JP2013074032A - 固体電解コンデンサの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明に係る固体電解コンデンサの製造方法は、多孔質体からなる陽極体の表面に誘電体被膜を形成する工程と、陽極体上にシラン化合物を含有する密着層を形成する工程と、誘電体被膜上に固体電解質層を形成する工程とをこの順に備える。密着層を形成する工程は、陽極体をシランカップリング剤を含有する溶液に浸漬し、陽極体および溶液の少なくともいずれか一方を振動させる工程、および陽極体を溶液中に浸漬し、溶液を加熱する工程の少なくともいずれか一方の工程を含む。
【選択図】図2
Description
まず、図1を用いて、本実施の形態の製造方法によって製造される固体電解コンデンサの構成について説明する。
まず、図2および図3(A)に示すように、陽極リードが立設された陽極体11を形成する(ステップS1)。図2の陽極体11は、たとえば、以下のように形成することができる。
次に、図2および図3(B)に示すように、陽極体11の表面に誘電体被膜13を形成する(ステップS2)。誘電体被膜13は、たとえば、以下のように形成することができる。
次に、図2および図3(C)に示すように、誘電体被膜13上にシラン化合物を含有する密着層14を形成する(ステップS3)。密着層14は、たとえば、本工程において、図5に示すような陽極体を振動させる工程を含むことによって形成することができる。以下に、図5を参照しながら陽極体を振動させる工程について説明する。
次に、図2および図3(D)に示すように、誘電体被膜13および密着層14上に固体電解質層15を形成する(ステップS4)。固体電解質層15は、二酸化マンガン、TCNQ錯塩(7,7,8,8-テトラシアノキノジメタン)、導電性高分子などである。ここでは、プレコート層を形成した上で、導電性高分子からなる固体電解質層15を形成する方法の一例について説明する。
次に、図2および図3(E)に示すように、固体電解質層15上にカーボン層16および銀ペイント層17からなる陰極引出層を形成する(ステップS5)。陰極引出層は、たとえば、以下のように形成することができる。
次に、図1および図2に示すように、コンデンサ素子10を封止して、固体電解コンデンサを作製する(ステップS6)。封止の方法は特に限定されないが、たとえば、以下の方法がある。
本実施の形態では、プレコート層を形成した後に、密着層14を形成する点で実施の形態1と相違しているのみであるため、その相違する点についてのみ説明する。
(実施例1)
まず、タンタル粉末を準備し、棒状体のタンタルからなる陽極リードの長手方向の一端側をタンタル粉末に埋め込んだ状態で、タンタル粉末を直方体に成形した。そして、この成形体を焼結して、陽極リードの一端が埋設された多孔質構造の陽極体を形成した。形成された陽極体のCV値は、100,000μFV/gであった。
陽極体の振動数を10Hzとして密着層を形成した以外は、実施例1と同様の方法により10個の固体電解コンデンサを作製した。
陽極体の振動数を100Hzとして密着層を形成した以外は、実施例1と同様の方法により10個の固体電解コンデンサを作製した。
陽極体の振動数を500Hzとして密着層を形成した以外は、実施例1と同様の方法により10個の固体電解コンデンサを作製した。
溶液を振動させずに密着層を形成した以外は、実施例1と同様の方法により10個の固体電解コンデンサを作製した。
タンタル粉末を用いてCV値が50,000μFV/gの陽極体を形成し、溶液を振動させずに密着層を形成した以外は、実施例1と同様の方法により10個の固体電解コンデンサを作製した。
製造された各固体電解コンデンサを用いてLIFE試験を行った。具体的には、各固体電解コンデンサの初期(使用時間0時間)の静電容量を測定した後、105℃の恒温器内に投入し、恒温器内において、各固体電解コンデンサに定格電圧を印加し続けた。そして、印加時間500時間経過後の各固体電解コンデンサの静電容量を測定し、その変化の程度を観察した。静電容量の測定方法は以下の通りである。
ΔC/C(%)=(Cx−C)/C×100・・・式(1)
各結果を表1に示す。なお、各数値は各実施例、比較例および参考例における固体電解コンデンサの平均値を示す。表1を参照し、密着層を形成する際に溶液を振動させなかった場合(比較例1)、LIFE試験後の静電容量が大きく低下していることが分かった。これに対し、溶液を振動させた場合(実施例1〜4)、静電容量の低下を抑制でき、もって固体電解コンデンサの信頼性が向上していることがわかった。これは、溶液を陽極体の内部にまで十分に浸透させることができたために、固体電解質層の剥離が抑制されたためと理解される。
(実施例5)
タンタル粉末を用いてCV値が150,000μFV/gの陽極体を形成した以外は、実施例2と同様の方法により10個の固体電解コンデンサを作製した。
タンタル粉末を用いてCV値が150,000μFV/gの陽極体を形成した以外は、実施例3と同様の方法により10個の固体電解コンデンサを作製した。
タンタル粉末を用いてCV値が150,000μFV/gの陽極体を形成した以外は、比較例1と同様の方法により10個の固体電解コンデンサを作製した。
製造された各固体電解コンデンサを用いて上述と同様のLIFE試験を行った結果を表2に示す。なお、各数値は各実施例および比較例における固体電解コンデンサの平均値を示す。表2を参照し、密着層を形成する際に溶液を振動させなかった場合(比較例2)、LIFE試験後の静電容量が大きく低下していることが分かった。これに対し、溶液を振動させた場合(実施例5および6)、静電容量の低下を抑制できることがわかった。
(実施例7)
密着層を形成する工程において、溶液を振動させる代わりに、溶液を50℃に加熱して10分間浸漬させた以外は、実施例1と同様の方法により固体電解コンデンサを作製した。
溶液の温度を90℃に加熱した以外は、実施例7と同様の方法により固体電解コンデンサを作製した。
溶液の温度を95℃に加熱した以外は、実施例7と同様の方法により固体電解コンデンサを作製した。
タンタル粉末を用いてCV値が150,000μFV/gの陽極体を形成した以外は、実施例7と同様の方法により固体電解コンデンサを作製した。
タンタル粉末を用いてCV値が150,000μFV/gの陽極体を形成した以外は、実施例8と同様の方法により固体電解コンデンサを作製した。
製造された各固体電解コンデンサを用いて上述と同様のLIFE試験を行った結果を表3に示す。なお、各数値は各実施例および比較例における固体電解コンデンサの平均値を示し、比較を容易とするために、比較例1および2の結果も併せて示す。表3を参照し、溶液を加熱することにより、静電容量の低下を抑制でき、もって固体電解コンデンサの信頼性が向上していることがわかった。
(実施例12)
密着層を形成する工程において、溶液を加熱するとともに、陽極体を振動数10Hz、振動幅3mmで10分間水溶液の表面に対して上下方向に振動させた以外は、実施例7と同様の方法により、固体電解コンデンサを作製した。
タンタル粉末を用いてCV値が150,000μFV/gの陽極体を形成した以外は、実施例12と同様の方法により、固体電解コンデンサを作製した。
製造された各固体電解コンデンサを用いて上述と同様のLIFE試験を行った結果を表4に示す。なお、各数値は各実施例および比較例における固体電解コンデンサの平均値を示す。表4を参照し、密着層を形成する工程において、溶液を加熱しながら溶液と陽極体とを相対的に振動させることにより、さらに、固体電解コンデンサの静電容量の変化率を低減できることがわかった。
Claims (5)
- 多孔質体からなる陽極体の表面に誘電体被膜を形成する工程と、
前記陽極体上にシラン化合物を含有する密着層を形成する工程と、
前記誘電体被膜上に固体電解質層を形成する工程と、をこの順に備え、
前記密着層を形成する工程は、前記陽極体をシランカップリング剤を含有する溶液に浸漬し、前記陽極体および前記溶液の少なくともいずれか一方を振動させる工程、および前記陽極体を前記溶液中に浸漬し、前記溶液を加熱する工程の少なくともいずれか一方の工程を含む、固体電解コンデンサの製造方法。 - 前記陽極体は100,000μFV/g以上のCV値を有する焼結体である、請求項1に記載の固体電解コンデンサの製造方法。
- 前記誘電体被膜は金属酸化物からなり、前記固体電解質層は導電性高分子層からなる、請求項1または2に記載の固体電解コンデンサの製造方法。
- 前記溶液中における前記シランカップリング剤の濃度は0.1質量%以上である、請求項1から3のいずれかに記載の固体電解コンデンサの製造方法。
- 前記加熱する工程において、前記溶液の加熱温度は100℃未満である、請求項1から4のいずれかに記載の固体電解コンデンサの製造方法。
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