JP2013088341A - 測定装置、測定方法、タッチプローブおよびキャリブレーションゲージ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被測定物設置体219と、筐体215に回転自在に設けられているスピンドル217とを具備したヘッド213と、スピンドル217に一体的に設置されるハウジングと測定子61を具備するスタイラス60とを備えハウジングがスピンドル217に設置されたときに測定子61がスピンドル217の回転中心軸Cから離れているタッチプローブ60と、を有し、スピンドル217に設置されている設置済みタッチプローブ60をインデックス位置決めした状態で、筐体215を被測定物設置体219に対して相対的に移動し、被測定物設置体219に設置された設置済み被測定物の形状を測定するように構成されている被測定物の測定装置201である。
【選択図】図1
Description
前記仮想曲線は、半円の円弧を備えて構成されていることを特徴とするキャリブレーションゲージである。
61 測定子
100、150 キャリブレーションゲージ
151 キャリブレーション用曲面
203 ヘッド
215 筐体
217 スピンドル
219 被測定物設置体(X軸テーブル;キャリブレーションゲージ設置体)
221 ハウジング
223 スタイラス
225 スタイラス本体部
227 基端側部位
229 先端側部位
C 回転中心軸(所定の軸)
W 測定装置
Claims (10)
- 被測定物が設置される被測定物設置体と、
筐体と所定の軸を中心にして前記筐体に回転自在に設けられているスピンドルとを具備し、前記筐体が前記被測定物設置体に対して相対的に移動位置決め自在になっているヘッドと、
前記スピンドルに一体的に設置されるハウジングと、前記ハウジングから突出しているスタイラス本体部とこのスタイラス本体部の先端に設けられている測定子とを具備するスタイラスとを備え、前記ハウジングが前記スピンドルに設置されたときに、前記スタイラス本体部、前記測定子の少なくともいずれかが、前記スピンドルの回転中心軸から離れているタッチプローブと、
を有し、前記ハウジングが前記スピンドルに設置されている設置済みタッチプローブを、前記スピンドルを用いてインデックス位置決めした状態で、前記筐体を前記被測定物設置体に対して相対的に移動し、前記被測定物設置体に設置された設置済み被測定物の形状を測定するように構成されていることを特徴とする被測定物の測定装置。 - 請求項1に記載の被測定物の測定装置において、
キャリブレーションゲージが設置され、前記筐体に対して相対的に移動位置決め自在であるキャリブレーションゲージ設置体を有し、
前記設置済み被測定物の形状を前記設置済みタッチプローブで測定する前に、前記キャリブレーションゲージ設置体に設置された設置済みキャリブレーションゲージを用いてキャリブレーションをするように構成されており、
前記キャリブレーションゲージは、所定の1平面に所定形状の1本の仮想曲面を描き、この仮想曲線を前記所定の1平面に対して直交する方向に所定の距離だけ移動したときに、前記仮想曲線の軌跡で表される曲面である2次元曲面を、キャリブレーション用曲面として備えており、
前記キャリブレーションは、前記設置済みタッチプローブをインデッックス位置決めして、前記キャリブレーションをするように構成されている特徴とする被測定物の測定装置。 - 請求項1に記載の被測定物の測定装置において、
キャリブレーションゲージが設置され、前記ヘッドの筐体に対して相対的に移動位置決め自在であるキャリブレーションゲージ設置体を有し、
前記設置済み被測定物の形状を前記設置済みタッチプローブで測定する前に、前記キャリブレーションゲージ設置体に設置された設置済みキャリブレーションゲージを用いてキャリブレーションをするように構成されており、
前記タッチプローブのスタイラス本体部は、直線状の基端側部位とこの基端側部位に対して所定の角度で交差している直線状の先端側部位とを備えて「L」字状に形成されており、前記先端側部位の先端に前記測定子が位置しており、
前記設置済みタッチプローブでは、前記スピンドルの回転中心軸と前記スタイラス本体部の基端側部位の中心軸とがお互いに一致しており、
前記キャリブレーションゲージは、所定の1平面に所定形状の1本の仮想曲面を描き、この仮想曲線を前記所定の1平面に対して直交する方向に所定の距離だけ移動したときに、前記仮想曲線の軌跡で表される曲面である2次元曲面を、キャリブレーション用曲面として備えており、
前記設置済み被測定物における所定の一方向をX軸方向とし、このX軸方向に対して直交する所定の一方向をY軸方向とし、前記X軸方向と前記Y軸方向とに直交する所定の一方向をZ軸方向とすると、前記設置済みキャリブレーションゲージは、このキャリブレーション用曲面における前記仮想曲線の移動方向が前記X軸方向になっており、
前記キャリブレーションは、
前記設置済み被測定物における所定の被測定点を決定し、この所定の被測定点での法線ベクトルにおけるX軸方向とY軸方向とZ軸方向との3軸方向の成分を求め、
前記設置済みキャリブレーションゲージにおけるキャリブレーション用曲面内に存在し、法線ベクトルのY軸方向の成分とZ軸方向の成分とが前記所定の被測定点における法線ベクトルのY軸方向の成分とZ軸方向の成分と等しくなる所定の仮測定点を決定し、
前記所定の被測定点における法線ベクトルのX軸方向の成分に対応する分だけ前記スピンドルを回転させるとともに、前記法線ベクトルのY軸方向の成分とZ軸方向の成分とで形成される仮法線ベクトルの方向に、前記仮測定点から所定の距離だけ離れているところに前記測定子を位置させることで、前記設置済みタッチプローブを位置決めし、
前記測定子を、前記仮法線ベクトルの方向であって前記設置済みキャリブレーションゲージに接近する方向で、前記設置済みキャリブレーションゲージに対して相対的に移動して、前記測定子を前記仮測定点に当接させて行うように構成されていることを特徴とする被測定物の測定装置。 - 被測定物の測定方法において、
ハウジングと、このハウジングから突出しているスタイラス本体部とこのスタイラス本体部の先端に設けられている測定子とを具備するスタイラスとを備え、前記スタイラス本体部、前記測定子の少なくともいずれかが、所定の軸から離れているタッチプローブを、前記所定の軸を中心にして前記ハウジングを回動しインデックス位置決めするインデックス位置決め段階と、
前記インデックス位置決め段階で前記タッチプローブをインデックス位置決めしてある状態で、前記ハウジングを前記被測定物に対して相対的に移動し、前記被測定物の形状を前記タッチプローブで測定する測定段階と、
を有することを特徴とする被測定物の測定方法。 - 請求項4に記載の被測定物の測定方法において、
前記インデックス位置決め段階で前記ハウジングをインデックス位置決めする前に、キャリブレーションゲージを用いてキャリブレーションをするキャリブレート段階を有し、
前記キャリブレーションゲージは、所定の1平面に所定形状の1本の仮想曲面を描き、この仮想曲線を前記所定の1平面に対して直交する方向に所定の距離だけ移動したときに、前記仮想曲線の軌跡で表される曲面である2次元曲面を、キャリブレーション用曲面として備えており、
前記キャリブレート段階は、前記所定の軸を中心にして前記ハウジングを回動し前記タッチプローブをインデッックス位置決めし、前記キャリブレーションをする段階であることを特徴とする被測定物の測定方法。 - 請求項4に記載の被測定物の測定方法において、
前記インデックス位置決め段階で前記ハウジングをインデックス位置決めする前に、キャリブレーションゲージを用いてキャリブレーションをするキャリブレート段階を有し、
前記キャリブレーションゲージは、所定の1平面に所定形状の1本の仮想曲面を描き、この仮想曲線を前記所定の1平面に対して直交する方向に所定の距離だけ移動したときに、前記仮想曲線の軌跡で表される曲面である2次元曲面を、キャリブレーション用曲面として備えており、
前記タッチプローブのスタイラス本体部は、直線状の基端側部位とこの基端側部位に対して所定の角度で交差している直線状の先端側部位とを備えて「L」字状に形成されており、前記先端側部位の先端に前記測定子が位置しており、
前記タッチプローブでは、前記所定の軸と前記スタイラス本体部の基端側部位の中心軸とがお互いに一致しており、
前記被測定物における所定の一方向をX軸方向とし、このX軸方向に対して直交する所定の一方向をY軸方向とし、前記X軸方向と前記Y軸方向とに直交する所定の一方向をZ軸方向とすると、前記キャリブレーションゲージは、このキャリブレーション用曲面における前記仮想曲線の移動方向が前記X軸方向になっており、
前記キャリブレーと段階は、
前記被測定物における所定の被測定点を決定し、この所定の被測定点での法線ベクトルにおけるX軸方向とY軸方向とZ軸方向との3軸方向の成分を求め、
前記キャリブレーションゲージにおけるキャリブレーション用曲面内に存在し、法線ベクトルのY軸方向の成分とZ軸方向の成分とが前記所定の被測定点における法線ベクトルのY軸方向の成分とZ軸方向の成分と等しくなる所定の仮測定点を決定し、
前記所定の被測定点における法線ベクトルのX軸方向の成分に対応する分だけ前記スピンドルを回転させるとともに、前記法線ベクトルのY軸方向の成分とZ軸方向の成分とで形成される仮法線ベクトルの方向に、前記仮測定点から所定の距離だけ離れているところに前記測定子を位置させることで、前記設置済みタッチプローブを位置決めし、
前記測定子を前記仮法線ベクトルの方向であって前記キャリブレーションゲージ設置体に設置されているキャリブレーションゲージに接近する方向に、前記キャリブレーションゲージ設置体に設置されているキャリブレーションゲージに対して相対的に移動して、前記測定子を前記仮測定点に当接させて前記キャリブレーションをする段階であることを特徴とする被測定物の測定方法。 - ハウジングと、
前記ハウジングから突出しているスタイラス本体部と、
前記スタイラス本体部の先端に設けられている測定子と、
を有し、前記スタイラス本体部、前記測定子の少なくともいずれかが、所定の軸から離れていることを特徴とするタッチプローブ。 - 請求項7に記載のタッチプローブにおいて、
前記タッチプローブのスタイラス本体部は、直線状の基端側部位とこの基端側部位に対して所定の角度で交差している直線状の先端側部位とを備えて「L」字状に形成されており、前記先端側部位の先端に前記測定子が位置しており、
前記所定の軸と前記スタイラス本体部の基端側部位の中心軸とがお互いに一致していることを特徴とするタッチプローブ。 - 所定の1平面に所定形状の1本の仮想曲面を描き、この仮想曲線を前記所定の1平面に対して直交する方向に所定の距離だけ移動したときに、前記仮想曲線の軌跡で表される曲面である2次元曲面を、キャリブレーション用曲面として備えていることを特徴とするキャリブレーションゲージ。
- 請求項9に記載のキャリブレーションゲージにおいて、
前記仮想曲線は、半円の円弧を備えて構成されていることを特徴とするキャリブレーションゲージ。
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018101268A1 (ja) | 2016-11-29 | 2018-06-07 | ヘキサゴン・メトロジー株式会社 | 三次元測定装置 |
WO2019069933A1 (ja) | 2017-10-06 | 2019-04-11 | ヘキサゴン・メトロジー株式会社 | 加工装置 |
WO2020196063A1 (ja) | 2019-03-28 | 2020-10-01 | ヘキサゴン・メトロジー株式会社 | Cnc加工装置のキャリブレーション方法 |
CN111964560A (zh) * | 2020-06-30 | 2020-11-20 | 中国航发南方工业有限公司 | 扩压管喉道的进口尺寸的测量装置及测量方法 |
WO2021181461A1 (ja) | 2020-03-09 | 2021-09-16 | ヘキサゴン・メトロジー株式会社 | Cnc加工装置 |
US12025428B2 (en) | 2019-03-28 | 2024-07-02 | Hexagon Metrology Kabushiki Kaisha | Method for calibrating CNC processing apparatus |
Citations (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS542458U (ja) * | 1977-06-08 | 1979-01-09 | ||
US4136458A (en) * | 1976-10-01 | 1979-01-30 | The Bendix Corporation | Bi-axial probe |
JPS56124807U (ja) * | 1980-02-25 | 1981-09-22 | ||
JPS57142304U (ja) * | 1981-11-24 | 1982-09-07 | ||
JPS5977007U (ja) * | 1982-11-12 | 1984-05-24 | 株式会社ミツトヨ | 三次元測定機 |
JPS6282309A (ja) * | 1985-10-08 | 1987-04-15 | Mitsutoyo Mfg Corp | 三次元測定機 |
JPS6281003U (ja) * | 1985-11-12 | 1987-05-23 | ||
JPS6474402A (en) * | 1987-09-17 | 1989-03-20 | Amada Co Ltd | Probe for three-dimensional measuring instrument |
JPH06273104A (ja) * | 1993-03-17 | 1994-09-30 | Mitsubishi Materials Corp | 輪郭形状測定機 |
JPH09329402A (ja) * | 1996-06-07 | 1997-12-22 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 測定機の校正方法及びその装置 |
JPH11123635A (ja) * | 1997-10-23 | 1999-05-11 | Makino Milling Mach Co Ltd | ワークの形状寸法測定方法及び装置 |
JP2000081329A (ja) * | 1998-09-04 | 2000-03-21 | Nikon Corp | 形状測定方法及び装置 |
JP2002503339A (ja) * | 1997-06-12 | 2002-01-29 | ベルス・メステヒニーク・ゲーエムベーハー | フィーラ部材を備えた座標測定装置及びフィーラ部材の位置測定のための光学センサ |
JP2002267438A (ja) * | 2001-03-08 | 2002-09-18 | Toshiba Mach Co Ltd | 自由曲面形状測定方法 |
JP2002357415A (ja) * | 2001-06-04 | 2002-12-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 形状測定装置及び方法、被測定物の製造方法 |
JP2006349411A (ja) * | 2005-06-14 | 2006-12-28 | Toshiba Mach Co Ltd | キャリブレーションゲージ |
JP2006349410A (ja) * | 2005-06-14 | 2006-12-28 | Toshiba Mach Co Ltd | 測定装置のキャリブレーション方法およびキャリブレーション実行プログラム作成プログラム |
JP2007248295A (ja) * | 2006-03-16 | 2007-09-27 | Mitsutoyo Corp | ねじ測定方法、ねじ測定用プローブ及びそれを用いたねじ測定装置 |
JP2011002317A (ja) * | 2009-06-18 | 2011-01-06 | Mitsutoyo Corp | 画像プローブの校正方法および形状測定機 |
-
2011
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Patent Citations (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4136458A (en) * | 1976-10-01 | 1979-01-30 | The Bendix Corporation | Bi-axial probe |
US4136458B1 (ja) * | 1976-10-01 | 1989-07-04 | Renishaw Plc | |
JPS542458U (ja) * | 1977-06-08 | 1979-01-09 | ||
JPS56124807U (ja) * | 1980-02-25 | 1981-09-22 | ||
JPS57142304U (ja) * | 1981-11-24 | 1982-09-07 | ||
JPS5977007U (ja) * | 1982-11-12 | 1984-05-24 | 株式会社ミツトヨ | 三次元測定機 |
JPS6282309A (ja) * | 1985-10-08 | 1987-04-15 | Mitsutoyo Mfg Corp | 三次元測定機 |
JPS6281003U (ja) * | 1985-11-12 | 1987-05-23 | ||
JPS6474402A (en) * | 1987-09-17 | 1989-03-20 | Amada Co Ltd | Probe for three-dimensional measuring instrument |
JPH06273104A (ja) * | 1993-03-17 | 1994-09-30 | Mitsubishi Materials Corp | 輪郭形状測定機 |
JPH09329402A (ja) * | 1996-06-07 | 1997-12-22 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 測定機の校正方法及びその装置 |
JP2002503339A (ja) * | 1997-06-12 | 2002-01-29 | ベルス・メステヒニーク・ゲーエムベーハー | フィーラ部材を備えた座標測定装置及びフィーラ部材の位置測定のための光学センサ |
JPH11123635A (ja) * | 1997-10-23 | 1999-05-11 | Makino Milling Mach Co Ltd | ワークの形状寸法測定方法及び装置 |
JP2000081329A (ja) * | 1998-09-04 | 2000-03-21 | Nikon Corp | 形状測定方法及び装置 |
JP2002267438A (ja) * | 2001-03-08 | 2002-09-18 | Toshiba Mach Co Ltd | 自由曲面形状測定方法 |
JP2002357415A (ja) * | 2001-06-04 | 2002-12-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 形状測定装置及び方法、被測定物の製造方法 |
JP2006349411A (ja) * | 2005-06-14 | 2006-12-28 | Toshiba Mach Co Ltd | キャリブレーションゲージ |
JP2006349410A (ja) * | 2005-06-14 | 2006-12-28 | Toshiba Mach Co Ltd | 測定装置のキャリブレーション方法およびキャリブレーション実行プログラム作成プログラム |
JP2007248295A (ja) * | 2006-03-16 | 2007-09-27 | Mitsutoyo Corp | ねじ測定方法、ねじ測定用プローブ及びそれを用いたねじ測定装置 |
JP2011002317A (ja) * | 2009-06-18 | 2011-01-06 | Mitsutoyo Corp | 画像プローブの校正方法および形状測定機 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018101268A1 (ja) | 2016-11-29 | 2018-06-07 | ヘキサゴン・メトロジー株式会社 | 三次元測定装置 |
US11679460B2 (en) | 2016-11-29 | 2023-06-20 | Hexagon Metrology Kabushiki Kaisha | Three-dimensional measurement device |
WO2019069933A1 (ja) | 2017-10-06 | 2019-04-11 | ヘキサゴン・メトロジー株式会社 | 加工装置 |
WO2020196063A1 (ja) | 2019-03-28 | 2020-10-01 | ヘキサゴン・メトロジー株式会社 | Cnc加工装置のキャリブレーション方法 |
US12025428B2 (en) | 2019-03-28 | 2024-07-02 | Hexagon Metrology Kabushiki Kaisha | Method for calibrating CNC processing apparatus |
WO2021181461A1 (ja) | 2020-03-09 | 2021-09-16 | ヘキサゴン・メトロジー株式会社 | Cnc加工装置 |
CN111964560A (zh) * | 2020-06-30 | 2020-11-20 | 中国航发南方工业有限公司 | 扩压管喉道的进口尺寸的测量装置及测量方法 |
CN111964560B (zh) * | 2020-06-30 | 2022-12-16 | 中国航发南方工业有限公司 | 扩压管喉道的进口尺寸的测量装置及测量方法 |
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Publication number | Publication date |
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