JP2012524988A5 - - Google Patents
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Claims (15)
- 複数のミラーを含む投影システムを有するEUVリソグラフィ装置を用いて基板上にパターン付き放射ビームを投影する方法であって、
前記投影システムの最終ミラーを、前記基板の表面に実質的に垂直な方向に移動させる間に、前記投影システムを用いて、前記パターン付き放射ビームを前記基板上に投影させることと、
前記ミラーの前記移動に因る前記基板上での前記投影されたパターン付き放射ビームの望ましくない並進を実質的に補償するように前記最終ミラーを回転させることと、
を含む方法。 - 前記最終ミラーの前記回転は、前記最終ミラーの前記移動と同期される、請求項1に記載の方法。
- 前記リソグラフィ装置は、スキャン動作で前記基板を前記投影システムに対して移動させるスキャニング装置であり、前記最終ミラーの前記回転は、前記基板のスキャン動作の方向に実質的に垂直な軸周りである、請求項1または2に記載の方法。
- 露光領域の外側部分における放射の強度は、前記露光領域のその他の部分における放射の強度より大きい、請求項1から3のいずれに記載の方法。
- 前記基板の前記スキャン動作の速度は、時間間隔Tの間に、前記基板が前記パターン付き放射ビームによって画定される露光領域の幅に対応する距離を移動するような速度であり、
前記時間間隔Tの間に、前記最終ミラーは、初期位置から、前記初期位置から変位した位置に、また前記初期位置に戻るまで1以上の移動サイクルを経て移動し、前記最終ミラーは前記時間間隔Tの終わりにおいて、前記初期位置に戻る、請求項3に記載の方法。 - 前記基板の前記スキャン動作の速度は、時間間隔Tの間に、前記基板が前記パターン付き放射ビームによって画定される露光領域の幅に対応する距離を移動するような速度であり、
前記時間間隔Tの間に、前記最終ミラーは、初期向きから回転された向きに、また前記初期向きに戻るまで1以上の向きサイクルを経て移動し、前記最終ミラーは前記時間間隔Tの終わりにおいて、前記初期向きに戻る、請求項3または5に記載の方法。 - 前記基板の位置は、ターゲット部分の露光時は前記投影システムに対して固定され、前記ターゲット部分の前記露光は、時間間隔Tの間に行われ、
前記時間間隔Tの間に、前記最終ミラーは、初期位置から、前記初期位置から変位した位置に、また前記初期位置に戻るまで1以上の移動サイクルを経て移動し、前記最終ミラーは前記時間間隔Tの終わりにおいて、前記初期位置に戻る、請求項1または2に記載の方法。 - 前記基板の前記位置は、ターゲット部分の露光時は前記投影システムに対して固定され、前記ターゲット部分の前記露光は、時間間隔Tの間に行われ、
前記時間間隔Tの間に、前記最終ミラーは、初期向きから回転された向きに、また前記初期向きに戻るまで1以上の向きサイクルを経て移動し、前記最終ミラーは、前記時間間隔Tの終わりにおいて、前記初期向きに戻る、請求項2または7に記載の方法。 - 前記最終ミラーの前記初期位置は、前記最終ミラーの移動サイクルの間に前記最終ミラーが経験する様々な位置の1つの極端にある、請求項5または6に記載の方法。
- 複数のミラーを有する投影システムと、
基板を支持する基板テーブルと、
を含むEUVリソグラフィ装置であって、
前記投影システムの最終ミラーが、パターン付き放射ビームを前記基板上に誘導するように構成され、
前記装置は、
前記投影システムの前記最終ミラーを、前記基板の表面に実質的に垂直な方向に移動させ、かつ前記ミラーの前記移動に因る前記基板上での前記投影されたパターン付き放射ビームの望ましくない並進を実質的に補償するような態様で前記最終ミラーを回転させるアクチュエータをさらに含む、装置。 - 前記アクチュエータは、前記最終ミラーの前記回転を、前記最終ミラーの前記移動と同期させるように構成される、請求項10に記載の装置。
- 前記リソグラフィ装置は、スキャン動作で前記基板を前記投影システムに対して移動させるスキャニング装置であり、前記最終ミラーの前記回転は、前記基板のスキャン動作の方向に実質的に垂直な軸周りである、請求項10または11に記載の装置。
- 前記アクチュエータは、前記最終ミラーの初期位置が、前記最終ミラーの移動サイクルの間に前記最終ミラーが経験する様々な位置の1つの極端にあるように構成される、請求項10から12のいずれかに記載の装置。
- 前記投影システムは、少なくとも4つのミラーを含む、請求項10から13のいずれかに記載の装置。
- 前記アクチュエータは、高周波コンポーネントおよび低周波コンポーネントを含む制御システムによって制御される、請求項10から14のいずれかに記載の装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US17288609P | 2009-04-27 | 2009-04-27 | |
US61/172,886 | 2009-04-27 | ||
PCT/EP2010/053506 WO2010124903A1 (en) | 2009-04-27 | 2010-03-18 | Lithographic apparatus and method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012524988A JP2012524988A (ja) | 2012-10-18 |
JP2012524988A5 true JP2012524988A5 (ja) | 2013-05-02 |
Family
ID=42225080
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012506419A Pending JP2012524988A (ja) | 2009-04-27 | 2010-03-18 | リソグラフィ装置および方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20120044471A1 (ja) |
JP (1) | JP2012524988A (ja) |
KR (1) | KR20120020135A (ja) |
CN (1) | CN102414623A (ja) |
NL (1) | NL2004425A (ja) |
TW (1) | TW201044122A (ja) |
WO (1) | WO2010124903A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105929641A (zh) * | 2016-07-13 | 2016-09-07 | 无锡宏纳科技有限公司 | 透镜可移动的光刻机 |
CN105974749A (zh) * | 2016-07-13 | 2016-09-28 | 无锡宏纳科技有限公司 | 通过浸入式光刻机进行光刻的方法 |
CN105954979A (zh) * | 2016-07-13 | 2016-09-21 | 无锡宏纳科技有限公司 | 通过移动透镜进行光刻的方法 |
CN105954978A (zh) * | 2016-07-13 | 2016-09-21 | 无锡宏纳科技有限公司 | 透镜可移动的浸入式光刻机 |
US10775700B2 (en) | 2018-08-14 | 2020-09-15 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Lithography system and method for exposing wafer |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3582717D1 (de) * | 1984-05-24 | 1991-06-06 | Commw Of Australia | Abtastvorrichtung der brennpunktflaeche. |
JP2714838B2 (ja) * | 1989-01-09 | 1998-02-16 | コニカ株式会社 | 電子写真感光体 |
JPH0490552A (ja) * | 1990-08-02 | 1992-03-24 | Canon Inc | 露光装置 |
JPH05343283A (ja) * | 1992-06-04 | 1993-12-24 | Hitachi Ltd | 半導体露光装置 |
JP3028028B2 (ja) * | 1994-04-22 | 2000-04-04 | キヤノン株式会社 | 投影露光装置及びそれを用いた半導体デバイスの製造方法 |
JP3231241B2 (ja) * | 1996-05-01 | 2001-11-19 | キヤノン株式会社 | X線縮小露光装置、及び該装置を用いた半導体製造方法 |
US6147818A (en) * | 1998-12-21 | 2000-11-14 | The Regents Of The University Of California | Projection optics box |
DE10134387A1 (de) * | 2001-07-14 | 2003-01-23 | Zeiss Carl | Optisches System mit mehreren optischen Elementen |
JP4146673B2 (ja) * | 2002-06-18 | 2008-09-10 | 株式会社 液晶先端技術開発センター | 露光方法及び装置 |
CN1466001A (zh) * | 2002-06-24 | 2004-01-07 | 中国科学院光电技术研究所 | 自适应全反射极紫外投影光刻物镜 |
JP4497831B2 (ja) * | 2003-04-15 | 2010-07-07 | キヤノン株式会社 | 露光装置及びデバイスの製造方法 |
US7760452B2 (en) * | 2003-04-25 | 2010-07-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Driving apparatus, optical system, exposure apparatus and device fabrication method |
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JP2004140390A (ja) * | 2003-12-01 | 2004-05-13 | Canon Inc | 照明光学系、露光装置及びデバイス製造方法 |
CN101048690A (zh) * | 2004-10-26 | 2007-10-03 | 株式会社尼康 | 光学装置、镜筒、曝光装置、以及器件制造方法 |
US7307262B2 (en) * | 2004-12-23 | 2007-12-11 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
JP4817702B2 (ja) * | 2005-04-14 | 2011-11-16 | キヤノン株式会社 | 光学装置及びそれを備えた露光装置 |
JPWO2007086557A1 (ja) * | 2006-01-30 | 2009-06-25 | 株式会社ニコン | 光学部材保持装置、光学部材の位置調整方法、及び露光装置 |
-
2010
- 2010-03-18 NL NL2004425A patent/NL2004425A/en not_active Application Discontinuation
- 2010-03-18 US US13/266,565 patent/US20120044471A1/en not_active Abandoned
- 2010-03-18 WO PCT/EP2010/053506 patent/WO2010124903A1/en active Application Filing
- 2010-03-18 CN CN2010800183873A patent/CN102414623A/zh active Pending
- 2010-03-18 JP JP2012506419A patent/JP2012524988A/ja active Pending
- 2010-03-18 KR KR1020117028222A patent/KR20120020135A/ko not_active Application Discontinuation
- 2010-04-06 TW TW099110622A patent/TW201044122A/zh unknown
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