JP2012103183A - 分析装置 - Google Patents

分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2012103183A
JP2012103183A JP2010253407A JP2010253407A JP2012103183A JP 2012103183 A JP2012103183 A JP 2012103183A JP 2010253407 A JP2010253407 A JP 2010253407A JP 2010253407 A JP2010253407 A JP 2010253407A JP 2012103183 A JP2012103183 A JP 2012103183A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
foreign matter
circulating water
detector
analysis
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010253407A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5563957B2 (ja
Inventor
Yuichi Hirabayashi
祐一 平林
So Yamazaki
創 山崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi High Technologies Corp
Hitachi High Tech Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Technologies Corp, Hitachi High Tech Corp filed Critical Hitachi High Technologies Corp
Priority to JP2010253407A priority Critical patent/JP5563957B2/ja
Publication of JP2012103183A publication Critical patent/JP2012103183A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5563957B2 publication Critical patent/JP5563957B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

【課題】循環水中に塵などの異物が混入した場合、循環水中の異物を検出する検出器を流路に配置することで、常時異常をオペレータに報告すると共に自動で自己改善を実施し、散乱光による分析装置のデータ信頼性向上、および試薬、サンプル等の使用コストを低減させることができる分析装置を提供する。
【解決手段】分析装置において、循環水の流路上に設けられた異物測定用光源8,10,12,14,16,18,20と、異物測定用光源に対応して設置され、異物測定用光源からの光による流路上の循環水からの散乱光を検出する異物測定用検出器9,11,13,15,17,19,21と、循環水の異物を蓄積するフィルタ7とを備え、処理部は、異物測定用検出器からの検出信号に基づいて、循環水中の異物を検出し、その検出情報に基づいて、循環水の流路の給水、排水、および流水の方向を制御する。
【選択図】図1

Description

本発明は測定対象に光を照射して、測定対象にて散乱する光を測定する分析装置に関し、特に、測定対象の恒温用に用いる循環水中の異物の検出に関するものである。
測定対象に光を照射してその散乱光を測定する分析装置として、例えば免疫血清検査における試薬の濁度測定に関する特開昭60−040937号公報(特許文献1)に開示されたものがあった。この免疫血清検査においては、測定対象に光を照射し、散乱光の強度の時間的変化を測定することにより、凝集反応などの反応量を分析する。
特開昭60−040937号公報
散乱光を用いた分析装置においては、循環水中に塵などの異物が混入した場合にはノイズとして検出して測定結果に影響を与える。散乱光は微小な光を基準として分析するために、異物等の影響を受けやすい。
しかし、分析装置はオペレータの作業により塵などの異物が混入することを避けにくい。そのため、異物を混入させやすい循環水は特に測定結果に対してノイズとして影響を与える要因になりうる。
また、従来の分析装置では目視による反応槽中の恒温水の状態確認とセルブランク測定(空セルによる分析)によるチェックのみ行っていたため、測定するときに異常を発見するケースが多く見受けられた。そのため、事前に異常があるかどうかのチェックは故意的にオペレーションをかけて行わなければならない。
そこで、本発明の目的は、散乱光を用いた分析装置において、循環水中に塵などの異物が混入した場合、循環水中の異物を検出する検出器を流路に配置することで、常時異常をオペレータに報告すると共に自動で自己改善を実施し、散乱光による分析装置のデータ信頼性向上、および試薬、サンプル等の使用コストを低減させることができる分析装置を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次の通りである。
すなわち、代表的なものの概要は、測定対象を格納する反応容器と、循環水が入った反応層に設置された反応容器に光を照射する分析用光源と、反応容器内の被測定液体からの散乱光を検出する分析用検出器と、分析用検出器の検出信号を処理する処理部と、循環水の流路上に少なくとも1つ設けられた異物測定用光源と、異物測定用光源に対応して設置され、異物測定用光源からの光による流路上の循環水からの散乱光を検出する異物測定用検出器と、循環水の異物を蓄積するフィルタとを備え、処理部は、異物測定用検出器からの検出信号に基づいて、循環水中の異物を検出し、その検出情報に基づいて、循環水の流路の給水、排水、および流水の方向を制御するものである。
本願において開示される発明のうち、代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば以下の通りである。
すなわち、代表的なものによって得られる効果は、散乱光を用いる分析装置にて循環水の流路中に塵などの異物が混入した場合、分析に影響する前に異物を取り除くことができ、且つ自動にて改善処理を実施し、無駄な試薬の使用やオペレータ作業を軽減することができる。また、全ての改善処理を適用しても効果が見受けられなくとも、異常箇所を特定し、短時間の交換や清掃で顧客先の装置停止時間を軽減することが可能となる。
異物の検知には散乱光を用いているために透過光よりも精度が高く、より細かい異物も検知することができる。
また、自動改善化以外にも、透過光の分析装置にはエラーの軽減、散乱光の分析装置には測定精度の向上を図ることもできる。
本発明の一実施の形態に係る分析装置の構成を示す構成図である。 本発明の一実施の形態に係る分析装置の異常検出の動作を示すフローチャートである。 本発明の一実施の形態に係る分析装置の異常検出の異常箇所特定用の組み合わせを示す表である。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明するための全図において、同一の部材には原則として同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。
まず、本発明の分析装置の概要について説明する。
本発明では、反応容器に格納した測定対象に光を照射して、測定対象により散乱する光を検出する分析装置において、反応容器を恒温するための循環水中の異物を検出するように、光源および検出器を循環水の流路に配置する。
このような分析装置において、配置した全ての検出器からの出力は検出回路部にて信号処理され、処理後に演算部へ入力してその変化を観測すると共に一定間隔毎に記憶領域に保存する。
演算部の演算により、循環水の流路中に異物が規定以上検出され、異常検出時にはスタンバイ状態であれば自動で改善処理を実施し、オペレーション時にはオペレータにアラームで警告し、スタンバイ移行後に上記同様に改善処理を実施する。
改善処理には循環水交換による異物の除去、排水処理によるフィルタの掃除、脱気による泡の除去、次亜鉛素酸による細菌の除去(この動作のみオペレータ作業)をそれぞれ実施する。上記実施でも改善されない場合には異常箇所を明らかにした上でオペレータに対して交換または清掃要求のアラームを表示する。
フィルタのろ過精度としては最低500μm(20メッシュ)とし、循環水の流速に応じてそれ以上のろ過精度のフィルタを使用することで、より細かい異物までフィルタで低減することを可能にする。また、従来の分析装置同様にフィルタ自体の定期交換はなく、従来ではオペレータが月1回フィルタ掃除をすることになっているのを自動化しているため、定期メンテナンスも不要としている。
次に、図1により、本発明の一実施の形態に係る分析装置の構成について説明する。図1は本発明の一実施の形態に係る分析装置の構成を示す構成図である。
図1において、分析装置は、反応容器2に格納された測定対象3に光を照射する分析用光源4、測定対象3からの散乱光を検出する分析用検出器1、分析用検出器1からの検出信号が入力され、信号処理を行う検出回路部31、検出回路部31で処理された信号を演算し、一定間隔毎に記憶領域33に記録する演算部32、記憶領域33に記録された情報に基づいて、分析装置全体の制御を行う制御部34、各種表示を行う表示部35から構成されている。また、検出回路部31、演算部32および制御部34で処理部を構成している。
また、反応容器2は、循環水5が循環されている反応槽6の中に浸かった状態で、測定され、恒温状態での測定が行われている。
循環水5は、循環流路24,25,26,27,28,29,30を介して循環しており、その循環流路には、異物測定用光源8,10,12,14,16,18,20、および異物測定用検出器9,11,13,15,17,19,21が配置されており、異物測定用検出器9,11,13,15,17,19,21で散乱光を検出することにより、異物の検出を行っている。
また、循環流路には、ポンプ22、三方電磁弁23により、循環水5の循環や、給水排水が行われ、フィルタ7により、異物の除去を行っている。
分析装置では、分析用光源4より反応容器2に格納された測定対象3に光を照射し、測定対象3にて照射された光は散乱し、光軸より垂直方向に角度をもつ位置にある分析用検出器1にて測定対象3の測定を行っている。
循環水5の中の監視には循環流路24,25,26,27,28,29,30に複数の異物測定用光源8,10,12,14,16,18,20により光を照射させて、光軸より垂直方向に角度をもつ位置にある異物測定用検出器9,11,13,15,17,19,21にて散乱光で測定する。
それぞれの異物測定用検出器9,11,13,15,17,19,21には検出回路部31が接続されており、異物測定用検出器9,11,13,15,17,19,21からの出力を信号処理し、演算部32にて変化を測定すると共に記憶領域33に一定間隔毎に記録する。これら複数の異物測定用検出器9,11,13,15,17,19,21の組み合わせから異物の特定を行えるようにしている。
異常の検知方法としては、異物の大小に分けている。具体的な数値を例とすると、大きい異物は最頻値±[標準偏差値(SD)×10倍]を10回以上検知した場合とし、小さい異物は最頻値±[標準偏差値(SD)×4倍]を100回以上検知した場合で判断できる。
異物の例として、小さい異物には細菌(約1μm)があり、大きい異物には金属片(約500μm以上)がある。ゴミや泡は細菌以上の大きさではあるが、500μm以下のも存在する。特に泡は変形するため、フィルタ7で防げるものではない。
次に、図2および図3により、本発明の一実施の形態に係る分析装置の異常検出の動作について説明する。図2は本発明の一実施の形態に係る分析装置の異常検出の動作を示すフローチャートであり、分析装置立ち上げ直後から測定開始として、異物検知および改善の流れを示している。図3は本発明の一実施の形態に係る分析装置の異常検出の異常箇所特定用の組み合わせを示す表である。
図2において、まず、測定を開始すると(S100)、異物が検出されていないかを判断し(S101)、もし、S101で異物があった場合はオペレーション動作がないか確認し(S102)、動作している場合はデータアラームを付加し、オペレーション終了待ちとして(S103)、フラグを0にリセットし(S104)再監視する。
S102でオペレーション動作していない場合に改善処理に移行する。最初の改善処理は水交換により大小のゴミ等を除去する(S105)。
その後、異物が検出されていないかを判断し(S106)、フラグが3になっているかを判断し(S107)、S107でフラグが3になっていない場合は、フラグが0か、小さい異物か、大きい異物を判断し(S109)、S109でフラグが0であれば、脱気ユニット36にて脱気処理を実施し、泡(気泡)を除去し、フラグに1を加える(S110)。ゴミと泡は大小関係なく見受けられ、且つ頻度も高いために最初に処理を行う。
S109で大きい異物の場合はフィルタ7に異常の可能性があるため、フィルタ7の掃除により異物を除去し(S111)、フラグに1を加える(S113)。フィルタ7の掃除方法としては、ポンプ22で流路方向を逆転し、三方電磁弁23を切り替えて排水を行う。これにより、フィルタ7に蓄積した異物を除去することができる。排水後、三方電磁弁23およびポンプ22を再度切り替えて今度は給水を行う。その後、循環できるように三方電磁弁23を切り替える。
S109で小さい異物としては細菌等が考えられるため、オペレータに次亜鉛素酸を入れるように指示する表示を表示部35などに行い、オペレータに次亜鉛素酸を入れてもらい、改善を試みて(S112)、フラグに1を加える(S113)。
また、S107でフラグが3になっている場合は、再測定し、例えば図3に示すような表に基づいて、異常箇所を特定して、異常箇所名とその旨のアラームを表示部35などに出力する(S108)。
この異常箇所の特定は、図3に示すように、異物測定用検出器9,11,13,15,17,19,21の組み合わせにより、流路中の各機能部の異常か否かを前後の異物測定用検出器9,11,13,15,17,19,21にて判断する。
単体の異物測定用検出器9,11,13,15,17,19,21で判断するのは流路および給水のみにしている。判断方法としては検出器単体においては、大きい異物は最頻値±[標準偏差値(SD)×10倍]を10回以上検知した場合とし、小さい異物は最頻値±[標準偏差値(SD)×4倍]を100回以上検知した場合にて判断している。
2つの異物測定用検出器の差で判断する場合には、最頻値が低い異物測定用検出器をベースとして標準偏差を算出し、最頻値が大きい異物測定用検出器との差が標準偏差の4倍を小さい異物、標準偏差の10倍を大きい異物として異常を判断している。
以上のように、本実施の形態では、散乱光を用いる分析装置にて循環水の流路中に塵などの異物が混入した場合、分析に影響する前に異物を取り除くことができ、且つ自動にて改善処理を実施し、無駄な試薬の使用やオペレータ作業を軽減することができる。また、全ての改善処理を適用しても効果が見受けられない場合であっても、異常箇所を特定し、短時間の交換や清掃で顧客先の装置停止時間を軽減することが可能となる。
以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
例えば、本実施の形態では、分析用検出器1では異物の検出を行っていないが、分析前などで反応容器2が存在していないときには、分析用検出器1での検出結果に基づいて異物を検出するようにしてもよい。
本発明は、測定対象に光を照射して、測定対象にて散乱する光を測定する分析装置に関し、測定対象の恒温用に用いる循環水中の異物を検出する機能を有する装置やシステムなどに広く適用可能である。
1…分析用検出器、2…反応容器、3…測定対象、4…分析用光源、5…循環水、6…反応槽、7…フィルタ、8…異物測定用光源(反応槽−フィルタ間)、9…異物測定用検出器(反応槽−フィルタ間)、10…異物測定用光源(フィルタ−ポンプ間)、11…異物測定用検出器(フィルタ−ポンプ間)、12…異物測定用光源(ポンプ−三方電磁弁間)、13…異物測定用検出器(ポンプ−三方電磁弁間)、14…異物測定用光源(排水路間)、15…異物測定用検出器(排水路間)、16…異物測定用光源(三方電磁弁−三方電磁弁間)、17…異物測定用検出器(三方電磁弁−三方電磁弁間)、18…異物測定用光源(供給水路間)、19…異物測定用検出器(供給水路間)、20…異物測定用光源(三方電磁弁−反応槽間)、21…異物測定用検出器(三方電磁弁−反応槽間)、22…ポンプ、23…三方電磁弁、24…循環・排水用流路(反応槽−フィルタ間)、25…循環・排水用流路(フィルタ−ポンプ間)、26…循環・排水用流路(ポンプ−三方電磁弁間)、27…排出用流路、28…循環用流路(三方電磁弁−脱気ユニット・三方電磁弁間)、29…供給用流路、30…循環用流路(反応槽−三方電磁弁間)、31…検出回路部、32…演算部、33…記憶領域、34…制御部、35…表示部、36…脱気ユニット。

Claims (5)

  1. 測定対象を格納する反応容器と、
    循環水が入った反応層に設置された前記反応容器に光を照射する分析用光源と、
    前記反応容器内の前記測定対象の液体からの散乱光を検出する分析用検出器と、
    前記分析用検出器の検出信号を処理する処理部と、
    前記循環水の流路上に少なくとも1つ設けられた異物測定用光源と、
    前記異物測定用光源に対応して設置され、前記異物測定用光源からの光による前記流路上の循環水からの散乱光を検出する異物測定用検出器と、
    前記循環水の異物を除去して蓄積するフィルタとを備え、
    前記処理部は、前記異物測定用検出器からの検出信号に基づいて、前記循環水中の異物を検出し、その検出情報に基づいて、前記循環水の流路の給水、排水、および流水の方向を制御することを特徴とする分析装置。
  2. 請求項1に記載の分析装置において、
    前記処理部は、前記異物測定用検出器で、前記異物が基準値以上検知された際、前記異物を取り除くための改善処理を行うことを特徴とする分析装置。
  3. 請求項2に記載の分析装置において、
    前記改善処理は、前記循環水の流路を逆流させ、前記フィルタに蓄積した前記異物を洗浄することで行うことを特徴とする分析装置。
  4. 請求項2または3に記載の分析装置において、
    前記処理部は、前記異物が基準値以上検知された際、オペレーション時には警告を出し、オペレーション停止時には前記改善処理を行うことを特徴とする分析装置。
  5. 請求項4に記載の分析装置において、
    前記処理部は、前記異物が基準値以上検知された際、オペレーション時には、前記分析用検出器による測定結果に対して警告の情報を付加することを特徴とする分析装置。
JP2010253407A 2010-11-12 2010-11-12 分析装置 Active JP5563957B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010253407A JP5563957B2 (ja) 2010-11-12 2010-11-12 分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010253407A JP5563957B2 (ja) 2010-11-12 2010-11-12 分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012103183A true JP2012103183A (ja) 2012-05-31
JP5563957B2 JP5563957B2 (ja) 2014-07-30

Family

ID=46393749

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010253407A Active JP5563957B2 (ja) 2010-11-12 2010-11-12 分析装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5563957B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015198730A1 (ja) * 2014-06-26 2015-12-30 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP2018063227A (ja) * 2016-10-14 2018-04-19 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6040937A (ja) * 1983-08-16 1985-03-04 Shimadzu Corp 免疫反応測定装置
JPS6166151A (ja) * 1984-09-08 1986-04-04 Olympus Optical Co Ltd 免疫反応の自動測定装置
JPS6385334A (ja) * 1986-09-30 1988-04-15 Toshiba Corp 分析装置用恒温装置
JPS63212869A (ja) * 1987-02-28 1988-09-05 Shimadzu Corp 自動化学分析装置
JPH01161154A (ja) * 1987-12-17 1989-06-23 Toshiba Corp 自動化学分析装置の恒温槽
JPH049750A (ja) * 1990-04-27 1992-01-14 Shimadzu Corp 恒温槽浸漬型分析装置
JPH05164762A (ja) * 1991-12-17 1993-06-29 Hitachi Ltd 自動分析装置および容器の汚染判定方法
JPH0850107A (ja) * 1994-08-08 1996-02-20 Mitsubishi Electric Corp 水槽内汚れ検知装置
JPH09318635A (ja) * 1996-05-30 1997-12-12 Hitachi Ltd 自動分析装置
JP2000140783A (ja) * 1998-11-13 2000-05-23 Meidensha Corp 連続式有機汚濁モニタにおける検水槽の洗浄方法
JP2000221195A (ja) * 1999-02-03 2000-08-11 Toshiba Iyo System Engineering Kk プロゾーン判定方法、それを格納した記憶媒体およびそれを用いた自動分析装置
JP2001174465A (ja) * 1999-12-15 2001-06-29 Shimadzu Corp 血液凝固分析装置
JP2010151519A (ja) * 2008-12-24 2010-07-08 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6040937A (ja) * 1983-08-16 1985-03-04 Shimadzu Corp 免疫反応測定装置
JPS6166151A (ja) * 1984-09-08 1986-04-04 Olympus Optical Co Ltd 免疫反応の自動測定装置
JPS6385334A (ja) * 1986-09-30 1988-04-15 Toshiba Corp 分析装置用恒温装置
JPS63212869A (ja) * 1987-02-28 1988-09-05 Shimadzu Corp 自動化学分析装置
JPH01161154A (ja) * 1987-12-17 1989-06-23 Toshiba Corp 自動化学分析装置の恒温槽
JPH049750A (ja) * 1990-04-27 1992-01-14 Shimadzu Corp 恒温槽浸漬型分析装置
JPH05164762A (ja) * 1991-12-17 1993-06-29 Hitachi Ltd 自動分析装置および容器の汚染判定方法
JPH0850107A (ja) * 1994-08-08 1996-02-20 Mitsubishi Electric Corp 水槽内汚れ検知装置
JPH09318635A (ja) * 1996-05-30 1997-12-12 Hitachi Ltd 自動分析装置
JP2000140783A (ja) * 1998-11-13 2000-05-23 Meidensha Corp 連続式有機汚濁モニタにおける検水槽の洗浄方法
JP2000221195A (ja) * 1999-02-03 2000-08-11 Toshiba Iyo System Engineering Kk プロゾーン判定方法、それを格納した記憶媒体およびそれを用いた自動分析装置
JP2001174465A (ja) * 1999-12-15 2001-06-29 Shimadzu Corp 血液凝固分析装置
JP2010151519A (ja) * 2008-12-24 2010-07-08 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015198730A1 (ja) * 2014-06-26 2015-12-30 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JPWO2015198730A1 (ja) * 2014-06-26 2017-04-27 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
US10537893B2 (en) 2014-06-26 2020-01-21 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analysis apparatus
JP2018063227A (ja) * 2016-10-14 2018-04-19 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP5563957B2 (ja) 2014-07-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20140202497A1 (en) Methods and apparatus to monitor and control cleaning systems
CN105738287B (zh) 水质分析仪
JP2009204448A (ja) 自動分析装置
EP3163305B1 (en) Automatic analytical apparatus
CN107966406A (zh) 一种水质自动检测设备
JP2003294763A (ja) 自動分析装置及びその管理システム
JP2010151519A (ja) 自動分析装置
WO2016002394A1 (ja) 血液凝固検査装置
CN111094993A (zh) 自动分析装置以及自动分析方法
US11041874B2 (en) Automatic analyzer
JP5563957B2 (ja) 分析装置
WO2006043900A1 (en) A water quality testing system
JP2010236967A (ja) 自動分析装置
JP2004251802A (ja) 自動分析装置
WO2011090173A1 (ja) 自動分析装置
JP5086286B2 (ja) 自動分析装置
JP2016206200A (ja) ピペット分注針のための洗浄ステーションの機能を監視する方法
JP2009174997A (ja) 自動分析装置
CN207623217U (zh) 一种水质自动检测设备
CN116481982A (zh) 一种基于库尔特粒度检测仪的颗粒检测方法及检测仪
KR20070079695A (ko) 반도체 웨이퍼의 세정 설비
JP4409489B2 (ja) 薬液濃度モニタ
JP7316898B2 (ja) 監視システムおよび監視方法
US20060160239A1 (en) Method of measuring a level of contamination in a chemical solution and systems thereof
JP6758821B2 (ja) 自動分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20121205

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130717

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130723

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130924

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140304

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140501

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140527

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140613

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5563957

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350