JP2012215527A - セラミック基板及びその製造方法 - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 145
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims abstract description 125
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 42
- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract description 11
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 52
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims abstract description 4
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 18
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 13
- 238000010304 firing Methods 0.000 claims description 5
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 abstract 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 abstract 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 31
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 16
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 16
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 8
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 8
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 7
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 5
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 4
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 4
- 239000010953 base metal Substances 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 3
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 2
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 2
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 description 1
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000005238 degreasing Methods 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- 239000002241 glass-ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0286—Programmable, customizable or modifiable circuits
- H05K1/0287—Programmable, customizable or modifiable circuits having an universal lay-out, e.g. pad or land grid patterns or mesh patterns
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/11—Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K1/115—Via connections; Lands around holes or via connections
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/42—Plated through-holes or plated via connections
- H05K3/429—Plated through-holes specially for multilayer circuits, e.g. having connections to inner circuit layers
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07342—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being at an angle other than perpendicular to test object, e.g. probe card
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- G01R3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of measuring instruments, e.g. of probe tips
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0306—Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
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- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/09—Shape and layout
- H05K2201/09209—Shape and layout details of conductors
- H05K2201/09372—Pads and lands
- H05K2201/0949—Pad close to a hole, not surrounding the hole
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/09—Shape and layout
- H05K2201/09209—Shape and layout details of conductors
- H05K2201/095—Conductive through-holes or vias
- H05K2201/09609—Via grid, i.e. two-dimensional array of vias or holes in a single plane
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/09—Shape and layout
- H05K2201/09209—Shape and layout details of conductors
- H05K2201/09654—Shape and layout details of conductors covering at least two types of conductors provided for in H05K2201/09218 - H05K2201/095
- H05K2201/0979—Redundant conductors or connections, i.e. more than one current path between two points
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0011—Working of insulating substrates or insulating layers
- H05K3/0044—Mechanical working of the substrate, e.g. drilling or punching
- H05K3/005—Punching of holes
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/4038—Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections
- H05K3/4053—Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections by thick-film techniques
- H05K3/4061—Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections by thick-film techniques for via connections in inorganic insulating substrates
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- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
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Abstract
【解決手段】大版のグリーンシート33の所定箇所(各母セラミック基板47に対応する箇所)に、単一の金型を用いて、表側パッドより多い(即ち予想されるビア11の数より多い所定数の)スルーホール35を形成し、母セラミック基板47のグリーンシート31に対応した第1ラインL1で切断する。次に、そのグリーンシート31を焼成して母セラミック基板47を製造する。その後、仕様に応じて、表側パッド19及び表面導電層21を形成するとともに、裏側パッド25を形成し、その後、第3ラインL3で切断して、IC検査装置用基板1を完成する。
【選択図】図4
Description
このセラミック基板は、内部に、多数の(導電材料を充填した)ビアとそのビアに接続された内部配線層を備えており、また、表面には、各ビアに接続された多数のパッドが形成されている(特許文献1参照)。
具体的には、各セラミック層に対応する各セラミックグリーンシートにビアを形成するためには、セラミックグリーンシートに(ビアに対応した)ホールを形成するための金型が必要になる。ところが、目的とするセラミック基板のサイズが異なったり、ホールの位置が異なる場合には、それぞれに専用の金型が必要になる。
本発明は、上述した課題を解決するためになされたものであり、その目的は、製造コストを低減できるとともに製造時間を短縮できるセラミック基板及びその製造方法を提供することである。
本発明の第2態様では、パッドよりもビアの数が多いので、あるパッドから特定の位置のビアに対して容易に導電層を配置することができる。
・前記セラミック基板としては、その平面形状が例えば縦5mm×横11mm〜縦10mm×横15mmの範囲を採用できる。また、セラミック基板の厚みは、例えば0.13〜0.50mmの範囲を採用できる。
・前記ビアの配置される個数としては、仕様によるが、例えば21〜70個の範囲を採用できる。
・前記セラミック基板を構成するセラミック材料の具体例としては、アルミナ、窒化アルミニウム、窒化ホウ素、炭化珪素、窒化珪素などといった高温焼成セラミックの焼結体が挙げられる。このほか、ホウケイ酸系ガラスやホウケイ酸鉛系ガラスにアルミナ等の無機セラミックフィラーを添加したガラスセラミックのような低温焼成セラミックの焼結体が挙げられる。
[実施形態]
ここでは、セラミック基板としてIC検査装置用基板を例に挙げて説明する。
a)まず、本実施形態のIC検査装置用基板の構成を説明する。
このIC検査装置用基板1の中央部分には、IC検査装置用基板1を厚み方向に貫く複数のビア11が形成されている。詳しくは、IC検査装置用基板1には、絶縁性のアルミナからなる基板本体13の中央部分に、例えば縦11mm×横5mmのビア配置領域(破線で囲まれた領域)Vが設定され、このビア配置領域V内に、直径φ0.1mmのビア11が例えばピッチ1.0mmで縦4列×横6行に配列されている。
<セラミックグリーンシート(以下単にグリーンシートと記す)準備工程>
図4に示す様に、このグリーンシート準備工程では、複数のIC検査装置用基板1を一度に作製するために、即ち、IC検査装置用基板1に対応する大きさのグリーンシート31を複数切り出すことができるように、そのグリーンシート31より大版のグリーンシート33を作製する。
・その後、シート状にキャスティングされたスラリーを加熱乾燥し、グリーンシート33を形成する。なお、このようなシート成形法に代えて、プレス成形法により同様のグリーンシートを作製することもできる。
・次に、このようにして得られたグリーンシート33に対し、パンチング加工による穴明けを行って、所定の位置(ビア形成位置)に、複数の貫通孔(スルーホール)35を多数形成する。
・そして、この母セラミック基板47は、IC検査装置用基板1の仕様が確定するまで、ストックしておく。つまり、母セラミック基板47の作製の工程までで製造作業を中止し、この単一サイズの母セラミック基板47を作り置きする。
・次に、仕様の確定によって、IC検査装置用基板1の製造に着手する場合には、前記母セラミック基板47の第1主面15及び第2主面23を、従来周知の表面研磨装置を用いて研磨し、第1主面15及び第2主面23の平坦度を高くする。
・次に、図7(a)に示す様に、母セラミック基板47(詳しくはその基板本体13)の第1主面15に、ビア11に接続するように、(薄膜である)表面導電層21及び表側パッド19を、例えば一体に(或いは順次)形成する。それとともに、図7(b)に示す様に、基板本体13の第2主面23に、ビア11の端面を覆う様に、裏側パッド25を形成する。
以下に、その具体的な手順を詳細に説明する。
その後、めっきレジストを除去した後、エッチングを行う。その結果、チタンスパッタ層、銅スパッタ層、銅めっき層、ニッケルめっき層、及び金めっき層からなる積層体が形成される。
・その後、仕様に沿ったサイズとなるように、第3ラインL3に沿って、母セラミック基板47を切断し、図7(c)に示す様に、第1主面15側に複数の表側パッド19及び表面導電層21を備えるとともに、第2主面23側に複数の裏側パッド25を備えたIC検査装置用基板1が完成する。
c)従って、本実施形態によれば以下の効果を得ることができる。
(1)例えば、前記実施形態では、大版のグリーンシートから、各IC検査装置用基板に対応した複数のグリーンシートを切り分けたが、1個のIC検査装置用基板に対応した単一のグリーンシートを用いてもよい。
(3)前記実施形態では、表面パッドと表面導電層とを同時に形成したが、それらの形成を別工程で行ってもよい。例えば表側パッドを形成した後に、ビアと表側パッドとを接続する様に表面導電層を形成してもよい。
9…プローブ
11…ビア
13…基板本体
15…第1主面
19…表側パッド
21…表面導電層
23…第2主面
25…裏側パッド
35…スルーホール(貫通孔)
47…母セラミック基板
Claims (4)
- 電子部品の検査用のプローブが接続されるセラミック基板において、
前記セラミック基板の平面方向における中央の領域に配置されて、該セラミック基板を厚み方向に貫く複数のビアと、
前記ビアが形成された中央の領域の外側に形成されて、前記プローブが接続されるパッドと、
前記セラミック基板の表面のみに形成されて、前記ビアと前記パッドとを接続する導電層と、
を備えたことを特徴とするセラミック基板。 - 前記パッドよりも前記ビアの数が多いことを特徴とする請求項1に記載のセラミック基板。
- 電子部品の検査用のプローブが接続されるパッドを備えたセラミック基板の製造方法において、
セラミックグリーンシートに、前記パッドより多いビア材料を充填したビア充填部を形成する第1工程と、
前記ビア充填部を形成したセラミックグリーンシートを焼成して、ビアを備えた母セラミック基板を形成する第2工程と、
前記母セラミック基板の表面に、前記パッドと、該パッドと前記ビアを接続する導電層とを形成する第3工程と、
前記母セラミック基板の外形サイズを整えて、セラミック基板を製造する第4工程と、
を有することを特徴とするセラミック基板の製造方法。 - 前記第1工程の前に、大版のセラミックグリーンシートから1枚又は複数枚の前記母セラミック基板に対応するセラミックグリーンシートを切断するとともに、
該切断の際には、前記セラミック基板よりも外形サイズの大きな母セラミック基板の外形に対応するサイズに前記セラミックグリーンシートを切断することを特徴とする請求項3に記載のセラミック基板の製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011082161A JP5670806B2 (ja) | 2011-04-01 | 2011-04-01 | セラミック基板及びその製造方法 |
US13/436,005 US9049786B2 (en) | 2011-04-01 | 2012-03-30 | Ceramic substrate and method for manufacturing the same |
KR1020120033148A KR101555405B1 (ko) | 2011-04-01 | 2012-03-30 | 세라믹 기판 및 그 제조방법 |
CN201210094793.9A CN102740590B (zh) | 2011-04-01 | 2012-04-01 | 陶瓷基板及其制造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011082161A JP5670806B2 (ja) | 2011-04-01 | 2011-04-01 | セラミック基板及びその製造方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012215527A true JP2012215527A (ja) | 2012-11-08 |
JP2012215527A5 JP2012215527A5 (ja) | 2013-07-25 |
JP5670806B2 JP5670806B2 (ja) | 2015-02-18 |
Family
ID=46925759
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011082161A Active JP5670806B2 (ja) | 2011-04-01 | 2011-04-01 | セラミック基板及びその製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9049786B2 (ja) |
JP (1) | JP5670806B2 (ja) |
KR (1) | KR101555405B1 (ja) |
CN (1) | CN102740590B (ja) |
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US9049786B2 (en) | 2015-06-02 |
CN102740590A (zh) | 2012-10-17 |
JP5670806B2 (ja) | 2015-02-18 |
KR20120112222A (ko) | 2012-10-11 |
US20120247821A1 (en) | 2012-10-04 |
CN102740590B (zh) | 2015-10-21 |
KR101555405B1 (ko) | 2015-09-23 |
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