JP2013190357A - ムラ情報生成装置、ムラ情報生成プログラム及びムラ情報生成方法 - Google Patents
ムラ情報生成装置、ムラ情報生成プログラム及びムラ情報生成方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013190357A JP2013190357A JP2012057542A JP2012057542A JP2013190357A JP 2013190357 A JP2013190357 A JP 2013190357A JP 2012057542 A JP2012057542 A JP 2012057542A JP 2012057542 A JP2012057542 A JP 2012057542A JP 2013190357 A JP2013190357 A JP 2013190357A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- unevenness
- value
- fourier transform
- frequency component
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
【解決手段】インキが塗布されたカラーフィルタを撮像して得られた撮像画像に対してフーリエ変換処理を行うことによりフーリエ変換後画像を生成して、フーリエ変換後画像からシミムラ周波数成分を抽出した画像に対してフーリエ逆変換処理を行うことによりシミムラ画像を生成し、フーリエ変換後画像からスジムラ周波数成分のみを抽出した画像に対してフーリエ逆変換処理を行うことによりスジムラ画像を生成する。
【選択図】図3
Description
ムラの度合い=ムラ輝度差D×ムラ面積率
=ムラ輝度差D×ムラ部分の合計面積/ムラ画像全体の面積
=ムラ輝度差D×ムラ部分の総画素数/ムラ画像全体の総画素数
ここで、「ムラ部分の総画素数」とは、輝度値が[平均輝度値AV+設定値SP1]以上である画素の数と、輝度値が[平均輝度値AV−設定値SP2]以下である画素の数を合算した画素数である。
11 制御部
12 記憶部
13 インターフェース部
14 表示部
15 操作部
2 ラインセンサカメラ
3 蛍光灯
4 ステージ
CF カラーフィルタ
Claims (9)
- カラーフィルタにおけるインキの塗布ムラに関する情報を生成するムラ情報生成装置であって、
インキが塗布されたカラーフィルタを撮像して得られた撮像画像に対してフーリエ変換処理を行うことによりフーリエ変換後画像を生成する変換手段と、
前記フーリエ変換後画像からシミムラ周波数成分を抽出した画像に対してフーリエ逆変換処理を行うことによりシミムラ画像を生成するシミムラ画像生成手段と、
前記フーリエ変換後画像からスジムラ周波数成分を抽出した画像に対してフーリエ逆変換処理を行うことによりスジムラ画像を生成するスジムラ画像生成手段と、
を備えることを特徴とするムラ情報生成装置。 - 請求項1に記載のムラ情報生成装置であって、
前記シミムラ画像生成手段は、前記フーリエ変換後画像におけるシミムラ周波数成分以外の部分をマスクし、マスクした部分を除去することにより、前記フーリエ変換後画像からシミムラ周波数成分を抽出し、
前記スジムラ画像生成手段は、前記フーリエ変換後画像におけるスジムラ周波数成分以外の部分をマスクし、マスクした部分を除去することにより、前記フーリエ変換後画像からスジムラ周波数成分を抽出することを特徴とするムラ情報生成装置。 - 請求項2に記載のムラ情報生成装置であって、
前記変換手段は、スジムラのスジを基準方向に対して垂直方向に向けた状態でフーリエ変換処理を行い、
前記シミムラ画像生成手段は、前記フーリエ変換処理が行われた向きのままの状態の前記フーリエ変換後画像において、画像重心部を前記基準方向に伸びる周波数成分と、画像重心部を前記基準方向と垂直方向に伸びる周波数成分をマスクすることを特徴とするムラ情報生成装置。 - 請求項2又は3に記載のムラ情報生成装置であって、
前記変換手段は、スジムラのスジを基準方向に対して垂直方向に向けた状態でフーリエ変換処理を行い、
前記スジムラ画像生成手段は、前記フーリエ変換処理が行われた向きのままの状態の前記フーリエ変換後画像において、画像重心部を前記基準方向に伸びる周波数成分以外の部分をマスクすることを特徴とするムラ情報生成装置。 - 請求項1乃至4の何れか一項に記載のムラ情報生成装置であって、
前記シミムラ画像に基づいてシミムラの度合いを示すムラ値、又は、前記スジムラ画像に基づいてスジムラの度合いを示すムラ値を算出するムラ値算出手段を更に備え、
前記ムラ値算出手段は、
算出すべきムラ値の基となるムラ画像における当該ムラ画像の平均輝度値に設定値を加算した輝度値以上の輝度値である全ての明部ピクセルから明部平均輝度値を算出するとともに、当該ムラ画像の平均輝度値から設定値を減算した輝度値以下の輝度値である全ての暗部ピクセルから暗部平均輝度値を算出し、
前記ムラ画像における前記明部平均輝度値と前記暗部平均輝度値の差分であるムラ輝度差を算出し、
前記ムラ輝度差に対して、前記ムラ画像を構成する全ピクセル数に占める前記明部ピクセル数と前記暗部ピクセル数の合計ピクセル数の割合を乗じた値を、前記ムラ値として算出することを特徴とするムラ情報生成装置。 - 請求項5に記載のムラ情報生成装置であって、
前記ムラ値算出手段により算出されたシミムラ値又はスジムラ値の少なくとも何れか一方のムラ値を日時情報とともに記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された日時情報に基づいて、時間の経過に伴う前記ムラ値の変化を示すグラフを表示手段に表示させるグラフ表示制御手段と、
を更に備えることを特徴とするムラ情報生成装置。 - 請求項1乃至6の何れか一項に記載のムラ情報生成装置であって、
前記シミムラ画像又は前記スジムラ画像の少なくとも何れか一方のムラ画像に基づいて、当該ムラ画像における、当該ムラ画像の平均輝度値に設定値を加算した輝度値以上の輝度値である明部ピクセルを第1の色で示すとともに、当該ムラ画像における、当該ムラ画像の平均輝度値から設定値を減算した輝度値以下の輝度値である暗部ピクセルを第2の色で示す確認用ムラ画像を作成する作成手段と、
前記作成された確認用ムラ画像を表示手段に表示させる確認用ムラ画像表示制御手段と、
を更に備えることを特徴とするムラ情報生成装置。 - カラーフィルタにおけるインキの塗布ムラに関する情報を生成するムラ情報生成装置を構成するコンピュータを、
インキが塗布されたカラーフィルタを撮像して得られた撮像画像に対してフーリエ変換処理を行うことによりフーリエ変換後画像を生成する変換手段、
前記フーリエ変換後画像からシミムラ周波数成分を抽出した画像に対してフーリエ逆変換処理を行うことによりシミムラ画像を生成するシミムラ画像生成手段、
前記フーリエ変換後画像からスジムラ周波数成分を抽出した画像に対してフーリエ逆変換処理を行うことによりスジムラ画像を生成するスジムラ画像生成手段、
として機能させることを特徴とするムラ情報生成プログラム。 - カラーフィルタにおけるインキの塗布ムラに関する情報を生成するムラ情報生成装置によるムラ情報生成方法であって、
インキが塗布されたカラーフィルタを撮像して得られた撮像画像に対してフーリエ変換処理を行うことによりフーリエ変換後画像を生成する変換工程と、
前記フーリエ変換後画像からシミムラ周波数成分を抽出した画像に対してフーリエ逆変換処理を行うことによりシミムラ画像を生成するシミムラ画像生成工程と、
前記フーリエ変換後画像からスジムラ周波数成分を抽出した画像に対してフーリエ逆変換処理を行うことによりスジムラ画像を生成するスジムラ画像生成工程と、
を含むことを特徴とするムラ情報生成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012057542A JP6035794B2 (ja) | 2012-03-14 | 2012-03-14 | ムラ情報生成装置、ムラ情報生成プログラム及びムラ情報生成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012057542A JP6035794B2 (ja) | 2012-03-14 | 2012-03-14 | ムラ情報生成装置、ムラ情報生成プログラム及びムラ情報生成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013190357A true JP2013190357A (ja) | 2013-09-26 |
JP6035794B2 JP6035794B2 (ja) | 2016-11-30 |
Family
ID=49390758
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012057542A Active JP6035794B2 (ja) | 2012-03-14 | 2012-03-14 | ムラ情報生成装置、ムラ情報生成プログラム及びムラ情報生成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6035794B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017203622A (ja) * | 2016-05-09 | 2017-11-16 | コニカミノルタ株式会社 | 色むら検査方法及び色むら検査装置 |
JP6430675B1 (ja) * | 2017-06-05 | 2018-11-28 | 住友化学株式会社 | フィルム、フィルムの光学的均質性の評価方法及びフィルムの製造方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108872153B (zh) * | 2018-08-20 | 2020-12-11 | 南京理工大学 | 基于非均匀傅里叶变换的平行平板光学均匀性的测量方法 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59208407A (ja) * | 1983-05-13 | 1984-11-26 | Toshiba Corp | マスク欠陥検査装置 |
JPH02252392A (ja) * | 1989-03-25 | 1990-10-11 | Ricoh Co Ltd | 画質評価方法 |
JPH06242013A (ja) * | 1993-02-16 | 1994-09-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 欠陥検査装置 |
JP2000111492A (ja) * | 1998-10-08 | 2000-04-21 | Dainippon Printing Co Ltd | 周期性パターンのムラ検査方法 |
JP2003123073A (ja) * | 2001-10-15 | 2003-04-25 | Ricoh Co Ltd | 欠陥検出方法 |
JP2004212311A (ja) * | 2003-01-08 | 2004-07-29 | Seiko Epson Corp | ムラ欠陥の検出方法及び装置 |
JP2007178384A (ja) * | 2005-12-28 | 2007-07-12 | Aichi Mach Ind Co Ltd | 検査装置および検査方法 |
JP2008139027A (ja) * | 2006-11-29 | 2008-06-19 | Sharp Corp | 検査装置、検査方法、撮像検査システム、カラーフィルタの製造方法、検査プログラム |
JP2009036592A (ja) * | 2007-07-31 | 2009-02-19 | Sharp Corp | スジムラ評価装置、スジムラ評価方法、スジムラ評価プログラム、記録媒体及びカラーフィルタの製造方法 |
-
2012
- 2012-03-14 JP JP2012057542A patent/JP6035794B2/ja active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59208407A (ja) * | 1983-05-13 | 1984-11-26 | Toshiba Corp | マスク欠陥検査装置 |
JPH02252392A (ja) * | 1989-03-25 | 1990-10-11 | Ricoh Co Ltd | 画質評価方法 |
JPH06242013A (ja) * | 1993-02-16 | 1994-09-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 欠陥検査装置 |
JP2000111492A (ja) * | 1998-10-08 | 2000-04-21 | Dainippon Printing Co Ltd | 周期性パターンのムラ検査方法 |
JP2003123073A (ja) * | 2001-10-15 | 2003-04-25 | Ricoh Co Ltd | 欠陥検出方法 |
JP2004212311A (ja) * | 2003-01-08 | 2004-07-29 | Seiko Epson Corp | ムラ欠陥の検出方法及び装置 |
JP2007178384A (ja) * | 2005-12-28 | 2007-07-12 | Aichi Mach Ind Co Ltd | 検査装置および検査方法 |
JP2008139027A (ja) * | 2006-11-29 | 2008-06-19 | Sharp Corp | 検査装置、検査方法、撮像検査システム、カラーフィルタの製造方法、検査プログラム |
JP2009036592A (ja) * | 2007-07-31 | 2009-02-19 | Sharp Corp | スジムラ評価装置、スジムラ評価方法、スジムラ評価プログラム、記録媒体及びカラーフィルタの製造方法 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017203622A (ja) * | 2016-05-09 | 2017-11-16 | コニカミノルタ株式会社 | 色むら検査方法及び色むら検査装置 |
JP6430675B1 (ja) * | 2017-06-05 | 2018-11-28 | 住友化学株式会社 | フィルム、フィルムの光学的均質性の評価方法及びフィルムの製造方法 |
WO2018225598A1 (ja) * | 2017-06-05 | 2018-12-13 | 住友化学株式会社 | フィルム、フィルムの光学的均質性の評価方法及びフィルムの製造方法 |
JP2018203986A (ja) * | 2017-06-05 | 2018-12-27 | 住友化学株式会社 | フィルム、フィルムの光学的均質性の評価方法及びフィルムの製造方法 |
JP6474936B1 (ja) * | 2017-06-05 | 2019-02-27 | 住友化学株式会社 | フィルム、フィルムの光学的均質性の評価方法及びフィルムの製造方法 |
JP2019073707A (ja) * | 2017-06-05 | 2019-05-16 | 住友化学株式会社 | フィルム、フィルムの光学的均質性の評価方法及びフィルムの製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6035794B2 (ja) | 2016-11-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4902456B2 (ja) | スジムラ評価装置、スジムラ評価方法、スジムラ評価プログラム、記録媒体及びカラーフィルタの製造方法 | |
WO2019059011A1 (ja) | 教師データ作成方法及び装置並びに欠陥検査方法及び装置 | |
JP2008134196A (ja) | 線状の欠陥の検出装置および半導体基板の製造装置、線状の欠陥の検出方法および半導体基板の製造方法、コンピュータを当該検出装置または当該製造装置として機能させるためのプログラム、ならびに当該プログラムを格納した記録媒体 | |
US20120076392A1 (en) | Fault Detection of a Printed Dot-Pattern Bitmap | |
JP2009522561A (ja) | 周期構造の光学検査方法及びシステム | |
WO2021010269A1 (ja) | 検査装置、検査方法及びプログラム | |
JP2007285754A (ja) | 欠陥検出方法および欠陥検出装置 | |
JP6035794B2 (ja) | ムラ情報生成装置、ムラ情報生成プログラム及びムラ情報生成方法 | |
JP2004212311A (ja) | ムラ欠陥の検出方法及び装置 | |
JP2006258713A (ja) | シミ欠陥検出方法及び装置 | |
JP2008139027A (ja) | 検査装置、検査方法、撮像検査システム、カラーフィルタの製造方法、検査プログラム | |
JP2008139027A5 (ja) | ||
JP2017203622A (ja) | 色むら検査方法及び色むら検査装置 | |
JP2001266122A (ja) | 色ムラ欠陥検査方法及び装置 | |
KR101053779B1 (ko) | 디스플레이 수단의 메탈 마스크 검사 방법 | |
JP2000292311A (ja) | 周期性パターンのムラ検査方法及び装置 | |
KR20210085411A (ko) | 반복 얼룩 검출 장치 및 반복 얼룩 검출 방법 | |
JP2004219176A (ja) | 画素ムラ欠陥の検出方法及び装置 | |
JP2005315748A (ja) | データ圧縮方法、欠陥検査方法および欠陥検査装置 | |
JP5384128B2 (ja) | 検査装置、および検査プログラム | |
JP2004053477A (ja) | 色ムラ検査方法及び装置 | |
JP2010038544A (ja) | 塗布ムラ検査装置および塗布ムラ検査方法 | |
JP2006145228A (ja) | ムラ欠陥検出方法及び装置 | |
JP2005114500A (ja) | 光学特性の不均一性測定方法および装置ならびにこれを利用した製品良否判定装置 | |
JP3941403B2 (ja) | 画像濃淡ムラ検出方法及びこの検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150123 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20151019 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20151027 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20151228 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160531 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160801 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20161004 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20161017 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6035794 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |