
ＣＯＭ１、ＣＯＭ２ コンパレータ
ＣＯＮ１、ＣＯＮ２ 制御信号
ＥＸ 励起光
ＯＦ１、ＯＦ２ 光ファイバ
ＯＲ１ ＯＲ回路
Ｒ１１、Ｒ１２、Ｒ２１、Ｒ２２ 抵抗
ＲＥＦ１、ＲＥＦ２ 参照電圧
Ｓ１、Ｓ２ 検出信号
Ｓ３、Ｓ４ 比較信号

Claims (10)

1. 入力する第１の信号光の光強度を検出し、検出結果を第１の検出信号として出力する第１の光強度検出器と、
   前記第１の光強度検出器を通過した前記第１の信号光を増幅し、第２の信号光として出力する第１の光増幅部と、
   前記第２の光信号の光強度を検出し、検出結果を第２の検出信号として出力する第２の光強度検出器と、
   前記第１及び第２の検出信号が入力され、前記第１の信号光の光強度が第１の値よりも小さい場合には前記第１の光強度検出器よりも前段での第１の断線を検出し、前記第１の信号光の光強度が前記第１の値よりも大きく、かつ、前記第２の信号光の光強度が第２の値よりも小さい場合には前記第１の光強度検出器と前記第２の光強度検出器との間の第２の断線を検出する断線検出器と、を備える、
   光増幅器。
2. 希土類添加媒質からなる光ファイバである前記第１の光増幅部に、励起光を供給する励起光源を更に備える、
   請求項１に記載の光増幅器。
3. 前記断線検出器は、前記第１の検出信号に応じて、前記第１の断線を検出した場合に前記励起光源からの前記励起光の出力を停止させる第１の制御信号を、前記励起光源に出力する、
   請求項２に記載の光増幅器。
4. 前記断線検出器は、前記第２の検出信号に応じて前記第２の断線を検出した場合、前記第１の制御信号により、前記励起光源からの前記励起光の出力を停止させる、
   請求項３に記載の光増幅器。
5. 前記断線検出器は、
   前記第１の検出信号と前記第１の値に対応する第１の参照電圧とを比較し、比較結果を第１の比較信号として出力する第１の比較器と、
   前記第２の検出信号と前記第２の値に対応する第２の参照電圧とを比較し、比較結果を第２の比較信号として出力する第２の比較器と、
   前記第１の比較信号と前記第２の比較信号との論理和を、前記第１の制御信号として出力するＯＲ論理回路と、を備える、
   請求項４に記載の光増幅器。
6. 前記断線検出器は、
   前記第１の検出信号と前記第１の値に対応する第１の参照電圧とを比較し、比較結果である第１の比較信号を前記第１の制御信号として出力する第１の比較器と、
   前記第２の検出信号と前記第２の値に対応する第２の参照電圧とを比較し、比較結果を第２の比較信号として出力する第２の比較器と、
   前記第１の比較信号の反転信号と前記第２の比較信号との論理積を、第２の制御信号として出力するＡＮＤ論理回路と、を備える、
   請求項３に記載の光増幅器。
7. 前記断線検出器が前記第２の断線を検出した場合、前記第２の制御信号に応じた第３の制御信号を出力することにより、前記励起光源からの前記励起光の出力を停止させるタイマを更に備え、
   前記タイマは、前記励起光源からの前記励起光の出力を停止させてから所定時間経過後、前記第３の制御信号により、前記励起光源からの前記励起光の出力を再開させる、
   請求項６に記載の光増幅器。
8. 前記第１の比較器の反転入力端子には、前記第１の検出信号が入力され、
   前記第１の比較器の非反転入力端子には、前記第１の参照電圧が入力され、
   前記第２の比較器の反転入力端子には、前記第２の検出信号が入力され、
   前記第２の比較器の非反転入力端子には、前記第２の参照電圧が入力される、
   請求項５乃至７のいずれか一項に記載の光増幅器。
9. 前記第１及び第２の光強度検出器、前記第１の光増幅部を接続する光伝送路と、
   前記第１の光増幅部と前記第２の光強度検出器との間の前記光伝送路上に挿入される第１及び第２のコネクタと、を更に備え、
   前記第１のコネクタと前記第２のコネクタとの間には、外付け光学部品が挿入される、
   請求項２乃至８のいずれか一項に記載の光増幅器。
10. 第１の光強度検出器に、入力する第１の信号光の光強度を検出させて、検出結果を第１の検出信号として出力させ、
    前記第１の光強度検出器を通過した前記第１の信号光を第１の光増幅部に増幅させて、第２の信号光として出力させ、
    第２の光強度検出器に、前記第２の光信号の光強度を検出させ、検出結果を第２の検出信号として出力させ、
    前記第１及び第２の検出信号に応じて、前記第１の信号光の光強度が第１の値よりも小さい場合には前記第１の光強度検出器よりも前段での断線を検出し、前記第１の信号光の光強度が前記第１の値よりも大きく、かつ、前記第２の信号光の光強度が第２の値よりも小さい場合には前記第１の光強度検出器と前記第２の光強度検出器との間の断線を検出する、
    光増幅器の断線検出方法。

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