JP2012505513A - セルモジュールアセンブリーの絶縁性検査装置及び方法、並びにそのためのプロブ - Google Patents

Abstract

本発明によるセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査装置は、複数のパウチ型電池セルで構成されるセルモジュールアセンブリーの絶縁性を検査する装置であって、前記セルモジュールアセンブリーの電極と電気的に接触する第１検針手段と、前記パウチ型電池セルのうち選択された複数のパウチ型電池セルのアルミニウム層と電気的に接触する第２検針手段と、前記第１検針手段と第２検針手段との間の絶縁抵抗を測定する測定手段と、を含んで構成される。本発明によれば、複数の電池セルで構成されるセルモジュールアセンブリー全体の絶縁抵抗を同時に測定でき、絶縁性検査をより迅速に行うことができる。
【選択図】 図８

Description

本発明は、複数のパウチ型電池セルから構成されるセルモジュールアセンブリー（Ｃｅｌｌ Ｍｏｄｕｌｅ Ａｓｓｅｍｂｌｙ；ＣＭＡ）の絶縁性を検査する装置及び方法、並びにそのためのプロブに関し、より詳しくは、複数の電池セルのパウチ全部と電気的に接触できるプロブなどの検針手段を用いて、前記セルモジュールアセンブリー全体の絶縁性を速かに検査し判断することができる装置及び方法、並びにそのためのプロブに関する。

セルモジュールアセンブリーとは、複数のパウチ型電池セルから形成される組立体である。パウチ型電池セルは内部に電池セルが備えられ、パウチに該当するポリマ外装材で該電池セルを包む形態の電池セルを意味する。

パウチ型電池セルの外形を示した斜視図である図１及び図１のＡ−Ａ′矢視図である図２に示されたように、パウチ型電池セル１００は電極１１０、パウチ１２０及び電池セル１３０で構成される。

このようなパウチ型電池セル１００は、図３に示されたように、前記電池セル１３０を包み得る所定大きさを有するパウチ材を電池セル１３０の上部と下部とから接合させる方法で製造される。

このようなパウチ１２０は、電池セル１３０を保護し、電池セル１３０の電気化学的性質を補完するとともに放熱性などを向上させるために、アルミニウム薄膜の形態で構成される。また、前記電池セル１３０と外部との絶縁性を確保するために、前記アルミニウム薄膜にはポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ；ＰｏｌｙＥｔｈｙｌｅｎｅ Ｔｅｒｅｐｈｔｈａｌａｔｅ）樹脂またはナイロン（ｎｙｌｏｎ）樹脂などの絶縁物質がコーティングされる。

このようなパウチは、図３に示されたように、上部パウチと下部パウチとの接着のために、無延伸ポリプロピレン（ＣＰＰ；Ｃａｓｔｅｄ ＰｏｌｙＰｒｏｐｙｌｅｎｅ）またはポリプロピレン（ＰＰ；ＰｏｌｙＰｒｏｐｙｌｅｎｅ）を使用し得る。このような場合、図４に示されたように、パウチ１２０が接合される外周面であるシール面は、絶縁層１２１、アルミニウム層１２３及び接着層１２５の構造を有する。

外部からの物理的衝撃などによってパウチ型電池セル１００のパウチ内部構造が破損または焼損され、パウチ型電池セル１００の絶縁性が損傷される場合、電池セルが常態電圧を保持できなくなり、低電圧を引き起こし、内部電池セルの膨れ（ｓｗｅｌｌｉｎｇ）現象などが起こる恐れがある。

このような問題は、電池セルの爆発など連鎖的な問題をもたらし、ユーザまたは装着された装備に致命的になり得るため、前記パウチ型電池セル１００の絶縁性を徹底的に検査して不良品を根本的に除去することが望ましい。

このような複数の電池セルで構成されるセルモジュールアセンブリー２００は、図５に示されたように、複数のパウチ型電池セル１００が相互直列で連結された形態のバッテリーモジュールである。前記電池セル１００の電極１１０（図４参照）に該当する部分は、セルモジュールアセンブリー２００に備えられた電極部２１０と電気的に連結され、各電池セル１００のパウチ１２０の一部分は外部に露出する。

従来、セルモジュールアセンブリーの絶縁抵抗などを検査するため、図６に示されたように、電極部２１０に１つの検針手段（プロブ）３１０を電気的に接触させ、外部に露出したパウチのアルミニウム層１２０に１つの検針手段（プロブ）３２０を電気的に接触させた後、プロブ３１０、３２０間の電気的特性値を測定する方法が一般に用いられた。

上記のような方法では、絶縁性測定のためにアルミニウム層１２３に検針手段を接触させなければならない。しかし、プロブ３２０とアルミニウム層１２３とは点接触するため、接触信頼性が低い。さらに、プロブ３２０とアルミニウム層１２３との物理的接触のために力が加えられる場合は、パウチ外周面はその材質的特性のため加えられた力に耐えられず変形されやすいので、プロブ３２０とアルミニウム層１２３との電気的導通のための物理的接触を維持し難く、結果的に検査を行い難くなる問題点を有する。

また、通常、前記セルモジュールアセンブリーは複数の電池セルで構成されるが、前記セルモジュールアセンブリー自体の絶縁性を判断するためには複数の電池セルを１つずつ測定しなければならないため、所要時間と費用が増大するという問題点を有する。

結果的に、このような諸般の環境により、パウチ型電池セルの絶縁性検査は信頼性が顕著に低下して長時間がかかるため、不良電池セルまたは不良セルモジュールアセンブリーを除去し難く、パウチ外形が破損されるなどの問題にそのまま繋がれる。また、従来の方法の上記のような問題点は、絶縁性検査の自動化の障害になっている。

本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、セルモジュールアセンブリーを構成する複数のセル電池のパウチ全部と電気的に接触できるプロブを用いて、セルモジュールアセンブリーの絶縁性を効率的に測定し検査する装置及び方法、並びにそのためのプロブを提供することを目的とする。

本発明の他の目的及び長所は後述され、本発明の実施例によって理解できるであろう。また、本発明の目的及び長所は、特許請求の範囲に示された構成の組合せによって実現され得る。

上記の課題を達成するために、本発明による検査装置は、複数のパウチ型電池セルで構成されるセルモジュールアセンブリーの絶縁性を検査する装置であって、前記セルモジュールアセンブリーの電極と電気的に接触する第１検針手段と、前記パウチ型電池セルのうち選択された複数のパウチ型電池セルのアルミニウム層と電気的に接触する第２検針手段と、前記第１検針手段と第２検針手段との間の絶縁抵抗を測定する測定手段と、を含んで構成される。

望ましくは、測定された前記絶縁抵抗と基準値とを比べて前記電池セルの絶縁性を判断する判断手段をさらに含み得る。

また、前記第２検針手段は１つ以上の溝部を含み、選択された複数のパウチアルミニウム層が前記溝部に接触するように構成され得る。このとき、前記溝部は摺動可能にガイドするガイド部、及び前記ガイド部に沿って左右に移動する摺動部を含んで構成される。また、前記第２検針手段は伝導性弾性体材質で構成され、前記伝導性弾性体材質は伝導性シリコンゴムであることが望ましい。

また、前記判断部において、絶縁性検査の基準になる前記基準値は単一のパウチ型電池セルの絶縁性判断の基準値と同一に設定され、選択された複数のパウチ型電池セルのそれぞれの絶縁性判断の基準値のうち最も小さい値に設定され得る。

一方、本発明の他の態様によるセルモジュールアセンブリーの絶縁性を検査する方法は、複数のパウチ型電池セルで構成されるセルモジュールアセンブリーの絶縁性を検査する方法であって、前記セルモジュールアセンブリーの電極に第１検針手段を電気的に接触させる第１接触段階と、前記パウチ型電池セルのうち選択された複数のパウチ型電池セルのアルミニウム層に第２検針手段を電気的に接触させる第２接触段階と、前記第１検針手段と第２検針手段との間の絶縁抵抗を測定する測定段階と、を含んで構成され、実施形態によっては測定された絶縁抵抗と基準値とを比べて前記電池セルの絶縁性を判断する判断段階を含み得る。

本発明のさらに他の態様によるセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査のためのプロブは、複数のパウチ型電池セルで構成されるセルモジュールアセンブリーの電極と前記パウチ型電池セルのうち選択された複数のパウチ型電池セルのアルミニウム層との間の絶縁抵抗を測定するためのプロブであって、選択された複数のパウチ型電池セルのアルミニウム層全部と電気的に接触する接触部を含んで構成される。

本発明によるセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査装置及び方法、並びにそのためのプロブによれば、セルモジュールアセンブリーの絶縁性を速かに測定及び検査することができる。

また、個別電池セルの絶縁性検査に先立って前記セルモジュールアセンブリー全体の絶縁性検査を行うことで、先行検査の結果に応じて個別電池セルに対する絶縁性検査を省くことができ、全ての電池セルの絶縁性検査を実際に行わなくても同様の結果を導出できるため、検査にかかる費用と時間を画期的に短縮することができる。

さらに、複数の電池セルが接触するプロブの材質及び構造を本発明で提案するように改善させることで、電気的接触性を向上でき、一層高い信頼性の絶縁性検査方法を提供することができる。

本明細書に添付される次の図面は、本発明の望ましい実施例を例示するものであり、発明の詳細な説明とともに本発明の技術的な思想をさらに理解させる役割をするため、本発明は図面に記載された事項だけに限定されて解釈されてはならない。
パウチ型電池セルの外形を示した斜視図である。 図１のＡ−Ａ′矢視図である。 パウチ型電池セルの構成過程を示した図である。 パウチ型電池セルのパウチ外周面の断面図である。 複数のパウチ電池セルで構成されるセルモジュールアセンブリーの外形を示した斜視図である。 従来のセルモジュールアセンブリーの絶縁性を判断する方法を示した図である。 本発明によるセルモジュールアセンブリーの絶縁抵抗の等価回路を示した回路図である。 本発明によるセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査方法を示したフロー図である。 本発明によるセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査方法の一実施例を示した図である。 本発明によるセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査装置の検針手段の一実施例を示した図である。 本発明によるセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査装置の検針手段の他の実施例を示した図である。 本発明の望ましい実施例による絶縁性検査装置の構成を示したブロック図である。

以下、添付された図面を参照して本発明の望ましい実施例を詳しく説明する。これに先立ち、本明細書及び請求範囲に使われた用語や単語は通常的や辞書的な意味に限定して解釈されてはならず、発明者自らは発明を最善の方法で説明するために用語の概念を適切に定義できるという原則に則して本発明の技術的な思想に応ずる意味及び概念で解釈されねばならない。したがって、本明細書に記載された実施例及び図面に示された構成は、本発明のもっとも望ましい一実施例に過ぎず、本発明の技術的な思想のすべてを代弁するものではないため、本出願の時点においてこれらに代替できる多様な均等物及び変形例があり得ることを理解せねばならない。

以下、添付された図面を参照して本発明によるセルモジュールアセンブリー２００の絶縁性すなわち、絶縁抵抗の検査方法及び装置、並びにそのためのプロブ（検針手段）について詳しく説明する。

本発明による絶縁性検査装置は、複数のパウチ型電池セル１００で構成されるセルモジュールアセンブリー２００の絶縁性を検査する装置である。本発明の第１検針手段３１０は、図８に示されたように、前記セルモジュールアセンブリー２００の電極２１０と電気的に接触する。

図１２に示された等価回路のように、前記セルモジュールアセンブリー２００において前記複数のパウチ型電池セル１００は直列で連結されるため、セルモジュールアセンブリーの終端に備えられたセル電池の電極はセルモジュールアセンブリー２００の電極ともなる。

また、本発明の第２検針手段３２０は、図８に示されたように、前記パウチ型電池セル１００のうち選択された複数のパウチ型電池セル１００のパウチ１２０の側面、すなわち、アルミニウム層と電気的に接触する。前記第２検針手段３２０が接触する複数のパウチ型電池セル１００は、前記セルモジュールアセンブリー２００を構成する全てのパウチ型電池セル１００でもあり、測定対象に応じて２つ以上の多様な個数が選択されることもある。

前述したように、セルモジュールアセンブリー２００の全体的且つ統合的な絶縁性を検査するため、前記第２検針手段３２０をセルモジュールアセンブリー２００を構成する全ての電池セル１００に接触させ、セルモジュールアセンブリー２００の絶縁抵抗を測定するように構成することが望ましい。

本発明の添付された図面及び以下の説明では、セルモジュールアセンブリー２００が８つの電池セルで構成された形態であるが、これは一実施例に過ぎず、多様な個数の電池セルで構成できることは言うまでもない。

前記第２検針手段３２０は、図８に示されたように、長さ方向に延びた形態の伝導性物質であって、選択された複数のパウチ型電池セル１００のパウチ全部と接触さえできれば、その形態は制限されることなく多様な変形例が可能である。前記第１検針手段３１０及び前記第２検針手段３２０は、所定の測定装置または検査装置３００と電気的に連結される。

前述したように、パウチ型電池セル１００のパウチ１２０は他の形態の電池セルとは違って物理的支持力が弱いため、前記第２検針手段３２０は伝導性弾性体材質で構成されることがより望ましく、伝導性を有し且つ物性的特性によって弾性力を有する材質であれば多様な材質が用いられ得る。高い伝導性と共に高い柔軟性を有する伝導性シリコンゴムが前記伝導性弾性体の材質として望ましい。

このように、前記第２検針手段３２０、特に、前記パウチのアルミニウム層と接触する接触部を伝導性弾性体で構成することで、一次的にパウチアルミニウム層に加えられる物理的外力を最小化または分散できるため、パウチアルミニウム層の外形損傷が最小化できるだけでなく電気的接触力をさらに向上でき、結果的にセルモジュールアセンブリー２００の安定的な運用を図ることができる。

前記セルモジュールアセンブリー２００の電極と選択された複数のパウチとに検針手段３１０、３２０が接触されれば（Ｓ１００）、本発明の測定手段は前記第１検針手段３１０と第２検針手段３２０との間の絶縁抵抗を測定する（Ｓ１１０）。図８に示されたように、前記測定手段は検査装置３００自体でもあり、前記検査装置３００に含まれる１つのモジュールとして具現されることもあり得る。

実施形態によって追加され得る本発明の判断手段は、前記第１検針手段と第２検針手段との間で測定された絶縁抵抗と基準値とを比べて前記電池セルの絶縁性を判断する（Ｓ１２０）。

前記判断手段は上記のような機能を果たす論理回路などで構成でき、当業者であれば図８に示されたような検査装置内部の１つのモジュールとして構成することができる。

前記測定手段と判断手段の機能を含む本発明による検査装置の具体的な構成は後述する。

一方、前記第２検針手段３２０と前記パウチ１２０のアルミニウム層との接触性及び接触保持力を増加させるため、前記パウチ１２０のアルミニウム層と接触する前記第２検針手段３２０は、図９に示されたように、選択された複数のパウチのアルミニウム層が嵌め込まれて接触する１つ以上の溝部３２１を備えることがより望ましい。

前記パウチ１２０のアルミニウム層が前記溝部３２１に嵌め込まれて接触することで、溝部の外壁によって物理的な支持力が確保されるため、より安定的な電気的接触を達成することができる。

また、使用の便宜性及び測定の信頼性を一層高めるために、前記第２検針手段３２０には１つ以上のＬＥＤ、電気変色素子など視覚表示手段３２５を備え、前記パウチ１２０が前記第２検針手段３２０または第２検針手段３２０の溝部３２１に電気的に接触する場合、ユーザが視認できるように構成することが望ましい。

セルモジュールアセンブリー２００は、搭載される装備または周囲の環境などに応じて多様な形態で構成できるため、前記溝部３２１の個数も多様であることはもちろん、前記溝部３２１間の間隔を調整できるように構成することが望ましい。

具体的に、前記溝部３２１は、図１０に示されたように、摺動可能にガイドするガイド部３２４、及び前記ガイド部３２４のガイド面に沿って左右に移動する摺動部３２３で構成され得る。もちろん、前記摺動部３２３と第２検針手段３２０との電気的接触は維持されなければならない。

以下、図１１を参照して本発明の検査装置３００の具体的な構成を詳しく説明する。

図１１に示されたように、本発明のセルモジュールアセンブリー２００の絶縁性検査装置３００は、電気値入力部３０１、測定部３０３、画面表示手段３０５、判断部３０７及び基準値設定部３０９を含み得る。

前記電気値入力部３０１は、前記第１検針手段３１０及び第２検針手段３２０が電気的に連結されるモジュールであり、測定部３０３と連結される。

前記測定部３０３は、前記電気値入力部３０１を介して前記第１検針手段３１０及び第２検針手段３２０から絶縁抵抗などの電気的特性値を測定する。前記測定部３０３は測定された絶縁抵抗値などを所定の画面表示手段３０５に出力し、ユーザまたは管理者が視認できるようにする。

また、前記測定部３０３で測定された絶縁抵抗値は前記判断部３０７に入力される。前記判断部３０７は前記セルモジュールアセンブリー２００の絶縁性検査の基準になる基準値を前記基準値設定部３０９から読み出し、前記測定部３０３から入力された絶縁抵抗値と比べることで、絶縁性判断を行う。前記判断結果は所定の画面表示手段３０５に出力し、ユーザが視認できるようにインターフェースできることは勿論である。

前記基準値設定部３０９は、内部のメモリー手段などに前記基準値に対するデータベースを保存することができる。また、前記基準値設定部３０９は、ユーザインターフェース手段などを備え、ユーザによって検査対象の仕様や電池セルの個数または検査環境などに応じる基準値を入力されたり、変更または設定できるように構成され得る。

以下、選択された複数の電池セルの絶縁性を判断する基準値について図１２を参照して説明する。

図１２に示されたように、セルモジュールアセンブリー２００が８つの個別セル１００で構成されていると仮定し、各個別セルの絶縁抵抗値を順次Ｒ_１、Ｒ_２、…、Ｒ_８とすると、検針手段自体の抵抗または接触抵抗などの抵抗値ｒが存在するため、検針手段を通じて測定される抵抗値Ｒ_ｔは次のような数式で表すことができる。

理想的な場合、各セルの絶縁抵抗は無限大に近いかなり大きい値であり、Ｒ値に比べてｒ値は相対的にかなり小さい。説明の便宜上、各個別電池セル１００の抵抗が誤差範囲の許容範囲内で同一であると仮定すれば、数式１は次のように表すことができる。

電池セルの絶縁抵抗の基準になる抵抗値をａと仮定すれば、実際測定された電池セルの絶縁抵抗値がａ値より大きい場合に検査対象になる電池セルの絶縁性が維持されていると判断し得る。

図１２に示されたように複数の電池セルが並列で連結されるため、８つの電池セルで構成されるセルモジュールアセンブリーの絶縁性判断の基準になる値Ｒｒｔは個別電池セルの基準絶縁抵抗値をＲａとすればＲａ／８になり得る。したがって、実際測定された絶縁抵抗値Ｒ_ｔが前記Ｒａ／８より大きければ、前記セルモジュールアセンブリーは絶縁性が維持されていると判断することができる。

一方、個別電池セルの絶縁性が損傷されているにもかかわらず、すなわち、個別電池セルの絶縁抵抗が個別電池セルが備えるべき基準絶縁抵抗より小さいにもかかわらず、セルモジュールアセンブリー全体の絶縁抵抗を測定する際には、複数の電池セルが並列で連結され、絶縁抵抗も上記数式などを通じて演算されるため、このような点が見過ごされる可能性がある。

このような可能性を排除するため、本発明のように並列で連結された複数の抵抗を測定する過程では基準値を設定することが個別電池セルの絶縁性不良を根本的に防止するという点で望ましい。

以下、具体例を挙げて説明する。まず、個別電池セルの絶縁性を判断する絶縁抵抗基準値が１００ＭΩであれば、実験を通じて測定される絶縁抵抗値は通常１００ＭΩよりかなり大きい値になるが、絶縁が破壊されたと判断される電池セルの抵抗値は１００ＭΩより小さい値になる。

同様に、各電池セルの絶縁性を判断する基準抵抗値が１００ＭΩであれば、２つの電池セルが並列で連結される場合のセルモジュールアセンブリーの絶縁性判断の基準抵抗値は５０ＭΩになる。もちろん、５０ＭΩに基準値を設定しても良いが、実際測定された絶縁抵抗値がそれぞれＲ_１＝４００ＭΩ、Ｒ_２＝８０ＭΩであれば、Ｒ_１とＲ_２とが並列で連結された測定絶縁抵抗値Ｒ_ｔは（Ｒ_１×Ｒ_２）／（Ｒ_１＋Ｒ_２）≒６７ＭΩになる。

上記具体例から、並列で連結された抵抗である場合は、Ｒ_ｔ値が５０ＭΩより大きいため、絶縁性が維持されている良品であると判断できるが、個別の絶縁抵抗では、Ｒ_２が個別基準抵抗値である１００ＭΩより小さい８０ＭΩであるため、絶縁性が損傷された不良品であると判断することができる。

上記の説明は、電気的特性により、並列で連結された複数の抵抗の全体抵抗値が個別抵抗値より大きくなることはないという電気回路理論を適用すればより明確に理解できる。

本発明は絶縁性検査をより迅速且つ正確に行うことを目的とする。したがって、１次的にセルモジュールアセンブリー単位の絶縁性検査を通過できなかったセルモジュールアセンブリーのみを選別し、選別されたセルモジュールアセンブリーを構成する各個別電池セルのみを対象にして個別的な絶縁性検査を行うことで、より迅速に検査し得る。

表１に示されたように、（１）はセルモジュールアセンブリー単位の絶縁性検査で正常と判断され且つ実際個別電池セルも正常である場合に該当し、（４）は（１）の逆の場合である。ここで、絶縁性検査で不良品と判断されたが、実際の電池セルの絶縁性は正常である（３）の場合は、個別セルを対象にして追加的に検査せねばならないという点を除いて問題はない。

しかし、セルモジュールアセンブリー単位の絶縁性検査で正常と判断されたが、実際は不良電池セルが含まれている（２）の場合は、実際の不良電池セルを選別できないという点で問題になる。したがって、（２）のような例が発生しないように基準値を設定しなければならない。

前述したように、セルモジュールアセンブリーの絶縁抵抗基準値Ｒｒｔを並列で連結された回路における算術的な数学演算のみを適用して算出してみよう。２つの電池セルが連結されたセルモジュールアセンブリーの場合は、個別電池セルの絶縁抵抗基準値Ｒａが１００ＭΩであるため、算術的絶縁抵抗基準値Ｒｒｔｅは５０ＭΩになり、４つの電池セルで構成されたセルモジュールアセンブリーの場合は２５ＭΩになるであろう。

しかし、セルモジュールアセンブリーの絶縁性検査のための基準値Ｒｒｔを前記Ｒｒｔｅに設定すれば、前記（２）のようなケースを選別できないため、このような点を考慮して前記Ｒｒｔを個別電池セルの絶縁抵抗基準値であるＲａに設定する必要がある。

上記のように、２つの電池セル（Ｒａ＝１００ＭΩ）で構成されたセルモジュールアセンブリーの場合、ＲｒｔをＲｒｔｅに設定すれば５０ＭΩになる。しかし、実際の各電池セルの抵抗のうちＲ_１が４００ＭΩであってＲ_２が８０ＭΩであると仮定すれば、検査上の絶縁抵抗値Ｒｔは６７ＭΩになり、６７ＭΩは５０ＭΩ（Ｒｒｔｅ）より大きいため、良品であると判断される。

すなわち、実際個別電池セルの絶縁性は破壊されたが、セルモジュールアセンブリー単位の検査では良品と判断される（２）のような場合になる。しかし、Ｒｒｔを個別電池セルの絶縁抵抗基準値である１００ＭΩ（Ｒａ）に設定すれば、検査上の絶縁抵抗値である６７ＭΩは１００ＭΩより小さいため、セルモジュールアセンブリー単位の検査でこれを選別することができる。

実際、絶縁抵抗が破壊されれば抵抗値が顕著に小さくなり、（２）のような場合が生じる可能性が低いため、ＲｒｔをＲｒｔｅに設定しても構わないが、検査の精度を高めようとすれば、ＲｒｔをＲａに設定することがより望ましい。

上記のように、並列で連結された電池セルの全体抵抗値は個別電池セルの抵抗値より大きくならないという電気回路理論に即すると、通常前記電池セルの個別絶縁抵抗基準値Ｒａが同一であるため、前記基準値Ｒｒｔを単一のパウチ型電池セルの絶縁性判断の基準値と同じく設定し、もし個別電池セルの絶縁抵抗基準値Ｒａが同一でなければ、最も小さい値に前記基準値Ｒｒｔを設定することが望ましい。

本発明で提案するセルモジュールアセンブリー単位の絶縁性検査方法は、個別電池セルの絶縁性をそれぞれ検査する方法と比べて前記個別電池セルの最大個数に比例する程度の効率性を提供し得る。

本発明による検査装置の各構成要素は、物理的に区分される構成要素ではなく論理的な構成要素として理解されなければならない。すなわち、それぞれの構成は本発明の技術思想を実現するために論理的に区分された構成要素に該当するため、それぞれの構成要素が統合または分離されても本発明の論理構成が果たす機能を実現することができれば、本発明の範囲内にあると解釈されなければならない。

また、上述した本発明によるセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査方法は、コンピューター可読記録媒体にコンピューター可読コードとして具現することができる。コンピューター可読記録媒体はコンピューター装置によって読み込まれ得るデータが保存される全ての種類の記録装置を含む。コンピューター可読記録媒体の例としては、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ＣＤ−ＲＯＭ、磁気テープ、フロッピー（登録商標）ディスク、光データ保存装置などがあり、またキャリアウェーブ（例えば、インターネットを通じる伝送）の形態で具現されることも含む。また、コンピューターが可読記録媒体は、ネットワークで連結されたコンピューター装置に分散され、分散方式でコンピューター可読コードが保存されて実行され得る。さらに、前記セルモジュールアセンブリーの絶縁性検査方法を具現するための機能的な（ｆｕｎｃｔｉｏｎ）プログラム、コード及びコードセグメントは本発明が属する技術分野のプログラマーであれば容易に推論することができる。

以上、本発明を限定された実施例と図面によって説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、本発明が属する技術分野で通常の知識を持つ者によって本発明の技術思想及び特許請求の範囲の均等範囲内で多様な修正及び変形が可能であることは言うまでもない。

Claims (22)

1. 複数のパウチ型電池セルで構成されるセルモジュールアセンブリーの絶縁性を検査する装置であって、
   前記セルモジュールアセンブリーの電極と電気的に接触する第１検針手段と、
   前記パウチ型電池セルのうち選択された複数のパウチ型電池セルのアルミニウム層と電気的に接触する第２検針手段と、
   前記第１検針手段と前記第２検針手段との間の絶縁抵抗を測定する測定手段と
   を含むことを特徴とするセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査装置。
2. 測定された前記絶縁抵抗と基準値とを比べて前記電池セルの絶縁性を判断する判断手段をさらに含むことを特徴とする請求項１に記載のセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査装置。
3. 前記第２検針手段が、伝導性弾性体材質からなることを特徴とする請求項１に記載のセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査装置。
4. 前記伝導性弾性体材質が、伝導性シリコンゴムであることを特徴とする請求項３に記載のセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査装置。
5. 前記第２検針手段が、１つ以上の溝部を含み、
   選択された複数のパウチアルミニウム層が前記溝部と接触することを特徴とする請求項１に記載のセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査装置。
6. 前記溝部が、摺動可能にガイドするガイド部と、
   前記ガイド部に沿って左右に移動する摺動部と、を含むことを特徴とする請求項５に記載のセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査装置。
7. 前記基準値が、単一のパウチ型電池セルの絶縁性判断の基準値と同一に設定されることを特徴とする請求項２に記載のセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査装置。
8. 前記基準値は、前記選択された複数のパウチ型電池セルそれぞれの絶縁性判断の基準値が同一ではない場合、最も小さい値に設定されることを特徴とする請求項２に記載のセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査装置。
9. 複数のパウチ型電池セルで構成されるセルモジュールアセンブリーの絶縁性を検査する方法であって、
   前記セルモジュールアセンブリーの電極に第１検針手段を電気的に接触させる第１接触段階と、
   前記パウチ型電池セルのうち選択された複数のパウチ型電池セルのアルミニウム層に第２検針手段を電気的に接触させる第２接触段階と、
   前記第１検針手段と前記第２検針手段との間の絶縁抵抗を測定する測定段階と
   を含むことを特徴とするセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査方法。
10. 測定された絶縁抵抗と基準値とを比べて前記電池セルの絶縁性を判断する判断段階をさらに含むことを特徴とする請求項９に記載のセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査方法。
11. 前記第２検針手段が、伝導性弾性体材質からなることを特徴とする請求項９に記載のセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査方法。
12. 前記伝導性弾性体材質が、伝導性シリコンゴムであることを特徴とする請求項１１に記載のセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査方法。
13. 前記第２検針手段が、１つ以上の溝部を含み、
    選択された複数のパウチアルミニウム層が前記溝部と接触することを特徴とする請求項９に記載のセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査方法。
14. 前記溝部が、摺動可能にガイドするガイド部と、
    前記ガイド部に沿って左右に移動する摺動部と、を含むことを特徴とする請求項１３に記載のセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査方法。
15. 前記基準値が、単一のパウチ型電池セルの絶縁性判断の基準値と同一に設定されることを特徴とする請求項１０に記載のセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査方法。
16. 前記基準値は、前記選択された複数のパウチ型電池セルそれぞれの絶縁性判断の基準値が同一ではない場合、最も小さい値に設定されることを特徴とする請求項１０に記載のセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査方法。
17. 複数のパウチ型電池セルで構成されるセルモジュールアセンブリーの電極と前記パウチ型電池セルのうち選択された複数のパウチ型電池セルのアルミニウム層との間の絶縁抵抗を測定するためのプロブであって、
    前記選択された複数のパウチ型電池セルのアルミニウム層全部と電気的に接触する接触部を含むことを特徴とするセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査のためのプロブ。
18. 前記接触部が、伝導性弾性体材質からなることを特徴とする請求項１７に記載のセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査のためのプロブ。
19. 前記伝導性弾性体材質が、伝導性シリコンゴムであることを特徴とする請求項１８に記載のセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査のためのプロブ。
20. 前記接触部が、１つ以上の溝部を含み、
    選択された複数のパウチアルミニウム層が前記溝部と接触することを特徴とする請求項１７に記載のセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査のためのプロブ。
21. 前記溝部が、摺動可能にガイドするガイド部と、
    前記ガイド部に沿って左右に移動する摺動部と、を含むことを特徴とする請求項２０に記載のセルモジュールアセンブリーの絶縁性検査のためのプロブ。
22. 複数のパウチ型電池セルで構成されるセルモジュールアセンブリーの絶縁性を検査するために前記セルモジュールアセンブリーの電極に第１検針手段を電気的に接触させる第１接触段階と、
    前記パウチ型電池セルのうち選択された複数のパウチ型電池セルのアルミニウム層に第２検針手段を電気的に接触させる第２接触段階と、
    前記第１検針手段と前記第２検針手段との間の絶縁抵抗を測定する測定段階と、
    測定された前記絶縁抵抗と基準値とを比べて前記電池セルの絶縁性を判断する判断段階と
    を含む方法をコンピューターに実行させるためのプログラムを記録したコンピューター可読記録媒体。

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