JP2012516632A - 集積回路の入力ポートにおける消費電力を低減するための回路および方法 - Google Patents

集積回路の入力ポートにおける消費電力を低減するための回路および方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2012516632A
JP2012516632A JP2011547925A JP2011547925A JP2012516632A JP 2012516632 A JP2012516632 A JP 2012516632A JP 2011547925 A JP2011547925 A JP 2011547925A JP 2011547925 A JP2011547925 A JP 2011547925A JP 2012516632 A JP2012516632 A JP 2012516632A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
current
circuit
voltage
coupled
fixed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2011547925A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5328938B2 (ja
Inventor
コンスタンティン,チカル・イ
カレン,エドワード
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Xilinx Inc
Original Assignee
Xilinx Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xilinx Inc filed Critical Xilinx Inc
Publication of JP2012516632A publication Critical patent/JP2012516632A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5328938B2 publication Critical patent/JP5328938B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0175Coupling arrangements; Interface arrangements
    • H03K19/0185Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/02Disposition of storage elements, e.g. in the form of a matrix array
    • G11C5/025Geometric lay-out considerations of storage- and peripheral-blocks in a semiconductor storage device
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/06Arrangements for interconnecting storage elements electrically, e.g. by wiring
    • G11C5/063Voltage and signal distribution in integrated semi-conductor memory access lines, e.g. word-line, bit-line, cross-over resistance, propagation delay
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/147Voltage reference generators, voltage or current regulators; Internally lowered supply levels; Compensation for voltage drops
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

集積回路(102)の入力ポートにおける消費電力を低減するための回路が開示される。この回路は、集積回路(102)に結合される入力信号を受けるための、集積回路(102)の複数の受信機回路(112、114、116、118)と、複数の受信機回路(112、114、116、118)に結合されたバイアス電流発生器(122)とを備え、バイアス電流発生器(122)は、複数の受信機回路(112、114、116、118)の各受信機回路に対してバイアス電圧を与えてバイアス電流発生器(122)における電流を受信機回路(112、114、116、118)各々にミラーする。集積回路(102)の入力ポートにおける消費電力を低減する方法も開示される。

Description

発明の分野
本発明は、一般的には集積回路に関し、より特定的には集積回路の入力ポートにおける消費電力を低減するための回路および方法に関する。
発明の背景
集積回路はどの電子装置にとっても重要な部分である。バッテリ電源に依存する電子装置の増加に伴い、集積回路における消費電力の低減が重要である。電力を消費する電子装置の1つの部分として、入力信号を受けるようにまたは出力信号を発生するように結合された入力/出力(I/O)部がある。特定の回路でおよび集積回路全体で必要な電力は、集積回路に関連する、PVTとしても知られているプロセス(process)、電圧(voltage)および温度(temperature)によって変化し得る。すなわち、集積回路のトランジスタといった構成要素の製造に使用されるプロセス、集積回路に印加される電源電圧、または集積回路もしくは集積回路の一部の温度に応じて、所与の回路の消費電力は変化するであろう。
I/Oポートを実現するための従来の回路および方法は、各I/Oポートにローカルバイアス増幅器を使用する。こういったローカルバイアス増幅器は、集積回路上のさらなる領域を占めるばかりでなく、さまざまなPVTの組合せに対して消費電力が大きい。より具体的には、消費電力は、装置に印加される電源電圧に応じて変化するであろう。消費電力を低減するには、PVT変数の変動とは無関係の回路を設けることが有効である。
発明の概要
集積回路の入力ポートにおける消費電力を低減するための回路は、集積回路に結合される入力信号を受けるための集積回路の複数の受信機回路と、複数の受信機回路に結合されたバイアス電流発生器とを備え、バイアス電流発生器は、複数の受信機回路の各受信機回路に対してバイアス電圧を与えてバイアス電流発生器における電流を受信機回路各々にミラーする。
この回路において、バイアス電流発生器は、バンドギャップ電圧を受けるように結合された第1の増幅器を含み得る。第1の増幅器の出力は第1の固定電流を発生するための第1の電流経路に結合し得る。第1の固定電流は、第1の電流経路における抵抗器に基づき得る。第1の電流経路における抵抗器の値は、第1の固定電流に対して所定の電流を発生するように選択し得る。この回路はさらに、第1の増幅器の出力に結合された第2の電流経路を含み得る。第1の固定電流は第2の電流経路にミラーされる。加えて、この回路はさらに、第2の電流経路に結合された第2の増幅器を含み得る。第2の増幅器はバイアス電圧を発生し得る。
代替の実施の形態に従うと、集積回路の入力ポートにおける消費電力を低減するための回路は、集積回路に結合される入力信号を受けるための集積回路の複数の受信機回路と、複数の受信機回路に結合されたバイアス電流発生器とを備え、バイアス電流発生器は、第1の固定電圧を受けるように結合され第1の固定電流を発生する第1の増幅器と、第1の固定電流に基づく基準電圧を発生するように結合された第2の増幅器とを含み、バイアス電流発生器は、複数の受信機回路の各受信機回路に対して基準電圧を与える。
この代替の実施の形態において、第1の固定電圧はバンドギャップ電圧を含み得る。第1の固定電流は第1の電流経路における抵抗器に基づき得る。第1の電流経路における抵抗器の値は、第1の固定電流に対して所定の電流を発生するように選択し得る。複数の受信機回路は電圧基準入力回路を含み得る。電圧基準入力回路は、ランダムアクセスメモリからデータを受けるように結合された入力を含み得る。集積回路はプログラマブルロジックを有する装置を含み得る。
集積回路の入力ポートにおける消費電力を低減する方法も開示される。この方法は、固定電圧を受けるステップと、電流ミラー回路の第1の経路に固定電圧に基づく第1の固定電流を発生するステップと、電流ミラー回路の第2の経路に第2の固定電流を発生するステップと、第2の固定電流に基づく基準電圧を集積回路の複数の受信機に結合するステップと、集積回路に結合される入力信号を受けるための複数の受信機の各受信機に固定電流を発生するステップとを含み、複数の受信機における固定電流は基準電圧に基づく。
この方法において、固定電圧を受けるステップは、バンドギャップ電圧を受けるステップを含み得る。固定電圧に基づく第1の固定電流を発生するステップは、抵抗器を電流ミラーの第1の経路に与えるステップを含み得る。固定電圧に基づく第1の固定電流を発生するステップは、固定電圧および抵抗器のノードの電圧を受けるように結合された第1の差動増幅器を用いるステップを含み得る。第2の固定電流に基づく基準電圧を結合するステップは、電流ミラーの第2の経路のノードの電圧および上記増幅器の出力に結合された第2の差動増幅器を用いるステップを含み得る。第1の固定電流を発生するステップは、複数の受信機の必要速度に基づいて第1の固定電流を発生するステップを含み得る。
本発明のある実施の形態に従う、集積回路の入力ポートにおける消費電力を低減するための回路のブロック図である。 本発明のある実施の形態に従う、図1の回路のバイアス電流発生器のブロック図である。 本発明のある実施の形態に従う、図1の回路の入力/出力ポートの受信機回路のブロック図である。 本発明のある実施の形態に従う、集積回路の入力ポートにおける消費電力を低減するための回路を実現するシステムである。 本発明のある実施の形態に従う、プログラマブルロジックを有する装置である。 本発明のある実施の形態に従う、図5の装置のコンフィギュラブルロジック素子のブロック図である。 本発明のある実施の形態に従う、集積回路の入力ポートにおける消費電力を低減する方法を示すフローチャートである。
図面の詳細な説明
まず図1を参照して、本発明のある実施の形態に従う、集積回路の入力ポートにおける消費電力を低減するための回路のブロック図が示される。装置102はメモリ104に結合される。この装置102は、以下でより詳細に述べるようにプログラマブルロジックを有する装置といった集積回路でもよい。このメモリ104は、ダブルデータレート(DDR)同期型ダイナミックランダムアクセスメモリ(SDRAM)といったランダムアクセスメモリでもよい。装置102およびメモリ104は、別々の集積回路を含んでいてもよく、または1つの集積回路の一部であってもよい。装置102は、さまざまなI/Oポートを含む入力/出力バンク106を備え、より具体的にはさまざまな入力/出力ブロック(IOB)を含む。コントローラIOBブロック108は、DDR SDRAMに結合されるDDR制御信号のように、制御信号をメモリ104に結合できるようにする。データ経路IOBブロック110は、増幅器を含む複数の差動受信機を備える。具体的には、「n」個のVREF受信機が図1に示されており、VREF受信機112−118はそれぞれデータ信号データ0からデータnを受けるように結合される。以下でより詳細に述べるように、VREF受信機は、入力信号を受け、この入力信号を電圧基準と比較して入力における値を求める。しかしながら、以下で図4を参照しながら述べるように、本発明の回路および方法を、低電圧差動シグナリング(LVDS)受信機といった任意の差動受信機に応用してもよい。この装置102はまた、信号を、メモリ以外の、装置102外部の装置に結合するためのインフラストラクチャIOB120を含み得る。以下でより詳細に述べるように、バイアス電流発生器122は、基準電圧ノード123経由で基準電流をVREF受信機各々に発生できるようにする。
コントローラ124も入力/出力バンク106に結合されて制御信号を入力/出力バンク106に与える。最後に、データ経路制御回路126は、VREF受信機経由でメモリ104からの読出およびメモリ104への書込を行なえるようにする。具体的には、データ読出回路128は、読出アドレスFIFO130および読出データFIFO132を含み、これは、データをデータ経路IOBから読出すことおよびユーザ出力データを発生することを可能にする。同様に、データ読出コントローラ134は読出制御信号をデータ経路IOBとやり取りし、データ書込回路136はユーザ入力データを受けデータおよび書込制御信号をデータ経路IOBに与える。
以下でより詳細に述べるように、図1の回路配置は、消費電力のPVT範囲を次のようにして改善する。上記変数の1つとしての電圧を、その消費電流が自身に印加される電源電圧の変化とは無関係のVREF受信機を設けることによって排除するのである。本発明のある実施の形態に従う回路および方法は、バイアス電流発生器を用いて定電流を発生し、この電流は電流ミラーを用いて複数のI/O受信機にミラーされる。以下でより詳細に述べる回路および方法は、PVTの変動を克服して消費電力を低減し、回路要件を、集積回路の複数の入力/出力ポートに対して1つのバイアス電流発生器を与えることによって減じ、I/Oポートに必要な速度に応じて調整し得るプログラマブルバイアス電流を与える。
次に図2を参照して、本発明のある実施の形態に従う、図1の回路のバイアス電流発生器122のブロック図が示される。2つの増幅器を使用して、複数の入力/出力ポートに結合される基準電圧を発生する。一方の増幅器は抵抗器を用いて基準電流を発生するのに使用され、もう一方の増幅器は基準ラインを駆動するのに使用される。第1の増幅器202の出力は、電流ミラーの2つの経路におけるトランジスタのゲートに結合される。具体的には、増幅器202の出力は、p型金属酸化物半導体(PMOS)トランジスタのゲートに結合される。このPMOSトランジスタのソースは電源電圧に結合されドレインは抵抗器206の第1の端子に結合され、抵抗器206の第2の端子は接地に結合される。増幅器202は、第1の入力で固定電圧を受けかつ抵抗器206の第1の端子の電圧を受けるように結合された差動増幅器を含む。
図2の回路は電流ミラーとして構成され、トランジスタ204および抵抗器206を含む第1の電流経路において生成された電流は、トランジスタ208およびトランジスタ210を含む第2の経路にミラーされる。具体的には、増幅器202の出力はPMOSトランジスタ208のゲートに結合され、PMOSトランジスタ208のソースも電源電圧に結合される。トランジスタ208のドレインは、ソースが接地に結合されたn型金属酸化物半導体トランジスタ(NMOS)のドレインに結合される。トランジスタ210のドレインは、第2の差動増幅器212の第1の入力で自身のゲートに結合され、第2の差動増幅器212はまた、第2の入力としてこの増幅器の出力REFIを受けるように結合される。増幅器212の出力REFIは基準電圧を含み、この基準電圧が変化して電流ミラーの第2の経路における固定電流を維持する。図2の電流ミラーの構成は、バイアス電流発生器に対する負荷にかかわらず安定した電流源を提供し、VREF受信機に印加される電源電圧の変動とは無関係である。以下で図3を参照しながら述べるように、電流ミラーの第2の経路における電流は、VREF受信機各々にミラーされる。
本発明のある実施の形態に従うと、上記回路および方法は、増幅器の第1の入力に結合された1.2Vのバンドギャップ基準電圧を用いて、装置のプロセスおよび温度のみに依存する電流を発生する。すなわち、このバンドギャップ電圧は、バンドギャップ電圧がおよそ1.25ボルトとなり得るシリコンチップの特性等のチップ材料の特性に基づく安定した電圧源である。この回路を、図5に示される装置といったプログラマブルロジックを有する装置の列に通常は見出される回路を含まないであろうチップの隅に配置してもよい。REFIピンはVREF受信機各々をバイアスするのに使用されるであろう。図示のようにPMOSトランジスタのゲートが同一電圧に結合されNMOSトランジスタがダイオードとして構成される、並列する2つの経路を電源電圧と接地との間に構成することによって、上記2つの経路における電流は、上記PMOSトランジスタのゲート長およびゲート幅等の寸法が同一でありかつこれらPMOSトランジスタがゲート酸化物の厚み等の同一プロセスを用いて製造されると想定すれば、等しいであろう。示されているバイアス電流発生器は1つであるが、複数のバイアス電流発生器を用いてもよく、この場合各バイアス電流発生器は基準電流を複数のVREF受信機に与える。以下でより詳細に述べるように、抵抗器の値は電流ミラーにおける電流を決定するため、VREF受信機の速度を決定することになる。ある実施の形態に従うと、抵抗器の値はプログラム可能でありしたがってアプリケーションの速度に応じて基準電流を増大/減少させて回路の要求を満たしてもよい。図2の特定の実施の形態は電流ミラーの一例を与えているが、本発明に従いその他の電流ミラー回路を用いてもよい。すなわち、信頼性のある固定電圧を用いて第1の電流を第1の経路において発生し第1の電流を第2の経路にミラーするのであればどのような電流ミラーを用いてもよく、電流ミラーにおいて生成された電流に基づく基準電圧を用いてVREF受信機をバイアスする。
次に図3を参照して、本発明のある実施の形態に従う、入力/出力ポートの受信機回路のブロック図が示される。図3の回路は、基準電圧VREFおよび入力データを受けるように結合されたVREF受信機を含み、入力データINDATAの値に基づく出力信号OUTを発生するであろう。具体的には、VREF受信機の電流経路はPMOSトランジスタ302を含み、PMOSトランジスタ302のソースは電源電圧に結合されドレインはnチャネルトランジスタ304のドレインに結合され、nチャネルトランジスタ304はそのゲートでREFI電圧を受けるように結合される。トランジスタ302のドレインはそのゲートに結合される。図2のバイアス電流発生器のトランジスタ208および210を含む電流ミラー回路の第2の経路における電流は、各VREF受信機のトランジスタ302および304を含む電流経路にミラーされて、回路の残りの部分にミラーされるバイアス電流を与える。バイアス電流発生器で生成された電流をVREF受信機にミラーすることで、VREF受信機における消費電流は電源電圧の変動とは無関係である。
図3の回路の残りの部分は、入力データINDATAおよびVREF値の相対的な値に基づいて出力信号OUTを発生する差動受信機を含む。トランジスタ302および304のドレインの電圧はpチャネルトランジスタ306のゲートに結合され、pチャネルトランジスタ306のソースは電源電圧に結合されドレインは入力トランジスタ308および310のソースに結合されて、電流を回路の残りの部分にミラーする。PMOSトランジスタ308は、そのゲートで、記憶装置から読出したデータ等の入力データINDATAを受けるように結合され、PMOSトランジスタ310はそのゲートで基準電圧VREFを受ける。VREFの値はたとえば電源電圧のおよそ2分の1でもよい。トランジスタ308および310のドレインはそれぞれ交差結合されたトランジスタ312および314に結合される。具体的には、トランジスタ308のドレインはNMOSトランジスタ312のドレインに結合され、トランジスタ310のドレインはトランジスタ314のドレインに結合される。トランジスタ312のゲートはトランジスタ310および314のドレインに結合され、トランジスタ314のゲートはトランジスタ308および312のドレインに結合される。NMOSトランジスタ316は出力ノードと接地との間に結合され、トランジスタ316のゲートは出力ノードに結合される。最後に、NMOSトランジスタ318は、反転出力信号OUTBを発生するための反転出力ノードとの間に結合され、トランジスタ318のゲートはOUTBに結合される。VREF受信機は、バイアス電流発生器で生成されトランジスタ302および304を含む経路にミラーされた基準電流を用いてバイアスされるであろう。これらの消費電流は電源電圧に依存しないが基準電流の値のみに依存するであろう。
動作時は、INDATAの値がローのとき、トランジスタ308がオンし、OUTBをハイにする。これによりトランジスタ314がオンして出力信号OUTをローにする。INDATAの値がハイのときトランジスタ308はオフである。トランジスタ310がオンし、出力をハイにし、これによりトランジスタ312がオンして反転出力OUTBをローにする。図3では特定の受信機回路が例示のために示されているが、トランジスタ302および304を含む電流経路を別の受信機回路を用いて実現して回路における電圧変動とは無関係のVREF受信機を与えることができる。図3ではVREF受信機が例示のために示されているが、これ以外の差動受信機を用いてもよい。たとえば、LVDS受信機を、反転入力データ(INDATA_B)を図5のVREF電圧を受けるように結合されたノードに結合することによって用いることができる。図3に示されている増幅器は所与のLVDS規格に適合するために修正する必要があるかもしれないが、電流を増幅器にミラーする動作は同じである。
次に図4を参照して、本発明のある実施の形態に従う、集積回路の入力ポートにおける消費電力を低減するための回路を実現するシステムが示される。回路402は、ここではDDR SDRAMとして示されているメモリ406に結合されたプログラマブルロジック404を有する装置を含む。不揮発性メモリ408またはそれ以外の集積回路410といったその他の装置を上記装置404に結合してもよい。不揮発性メモリ408を装置404のI/Oポート412に結合してもよい。不揮発性メモリ408に格納されたコンフィギュレーションビットストリームを、制御回路414またはコンフィギュレーションコントローラ416に結合してコンフィギュレーションビットストリームを装置内にロードしてもよい。コンフィギュレーションビットストリームは、装置404の不揮発性メモリ418にロードされてプログラマブルロジック422の揮発性メモリ420にロードされてもよい。これに代えて、コンフィギュレーションビットストリームは、制御回路414またはコンフィギュレーションコントローラ416によって直接揮発性メモリ420にロードされてもよい。装置404のより詳細な説明は図5および図6を参照しながら以下で述べる。
次に図5を参照して、本発明のある実施の形態に従うプログラマブルロジックを有する装置が示される。プログラマブルロジックを有する装置は、プログラマブルロジックを有する特定用途向け集積回路(ASIC)といった任意の種類の集積回路装置において実現されてもよく、その他の装置は専用プログラマブルロジックデバイスを含む。プログラマブルロジックデバイス(PLD)は、ユーザがユーザ選択の論理設計を実現し得るようにユーザによってプログラム可能なように設計された集積回路装置である。PLDの一種としてコンプレックスプログラマブルロジックデバイス(CPLD)がある。CPLDは、ともに接続されかつインターコネクトスイッチマトリクスによって入力/出力(I/O)リソースに接続された2つ以上の「機能ブロック」を含む。CPLDの各機能ブロックは、プログラマブルロジックアレイ(PLA)またはプログラマブルアレイロジック(PAL)装置で使用されるのと同様の2レベルAND/OR構造を含む。PLDの別の種類としてフィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)がある。典型的なFPGAでは、コンフィギュラブルロジックブロック(CLB)のアレイはプログラマブル入力/出力ブロック(IOB)に結合される。CLBおよびIOBは、プログラマブルルーティングリソースの階層によって相互に接続される。これらCLB、IOB、およびプログラマブルルーティングリソースは、一般的にはオフチップメモリからのコンフィギュレーションビットストリームをFPGAのコンフィギュレーションメモリセルにロードすることによってカスタマイズされる。上記種類のプログラマブルロジックデバイスどちらにおいても、この装置の機能性は、そのために装置に与えられたコンフィギュレーションビットストリームのコンフィギュレーションデータビットによって制御される。コンフィギュレーションデータビットは、揮発性メモリ(たとえばFBGAおよびいくつかのCPLDにあるようなスタティックメモリセル)、不揮発性メモリ(たとえばいくつかのCPLDにあるようなフラッシュメモリ)、またはそれ以外の任意の種類のメモリセルに格納されてもよい。
図5の装置は、多数の異なるプログラマブルタイルを有するFPGAアーキテクチャ500を含む。上記異なるプログラマブルタイルは、マルチギガビットトランシーバ(MGT501)、コンフィギュラブルロジックブロック(CLB502)、ランダムアクセスメモリブロック(BRAM503)、入力/出力ブロック(IOB504)、コンフィギュレーションおよびクロッキングロジック(CONFIG/CLOCKS505)、デジタル信号処理ブロック(DSP506)、専用入力/出力ブロック(I/O507)(たとえばコンフィギュレーションポートおよびクロックポート)、ならびに、デジタルクロックマネージャ、アナログ−デジタル変換器、システムモニタロジックなどの他のプログラマブルロジック508を含む。FPGAの中には、専用プロセッサブロック(PROC510)を含むものもある。
いくつかのFPGAでは、各々のプログラマブルタイルは、各々の隣接するタイル中の対応のインターコネクト素子へおよびそれからの標準化された接続部を有するプログラマブルインターコネクト素子(INT511)を含む。したがって、プログラマブルインターコネクト素子は、図示されるFPGAのためのプログラマブルインターコネクト構造を共に実現する。プログラマブルインターコネクト素子(INT511)は、図5の上部に含まれる例によって示されるように、同じタイル内にプログラマブルロジック素子へのおよびそれからの接続部も含む。
たとえば、CLB502は、単一のプログラマブルインターコネクト素子(INT511)と共にユーザロジックを実現するようにプログラム可能なコンフィギュラブルロジック素子(CLE512)を含み得る。BRAM503は、1つ以上のプログラマブルインターコネクト素子に加えてBRAMロジック素子(BRL513)を含み得る。BRAMは、コンフィギュレーションロジックブロックの分散RAMとは別の専用メモリを含む。典型的に、1つのタイルに含まれるインターコネクト素子の数は、このタイルの高さに依存する。図示される実施の形態では、BRAMタイルは4つのCLBと同じ高さを有するが、他の数(たとえば5つ)を用いることも可能である。DSPタイル506は適切な数のプログラマブルインターコネクト素子に加えてDSPロジック素子(DSPL514)を含み得る。IOB504は、たとえば、プログラマブルインターコネクト素子(INT511)の1つのインスタンスに加えて入力/出力ロジック素子(IOL515)の2つのインスタンスを含み得る。装置の接続部の場所は、そのためにこの装置に与えられたコンフィギュレーションビットストリームのコンフィギュレーションデータビットによって制御される。コンフィギュレーションビットストリームのビットに応答して、プログラマブルインターコネクトは、インターコネクトラインを含む接続部を用いて、さまざまな信号を、プログラマブルロジックにおいて実現される回路にまたはBRAMもしくはプロセッサといった他の回路に結合するのに使用できるようにする。
図示される実施の形態では、(図5に網掛けされて示される)ダイの中央近くの列状の領域がコンフィギュレーションロジック、クロックロジックおよび他の制御ロジックのために用いられる。この列から延在する水平方向の領域509は、FPGAの幅に亘ってクロックおよびコンフィギュレーション信号を分配するのに用いられる。図5に示されるアーキテクチャを利用するいくつかのFPGAは、FPGAの大部分を構成する通常の列状構造を壊すさらなるロジックブロックを含む。このさらなるロジックブロックは、プログラマブルブロックおよび/または専用ロジックでもよい。たとえば、図5に示されるプロセッサブロックPROC510はCLBおよびBRMのいくつかの列に跨っている
なお、図5は、ある代表的なFPGAアーキテクチャを図示することしか意図していない。1列の中のロジックブロックの数、列の相対的な幅、列の数および順序、列に含まれるロジックブロックの種類、ロジックブロックの相対的なサイズ、ならびに図5の上部に含まれるインターコネクト/ロジック実現例は単に代表的なものである。たとえば、実際のFPGAでは、CLBの2つ以上の隣接する列は典型的にCLBが現れる場所であればどこでも含まれて、ユーザロジックの効率的な実現を容易にする。
次に図6を参照して、本発明のある実施の形態に従う、図5の装置のコンフィギュラブルロジック素子のブロック図が示される。具体的には、図6は、図5のコンフィギュレーションロジックブロック502のコンフィギュラブルロジック素子を簡単な形で示している。図6の実施の形態では、スライスM601は、4つのルックアップテーブル(LUTM)601A−601Dを含み、これらのテーブルはそれぞれ、6つのLUTデータ入力端子A1−A6、B1−B6、C1−C6、およびD1−D6によって駆動され、各々2つのLUT出力信号O5およびO6を与える。LUT601A−601DからのO6出力端子はそれぞれスライス出力端子A−Dを駆動する。LUTデータ入力信号は、FPGAインターコネクト構造によって、入力マルチプレクサを介して与えられ、これはプログラマブルインターコネクト素子611によって実現されてもよく、LUT出力信号もインターコネクト構造に与えられる。スライスMはまた、出力端子AMUX−DMUXを駆動する出力選択マルチプレクサ611A−611D、メモリ素子602A−602Dのデータ入力端子を駆動するマルチプレクサ612A−612D、組合せマルチプレクサ616、618、および619、バウンスマルチプレクサ回路622−623、インバータ605およびマルチプレクサ606によって表わされる回路(これらはともに入力クロック経路上の任意の反転を与える)、ならびにマルチプレクサ614A−614D、615A−615D、620−621および排他的ORゲート613A−613Dを含むキャリーロジックを含む。上記素子はすべて図6に示されるようにともに結合される。図6に示されるマルチプレクサに対して選択入力が示されない場合、この選択入力はコンフィギュレーションメモリセルによって制御される。すなわち、コンフィギュレーションメモリセルに格納されたコンフィギュレーションビットストリームのコンフィギュレーションビットは、マルチプレクサの選択入力に結合されて、マルチプレクサに対する正しい入力を選択する。これらコンフィギュレーションメモリセルは周知であり明確にするために図6およびその他の選択図からは省略されている。
図示される実施の形態では、各メモリ素子602A−602Dはプログラムされて同期または非同期型フリップフロップまたはラッチとして機能してもよい。同期型および非同期型機能間の選択は、1つのスライス内の4つのメモリ素子すべてに対し、同期/非同期選択回路603をプログラムすることによって行なわれる。メモリ素子をプログラムしてS/R(セット/リセット)入力信号がセット機能を与えるようにする場合、REV入力端子はリセット機能を与える。メモリ素子がプログラムされてS/R入力信号がリセット機能を与える場合、REF入力端子はセット機能を与える。メモリ素子602A−602Dは、クロック信号CKによってクロックされ、このクロック信号は、たとえばグローバルクロックネットワークまたはインターコネクト構造によって与えられてもよい。このようなプログラマブルメモリ素子はFPGA設計の技術では周知である。各メモリ素子602A−602Dは、登録された出力信号AQ−DQをインターコネクト構造に与える。各LUT601A−601Dが2つの出力信号O5およびO6を与えるため、LUTを、5つの共有入力信号(IN1−IN5)を有する2つの5入力LUTとして、または入力信号IN1−IN6を有する1つの6入力LUTとして機能するように構成してもよい。
図6の実施の形態では、各LUTM601A−601Dはいくつかのモードのうちどのようなモードで機能してもよい。ルックアップテーブルモードのとき、各LUTは、入力マルチプレクサを介してFPGAインターコネクト構造によって与えられる6つのデータ入力信号IN1−IN6を有する。64のデータ値のうち1つは、信号IN1−IN6の値に基づいてコンフィギュレーションメモリセルからプログラム可能に選択される。RAMモードのとき、各LUTは1つの64ビットRAMまたはシェアードアドレッシング(shared addressing)を用いる2つの32ビットRAMとして機能する。RAMの書込データは入力端子DI1を介して(LUT601A−601Cのためのマルチプレクサ617A−617Cを介して)64ビットRAMに、または入力端子DI1およびDI2を介して2つの32ビットRAMに与えられる。LUTRAMにおけるRAM書込動作は、マルチプレクサ606からのクロック信号CKおよびマルチプレクサ607からの書込イネーブル信号WENによって制御され、これはクロックイネーブル信号CEまたは書込イネーブル信号WEいずれかを選択的に通過させることができる。シフトレジスタモードのとき、各LUTは、2つの16ビットシフトレジスタとして機能し、または直列に結合された2つの16ビットシフトレジスタとともに機能して1つの32ビットシフトレジストを構成する。シフトイン信号が入力端子DI1およびDI2のうち一方または双方を介して与えられる。16ビットおよび32ビットシフトアウト信号をLUT出力端子を通して与えてもよく、32ビットシフトアウト信号もLUT出力端子MC31を介してより直接的に与えてもよい。LUT601Aの32ビットシフトアウト信号MC31もシフトレジスタ連鎖のために出力選択マルチプレクサ611DおよびCLE出力端子DMUXを介して一般的なインターコネクト構造に与えてもよい。図1−図4の回路および本発明の方法は、図5および図6の装置において、またはプログラマブルロジックを有する任意の種類の集積回路を含む任意の適切な装置において実現してもよい。たとえば、VREF受信機は図5のIOBにおいて実現してもよく、コントローラ124はたとえばプロセッサ510においてまたはCLBにおいて実現してもよい。データ経路制御回路は、図5の中央の列にある専用回路において実現してもよい。バイアス発生器は、図5に示される列において再現されない専用回路のためのスペースがあるであろう集積回路の隅に配置してもよい。
次に図7を参照して、フローチャートは、本発明のある実施の形態に従う、集積回路の入力ポートにおける消費電力を低減する方法を示す。具体的には、ステップ702において固定電圧を受ける。この固定電圧は、たとえばシリコンのバンドギャップ電圧でもよい。ステップ704において、電流ミラー回路の第1の経路に固定電圧に基づく第1の固定電流を発生する。ステップ706において、電流ミラー回路の第2の経路に第2の固定電流を発生する。ステップ708で、第2の固定電流に基づく基準電圧を集積回路の複数の受信機に結合する。ステップ710において、集積回路に結合される入力信号を受けるための複数の受信機の各受信機に固定電流を発生する。この複数の受信機における固定電流は基準電圧に基づく。すなわち、電流発生器からの電流を受信機各々の電流経路にミラーすることによって、図7の方法は、入力ポートで消費される電流が電源電圧の変化とは無関係になるようにすることで、集積回路の入力ポートにおける消費電力を低減できるようにする。図7の方法は、上記図1−図6の回路のうちいずれかを用いてまたはそれ以外の適切な回路を用いて実現し得る。
このように、集積回路の入力ポートにおける消費電力を低減するための新たな新規の回路および方法について説明されてきたことがわかるであろう。当業者には、開示されている発明を取入れた数多くの変形および均等物があることがわかるであろう。結果として、この発明は上記実施の形態によって限定されるのではなく以下の請求項によってのみ限定される。

Claims (13)

  1. 集積回路の入力ポートにおける消費電力を低減するための回路であって、前記回路は、
    前記集積回路に結合される入力信号を受けるための前記集積回路の複数の受信機回路と、
    前記複数の受信機回路に結合されたバイアス電流発生器とを備え、前記バイアス電流発生器は、前記複数の受信機回路の各受信機回路に対してバイアス電圧を与えて前記バイアス電流発生器における電流を前記受信機回路各々にミラーする、回路。
  2. 前記バイアス電流発生器はバンドギャップ電圧を受けるように結合された第1の増幅器を含む、請求項1に記載の回路。
  3. 前記第1の増幅器の出力は、第1の固定電流を発生するための第1の電流経路に結合される、請求項2に記載の回路。
  4. 前記第1の固定電流は、前記第1の電流経路における抵抗器に基づく、請求項3に記載の回路。
  5. 前記第1の電流経路における前記抵抗器の値は、前記第1の固定電流に対して所定の電流を発生するように選択される、請求項4に記載の回路。
  6. 前記第1の増幅器の出力に結合された第2の電流経路をさらに含み、前記第1の固定電流は前記第2の電流経路においてミラーされる、請求項3に記載の回路。
  7. 前記第2の電流経路に結合された第2の増幅器をさらに含み、前記第2の増幅器は前記バイアス電圧を発生する、請求項6に記載の回路。
  8. 集積回路の入力ポートにおける消費電力を低減する方法であって、前記方法は、
    固定電圧を受けるステップと、
    電流ミラー回路の第1の経路に前記固定電圧に基づく第1の固定電流を発生するステップと、
    電流ミラー回路の第2の経路に第2の固定電流を発生するステップと、
    前記集積回路の複数の受信機に前記第2の固定電流に基づく基準電圧を結合するステップと、
    前記集積回路に結合される入力信号を受けるための前記複数の受信機の各受信機に固定電流を発生するステップとを含み、前記複数の受信機における前記固定電流は前記基準電圧に基づく、方法。
  9. 固定電圧を受けるステップはバンドギャップ電圧を受けるステップを含む、請求項8に記載の方法。
  10. 前記固定電圧に基づく第1の固定電流を発生するステップは、抵抗器を前記電流ミラーの第1の経路に与えるステップを含む、請求項8または9に記載の方法。
  11. 前記固定電圧に基づく第1の固定電流を発生するステップは、前記固定電圧および前記抵抗器のノードの電圧を受けるように結合された第1の差動増幅器を用いるステップを含む、請求項10に記載の方法。
  12. 前記第2の固定電流に基づく基準電圧を結合するステップは、前記電流ミラーの第2の経路のノードの電圧および前記増幅器の出力に結合された第2の差動増幅器を用いるステップを含む、請求項11に記載の方法。
  13. 第1の固定電流を発生するステップは、前記複数の受信機の必要速度に基づいて第1の固定電流を発生するステップを含む、請求項8から12のいずれか1つに記載の方法。
JP2011547925A 2009-01-28 2009-11-23 集積回路の入力ポートにおける消費電力を低減するための回路および方法 Active JP5328938B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US12/361,014 2009-01-28
US12/361,014 US8384472B2 (en) 2009-01-28 2009-01-28 Circuit for and method of reducing power consumption in input ports of an integrated circuit
PCT/US2009/065589 WO2010087892A2 (en) 2009-01-28 2009-11-23 A circuit for and method of reducing power consumption in input ports of an intergrated circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012516632A true JP2012516632A (ja) 2012-07-19
JP5328938B2 JP5328938B2 (ja) 2013-10-30

Family

ID=42353693

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011547925A Active JP5328938B2 (ja) 2009-01-28 2009-11-23 集積回路の入力ポートにおける消費電力を低減するための回路および方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US8384472B2 (ja)
EP (1) EP2382713B1 (ja)
JP (1) JP5328938B2 (ja)
KR (1) KR101333973B1 (ja)
CN (1) CN102301598B (ja)
WO (1) WO2010087892A2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110246138A1 (en) * 2010-04-01 2011-10-06 Yi-Jen Chung Hardware status detecting circuit for generating one hardware status detecting signal having information of multiple hardware status detectors, related hardware status identifying circuit, related hardware status detecting system, and related methods
US10680583B1 (en) 2019-02-26 2020-06-09 Xilinx, Inc. Control circuit for and method of controlling an operation of an integrated circuit device

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04307896A (ja) * 1991-04-04 1992-10-30 Mitsubishi Electric Corp インタフェースシステム
JPH07240679A (ja) * 1994-02-28 1995-09-12 Fujitsu Ltd 半導体集積回路
JPH08330936A (ja) * 1995-05-31 1996-12-13 Hewlett Packard Co <Hp> 電源抵抗プログラミング方法
JPH1079659A (ja) * 1996-09-03 1998-03-24 Fujitsu Ltd 半導体集積回路装置
JP2008066797A (ja) * 2006-09-04 2008-03-21 Toshiba Corp 出力ドライバ、集積回路装置

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA2170666A1 (en) * 1995-03-17 1996-09-18 Taewon Jung Complementary multiplexer with low disabled-output capacitance, and method
US5684429A (en) 1995-09-14 1997-11-04 Ncr Corporation CMOS gigabit serial link differential transmitter and receiver
JP3723317B2 (ja) 1997-04-08 2005-12-07 株式会社アドバンテスト 信号伝送に用いる駆動回路、バイアス発生回路
JP3576382B2 (ja) * 1997-10-31 2004-10-13 シャープ株式会社 インターフェース回路及び液晶駆動回路
US6232824B1 (en) * 1999-05-14 2001-05-15 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device capable of suppressing transient variation in level of internal power supply potential
US6987822B2 (en) * 2001-03-13 2006-01-17 Micron Technology, Inc. Circuit and method for reducing noise interference in digital differential input receivers
US6825692B1 (en) 2002-01-25 2004-11-30 Altera Corporation Input buffer for multiple differential I/O standards
US6897713B1 (en) * 2002-02-14 2005-05-24 Rambus Inc. Method and apparatus for distributed voltage compensation with a voltage driver that is responsive to feedback
KR100574961B1 (ko) * 2003-12-20 2006-05-02 삼성전자주식회사 입력버퍼 및 이를 구비하는 반도체 장치
US20060232326A1 (en) * 2005-04-18 2006-10-19 Helmut Seitz Reference circuit that provides a temperature dependent voltage
JP2007109337A (ja) * 2005-10-14 2007-04-26 Elpida Memory Inc 半導体メモリ装置及びメモリモジュール
JP4854393B2 (ja) * 2006-06-21 2012-01-18 三星電子株式会社 電圧発生回路
US8058924B1 (en) * 2009-01-29 2011-11-15 Xilinx, Inc. Method and apparatus for a process, voltage, and temperature variation tolerant semiconductor device

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04307896A (ja) * 1991-04-04 1992-10-30 Mitsubishi Electric Corp インタフェースシステム
JPH07240679A (ja) * 1994-02-28 1995-09-12 Fujitsu Ltd 半導体集積回路
JPH08330936A (ja) * 1995-05-31 1996-12-13 Hewlett Packard Co <Hp> 電源抵抗プログラミング方法
JPH1079659A (ja) * 1996-09-03 1998-03-24 Fujitsu Ltd 半導体集積回路装置
JP2008066797A (ja) * 2006-09-04 2008-03-21 Toshiba Corp 出力ドライバ、集積回路装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN102301598A (zh) 2011-12-28
US20100188142A1 (en) 2010-07-29
US8384472B2 (en) 2013-02-26
CN102301598B (zh) 2015-01-21
EP2382713A2 (en) 2011-11-02
JP5328938B2 (ja) 2013-10-30
KR20110100298A (ko) 2011-09-09
WO2010087892A3 (en) 2011-03-10
WO2010087892A2 (en) 2010-08-05
KR101333973B1 (ko) 2013-11-27
EP2382713B1 (en) 2015-04-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10615801B2 (en) Technology mapping method of an FPGA
US7116131B1 (en) High performance programmable logic devices utilizing dynamic circuitry
JP5123401B2 (ja) 集積回路装置における消費電力を最小化するための回路および方法
US9916889B1 (en) Memory circuitry with row-wise gating capabilities
US7196942B2 (en) Configuration memory structure
US6384628B1 (en) Multiple voltage supply programmable logic device
US6172518B1 (en) Method of minimizing power use in programmable logic devices
KR102400967B1 (ko) 집적 회로 내에서 파워를 제어하기 위한 회로들 및 방법들
US7417454B1 (en) Low-swing interconnections for field programmable gate arrays
US7358764B1 (en) Preset and reset circuitry for programmable logic device memory elements
US7932745B2 (en) Inverting flip-flop for use in field programmable gate arrays
US5420528A (en) Semiconductor integrated circuit having a function of reducing a consumed current
US9362911B2 (en) Apparatus and methods for leakage current reduction in integrated circuits
JP4035923B2 (ja) ラッチ回路
JP3672184B2 (ja) 中継用マクロセル
JP5328938B2 (ja) 集積回路の入力ポートにおける消費電力を低減するための回路および方法
US7319619B1 (en) Programmable logic device memory blocks with adjustable timing
US9729154B2 (en) Reconfigurable logic device configured as a logic element or a connection element
US6859385B2 (en) Low power SRAM
US20100213981A1 (en) Domino logic block having data holding function and domino logic including the domino logic block
US10396799B1 (en) Circuit for and method of accessing memory elements in an integrated circuit device
US8373437B2 (en) Look-up table circuits and field programmable gate array
US9444460B1 (en) Integrated circuits with programmable overdrive capabilities
US10289585B1 (en) Cross-point programming of pipelined interconnect circuitry
JPS5974732A (ja) Cmos集積回路装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130328

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130402

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130606

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130702

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130723

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5328938

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250