JP2013074117A - 光電変換モジュール - Google Patents

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Abstract

【課題】 光電変換部への水分の浸入を低減し、信頼性の高い光電変換モジュールを提供する。
【解決手段】 光電変換モジュール13は、基板1と、基板1上に設けられた下部電極層2と、下部電極層2上に設けられた半導体層3と、下部電極層2上であって半導体層3から離れた部位に接合された、半導体層3で生じた電気出力を外部に取り出すための配線導体9と、半導体層3の配線導体9に対向する端面から下部電極層2の上面にかけて連続して設けられた金属被覆層8とを具備する。
【選択図】 図1

Description

本発明は光電変換モジュールに関する。
近年、エネルギー問題や環境問題の深刻化に伴い、光エネルギーを電気エネルギーに変換する太陽光発電が注目を集めている。
この太陽光発電に使用される光電変換モジュールでは、該光電変換モジュールに設けられた光電変換部から得られた電気がリード線等の配線導体で取り出される。この配線導体は、光電変換モジュールの非受光面に配置された端子ボックスの内部に導出されている(例えば、特許文献1参照)。このような光電変換モジュールでは、端子ボックスを介して、光電変換モジュールで発電した電気出力が外部の回路等に導出される。
特開2006−216608号公報
光電変換モジュールは、長期間にわたって屋外に設置した場合、上記配線導体を伝って外部から水分が光電変換モジュールの内部に浸入し、光電変換部等の部材を変質させ、光電変換モジュールの出力低下が発生する場合があった。
本発明はこのような問題点に鑑みなされたものであり、その目的は光電変換部への水分の浸入を低減し、信頼性の高い光電変換モジュールを提供することにある。
本発明の一実施形態に係る光電変換モジュールは、基板と、該基板上に設けられた下部電極層と、該下部電極層上に設けられた半導体層と、前記下部電極層上であって前記半導体層から離れた部位に接合された、前記半導体層で生じた電気出力を外部に取り出すための配線導体と、前記半導体層の前記配線導体に対向する端面から前記下部電極層の上面にかけて連続して設けられた金属被覆層とを具備する。
本発明の一実施形態に係る光電変換モジュールによれば、光電変換モジュールの信頼性が向上する。
光電変換モジュールの実施の形態の一例を示す要部拡大斜視図である。 図1の光電変換モジュールの断面図である。 光電変換モジュールの実施の形態の他の例を示す要部拡大斜視図である。 図3の光電変換モジュールの断面図である。 図1の光電変換モジュールの全体を示す斜視図である。 図5の光電変換モジュールの裏面を示す斜視図である。
以下に本発明の一実施形態に係る光電変換モジュールについて、図面を参照しながら詳
細に説明する。
<光電変換モジュールの構成>
図1は、本発明の一実施形態に係る光電変換モジュールの一例を示す要部拡大斜視図であり、図2はそのX−Z断面図である。また、図5は図1の光電変換モジュールの全体を示す斜視図であり、図6はその裏面側から見た斜視図である。光電変換モジュール13は、基板1上に光電変換部11と一対の引き出し配線部12(一対の引き出し配線部12のうち、X軸方向の負側は12a、正側は12bで示されている)とを具備している。
光電変換部11はX軸方向に沿って並んだ複数の光電変換セル10を具備している。光電変換セル10は、下部電極層2と、第1の導電型を有する第1の半導体層3と、第1の導電型とは異なる第2の導電型を有する第2の半導体層4と、上部電極層5とが順に積層されている。例えば、第1の導電型がp型であれば第2の導電型はn型であり、その逆の関係であってもよい。図2では、第1の半導体層3bは、下部電極層2a上から下部電極層2b上にかけて設けられている。同様に、第1の半導体層3cは、下部電極層2b上から下部電極層2c上にかけて設けられており、第1の半導体層3dは、下部電極層2c上から下部電極層2d上にかけて設けられている。各第1の半導体層3b〜3dと、それらの上に積層された第2の半導体層4とで光電変換によってキャリア分離が良好に行なわれる。光電変換によって生じた第1の導電型のキャリアは第1の半導体層3から下部電極層2へ移動する。一方、光電変換によって生じた第2の導電型のキャリアは第2の半導体層3から上部電極層4へ移動し、接続導体7を介して隣接する下部電極層2へ移動する。このような構成により、隣接する光電変換セル10同士が直列接続されている。
引き出し配線部12は、上記光電変換部11で生じたキャリアを光電変換モジュール13の外部へ取り出すためのものである。つまり、引き出し配線部12によって、光電変換部11で発電した電気出力が外部へ引き出されることとなる。引き出し配線部12は、光電変換部11の下部電極層2が延伸された部位上で、第1の半導体層3から離れた部位に配線導体9の一方の端部が接続されている。また、配線導体9の他方の端部は、図5に示されるように、基板1を上下方向に貫通する孔30を介して裏面に導出され、図6に示されるように光電変換モジュール13の裏面(非受光面)に配置された端子ボックス31の内部に接続されている。そして、この端子ボックス31を介して、光電変換モジュール13で発電した電気出力が外部回路に導出されることとなる。
光電変換モジュール13は、第1の半導体層3の配線導体9に対向する端面(側面)から下部電極層2上にかけて金属被覆層8によって連続して覆われている。つまり、光電変換モジュール13に設けられた第1の半導体層3の端面のうち、配線導体9からの水分の影響を受けやすい配線導体9に近い端面が金属被覆層8で覆われている。このような構成によって、外部から配線導体9を伝って光電変換モジュール13内に水分が侵入してきたとしても、光電変換部11へ水分が侵入するのを金属被覆層8で有効に低減され得る。その結果、光電変換モジュール13の光電変換特性が良好に維持され信頼性の高いものとなる。
第1の半導体層3の配線導体9に対向する端面は、金属被覆層8で被覆されている領域の面積が被覆されていない領域の面積よりも大きくてもよい。これにより、光電変換部11への水分の侵入がより有効に低減され得るとともに、応力等によって生じる光電変換部11の端部からの剥離が有効に低減され、信頼性がより向上する。
より有効に水分の光電変換部11への侵入が低減されるとともに、光電変換部11の剥離が低減されるという観点からは、第1の半導体層3の配線導体9に対向する端面の全面が、金属被覆層8で被覆されていてもよい。
また、配線導体9から光電変換部11への水分の侵入経路がさらに低減されるという観点からは、図1、2に示されるように、金属被覆層8は下部電極層2の端部まで延伸されており、この金属被覆層8の延伸部を介して配線導体9が下部電極層2に接続されていてもよい。
さらに、応力等によって光電変換部11の端部の欠けが生じるのが低減されるという観点からは、第2の半導体層4の上面の一部が金属被覆層8で覆われていてもよい。例えば、図1、2のように第2の半導体層4上に上部電極層5が設けられている場合は、この上部電極層5の上面の一部まで金属被覆層11が延伸されていてもよい。
光電変換モジュール13は一対の配線導体9(一対の配線導体9のうち、X軸方向の負側は9a、正側は9bで示されている)を有しており、光電変換部11のX軸方向の両端部の近傍にそれぞれ位置している。金属被覆層8はこの両端部の少なくとも一方側に設けられていればよい。金属被覆層8は光電変換部11の両端部に設けられていると、より高い効果が得られる。例えば、図1、2では、X軸方向における光電変換部11の両端部に金属被覆層8(一対の金属被覆層8のうち、X軸方向の負側は8a、正側は8bで示されている)が設けられているが、いずれか一方の端面のみに設けられている場合もあり得る。なお、図1、2のX軸の負側における光電変換部11の端面に金属被覆層8aが設けられる場合は、第1の半導体層3bと第2の半導体層4とが短絡されないように、例えば図1、2に示されるように、第1の半導体層3aを用いて壁部が形成され、この壁部の端面が金属被覆層8aに覆われるようにすればよい。このような壁部を有することによって、壁部も、光電変換に寄与する第1の半導体層3bへの水分の侵入を低減する機能を有することとなり、より信頼性が向上する。
また、図1、2のように、金属被覆層8は光電変換部11を構成する全ての半導体層の合計厚み(図1、2の例では第1の半導体層3と第2の半導体層4と上部電極層5との合計厚み)よりも厚く形成され、この厚い金属被覆層8上に配線導体9が接合されていてもよい。このような構成であれば、配線導体9と光電変換部11との間が長くなるとともに水分の侵入経路が低減し、光電変換部11へ水分が侵入するのがより低減される。
<光電変換モジュールの構成部材>
次に上述した光電変換モジュール13の各構成部材について詳細に説明する。
基板1は、光電変換部11を支持するためのものである。基板1に用いられる材料としては、例えば、ガラス、セラミックス、樹脂および金属等が挙げられる。基板1としては、例えば、厚さ1〜3mm程度の青板ガラス(ソーダライムガラス)が用いられてもよい。
下部電極層2(下部電極層2a〜2d)は、基板1上に設けられた、Mo、Al、TiまたはAu等の導電体である。下部電極層2は、スパッタリング法または蒸着法などの公知の薄膜形成手法を用いて、0.2μm〜1μm程度の厚みに形成される。
第1の半導体層3は第1の導電型を有する半導体層である。第1の半導体層3は、例えば1μm〜3μm程度の厚みを有する。第1の半導体層3の材料としては特に限定されないが、比較的高い光電変換効率を有するという観点で、例えば、I−III−VI族化合物、I−II−IV−VI族化合物およびII−VI族化合物等が用いられてもよい。
I−III−VI族化合物とは、I−B族元素(11族元素ともいう)とIII−B族元素(13族元素ともいう)とVI-B族元素(16族元素ともいう)との化合物である。I−III−
VI族化合物としては、例えば、CuInSe(二セレン化銅インジウム、CISともいう)、Cu(In,Ga)Se(二セレン化銅インジウム・ガリウム、CIGSともいう)、Cu(In,Ga)(Se,S)(二セレン・イオウ化銅インジウム・ガリウム、CIGSSともいう)等が挙げられる。あるいは、第1の半導体層3は、薄膜の二セレン・イオウ化銅インジウム・ガリウム層を表面層として有する二セレン化銅インジウム・ガリウム等の多元化合物半導体薄膜にて構成されていてもよい。I−III−VI族化合物は光吸収係数が比較的高く、第1の半導体層3が薄くても良好な光電変換効率が得られる。
I−II−IV−VI族化合物とは、I−B族元素とII−B族元素(12族元素ともいう)とIV−B族元素(14族元素ともいう)とVI−B族元素との化合物半導体である。I−II−IV−VI族化合物としては、例えば、CuZnSnS(CZTSともいう)、CuZnSnS4−xSe(CZTSSeともいう。なお、xは0より大きく4より小さい数である。)、およびCuZnSnSe(CZTSeともいう)等が挙げられる。
II−VI族化合物とは、II−B族元素とVI−B族元素との化合物半導体である。II−VI族化合物としてはCdTe等が挙げられる。
第2の半導体層4は、第1の半導体層3とは異なる第2導電型を有する半導体層である。第2の半導体層4は、第1の半導体層3とは異なる材料が第1の半導体層3上に積層されたものであってもよく、あるいは第1の半導体層3の表面部が他の元素のドーピングによって改質されたものであってもよい。また、第1の半導体層3と第2の半導体層4との間に高抵抗のバッファ層等が介在していてもよい。
第2の半導体層4としては、CdS、ZnS、ZnO、In、InSe、In(OH,S)、(Zn,In)(Se,OH)、および(Zn,Mg)O等が挙げられる。この場合、第2の半導体層4は、例えばケミカルバスデポジション(CBD)法等で10〜200nmの厚みで形成される。なお、In(OH,S)とは、InとOHとSとを主に含む化合物をいう。(Zn,In)(Se,OH)は、ZnとInとSeとOHとを主に含む化合物をいう。(Zn,Mg)Oは、ZnとMgとOとを主に含む化合物をいう。
図1、図2のように、第2の半導体層4上にさらに上部電極層5が設けられていてもよい。上部電極層5は、第2の半導体層4よりも抵抗率の低い層であり、第1の半導体層3および第2の半導体層4で生じたキャリアが良好に取り出される。光電変換効率をより高めるという観点からは、上部電極層5の抵抗率が1Ω・cm未満でシート抵抗が50Ω/□以下であってもよい。
上部電極層5は、例えばITO、ZnO等の0.05〜3μmの透明導電膜である。透光性および導電性を高めるため、上部電極層5は第2の半導体層4と同じ導電型の半導体で構成されてもよい。上部電極層5は、スパッタリング法、蒸着法または化学的気相成長(CVD)法等で形成され得る。
また、図1、図2に示すように、上部電極層5上にさらに集電電極6が形成されていてもよい。集電電極6は、第1の半導体層3および第2の半導体層4で生じたキャリアをさらに良好に取り出すためのものである。集電電極6は、例えば、図1に示すように、光電変換セル10の一端から接続導体7にかけて線状に形成されている。これにより、第1の半導体層3および第4の半導体層4で生じた電流が上部電極層5を介して集電電極6に集電され、接続導体7を介して隣接する光電変換セル10に良好に導電される。
集電電極6は、第1の半導体層3への光透過率を高めるとともに良好な導電性を有する
という観点から、50〜400μmの幅を有していてもよい。また、集電電極6は、枝分かれした複数の分岐部を有していてもよい。
集電電極6は、例えば、Ag等の金属粉を樹脂バインダー等に分散させた金属ペーストがパターン状に印刷され、これが硬化されることによって形成される。
図1、図2において、接続導体7は、第1の半導体層3、第2の半導体層4および第2の電極層5を貫通する溝内に設けられた導体である。接続導体7は、金属や導電ペースト等が用いられ得る。図1、図2においては、集電電極6を延伸して接続導体7が形成されているが、これに限定されない。例えば、上部電極層5が延伸したものであってもよい。
金属被覆層8は金属を主に含む層である。なお、金属を主に含むとは金属被膜層8の70体積%以上を金属が占めていることを言う。金属被覆層8は、例えば、Ag等の金属粉を樹脂バインダー等に分散させた金属ペーストがパターン状に印刷され、これが硬化されることによって形成される。あるいは、金属被覆層8はめっき等により形成されてもよい。また、水分の浸透を低減するという観点からは、金属被覆層8にガラスが含まれていても良い。
配線導体9は、例えば、厚さ0.1〜0.5mm程度、幅が1〜7mm程度の銅(Cu)などの金属箔が挙げられる。また。この金属箔の表面には、下部電極層2または金属被覆層8との電気的な接続を良好にすべく、錫、ニッケルまたは半田などがめっき等によってコーティングされていてもよい。
<光電変換モジュールの他の例>
次に、光電変換モジュールの他の例について説明する。図3は光電変換モジュールの他の例を示す要部拡大斜視図であり、図4はその断面図である。図3、4に示される光電変換モジュール23において、上述した図1、2に示される光電変換モジュール13と同じ構成の部位は、図1、2と同じ符号が付されている。光電変換モジュール23において、金属被覆層28bは接続導体7を兼ねている。この点で光電変換モジュール13と異なっている。このような構成であれば、光電変換可能な領域がより広くなり、光電変換効率がより高く成り得る。
なお、本発明は上述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の変更が施されることは何等差し支えない。光電変換モジュール13、23では光電変換部11における光電変換セル10が3列の例が示されているが、これに限定されず、1列、2列あるいは4列以上であってもよい。
1:基板
2、2a、2b、2c、2d:下部電極層
3、3a、3b、3c、3d:第1の半導体層
4:第2の半導体層
5:上部電極層
6:集電電極
7:接続導体
8、8a、8b、28b:金属被覆層
9、9a、9b:配線導体
10:光電変換セル
11:光電変換部
12、12a、12b:引き出し配線部
13、23:光電変換モジュール

Claims (3)

  1. 基板と、
    該基板上に設けられた下部電極層と、
    該下部電極層上に設けられた半導体層と、
    前記下部電極層上であって前記半導体層から離れた部位に接合された、前記半導体層で生じた電気出力を外部に取り出すための配線導体と、
    前記半導体層の前記配線導体に対向する端面から前記下部電極層の上面にかけて連続して設けられた金属被覆層と
    を具備することを特徴とする光電変換モジュール。
  2. 前記端面は、前記金属被覆層で被覆されている領域の面積が被覆されていない領域の面積よりも大きいことを特徴とする請求項1に記載の光電変換モジュール。
  3. 前記金属被覆層は前記半導体層の上面を覆っていることを特徴とする請求項1または2に記載の光電変換モジュール。
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