JP2012151233A - 光電変換モジュール、及び、光電変換モジュールの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光電変換モジュール(26)は、複数の基板側第1電極(48)及び基板側第2電極(46)を有する回路基板(30)と、回路基板(30)に実装され、回路基板(30)の実装面と対向する面に、複数の入出射部、並びに、基板側第1電極(48)に接続される素子側第1電極及び基板側第2電極(46)に接続される素子側第2電極を有する光電変換アレイ素子とを備える。回路基板(30)は、基板側第1電極を相互に連結する連結部(78)と、基板側第1電極(48)及び連結部(78)のうち一方に連なり、試験用の1つの第1電極用プローブとの接触に供される1つの第1電極用ランド部(80)とを実装面に有する。
【選択図】図9
Description
ここで特許文献1は、VCSELの信頼性を確保するために、VCSEL及び駆動回路がパッケージ内に実装された後に、バーンイン試験を行うことを開示している。
そして、高速伝送用の光電変換モジュールにおいては、フリップチップ実装されたアレイ素子の近傍に、アレイ素子の駆動用のICチップが実装される。この場合、回路基板には、アレイ素子とICチップとを接続するために、基板側第1電極及び基板側第2電極がストライプ状にて交互に設けられる。
しかしながら、基板側第1電極と基板側第2電極のピッチは、例えば約125μmであり、プローブを基板側第1電極と基板側第2電極に正確に当接させることは困難である。このためバーンイン試験に長時間を要してしまい、光電変換アレイ素子の信頼性の確保に時間がかかるという問題があった。
図1は、光アクティブケーブル10の外観を概略的に示す斜視図である。
光アクティブケーブル10は、光電気複合ケーブル11と、光電気複合ケーブル11の両端に取り付けられた光送信器12及び光受信器14とからなる。光アクティブケーブル10は、例えば、デジタルAV機器間の接続に適用される。
光送信器12は例えば金属製のハウジング16を有し、ハウジング16は例えば箱形状を有する。ハウジング16の一端からは、シール部材18を介して光電気複合ケーブル11が延出する一方、ハウジング16の他端には、開口が形成されている。
ハウジング16の開口内には、例えば1枚のリジッドな回路基板20の端部が位置している。回路基板20の端部は、デジタルAV機器に設けられたスロットに挿入可能である。
回路基板20は、例えばガラスエポキシ製のリジッドな基板であって、第2ケース16bに対して固定されている。回路基板20には、例えば銅等の金属からなる所定の導体パターンが形成されており、導体パターンは、回路基板20の端部に配置された複数の電極端子22を含む。電極端子22は、デジタルAV機器に設けられた電極端子と電気的に接続される。
光電気複合ケーブル11は、複数本の導線25を含み、導線25は、シール部材18を通じて、ハウジング16の内部まで延びている。そして、ハウジング16の内部に位置する導線25の先端部は、回路基板20に半田付けされている。コネクタ24及び導線25は、導体パターンを通じてLSI23に電気的に接続され、LSI23が電極端子22に電気的に接続されている。
光電変換モジュール26の他端はコネクタ24に接続される。光送信器12の光電変換モジュール26は、デジタルAV機器から受け取った電気信号を光信号に変換して光ファイバー28に伝送する機能を有する。
なお、光受信器14の光電変換モジュール26は、光ファイバー28から受け取った光信号を電気信号に変換して、デジタルAV機器に伝送する機能を有する。
また、FPC基板30一方の面には、ミラー部材36が接着剤を用いて固定されている。接着剤としては、例えば、熱硬化型樹脂又はUV硬化型樹脂を用いることができる。
そして、ミラー部材36及びポリマー光導波路部材34上には、接着剤を用いて例えば金属やガラス製の補強板38が固定されている。なお図4において、補強板38は、一点鎖線にて示されている。
FPC基板30の導体パターンは、フィルム32の一端部に形成された複数の電極端子40を含み、電極端子40がコネクタ24に接続される。なお導体パターンは、例えば、フィルム32に成膜された金属膜をエッチングすることにより作製することができる。
光電変換アレイ素子44は、ICチップ42の一辺の近傍に沿うように並べられている。光送信器12の光電変換モジュール26では、光電変換アレイ素子44は、LD(レーザダイオード)等の発光素子であって、ICチップ42は、発光素子のための駆動回路を構成している。
光電変換アレイ素子44は、面発光型若しくは面受光型であり、光電変換アレイ素子44は、自身の光の出射面若しくは入射面がFPC基板30の面と対向するように配置されている。
ポリマー光導波路部材34は、アンダークラッド層52、コア54、及び、オーバークラッド層56を含む。アンダークラッド層52は、FPC基板30に積層され、光信号の進行方向から見た断面形状が四角形のコア54がアンダークラッド層52上を延びている。
アンダークラッド層52、コア54、及び、オーバークラッド層56の材料としては、特に限定されることはないが、例えば、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂及びポリイミド系樹脂等を用いることができる。
ミラー面58は、光電変換アレイ素子44とコア54との間を延びる光路上に配置され、光路を90度曲げている。つまり、光路は、FPC基板30を貫通している。
ミラー部材36は、例えば、樹脂を一体成形してから、樹脂の壁面に、ミラー面58を構成する金等の金属膜を蒸着して製造される。
光電変換アレイ素子44は、複数の光電変換要素70を一体に形成したアレイ素子であり、本実施形態では、光ファイバー28の数に対応して4つの光電変換要素70を含んでいる。
なお、光電変換アレイ素子44が受光素子である場合、受光素子は、入出射部76で光を受光する。
基板側カソード電極48及び基板側アノード電極46は、それぞれ帯状をなし、ICチップ42と光電変換アレイ素子44の離間方向に延びている。基板側カソード電極48及び基板側アノード電極46は、相互に平行であり、離間方向と直交する方向(配列方向)にて一定のピッチPeにて交互に配列されている。ピッチPeは、例えば約125μmである。
なお以下の説明では、基板側カソード電極48、連結部78及びカソード電極用ランド部80をまとめて、カソード電極パターンともいう。
以下、光電変換モジュール26の製造工程にて行われる、バーンイン試験の方法について説明する。
バーンイン試験は、FPC基板30に光電変換アレイ素子44をフリップチップ実装し、充填部材68を充填した後であって、ICチップ42を実装する前に行われる。そして、バーンイン試験は、光電変換アレイ素子44が実装されたFPC基板30を恒温槽内に配置し、恒温槽を所定の温度にして行われる。
本実施形態では、好ましい態様として、5本のプローブ90が、基板側カソード電極48及び基板側アノード電極46の配列方向に沿って配列されている。プローブ90のピッチPpは、例えば、約250μmであり、基板側カソード電極48と基板側アノード電極46のピッチPeの2倍である。
バーンイン試験では、光電変換アレイ素子44の入出射部76から出射された光が監視されており、出射光の強度に応じて、試験結果の良否が判定される。つまり、4つの入出射部76のうち1つからでも光が出射されず、或いは、経時的に出射されなくなれば、所定の出射強度を満たさない光学変換素子44は不良品であると判定され、廃棄される。
一方、この光電変換モジュール26のカソード電極パターンでは、複数の基板側カソード電極48が連結部78によって連結され、且つ、カソード電極用ランド部80が設けられている。このため、バーンイン試験の際、基板側カソード電極48については、基板側カソード電極48の数に拘わらず、1本のプローブ(カソード電極用プローブ)90をカソード電極用ランド部80に当接させればよい。
従って、このカソード電極パターンによれば、プローブ90を当接させるのが容易であり、バーンイン試験の実施が容易である。この結果として、この光電変換モジュール26では、光電変換アレイ素子44の信頼性の確保が容易である。また、バーンイン試験が短時間で行われるために生産性が高く、光電変換モジュール26は低コストにて提供される。
例えば、上述した一実施形態の光電変換モジュール26では、基板側アノード電極46が、それぞれ一定の幅を有していたけれども、図11に示したように、プローブ90が当接させられる領域を幅広に形成し、アノード電極用ランド部94を設けてもよい。これにより、プローブ90を基板側アノード電極46に一層容易に当接させられる。
なおこの場合、必要に応じて、図11に示したように、アノード電極用ランド部94と隣り合う基板側カソード電極48の領域を幅狭に形成してもよい。
12 光送信器
14 光受信器
26 光電変換モジュール
28 光ファイバー
30 FPC基板(回路基板)
32 フィルム
42 ICチップ
44 光電変換アレイ素子
46 基板側アノード電極(基板側第2電極)
48 基板側カソード電極(基板側第1電極)
72 素子側カソード電極(素子側第1電極)
74 素子側アノード電極(素子側第2電極)
76 入出射部
78 連結部
80 カソード電極用ランド部
Claims (6)
- 実装面に一の配列方向にて交互に配列され、それぞれ前記配列方向と直交する方向に延びる複数の基板側第1電極及び基板側第2電極を有する回路基板と、
前記回路基板に実装され、前記実装面と対向する面に、複数の入出射部、並びに、前記入出射部の各々に対応して設けられた前記基板側第1電極に接続される素子側第1電極及び前記基板側第2電極に接続される素子側第2電極を有する光電変換アレイ素子と、
前記回路基板に実装され、前記基板側第1電極及び前記基板側第2電極を通じて前記光電変換アレイ素子と接続されるICチップと
を備え、
前記回路基板は、
前記基板側第1電極を相互に連結する連結部と、
前記基板側第1電極及び前記連結部のうち一方に連なり、試験用の1つの第1電極用プローブとの接触に供される1つの第1電極用ランド部と
を前記実装面に有する、
光電変換モジュール。 - 前記第1電極用ランド部は、前記基板側第1電極のうち、前記配列方向にて端に位置にする基板側第1電極の前記ICチップ側に連なる、
請求項1に記載の光電変換モジュール。 - 前記基板側第2電極の各々は、試験用の第2電極用プローブとの接触に供される、自身の他の部分よりも幅広の第2電極用ランド部を有する、
請求項1又は2に記載の光電変換モジュール。 - 前記連結部は、前記基板側第1電極が延びる方向にて、前記ICチップとは反対側の前記光電変換アレイ素子の端から離間している、
請求項1乃至3の何れか一項に記載の光電変換モジュール。 - 前記光電変換アレイ素子は発光素子である
請求項1乃至4の何れか一項に記載の光電変換モジュール。 - 実装面に一の配列方向にて交互に配列され、それぞれ前記配列方向と直交する方向に延びる複数の基板側第1電極及び基板側第2電極を有する回路基板と、
前記回路基板に実装され、前記実装面と対向する面に、複数の入出射部、並びに、前記入出射部の各々に対応して設けられた前記基板側第1電極に接続される素子側第1電極及び前記基板側第2電極に接続される素子側第2電極を有する光電変換アレイ素子と、
前記回路基板に実装され、前記基板側第1電極及び前記基板側第2電極を通じて前記光電変換アレイ素子と接続されるICチップと
を備え、
前記回路基板は、
前記基板側第1電極を相互に連結する連結部と、
前記基板側第1電極及び前記連結部のうち一方に連なり、試験用の1つの第1電極用プローブとの接触に供される1つの第1電極用ランド部と
を前記実装面に有する、
光電変換モジュールの製造方法であって、
前記光電変換アレイ素子の素子側第1電極及び素子側第2電極を前記回路基板の基板側第1電極及び基板側第2電極にそれぞれ接続した後であって、前記回路基板に前記ICチップを実装する前に、前記基板側第2電極の各々に第2電極用プローブを当接させるとともに、前記第1電極用ランド部に前記第1電極用プローブを当接させ、前記第1電極用プローブ及び前記第2電極用プローブを介して前記光電変換アレイ素子の動作を検査する工程を備える、
光電変換モジュールの製造方法。
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