JP2012506642A - 傾斜型の光学的特性を有するbarcを用いるフォトリソグラフィを実行するための方法 - Google Patents
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Abstract
傾斜型の光学的特性を有するBARCを用いるフォトリソグラフィ方法が提供される。例示的な実施形態においては、フォトリソグラフィ方法は、パターニングされるべき材質を覆うBARCを堆積させるステップを備えており、BARCは屈折率及び吸光度を有する。BARCは、その修正のステップの後に屈折率及び吸光度の値がBARCの第1の表面での第1の値からBARCの第2の表面での第2の値まで傾斜型になるように修正される。修正のステップは堆積させるステップの後に実行される。
【選択図】図3
Description
|(nMBARC+kMBARC)−(nphotoresist+kphotoresist)|
<|(nBARC+kBARC)−(nphotoresist+kphotoresist)|
…(1)
であり、ここで、nMBARCは修正されたBARCの屈折率、kMBARCは修正されたBARCの吸光度、nphotoresistはフォトレジストの屈折率、kphotoresistはフォトレジストの吸光度、nBARCは非修正のBARCの屈折率、そしてkBARCは非修正のBARCの吸光度である。
|(nMBARC+kMBARC)−(nunderlying+kunderlying)|
<|(nBARC+kBARC)−(nunderlying+kunderlying)|
…(2)
であり、ここで、nunderlyingは下層の屈折率、そしてkunderlyingは下層の吸光度である。しかし、BARCの吸光度kが高くなるのに従ってBARC/下層の界面はより「隠された(hidden)」ものになるので、この実施形態は、BARC/下層の界面で高い吸光度を有するBARCには役に立たないかもしれない。
Claims (14)
- フォトリソグラフィを実行するための方法であって、
パターニングされるべき材質を覆う、屈折率及び吸光度を有する下層反射防止膜を堆積させるステップと、
前記下層反射防止膜を修正してその修正のステップの後に前記屈折率及び前記吸光度の値が前記下層反射防止膜の第1の表面での第1の値から前記下層反射防止膜の第2の表面での第2の値まで傾斜型になるようにするステップとを備え、
前記修正のステップは前記堆積させるステップの後に実行される方法。 - 前記堆積させるステップは、前記下層反射防止膜を約30nm〜約120nmの範囲の厚みまで堆積させることを備えている請求項1の方法。
- 前記堆積させるステップは、前記下層反射防止膜を約30nm〜約100nmの範囲の厚みまで堆積させることを備えている請求項2の方法。
- 前記修正のステップは、前記下層反射防止膜に約222nm以下の波長を有する光を照射することを備えている請求項1の方法。
- 前記修正のステップは、前記下層反射防止膜に約172nm以下の波長を有する光を照射することを備えている請求4の方法。
- 前記光を照射するステップは、約100mJ/cm2〜約2J/cm2の範囲の光の線量を用いて光を照射することを備えている請求項4の方法。
- 前記修正のステップは、前記光を照射するステップの後に前記下層反射防止膜を加熱することを更に備えている請求項4の方法。
- 前記加熱するステップは、前記下層反射防止膜を約120℃以上の温度まで加熱することを備えている請求項7の方法。
- 前記加熱するステップは、前記下層反射防止膜を約10秒〜約2分にわたり約120℃以上の温度まで加熱することを備えている請求項8の方法。
- 前記光を照射するステップは、実質的に無酸素の環境内で前記下層反射防止膜に光を照射することを備えている請求項4の方法。
- 前記修正のステップは、前記光を照射するステップの間に前記下層反射防止膜を加熱することを更に備えている請求項4の方法。
- 前記下層反射防止膜を覆うフォトレジストを形成するステップを更に備え、前記形成するステップは前記修正のステップの後に実行される請求項1の方法。
- 前記堆積させるステップは、互いに加算されたときに第1の和をもたらす第1の屈折率及び第1の吸光度を有する下層反射防止膜を堆積させることを備えており、
前記形成するステップは、互いに加算されたときに第2の和をもたらす第2の屈折率及び第2の吸光度を有するフォトレジストを形成することを備えており、
前記修正のステップは、互いに加算されたときに第3の和をもたらす第3の屈折率及び第3の吸光度を前記下層反射防止膜の表面が有するように前記下層反射防止膜を修正することを備えており、
前記第2の和と前記第3の和の差の絶対値は、前記第1の和と前記第2の和の差の絶対値よりも小さい請求項12の方法。 - フォトリソグラフィを実行するための方法であって、
パターニングされるべき材質を覆う、互いに加算されたときに第1の和をもたらす第1の屈折率及び第1の吸光度を有する下層反射防止膜を堆積させるステップと、
互いに加算されたときに第2の合計をもたらす第2の屈折率及び第2の吸光度を前記下層反射防止膜の表面が有するように前記下層反射防止膜を修正するステップであって、前記堆積させるステップの後に実行されるステップと、
前記修正するステップの後に前記下層反射防止膜の前記表面を覆うフォトレジスト層を形成するステップとを備え、
互いに合算されたときに第3の合計をもたらす第3の屈折率及び第3の吸光度を前記フォトレジスト層は有しており、
前記第2の和と前記第3の和の差の絶対値は、前記第1の和と前記第3の和の差の絶対値よりも小さい方法。
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