JP2013150092A - インターフェイス回路、および、半導体記憶装置 - Google Patents

インターフェイス回路、および、半導体記憶装置 Download PDF

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Abstract

【課題】広い電源電圧範囲でより高速に動作することが可能なインターフェイス回路を提供する。
【解決手段】インターフェイス回路は、第1の電源電圧が印加される第1の電源端子にソースおよびバッグゲートが接続され、出力信号を出力する出力端子にドレインが接続された第1導電型の第1のMOSトランジスタを備える。インターフェイス回路は、前記出力端子にドレインが接続され、固定電位にソースおよびバッグゲートが接続された第2導電型の第2のMOSトランジスタを備える。インターフェイス回路は、前記第1の電源端子にドレインが接続され、前記出力端子にソースおよびバッグゲートが接続された第2導電型の第3のMOSトランジスタを備える。
【選択図】図2

Description

本発明の実施形態は、インターフェイス回路、および、半導体記憶装置に関する。
従来のインターフェイス回路では、入力端子の電源電圧を下げると最終段のpMOSトランジスタおよびnMOSトランジスタの動作電流が小さくなる。このため、インターフェイス回路の動作速度が低下してしまう。
すなわち、上記従来のインターフェイス回路は、高い電圧から低い電圧まで広範囲の電源電圧で動作速度を下げずに動作させることができない。
特開2009−260832
広い電源電圧範囲でより高速に動作することが可能なインターフェイス回路、および、半導体記憶装置を提供する。
実施例に従ったインターフェイス回路は、第1の電源電圧が印加される第1の電源端子にソースが接続され、出力信号を出力する出力端子にドレインが接続された第1導電型の第1のMOSトランジスタを備える。インターフェイス回路は、前記出力端子にドレインが接続され、固定電位にソースが接続された第2導電型の第2のMOSトランジスタを備える。インターフェイス回路は、前記第1の電源端子にドレインが接続され、前記出力端子にソースが接続された第2導電型の第3のMOSトランジスタを備える。インターフェイス回路は、前記第1の電源端子から供給される前記第1の電源電圧により駆動し、信号端子に入力されるデジタル信号に応じた第1のゲート制御信号を前記第1のMOSトランジスタのゲートに出力する第1のプリドライバ回路を備える。インターフェイス回路は、前記第1の電源電圧よりも高い第2の電源電圧が印加される第2の電源端子から供給される前記第2の電源電圧により駆動し、前記第1のゲート制御信号と同じ位相の第2のゲート制御信号を前記第2のMOSトランジスタのゲートに出力する第2のプリドライバ回路を備える。インターフェイス回路は、前記第2の電源端子から供給される前記第2の電源電圧により駆動し、前記第1のゲート制御信号に対して位相が反転している第3のゲート制御信号を前記第3のMOSトランジスタのゲートに出力する第3のプリドライバ回路を備える。
図1は、実施例1に係る半導体記憶装置1000の構成を示すブロック図である。 図2は、図1に示すインターフェイス回路100の構成の一例を示す回路図である。 図3は、実施例2に係るインターフェイス回路200の構成の一例を示す回路図である。 図4は、実施例3に係るインターフェイス回路300の構成の一例を示す回路図である。 図5は、実施例4に係るインターフェイス回路400の構成の一例を示す回路図である。
以下、各実施例について、図面に基づいて説明する。
図1は、実施例1に係る半導体記憶装置1000の構成を示すブロック図である。また、図2は、図1に示すインターフェイス回路100の構成の一例を示す回路図である。
図1に示すように、半導体記憶装置1000は、メモリ1002と、コントローラ1001と、を備える。
メモリ1002は、インターフェイス回路100を有し、データを書き込みおよび読み出しが可能である。このメモリ1002は、例えば、NAND型フラッシュメモリである。
コントローラ1001は、メモリ1002のインターフェイス回路100との間で信号を入出力するインターフェイス回路101を有し、メモリの動作を制御するようになっている。
メモリ1002のインターフェイス回路100は、例えば、図2に示す回路構成を有する。なお、コントローラ1001のインターフェイス回路101も、同様に、図2に示す回路構成を有するようにしてもよい。
ここで、図2に示すように、インターフェイス回路100は、第1導電型の第1のMOSトランジスタ(pMOSトランジスタ)M1と、第2導電型の第2のMOSトランジスタ(nMOSトランジスタ)M2と、第2導電型の第3のMOSトランジスタ(nMOSトランジスタ)M3と、第1のプリドライバ回路PD1と、第2のプリドライバ回路PD2と、第3のプリドライバ回路PD3と、を備える。
第1の電源端子TD1には、第1の電源電圧VDD1が印加されるようになっている。
また、第2の電源端子TD2には、第1の電源電圧VDD1よりも高い第2の電源電圧VDD2が印加されるようになっている。
すなわち、このインターフェイス回路100には、異なる2つの電源が備えられている。
また、第1のMOSトランジスタM1は、第1の電源電圧VDD1が印加される第1の電源端子TD1にソースおよびバッグゲートが接続され、出力信号Soutを出力する出力端子TIOにドレインが接続されている。
第2のMOSトランジスタM2は、出力端子TIOにドレインが接続され、固定電位(ここでは、例えば、接地電位)にソースおよびバッグゲートが接続されている。
第3のMOSトランジスタM3は、第1の電源端子TD1にドレインが接続され、出力端子TIOにソースおよびバッグゲートが接続されている。すなわち、第1のMOSトランジスタM1と第3のMOSトランジスタM3とは、第1の電源端子TD1と出力端子TIOとの間で並列に接続されている。
第1のプリドライバ回路PD1は、第1の電源端子TD1から供給される第1の電源電圧VDD1により駆動するようになっている。この第1のプリドライバ回路PD1は、信号端子TSに入力されるデジタル信号(出力信号)Sdに応じた第1のゲート制御信号SG1を、第1のMOSトランジスタM1のゲートに出力するようになっている。
この第1のプリドライバ回路PD1は、例えば、図2に示すように、第1のバッファB1である。この第1のバッファB1は、信号端子TSに入力が接続され、第1のMOSトランジスタM1のゲートに出力が接続され、第1の電源端子TD1から供給される第1の電源電圧VDD1により駆動するようになっている。
第2のプリドライバ回路PD2は、第2の電源電圧VDD2が印加される第2の電源端子TD2から供給される第2の電源電圧VDD2により駆動するようになっている。この第2のプリドライバ回路PD2は、第1のゲート制御信号SG1と同じ位相の第2のゲート制御信号SG2を第2のMOSトランジスタM2のゲートに出力するようになっている。
例えば、図2に示すように、第2のプリドライバ回路PD2は、第2のバッファB2である。この第2のバッファB2は、信号端子TSに入力が接続され、第2のMOSトランジスタM2のゲートに出力が接続され、第2の電源端子TD2から供給される第2の電源電圧VDD2により駆動するようになっている。
第3のプリドライバ回路PD3は、第2の電源端子TD2から供給される第2の電源電圧VDD2により駆動するようになっている。この第3のプリドライバ回路PD3は、第1のゲート制御信号SG1に対して位相が反転している第3のゲート制御信号SG3を第3のMOSトランジスタM3のゲートに出力するようになっている。
例えば、図2に示すように、この第3のプリドライバ回路PD3は、インバータIN1である。このインバータIN1は、信号端子TSに入力が接続され、第3のMOSトランジスタM3のゲートに出力が接続され、第2の電源端子TD2から供給される第2の電源電圧VDD2により駆動するようになっている。
ここで、以上のような構成・機能を有するインターフェイス回路100の動作特性について説明する。
既述のように、第2のゲート制御信号SG2は、第1のゲート制御信号SG1と同じ位相である。これにより、第1のMOSトランジスタM1と第2のMOSトランジスタM2とは、データ信号Sdに応じて、相補的にオン/オフが制御されるようになっている。
また、第3のゲート制御信号SG3は、第1のゲート制御信号SG1に対して位相が反転している。これにより、第1のMOSトランジスタM1と第3のMOSトランジスタM3とは、デジタル信号Sdに応じて、同期してオン/オフが制御されるようになっている。
また、既述のように、第1のプリドライバ回路PD1は、第1の電源電圧VDD1で駆動し、第2、第3のプリドライバ回路PD2、PD3は、第1の電源電圧VDD1より高い第2の電源電圧VDD2で駆動する。すなわち、第1のゲート制御信号SG1のレベルよりも、第2、第3のゲート制御信号SG2、SG3のレベルの方が大きい。これにより、第1のMOSトランジスタM1の動作電流よりも、第2、第3のMOSトランジスタM2、M3の動作電流の方が大きい。したがって、第1の電源電圧VDD1のレベルが下がって第1のMOSトランジスタM1が高速動作できない場合でも、第2、第3のMOSトランジスタM2、M3は高速動作可能である。
以上より、第1の電源電圧VDD1が該所定値未満場合には、第1のMOSトランジスタM1は動作速度が低下するが、高速動作が可能な第3のMOSトランジスタM3が出力端子TIOをプルアップするように動作し、また、高速動作が可能な第2のMOSトランジスタM2が出力端子TIOをプルダウンするように動作する。
一方、第1の電源電圧VDD1が所定値以上場合は、第1、第3のMOSトランジスタM1、M3が出力端子TIOをプルアップするように動作し、また、第2のMOSトランジスタM2が出力端子TIOをプルダウンするように動作する。
このように、インターフェイス回路100は、デジタル信号Sdに応じて、広い電源電圧範囲でより高速に出力信号Soutを出力することができる。
特に、インターフェイス回路100は、低電力化のために低電源電圧化しても、高速動作が可能である。
以上のように、本実施例1に係るインターフェイス回路によれば、広い電源電圧範囲でより高速に動作することができる。
既述の実施例1においては、第1の電源電圧の値に拘わらず、第1、第3のMOSトランジスタは動作するように制御が実行される。
本実施例2においては、第1の電源電圧の値に応じて、第1および第3のMOSトランジスタの何れか一方を動作させる構成の一例について、説明する。
図3は、実施例2に係るインターフェイス回路200の構成の一例を示す回路図である。なお、この図3において、図2と同じ符号は、実施例1と同様の構成を示す。また、この実施例2に係るインターフェイス回路200は、実施例1のインターフェイス回路100と同様に、図1に示す半導体記憶装置1000に適用される。
図3に示すように、インターフェイス回路200は、第1導電型の第1のMOSトランジスタ(pMOSトランジスタ)M1と、第2導電型の第2のMOSトランジスタ(nMOSトランジスタ)M2と、第2導電型の第3のMOSトランジスタ(nMOSトランジスタ)M3と、第1のプリドライバ回路PD1と、第2のプリドライバ回路PD2と、第3のプリドライバ回路PD3と、制御回路CONと、を備える。
すなわち、インターフェイス回路200は、実施例1と比較して、制御回路CONをさらに備える。
ここで、第1のプリドライバ回路PD1は、例えば、図3に示すように、NAND回路Nである。このNAND回路Nは、信号端子TSおよび制御回路CONの出力に入力が接続され、第1のMOSトランジスタM1のゲートに出力が接続され、第1の電源端子TD1から供給される第1の電源電圧VDD1により駆動するようになっている。
また、第2のプリドライバ回路PD2は、例えば、図3に示すように、インバータIN2である。このインバータIN2は、信号端子TSに入力が接続され、第2のMOSトランジスタM2のゲートに出力が接続され、第2の電源端子TD2から供給される第2の電源電圧VDD2により駆動するようになっている。
また、第3のプリドライバ回路PD3は、例えば、図3に示すように、AND回路Aである。このAND回路Aは、信号端子TSに非反転入力が接続され、制御回路CONの出力に反転入力が接続され、第3のMOSトランジスタM3のゲートに出力が接続され、第2の電源端子TD2から供給される第2の電源電圧VDD2により駆動するようになっている。
制御回路CONは、第1の電源端子TD1の第1の電源電圧VDD1を検出し、検出した第1の電源端子TD1の第1の電源電圧VDD1と予め設定された規定値とを比較し、この比較結果に応じて、駆動させるMOSトランジスタを切り替えるようになっている。
例えば、制御回路CONは、第1の電源電圧VDD1が該規定値未満の場合には、第1の切替制御信号SC1(例えば、“Low”レベル)を出力して第1のプリドライバ回路PD1から第1のMOSトランジスタM1をオフする信号(例えば、“High”レベル)を出力させ且つ第3のプリドライバ回路PD3からデジタル信号Sdに応じた第3のゲート制御信号SG3を出力させる。
すなわち、第1の電源電圧VDD1が該規定値未満の場合には、高速動作が可能な第3のMOSトランジスタM3が出力端子TIOをプルアップするように動作し、また、高速動作が可能な第2のMOSトランジスタM2が出力端子TIOをプルダウンするように動作する。
一方、制御回路CONは、第1の電源電圧VDD1が該規定値以上の場合には、第2の切替制御信号SC2(例えば、“High”レベル)を出力して第1のプリドライバ回路PD1からデジタル信号Sdに応じた第1のゲート制御信号SG1を出力させ且つ第3のプリドライバ回路PD3から第3のMOSトランジスタM3をオフする信号(例えば“Low”レベル)を出力させる。
すなわち、第1の電源電圧VDD1が該規定値以上の場合には、第1のMOSトランジスタM1が出力端子TIOをプルアップするように動作し、また、第2のMOSトランジスタM2が出力端子TIOをプルダウンするように動作する。
これにより、インターフェイス回路200は、実施例1と比較して、出力端子TIOをプルアップするために動作するMOSトランジスタが1つであるので、出力端子TIOの出力信号Soutの波形の品質を良好に保つことができる。
なお、インターフェイス回路200のその他の構成・機能は、実施例1と同様である。
すなわち、本実施例2に係るインターフェイス回路によれば、実施例1と同様に、広い電源電圧範囲でより高速に動作することができる。
既述の実施例1では、第3のプリドライバ回路がインバータである例について説明した。
本実施例3では、実施例1の回路構成に対して、第3のMOSトランジスタのゲートに印加する電圧を、第2の電源電圧VDD2よりも高くするように昇圧する機能を加えて、より確実に第3のMOSトランジスタを駆動させることが可能な、第3のプリドライバ回路の構成例について、説明する。
図4は、実施例3に係るインターフェイス回路300の構成の一例を示す回路図である。なお、この図4において、図2と同じ符号は、実施例1と同様の構成を示す。また、この図4においては、第3のプリドライバ回路PD3の回路構成に注目しているため、インターフェイス回路300の構成要素の一部は省略されているが、この省略された部分は実施例1と同様である。また、この実施例3に係るインターフェイス回路300は、実施例1のインターフェイス回路100と同様に、図1に示す半導体記憶装置1000に適用される。
ここで、例えば、第3のプリドライバ回路PD3は、図4に示すように、第1導電型の第4のMOSトランジスタ(pMOSトランジスタ)M4と、第1導電型の第5のMOSトランジスタ(pMOSトランジスタ)M5と、第2導電型の第6のMOSトランジスタ(nMOSトランジスタ)M6と、第1の昇圧用バッファBb1と、第2の昇圧用バッファBb2と、昇圧用容量Cbと、昇圧用インバータINbと、を有する。
第4のMOSトランジスタM4は、第2の電源端子TD2にソースが接続され、ドレインとバッグゲートとが接続されている。
第5のMOSトランジスタM5は、第4のMOSトランジスタM4のドレインにソースおよびバッグゲートが接続され、第3のMOSトランジスタM3のゲートにドレインが接続されている。
第6のMOSトランジスタM6は、第5のMOSトランジスタM5のドレインにドレインが接続され、固定電位(接地電位)にソースおよびバッグゲートが接続されている。
第1の昇圧用バッファBb1は、信号端子TSに入力が接続され、第4のMOSトランジスタM4のゲートに出力が接続されている。この第1の昇圧用バッグゲートBb1は、第2の電源端子TD2から供給される第2の電源電圧VDD2により駆動するようになっている。
第2の昇圧用バッファBb2は、信号端子TSに入力が接続されている。この第2の昇圧用バッファBb2は、第2の電源端子TD2から供給される第2の電源電圧VDD2により駆動するようになっている。
昇圧用容量Cbは、第2の昇圧用バッファBb2の出力と第4のMOSトランジスタM4のドレインとの間に接続されている。
昇圧用インバータINbは、信号端子TSに入力が接続され、第6のMOSトランジスタM6のゲートに出力が接続されている。この昇圧用インバータINbは、第2の電源端子TD2から供給される第2の電源電圧VDD2により駆動するようになっている。
ここで、以上のような構成を有する第3のプリドライバ回路PD3の動作の一例について説明する。
例えば、デジタル信号Sdが“Low”レベルの場合、第4、第6のMOSトランジスタM4、M6がオンし、第5のMOSトランジスタM5がオフする。
これにより、第3のMOSトランジスタM3のゲート電圧(第3のゲート制御信号SG3)が0V(“Low”レベル)になり、昇圧用容量Cbは一端が正、他端が負の極性で第2の電源電圧VDD2に充電される。
そして、デジタル信号Sdが“High”レベルの場合、第4、第6のMOSトランジスタM4、M6がオフし、第5のMOSトランジスタM5がオンする。
この場合、昇圧用容量Cbに充電された第2の電源端子2の電圧よりも高い電圧が第3のMOSトランジスタM3のゲートに供給され、第3のMOSトランジスタM3のゲート電圧が“High”レベルになる。
このように、インターフェイス回路300の第3のプリドライバ回路PD3は、第2の電源電圧VDD2を昇圧して第2の電源電圧VDD2より高い電圧を出力することが可能である。
これにより、第2の電源電圧VDD2が低下しても、より確実に第3のMOSトランジスタM3を駆動させることができる。
すなわち、インターフェイス回路300は、第1の電源電圧VDD1が高いときには第1のMOSトランジスタM1で駆動し、第2の電源電圧VDD2が低いときには第3のMOSトランジスタM3で駆動することができるので、広い電源電圧範囲で動作させることが可能となる。
なお、インターフェイス回路300のその他の構成・機能は、実施例1と同様である。
すなわち、本実施例3に係るインターフェイス回路によれば、実施例1と同様に、広い電源電圧範囲でより高速に動作することができる。
既述の実施例1では、第1のプリドライバ回路がバッファである例について説明した。
本実施例4では、実施例1の回路構成に対して、第1のMOSトランジスタのゲートに印加する電圧を、負電圧にする機能を加えて、より確実に第1のMOSトランジスタを駆動させることが可能な、第1のプリドライバ回路の構成例について、説明する。
図5は、実施例4に係るインターフェイス回路400の構成の一例を示す回路図である。なお、この図5において、図2と同じ符号は、実施例1と同様の構成を示す。また、この図5においては、第1のプリドライバ回路PD1の回路構成に注目しているため、インターフェイス回路300の構成要素の一部は省略されているが、この省略された部分は実施例1と同様である。また、この実施例4に係るインターフェイス回路400は、実施例1のインターフェイス回路100と同様に、図1に示す半導体記憶装置1000に適用される。
ここで、例えば、第1のプリドライバ回路PD1は、図5に示すように、第1の負電圧用バッファBn1と、第2の負電圧用バッファBn2と、第1の負電圧用インバータINn1と、第2の負電圧用インバータINn2と、負電圧用容量Cnと、第2導電型の第7のMOSトランジスタ(nMOSトランジスタ)M7と、第1導電型の第8のMOSトランジスタ(pMOSトランジスタ)M8と、第2導電型の第9のMOSトランジスタ(nMOSトランジスタ)M9と、を有する。
第1の負電圧用バッファBn1は、信号端子TSに入力が接続されている。この第1の負電圧用バッファBn1は、第1の電源端子TD1から供給される第1の電源電圧VDD1により駆動するようになっている。
負電圧用容量Cnは、第1の負電圧用バッファBn1の出力に一端が接続されている。
第7のMOSトランジスタM7は、負電圧用容量Cnの他端にドレインおよびバッグゲートが接続され、固定電位(接地電位)にソースが接続されている。
第2の負電圧用バッファBn2は、信号端子TSに入力が接続され、第7のMOSトランジスタM7のゲートに出力が接続されている。この第2の負電圧用バッファBn2は、第1の電源端子TD1から供給される第1の電源電圧VDD1により駆動するようになっている。
第8のMOSトランジスタM8は、第1の電源端子TD1にソースおよびバッグゲートが接続されている。
第1の負電圧用インバータINn1は、信号端子TSに入力が接続され、第8のMOSトランジスタM8のゲートに出力が接続されている。この第1の負電圧用インバータINn1は、第1の電源端子TD1から供給される第1の電源電圧VDD1により駆動するようになっている。
第9のMOSトランジスタM9は、第8のMOSトランジスタM8のドレインにドレインが接続され、負電圧用容量Cnの他端にソースおよびバッグゲートが接続されている。
第2の負電圧用インバータINn2は、信号端子TSに入力が接続され、第9のMOSトランジスタM9のゲートに出力が接続されている。この第2の負電圧用インバータINn2は、第1の電源端子TD1から供給される第1の電源電圧VDD1により駆動するようになっている。
ここで、以上のような構成を有する第1のプリドライバ回路PD1の動作の一例について説明する。
例えば、デジタル信号Sdが“High”レベルの場合、第7、第8のMOSトランジスタM7、M8がオンし、第9のMOSトランジスタM9がオフする。
この場合、第1のプリバッファ回路PD1は、負電圧用容量Cnに一端が正、他端が負の極性で第1の電源電圧VDD1に充電される。このとき、第8のMOSトランジスタM8がオンし、第9のMOSトランジスタM9がオフしているので、第1のMOSトランジスタM1のゲート電圧(第1のゲート制御信号SG1)は、第1の電源電圧VDD1(“High”レベル)になる。
そして、デジタル信号Sdが“Low”レベルの場合、第7、第8のMOSトランジスタM4、M6がオフし、第9のMOSトランジスタM5がオンする。
この場合、負電圧用容量Cnの一端が0V(接地電位)になるので、負電圧用容量Cnの他端は負電圧(“Low”レベル)になる。これにより、第1のMOSトランジスタM1のゲート電圧(第1のゲート制御信号SG1)が負電圧になる。
このように、インターフェイス回路400の第1のプリドライバ回路PD1は、負電圧を出力することが可能である。
これにより、第1の電源電圧VDD1が低い場合に、第1のMOSトランジスタM1の駆動力を上げることができる。
すなわち、インターフェイス回路400は、広範囲の電源電圧で動作可能となる。
なお、インターフェイス回路300のその他の構成・機能は、実施例1と同様である。
すなわち、本実施例4に係るインターフェイス回路によれば、実施例1と同様に、広い電源電圧範囲でより高速に動作することができる。
なお、既述の実施例では、第1導電型のMOSトランジスタがpMOSトランジスタであり、第2導電型のMOSトランジスタが、nMOSトランジスタである場合について説明したが、回路の極性を逆にしても同様に説明される。
また、既述の実施例は、信号を出力する出力端子に適用された場合について説明しているが、信号を入出力する入出力端子にも同様に適用される。
なお、実施形態は例示であり、発明の範囲はそれらに限定されない。
100 インターフェイス回路
1000 半導体記憶装置は、
1001 コントローラ
1002 メモリ
M1 第1導電型の第1のMOSトランジスタ(pMOSトランジスタ)
M2 第2導電型の第2のMOSトランジスタ(nMOSトランジスタ)
M3 第2導電型の第3のMOSトランジスタ(nMOSトランジスタ)
PD1 第1のプリドライバ回路
PD2 第2のプリドライバ回路
PD3 第3のプリドライバ回路

Claims (9)

  1. 出力端子と、
    第1の電源電圧が印加される第1の電源端子と、
    前記第1の電源電圧よりも高い第2の電源電圧が印加される第2の電源端子と、
    前記第1の電源端子にソースが接続され、前記出力端子にドレインが接続された第1導電型の第1のMOSトランジスタと、
    前記出力端子にドレインが接続され、固定電位にソースが接続された第2導電型の第2のMOSトランジスタと、
    前記第1の電源端子にドレインが接続され、前記出力端子にソースが接続された第2導電型の第3のMOSトランジスタと、
    前記第1の電源電圧により駆動し、前記第1のMOSトランジスタのゲートに出力が接続された第1のプリドライバ回路と、
    前記第2の電源電圧により駆動し、前記第2のMOSトランジスタのゲートに出力が接続された第2のプリドライバ回路と、
    前記第2の電源電圧により駆動し、前記第3のMOSトランジスタのゲートに出力が接続された第3のプリドライバ回路と、を備え、
    前記第1のプリドライバ回路は、出力信号が入力され、前記第1のMOSトランジスタのゲートに出力が接続され、前記第1の電源端子から供給される前記第1の電源電圧により駆動する第1のバッファであり、
    前記第2のプリドライバ回路は、前記出力信号が入力され、前記第2のMOSトランジスタのゲートに出力が接続され、前記第2の電源端子から供給される前記第2の電源電圧により駆動する第2のバッファであり、
    前記第3のプリドライバ回路は、前記出力信号が入力され、前記第3のMOSトランジスタのゲートに出力が接続され、前記第2の電源端子から供給される前記第2の電源電圧により駆動するインバータであり、
    前記第1の電源端子の前記第1の電源電圧と規定値とを比較し、前記第1の電源電圧が前記規定値未満の場合には、第1の切替制御信号を出力して前記第1のプリドライバ回路から第1のMOSトランジスタをオフする信号を出力させ、一方、前記第1の電源電圧が前記規定値以上の場合には、第2の切替制御信号を出力して前記第3のプリドライバ回路から前記第3のMOSトランジスタをオフする信号を出力させる制御回路をさらに備える
    ことを特徴とするインターフェイス回路。
  2. 出力端子と、
    第1の電源電圧が印加される第1の電源端子と、
    前記第1の電源電圧よりも高い第2の電源電圧が印加される第2の電源端子と、
    前記第1の電源端子にソースが接続され、前記出力端子にドレインが接続された第1導電型の第1のMOSトランジスタと、
    前記出力端子にドレインが接続され、固定電位にソースが接続された第2導電型の第2のMOSトランジスタと、
    前記第1の電源端子にドレインが接続され、前記出力端子にソースが接続された第2導電型の第3のMOSトランジスタと、
    前記第1の電源電圧により駆動し、前記第1のMOSトランジスタのゲートに出力が接続された第1のプリドライバ回路と、
    前記第2の電源電圧により駆動し、前記第2のMOSトランジスタのゲートに出力が接続された第2のプリドライバ回路と、
    前記第2の電源電圧により駆動し、前記第3のMOSトランジスタのゲートに出力が接続された第3のプリドライバ回路と、を備えることを特徴とするインターフェイス回路。
  3. 前記第1のMOSトランジスタは、pMOSトランジスタであり、
    前記第2および第3のMOSトランジスタは、nMOSトランジスタであり、
    前記固定電位は、接地電位であることを特徴とする請求項2に記載のインターフェイス回路。
  4. 前記第1のプリドライバ回路は、出力信号が入力され、前記第1のMOSトランジスタのゲートに出力が接続され、前記第1の電源端子から供給される前記第1の電源電圧により駆動する第1のバッファであり、
    前記第2のプリドライバ回路は、前記出力信号が入力され、前記第2のMOSトランジスタのゲートに出力が接続され、前記第2の電源端子から供給される前記第2の電源電圧により駆動する第2のバッファであり、
    前記第3のプリドライバ回路は、前記出力信号が入力され、前記第3のMOSトランジスタのゲートに出力が接続され、前記第2の電源端子から供給される前記第2の電源電圧により駆動するインバータである
    ことを特徴とする請求項2または3に記載のインターフェイス回路。
  5. 前記第1のプリドライバ回路は、前記信号端子および前記制御回路の出力に入力が接続され、前記第1のMOSトランジスタのゲートに出力が接続され、前記第1の電源端子から供給される前記第1の電源電圧により駆動するNAND回路であり、
    前記第2のプリドライバ回路は、前記信号端子に入力が接続され、前記第2のMOSトランジスタのゲートに出力が接続され、前記第2の電源端子から供給される前記第2の電源電圧により駆動するインバータであり、
    前記第3のプリドライバ回路は、前記信号端子に非反転入力が接続され、前記制御回路の出力に反転入力が接続され、前記第3のMOSトランジスタのゲートに出力が接続され、前記第2の電源端子から供給される前記第2の電源電圧により駆動するAND回路であり、
    ことを特徴とする請求項1ないし4のいずれか一項に記載のインターフェイス回路。
  6. 前記第3のプリドライバ回路は、前記第2の電源電圧を昇圧して前記第2の電源電圧より高い電圧を出力することが可能である
    ことを特徴とする請求項1または2に記載のインターフェイス回路。
  7. 前記第1のプリドライバ回路は、負電圧を出力することが可能であることを特徴とする請求項1または2に記載のインターフェイス回路。
  8. 前記第1のMOSトランジスタは、前記第1の電源端子にソースおよびバッグゲートが接続され、
    前記第2のMOSトランジスタは、前記固定電位にソースおよびバッグゲートが接続され、
    前記第3のMOSトランジスタは、前記出力端子にソースおよびバッグゲートが接続されていることを特徴とする請求項1ないし7のいずれか一項に記載のインターフェイス回路。
  9. インターフェイス回路を有し、データを書き込みおよび読み出しが可能であるメモリと、
    前記メモリのインターフェイス回路との間で信号を入出力するインターフェイス回路を有し、前記メモリの動作を制御するコントローラと、を備え、
    前記メモリおよび前記コントローラの少なくとも何れか一方のインターフェイス回路は、
    第1の電源電圧が印加される第1の電源端子にソースが接続され、出力信号を出力する出力端子にドレインが接続された第1導電型の第1のMOSトランジスタと、
    前記出力端子にドレインが接続され、固定電位にソースが接続された第2導電型の第2のMOSトランジスタと、
    前記第1の電源端子にドレインが接続され、前記出力端子にソースが接続された第2導電型の第3のMOSトランジスタと、
    前記第1の電源端子から供給される前記第1の電源電圧により駆動し、信号端子に入力されるデジタル信号に応じた第1のゲート制御信号を前記第1のMOSトランジスタのゲートに出力する第1のプリドライバ回路と、
    前記第1の電源電圧よりも高い第2の電源電圧が印加される第2の電源端子から供給される前記第2の電源電圧により駆動し、前記第1のゲート制御信号と同じ位相の第2のゲート制御信号を前記第2のMOSトランジスタのゲートに出力する第2のプリドライバ回路と、
    前記第2の電源端子から供給される前記第2の電源電圧により駆動し、前記第1のゲート制御信号に対して位相が反転している第3のゲート制御信号を前記第3のMOSトランジスタのゲートに出力する第3のプリドライバ回路と、を備える
    ことを特徴とする半導体記憶装置。
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JP2016116157A (ja) * 2014-12-17 2016-06-23 ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション 出力回路

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