JP2013082571A - シリコン単結晶ウエーハ、エピタキシャルウエーハ、及びそれらの製造方法 - Google Patents
シリコン単結晶ウエーハ、エピタキシャルウエーハ、及びそれらの製造方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】チョクラルスキー法により石英ルツボ12b中のシリコン融液から引き上げられ、炭素がドープされたシリコン単結晶から製造されたシリコン単結晶ウエーハであって、炭素濃度の面内分布の最大値(Cmax)と最小値(Cmin)の比(Cmax/Cmin)が1.00以上1.07以下であり、炭素濃度が1×1016atoms/cm3以上5×1016atoms/cm3以下の範囲内のものである。
【選択図】図1
Description
該シリコン単結晶ウエーハの炭素濃度の面内分布の最大値(Cmax)と最小値(Cmin)の比(Cmax/Cmin)が1.00以上1.07以下であり、
前記シリコン単結晶ウエーハの炭素濃度が1×1016atoms/cm3以上5×1016atoms/cm3以下の範囲内のものであることを特徴とするシリコン単結晶ウエーハを提供する。
前記シリコン単結晶ウエーハの炭素濃度の面内分布の最大値(Cmax)と最小値(Cmin)の比(Cmax/Cmin)が1.00以上1.07以下となるように制御し、かつ、前記シリコン単結晶ウエーハの炭素濃度が1×1016atoms/cm3以上5×1016atoms/cm3以下の範囲内となるように炭素ドープ剤投入量を制御して、前記シリコン単結晶の引き上げを行い、該シリコン単結晶からシリコン単結晶ウエーハの製造を行うことを特徴とするシリコン単結晶ウエーハの製造方法を提供する。
シリコン単結晶の引き上げ軸方向と直交する面の中心部の結晶軸方向温度勾配Gc(℃/mm)と前記面の外周部の結晶軸方向温度勾配Ge(℃/mm)の比Gc/Geが1.1以下となるようにして前記シリコン単結晶を引き上げることが好ましい。
前記シリコン単結晶ウエーハの炭素濃度の面内分布の最大値(Cmax)と最小値(Cmin)の比(Cmax/Cmin)が1.00以上1.07以下となるように制御し、かつ、前記シリコン単結晶ウエーハの炭素濃度が1×1016atoms/cm3以上5×1016atoms/cm3以下の範囲内となるように炭素ドープ剤投入量を制御して、引き上げられたシリコン単結晶から製造を行う方法により製造される。
シリコン単結晶の引き上げ軸方向と直交する面の中心部の結晶軸方向温度勾配Gc(℃/mm)と前記面の外周部の結晶軸方向温度勾配Ge(℃/mm)の比Gc/Geが1.1以下となるようにして前記シリコン単結晶を引き上げることが好ましいとする結果が得られた。
図1に示された引き上げ装置Aのメインチャンバー内に設置された口径32インチ(800mm)の石英ルツボ内に、シリコン多結晶原料360kgと高純度炭素粉末7をケミカルエッチドウエーハ8に挟んで充填した(図3)。このとき直胴140cmでシリコン単結晶中心部の炭素濃度が約4.5×1016atoms/cc(New ASTM)となるように計算して炭素粉末量を調整した。さらに抵抗調整用のボロンドーパントも充填し、ヒーターを用いて加熱し原料を溶融した。そして、MCZ(Magnetic field applied czochralski)法を用い、中心磁場強度3000Gの水平磁場を印加しながら、直径300mm、直胴長さ140cmのP型シリコン単結晶を育成した。
直胴140cmでシリコン単結晶中心部の炭素濃度が約1.0×1017atoms/cc(New ASTM)となるように計算して炭素粉末量を調整した以外は、実施例1と同様にしてP型シリコン単結晶を育成した。
図2に示された引き上げ装置を用い、メインチャンバー内に設置された口径32インチ(800mm)の石英ルツボ内に、シリコン多結晶原料360kgと高純度炭素粉末7をケミカルエッチドウエーハ8に挟んで充填した。このとき直胴140cmでシリコン中心部の炭素濃度が約1.0×1017atoms/cc(New ASTM)となるように計算して炭素粉末量を調整した。さらに抵抗調整用のボロンドーパントも充填し、ヒーターを用いて加熱し原料を溶融した。そして、MCZ法を用い、中心磁場強度3000Gの水平磁場を印加しながら、直径300mm、直胴長さ140cmのP型シリコン単結晶を育成した。
Claims (7)
- チョクラルスキー法により石英ルツボ中のシリコン融液から引き上げられ、炭素がドープされたシリコン単結晶から製造されたシリコン単結晶ウエーハであって、
該シリコン単結晶ウエーハの炭素濃度の面内分布の最大値(Cmax)と最小値(Cmin)の比(Cmax/Cmin)が1.00以上1.07以下であり、
前記シリコン単結晶ウエーハの炭素濃度が1×1016atoms/cm3以上5×1016atoms/cm3以下の範囲内のものであることを特徴とするシリコン単結晶ウエーハ。 - 請求項1に記載のシリコン単結晶ウエーハ上にエピタキシャル層を有するものであることを特徴とするエピタキシャルウエーハ。
- チョクラルスキー法により石英ルツボ中のシリコン融液から、炭素がドープされたシリコン単結晶を引き上げ、該シリコン単結晶からシリコン単結晶ウエーハを製造する方法であって、
前記シリコン単結晶ウエーハの炭素濃度の面内分布の最大値(Cmax)と最小値(Cmin)の比(Cmax/Cmin)が1.00以上1.07以下となるように制御し、かつ、前記シリコン単結晶ウエーハの炭素濃度が1×1016atoms/cm3以上5×1016atoms/cm3以下の範囲内となるように炭素ドープ剤投入量を制御して、前記シリコン単結晶の引き上げを行い、該シリコン単結晶からシリコン単結晶ウエーハの製造を行うことを特徴とするシリコン単結晶ウエーハの製造方法。 - 更に、前記シリコン単結晶の引き上げにおいて、前記シリコン単結晶の引き上げ速度F(mm/min)とシリコンの融点から1400℃までの間の引き上げ軸方向の結晶温度勾配の平均値G(℃/mm)の比F/G(mm2/℃・min)が0.22以上0.3以下となり、
前記シリコン単結晶の引き上げ軸方向と直交する面の中心部の結晶軸方向温度勾配Gc(℃/mm)と前記面の外周部の結晶軸方向温度勾配Ge(℃/mm)の比Gc/Geが1.1以下となるようにして前記シリコン単結晶を引き上げることを特徴とする請求項3に記載のシリコン単結晶ウエーハの製造方法。 - 前記シリコン単結晶の引き上げにおいて、シリコンの融点から1400℃までの間の引き上げ軸方向の結晶温度勾配の平均値G(℃/mm)を3.5℃/mm以下とし、前記シリコン単結晶の面内の中心部と外周部の中間(R/2)から外周部にかけての前記シリコン単結晶の成長界面の曲率半径を430mm以上とすることで、前記比(Cmax/Cmin)が1.00以上1.07以下となるように制御することを特徴とする請求項3又は請求項4に記載のシリコン単結晶ウエーハの製造方法。
- 前記シリコン単結晶の引き上げにおいて、前記シリコン単結晶を0.85rad/s以上の回転速度で引き上げることで、前記比(Cmax/Cmin)が1.00以上1.07以下となるように制御することを特徴とする請求項3乃至請求項5のいずれか1項に記載のシリコン単結晶ウエーハの製造方法。
- 請求項3乃至請求項6のいずれか1項に記載のシリコン単結晶ウエーハの製造方法により製造されたシリコン単結晶ウエーハ上にエピタキシャル層を成長させることを特徴とするエピタキシャルウエーハの製造方法。
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