JP2012204077A5 - - Google Patents

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本発明の表示装置および表示装置の製造方法では、酸化物半導体よりなる半導体層の選択的な第1領域上にゲート絶縁膜を介してゲート電極が設けられ、その第1領域に隣接する第2領域においてソース・ドレイン電極層が半導体層に電気的に接続される。半導体層の第1領域と第2領域とは異なる第3領域上に、この第3領域に対応する部分を画素電極として表示駆動される有機電界発光素子が形成される。即ち、トランジスタのチャネルを形成する半導体層を、有機電界発光素子の電極として利用することにより、製造工程において、フォトリソグラフィ法を用いたパターニングの工程数が削減される。また、これにより、必要となるフォトマスクやフォトレジストなどの使用部材も少なくなる。
本発明の一実施の形態に係る表示装置の概略構成を表す断面図である。 図1に示した表示装置の製造方法を説明するための断面図である。 図2に続く工程を表す断面図である。 図3に続く工程を表す断面図である。 図4に続く工程を表す断面図である。 図5に続く工程を表す断面図である。 図6に続く工程を表す断面図である。 図7に続く工程を表す断面図である。 図8に続く工程を表す断面図である。 比較例に係る表示装置の構成を表す断面図である。 図10に示した表示装置の製造方法を説明するための断面図である。 図11に続く工程を表す断面図である。 図12に続く工程を表す断面図である。 各実施の形態に係る表示装置の周辺回路を含む全体構成を表す図である。 図14に示した画素の回路構成を表す図である。 図14に示した表示装置を含むモジュールの概略構成を表す平面図である。 適用例1の外観を表す斜視図である。 (A)は適用例2の表側から見た外観を表す斜視図であり、(B)は裏側から見た外観を表す斜視図である。 適用例3の外観を表す斜視図である。 適用例4の外観を表す斜視図である。 (A)は適用例5の開いた状態の正面図、(B)はその側面図、(C)は閉じた状態の正面図、(D)は左側面図、(E)は右側面図、(F)は上面図、(G)は下面図である。
半導体層12は、ゲート電圧の印加によりチャネルを形成するものであり、例えばインジウム(In),ガリウム(Ga),亜鉛(Zn),シリコン(Si)およびスズ(Sn)のうちの少なくとも1種を含む酸化物半導体よりなる。このような酸化物半導体としては、例えば、酸化インジウムガリウム亜鉛(IGZO,InGaZnO)が挙げられる。この酸化物半導体膜12の厚みは、例えば20nm〜100nmである。
ソース・ドレイン電極層16は、トランジスタ部10Bにおけるソースまたはドレインとして機能するものであり、上記ゲート電極14において列挙したものと同等の金属または透明導電膜により構成されている。層間絶縁膜15上には、このソース・ドレイン電極層16を覆うように、保護膜17が形成されている。
表示装置100では、基板101上の所定の領域に半導体層102が設けられ、この半導体層102上の選択的な領域にゲート絶縁膜104およびゲート電極105がこの順に配設されている。基板101上には、これらの半導体層102、ゲート絶縁膜104およびゲート電極105を覆って層間絶縁膜103が形成されている。この層間絶縁膜103は、シリコン酸化物などの無機絶縁膜よりなり、半導体層102に対向する領域にコンタクトホールH100を有している。層間絶縁膜103上には、それらのコンタクトホールH100を埋め込むように、ソース電極106Aおよびドレイン電極106Bが配設されている。これらのソース電極106Aおよびドレイン電極106Bのうちの一方(ここでは、ドレイン電極106B)が、発光部100Aに対応する領域まで延在して設けられている。即ち、比較例では、ドレイン電極106Bが各画素のアノードを兼ねた構造となっている。このドレイン電極106Bの発光部100Aに対応する領域には、絶縁膜107の開口H101を介して、有機EL層を含む機能層108および共通電極109がこの順に積層されている。共通電極109上には保護層110が設けられ、この上に封止基板111が貼り合わせられている。
[表示装置の構成、画素回路構成]
次に、上記実施の形態に係る表示装置1の全体構成および画素回路構成について説明する。図14は、有機ELディスプレイとして用いられる表示装置の周辺回路を含む全体構成を表すものである。このように、例えば基板11上には、有機EL素子を含む複数の画素PXLCがマトリクス状に配置されてなる表示領域30が形成され、この表示領域30の周辺に、信号線駆動回路としての水平セレクタ(HSEL)31と、走査線駆動回路としてのライトスキャナ(WSCN)32と、電源線駆動回路としての電源スキャナ(DSCN)33とが設けられている。
表示領域30において、列方向には複数(整数n個)の信号線DTL1〜DTLnが配置され、行方向には、複数(整数m個)の走査線WSL1〜WSLmおよび電源線DSL1〜DSLmがそれぞれ配置されている。また、各信号線DTLと各走査線WSLとの交差点に、各画素PXLC(R、G、Bに対応する画素のいずれか1つ)が設けられている。各信号線DTLは水平セレクタ31に接続され、この水平セレクタ31から各信号線DTLへ映像信号が供給されるようになっている。各走査線WSLはライトスキャナ32に接続され、このライトスキャナ32から各走査線WSLへ走査信号(選択パルス)が供給されるようになっている。各電源線DSLは電源スキャナ33に接続され、この電源スキャナ33から各電源線DSLへ電源信号(制御パルス)が供給されるようになっている。
図15は、画素PXLCにおける具体的な回路構成例を表したものである。各画素PXLCは、有機EL素子3Dを含む画素回路40aを有している。この画素回路40aは、サンプリング用トランジスタ3Aおよび駆動用トランジスタ3Bと、保持容量素子3Cと、有機EL素子3Dとを有するアクティブ型の駆動回路である。これらのうち、トランジスタ3A(またはトランジスタ3B)が、上記実施の形態等のトランジスタ部10Bに相当する。
サンプリング用トランジスタ3Aは、そのゲートが対応する走査線WSLに接続され、そのソースおよびドレインのうちの一方が対応する信号線DTLに接続され、他方が駆動用トランジスタ3Bのゲートに接続されている。駆動用トランジスタ3Bは、そのドレインが対応する電源線DSLに接続され、ソースが有機EL素子3Dのアノードに接続されている。また、この有機EL素子3Dのカソードは、接地配線3Hに接続されている。なお、この接地配線3Hは、全ての画素PXLCに対して共通に配線されている。保持容量素子3Cは、駆動用トランジスタ3Bのソースとゲートとの間に配置されている。
サンプリング用トランジスタ3Aは、走査線WSLから供給される走査信号(選択パルス)に応じて導通することにより、信号線DTLから供給される映像信号の信号電位をサンプリングし、保持容量素子3Cに保持するものである。駆動用トランジスタ3Bは、所定の第1電位(図示せず)に設定された電源線DSLから電流の供給を受け、保持容量素子3Cに保持された信号電位に応じて、駆動電流を有機EL素子3Dへ供給するものである。有機EL素子3Dは、この駆動用トランジスタ3Bから供給された駆動電流により、映像信号の信号電位に応じた輝度で発光するようになっている。
このような回路構成では、走査線WSLから供給される走査信号(選択パルス)に応じてサンプリング用トランジスタ3Aが導通することにより、信号線DTLから供給された映像信号の信号電位がサンプリングされ、保持容量素子3Cに保持される。また、上記第1電位に設定された電源線DSLから駆動用トランジスタ3Bへ電流が供給され、保持容量素子3Cに保持された信号電位に応じて、駆動電流が有機EL素子3D(赤色、緑色および青色の各有機EL素子)へ供給される。そして、各有機EL素子3Dは、供給された駆動電流により、映像信号の信号電位に応じた輝度で発光する。これにより、表示装置において、映像信号に基づく映像表示がなされる。
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