JP2012093231A - 疲労試験装置 - Google Patents

Abstract

【課題】実機条件の負荷による疲労試験を実施することが可能な疲労試験装置を提供する。
【解決手段】疲労試験装置は、外部波形発生部１１と、制御部１２と、駆動部１３とを具備する。外部波形発生部１１は、実機での荷重又は変位に合わせた時系列の波形データ２１に基づいて、波形信号３１を生成する。制御部１２は、波形信号３１に基づいて、駆動信号３２を生成する。駆動部１３は、駆動信号３２に基づいて、供試体２に負荷３３として荷重又は変位を与える。
【選択図】図２

Description

本発明は、疲労試験装置に関する。

供試体を疲労試験する疲労試験装置が知られている。疲労試験装置は、一般的に、定常波（一定振幅）及び簡単なプログラム波形に対応した荷重を供試体に付与することが可能である。図１は、典型的な疲労試験装置１０１の構成を示すブロック図である。疲労試験装置１０１は、制御装置１１２とアクチュエータ１１３とロードセル１１４と変位計１１５を備えている。制御装置１１２は、定常波（一定振幅）又は簡単なプログラム波形に対応した駆動信号１３２を出力する。アクチュエータ１１３は、駆動信号１３２に基づいて、供試体１１２に負荷（荷重又は変位）１３３を与える。ロードセル１１４は、アクチュエータ１１３が供試体１１２に与える荷重と同じ荷重を与えられ、その荷重を計測し、計測結果１４１を制御装置１１２に出力する。変位計１１５は、アクチュエータ１１３の作用により供試体１１２に与えられた変位を計測し、計測結果１４２を制御装置１１２に出力する。制御装置１１２は、ロードセル１１４で計測された荷重及び／又は変位計１１５で計測された変位と、出力した定常波又は簡単なプログラム波形とに基づいて、駆動信号１３２を調整する。

上述のような既存の装置は、実機（例示：航空機、ロケット、船舶、車両）の条件の負荷を発生することは困難である。実機では、波形の数及び種類が膨大で、それらが複雑に組み合わされたスペクトラム波の負荷が発生するからである。既存の装置は、そのような複雑なスペクトラム波を供試体に負荷として与えることは困難であり、実機条件（スペクトラム波）の負荷で供試体を疲労試験することが難しい。その一方で、実機の設計の精度を向上させるため、実機条件の負荷による疲労試験の実施を要求されるケースが増加してきている。実機条件の負荷による疲労試験を実行可能な技術が望まれる。

関連する技術として、特開２００９−８５８４８号公報（特許文献１）に疲労試験装置が開示されている。この疲労試験装置は、サーボモータによってワークに繰り返し荷重を加える。この疲労試験装置は、波形データ入力手段と、第１のスペクトル演算手段と、スペクトルデータ補正手段と、ワーク試験手段と、出力波形データ取得手段と、第２のスペクトル演算手段と、補正係数修正手段とを有する。波形データ入力手段は、離散化された少なくとも一周期分の入力波形データを入力する。第１のスペクトル演算手段は、該入力波形データをスペクトルに変換する演算を行い初期スペクトルデータを生成する。スペクトルデータ補正手段は、該初期スペクトルデータにおいて、周波数ごとに定められた補正係数を該初期スペクトルデータの各スペクトル成分に乗じて第１のスペクトルデータを生成する。ワーク試験手段は、該第１のスペクトルデータを逆変換して得られる試験用波形データに基づいてテスト用ワークを変形させる。出力波形データ取得手段は、ワーク試験手段によって加えられるテスト用ワークの変形量の変動を示す出力波形データを取得する。第２のスペクトル演算手段は、該出力波形データに基づいて該テスト用ワークの変形量の変動波形のスペクトルを演算して第２のスペクトルデータを得る。補正係数修正手段は、該入力スペクトルデータの各周波数のスペクトル成分と、該第２のスペクトルデータの対応する周波数のスペクトル成分とに基づいて、該補正係数を修正する。

また、実用新案登録第３１１９６１０号公報（特許文献２）に疲労試験機および逆伝達関数演算装置が開示されている。この疲労試験機は、目標波形に逆伝達関数を乗じて生成された駆動信号により負荷アクチュエータを駆動して供試体に負荷を加えるようにしている。この疲労試験機は、目標波形生成手段と、逆伝達関数演算手段と駆動信号生成手段とを備えている。目標波形生成手段は、目標波形を生成する。逆伝達関数演算手段は、逆伝達関数を演算する。駆動信号生成手段は、目標波形と逆伝達関数とにより駆動信号を生成する。逆伝達関数算出手段は、伝達関数算出部と、逆伝達関数算出部とを含む。伝達関数算出部は、供試体に入力するランダム波形信号と、そのランダム波形信号の入力により得られる検出波形信号との比に基づいて伝達関数を算出する。逆伝達関数算出部は、算出された伝達関数の逆数を算出して逆伝達関数を算出する。ランダム波形信号は、低周波数域では高い分解能で選択した周波数成分を含み、高周波数域では粗い分解能で選択した周波数成分を含む。

特開２００９−８５８４８号公報 実用新案登録第３１１９６１０号公報

本発明の目的は、実機条件（スペクトラム波）の負荷による疲労試験を実施することが可能な疲労試験装置を提供することにある。

この発明のこれらの目的とそれ以外の目的と利益とは以下の説明と添付図面とによって容易に確認することができる。

以下に、発明を実施するための形態で使用される番号・符号を用いて、課題を解決するための手段を説明する。これらの番号・符号は、特許請求の範囲の記載と発明を実施するための形態との対応関係を明らかにするために括弧付きで付加されたものである。ただし、それらの番号・符号を、特許請求の範囲に記載されている発明の技術的範囲の解釈に用いてはならない。

上記課題を解決するために、本発明の疲労試験装置は、外部波形発生部（１１）と、制御部（１２）と、駆動部（１３）とを具備する。外部波形発生部（１１）は、実機での荷重又は変位に合わせた時系列の波形データ（２１）に基づいて、波形信号（３１）を生成する。制御部（１２）は、波形信号（３１）に基づいて、駆動信号（３２）を生成する。駆動部（１３）は、駆動信号（３２）に基づいて、供試体（２）に負荷（３３）として荷重又は変位を与える。

上記の疲労試験装置において、駆動部（１３）が与える荷重の大きさを計測する荷重計測部（１４）及び駆動部（１３）が与える変位の大きさを計測する変位計測部（１５）のうちの少なくとも一方を更に具備することが好ましい。その場合、波形生成部（１１）は、荷重計測部（１４）及び変位計測部（１５）の少なくとも一方の計測結果と波形データ（２１）とに基づいて、計測結果が波形データ（２１）に対応するように、波形信号（３１）を補正する。

上記の疲労試験装置において、外部波形発生部（１１）は、波形生成部（２２）と、信号生成部（２３）とを備えることが好ましい。その場合、波形生成部（２２）は、波形データ（２１）に基づいて、波形（２２ａ）を生成する。信号生成部（２３）は、波形（２２ａ）に基づいて、前記波形信号（３１）を生成する。

上記の疲労試験装置において、外部波形発生部（１１）は、倍率の値の入力に基づいて、波形信号（３１）の振幅に当該倍率の値を掛けた信号を波形信号（３１）として出力することが好ましい。

上記の疲労試験装置において、波形データ（２１）は、負荷の回数、負荷の最大値、負荷の最小値を含むことが好ましい。

上記の疲労試験装置において、供試体（２）に生じるき裂長さ（３５）を計測するき裂計測部（３）を更に具備することが好ましい。その場合、き裂計測部（３）は、波形データ（２１）とき裂長さ（３５）とに基づいて、き裂進展特性を算出する。

本発明により、実機条件（スペクトラム波）の負荷による疲労試験を実施することが可能となる。

図１は、典型的な疲労試験装置の構成を示すブロック図である。 図２は、本発明の実施の形態に係る疲労試験装置の構成を示すブロック図である。 図３は、本発明の実施の形態に係るスペクトラム発生装置の構成を示すブロック図である。 図４は、本発明の実施の形態に係る波形データの一例を示すテーブルである。 図５は、本発明の第２の実施の形態に係る疲労試験装置の構成を示すブロック図である。 図６は、負荷の回数とき裂長さとの関係の一例を示すグラフである。

以下、本発明の実施の形態に係る疲労試験装置について、添付図面を参照して説明する。

（第１の実施の形態）
本発明の第１の実施の形態に係る疲労試験装置の構成について説明する。
図２は、本発明の第１の実施の形態に係る疲労試験装置の構成を示すブロック図である。疲労試験装置１は、実機条件（スペクトラム波）の負荷を供試体２に付与して疲労試験を実施する。ここで実機は、航空機、ロケット、船舶、車両に例示される。疲労試験装置１は、スペクトラム発生装置１１と、制御装置１２と、アクチュエータ１３と、ロードセル１４と、変位計１５を具備している。

スペクトラム発生装置１１は、実機での負荷（荷重又は変位）を模擬する時系列の波形データに基づいて、波形を示す波形信号３１を生成する。制御装置１２は、波形信号３１に基づいて、駆動信号３２を生成する。駆動信号３２は、波形信号３１で示される波形通りに負荷（荷重又は変位）を供試体に与えるようにアクチュエータ１３を駆動させる信号である。アクチュエータ１３は、駆動信号３２に基づいて、波形信号３１で示される波形通りの負荷（荷重又は変位）３３を供試体２に与える。ロードセル１４は、アクチュエータ１３が供試体２に与える荷重と同じ荷重を与えられ、その荷重を連続的（経時的）に計測し、計測結果４１をスペクトラム発生装置１１に出力する。変位計１５は、アクチュエータ１３の作用により供試体１２に与えられた変位を連続的（経時的）に計測し、計測結果４２をスペクトラム発生装置１１に出力する。

スペクトラム発生装置１１は、更に、ロードセル１４からの計測結果４１及び変位計１５からの計測結果４２のうちの少なくとも一方をフィードバックされる。そして、計測結果４１及び計測結果４２のうちの少なくとも一方と実機での負荷を模擬する波形データとに基づいて、少なくとも一方の計測結果が波形データに対応するように（波形データの負荷を再現するように）、波形信号３１を補正（調整）する。なお、計測結果４１、４２のフィードバック先は、制御装置１２であっても良い。

次に、スペクトラム発生装置１１について更に説明する。
図３は、本発明の第１の実施の形態に係るスペクトラム発生装置１１の構成を示すブロック図である。スペクトラム発生装置１１は、波形生成部２２と、信号生成部２３と、Ｄ／Ａ変換部２４とを具備している。ただし、波形データ２１は、外部で生成され、ネットワーク又は記録媒体を介してスペクトラム発生装置１１のメモリ（例示：ＨＤＤ、ＲＡＭ、不揮発性メモリ；図示されず）に予め入力されている。

波形生成部２２は、実機条件での負荷（荷重又は変位）に合わせた時系列の波形データ２１に基づいて、波形２２ａを生成する。波形データ２１は、所定の時間単位毎の波形の条件を示し、例えば、波（振動）の最大値や最小値、周期の数（波の繰り返しの数）を含んだ、時系列のデータである。その時系列データにおいて、波形の数や種類や組合せには制限がなく、任意の数や種類や組合せの波形を用いることができる。波形２２ａは、サイン波（ｓｉｎ波）や、台形波や、のこぎり波や、それらの組合せに例示される。波形を発生させる方法は従来の技術を用いることができる。

信号生成部２３は、波形生成部２２で生成された波形２２ａを信号化して、波形信号３１（Ａ）を生成する。波形信号３１（Ａ）はアナログ信号である。また、信号生成部２３は、ロードセル１４から計測結果４１や変位計１５から計測結果４２を受け取る。計測結果４１、４２は、荷重や変位の時間変化、すなわち波形として得られる。そして、波形生成部２２で生成された波形２ａと、計測結果４１、４２の少なくとも一方とを比較して、計測結果４１、４２が波形２２ａに対応するように（波形２２ａの負荷を再現するように）、波形信号３１（Ａ）を制御する。例えば、波形２２ａを目標値とし、計測結果４１、４２入力値とし、波形信号３１（Ａ）を出力値とするＰＩＤ制御をする。ＰＩＤ制御における比例ゲイン、積分ゲイン、微分ゲインは、予め実験やシミュレーション等で設定しておく。

Ｄ／Ａ変換部２４は、アナログ信号の波形信号３１（Ａ）をＤ／Ａ変換してデジタル信号の波形信号３１として出力する。

スペクトラム発生装置１１では、設定項目として、少なくとも、１波のポイント数、サンプリング周波数、リピート回数、係数を設定することができる。１波のポイント数は、１周期分の波の形状を規定する時間と振幅との組で表される点（座標）の数である。サンプリング周波数は、Ｄ／Ａ変換においてサンプリングする周波数である。リピート回数は、１つの波形データ２１で示されるスペクトラム波形を繰返す回数である。係数は、１つの波形データ２１で示されるスペクトラム波形を任意の倍率で変更するときの倍率である。１波のポイント数、リピート回数、及び係数は、例えば、波形生成部２２に入力される。サンプリング周波数は、例えば、Ｄ／Ａ変換部２４に入力される。

スペクトラム発生装置１１の例えば波形生成部２２は、波形データ２１に基づいて、リアルタイムで波形のカウント数、試験のトータル時間、試験の残り時間、波形の周波数、波形を把握している。ただし、波形のカウント数は、試験開始からその時点までの累積の波形の数であり、１周期分の波形につき１個カウントされる。試験のトータル時間は、試験開始から試験終了までの時間である。試験の残り時間は、試験トータル時間からその時点までの試験時間を引いた時間である。波形の周波数は、その時点での波形の周波数である。波形は、その時点での波の形である。これら波形のカウント数、試験のトータル時間、試験の残り時間、波形の周波数、波形は、スペクトラム発生装置１１付属の表示装置又は外部接続された表示装置（いずれも図示されず）にリアルタイムで表示される。

また、それらのデータは、例えば、試験中、スペクトラム発生装置１１内のフラッシュメモリのような不揮発メモリ（図示されず）に、試験経過時刻と共に、随時書き込まれ、記録されていく。従って、スペクトラム発生装置１１では、試験中（連続負荷中）に何らかの原因で疲労試験装置が停止した場合でも、停止時の波形のカウント数が記録に残る。そのため、疲労試験装置を再スタートさせる場合には、再スタートさせたい波形のカウント数を入力すれば、入力したカウント数の波形から負荷を再開することができる。すなわち、任意の波形からスタート可能である。

次に、波形データ２１について説明する。
図４は、本発明の第１の実施の形態に係る波形データの一例を示すテーブルである。波形データ２１は、実機条件に合わせた負荷（荷重又は変位）の時系列データ（スペクトラム波形データ）である。すなわち、実機において時系列で発生する荷重や変位を示すデータである。ファイル形式は、テキストファイルやＣＳＶ（Ｃｏｍｍａ−Ｓｅｐａｒａｔｅｄ Ｖａｌｕｅｓ）ファイルに例示される。この図の例では、波形データ２１は、負荷回数、負荷（荷重）の最大値Ｍａｘ（ｔｏｎｆ）、負荷（荷重）の最小値Ｍｉｎ（ｔｏｎｆ）、及び負荷シーケンスＮｏ．の各要素を有し、それらが互いに関連付けられている。

ここで、負荷回数は、その負荷（荷重）を与える回数を示している。例えば、この図において、負荷回数“１”の場合には１回、“３”の場合には３回、その欄（行）の負荷を与えることを示している。負荷としてサイン波（ｓｉｎ波）を想定している場合、１回はサイン波１周期分となり、３回はサイン波３周期分となる。

Ｍａｘ（ｔｏｎｆ）は、与える負荷の最大値を示している。Ｍｉｎ（ｔｏｎｆ）は、与える負荷（荷重）の最小値を示している。負荷としてサイン波（ｓｉｎ波）を想定している場合、Ｍａｘ（ｔｏｎｆ）は１周期内のサイン波の山での最大値であり、Ｍｉｎ（ｔｏｎｆ）は１周期内のサイン波の谷での最小値である。例えば、この図において、Ｍａｘ＝５ｔｏｎｆ、Ｍｉｎ＝０ｔｏｎｆの場合には、最大値（山の頂点）が５ｔｏｎｆ、最小値（谷の底）が０ｔｏｎｆのサイン波を示している。

負荷シーケンスＮｏ．は、一つながりの負荷を示すＩＤである。例えば、負荷シーケンスＮｏ．“１”は、９個の負荷が連続的に行われる一連の負荷試験を示している。負荷試験は、複数の負荷シーケンスを並べて連続的に行う。例えば、負荷シーケンスＮｏ．１〜５が有る場合、負荷試験はＮｏ．１〜５を連続的に行う。ただし、各シーケンスを個別に行っても良いし、複数の負荷シーケンスを所望の順番に並べ替えて連続的に行っても良い。また、各負荷シーケンスのうちどこから始めてもよい。すなわち、任意の波形からスタートが可能である。

このような波形データ２１は、例えば、実機の専用プログラムを用いて、実機運用条件を模擬した時系列データを作成することで、取得することができる。あるいは、実機において計測することにより取得することができる。例えば、航空機用の波形データ２１は、航空機専用プログラムを用いて、航空機の運航条件を模擬して作成することができる。なお、波形データ２１に関しては特に制限は無く、データ数にも制限は無い。また、波形の倍率を任意に変更できる。

次に、本発明の第１の実施の形態に係る疲労試験装置１の動作について説明する。
まず、実機条件に合わせた荷重又は変位の時系列データである波形データ２１（例示：図４の波形データ）を取得する。そして、その波形データ２１をスペクトラム発生装置１１に入力する。スペクトラム発生装置１１は、波形データ２１を自身の記憶装置内に記憶する。

次に、供試体２を疲労試験装置１の所定の位置に固定する。その後、スペクトラム発生装置１１は、波形データ２１を読み出す。そして、その波形データ２１に基づいて、波形データ２１に対応する波形信号３１を生成して、制御装置１２へ出力する。制御装置１２は、波形信号３１に基づいて、波形信号３１に対応する駆動信号３２を生成して、アクチュエータ１３に出力する。アクチュエータ１３は、駆動信号３２に基づいて、供試体２に負荷（荷重又は変位）３３を与える。

この時、ロードセル１４から荷重の大きさを示す計測結果４１がスペクトラム発生装置１１に出力される。変位計１５から変位の大きさを示す計測結果４２がスペクトラム発生装置１１に出力される。スペクトラム発生装置１１は、計測結果４１及び計測結果４２の少なくとも一方に基づいて、当該少なくとも一方の計測結果が波形データ２１に対応するように、ＰＩＤ制御などにより波形信号３１を補正（調整）する。

これら一連の動作は、波形データ２１の負荷シーケンス（例示：図４では負荷シーケンスＮｏ．１〜５）をすべて終了するまで続けられる。

以上、説明されたように、本実施の形態では、疲労試験において、実機条件のような波形の種類及び数が膨大で複雑なスペクトラム波の負荷を、スペクトラム発生装置を用いることにより、供試体に付与することが可能となる。それにより、複雑な実機条件に合った試験を供試体に対して行い、供試体の疲労に関する詳細なデータを得ることができる。その結果、実機の設計の精度を向上させることが可能となる。

（第２の実施の形態）
本発明の第２の実施の形態に係る疲労試験装置の構成について説明する。
図５は、本発明の第２の実施の形態に係る疲労試験装置の構成を示すブロック図である。本実施の形態の疲労試験装置１は、第１の実施の形態の場合と比較して、き裂モニタリング装置３を更に具備している点で第１の実施の形態と異なっている。その他については、第１の実施の形態と同様である。従って、以下では、き裂モニタリング装置３について説明する。

き裂モニタリング装置３は、疲労試験中に供試体２に生じるき裂の状態をモニタし、計測する。例えば、き裂の状態として供試体２に生じるき裂の長さ３５を計測する。更に、き裂モニタリング装置３は、き裂状態の計測と同時に、スペクトラム発生装置１１（の波形生成部２２）から波形データ２１の波形のカウント数を取得する。波形のカウント数は負荷の回数に対応している。そして、き裂モニタリング装置３は、自動で負荷の回数とき裂の長さとの関係をグラフ化して、付属の表示装置又は外部接続された表示装置（いずれも図示されず）にリアルタイムで表示する。このように、負荷の回数と同時にき裂のモニタリングが可能である。なお、供試体２には、ノッチ又は予めき裂が設けられている。

き裂モニタリング装置３におけるき裂長さの検知方法としては、電気ポテンシャル法、センサによる検知（クラックゲージ）、画像処理などの公知の技術を用いることができる。また、スペクトラム発生装置１１から取得するデータとしては、例えば負荷の最大値（Ｍａｘ（ｔｏｎｆ））などのような波形データ２１に含まれる他のデータであっても良い。その場合、き裂モニタリング装置３は、き裂長さと他のデータとの関係をグラフ化して表示する。

図６は、負荷の回数とき裂長さとの関係の一例を示すグラフである。横軸は負荷の回数（繰返し数（回））を示し、縦軸はき裂長さ（ｍｍ）を示している。グラフは、例えば、き裂長さが所定の長さ分だけ（例示：１ｍｍピッチ）進展したとき、その時点での繰返し数（累積の回数）とき裂長さ（累積の長さ：ｍｍ）との関係を示している。すなわち、き裂進展特性を表している。

例えば、図４のような波形データ２１を用いて試験をする場合、き裂モニタリング装置３を用いることで、波形データ２１（スペクトラム波形）において、何番目の負荷シーケンスの、何番目の負荷により、どの程度き裂が進展したかを把握することが可能となる。それにより、実機条件における負荷の問題点を的確に把握することができる。

次に、本発明の第１の実施の形態に係る疲労試験装置１の動作について説明する。ここでは、き裂モニタリング装置３に関わる動作について説明する。それ以外の疲労試験装置１の動作は、第１の実施の形態と同様である。

疲労試験中において、き裂モニタリング装置３は、スペクトラム発生装置１１から波形データ２１の波形のカウント数を連続的に（例示：一カウント毎に）取得する。波形のカウント数は負荷の回数に対応している。き裂モニタリング装置３は、波形のカウント数を自身の記憶装置に記憶する。また、き裂モニタリング装置３は、波形のカウント数の取得と同時に、供試体２に生じるき裂の長さを連続的に計測している。そして、き裂モニタリング装置３は、き裂長さが所定の長さ分だけ（例示：１ｍｍピッチ）進展したとき、その時点でのカウント数（累積の繰り返し数）とき裂長さ（累積の長さ）との関係を表示装置にプロットする。

本実施の形態の場合にも、第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。加えて、負荷の回数とき裂長さとの関係を自動的に把握することができる。

本発明は上記各実施の形態に限定されず、本発明の技術思想の範囲内において、各実施の形態は適宜変形又は変更され得ることは明らかである。また、技術的矛盾が発生しない限り、各実施の形態の技術は適宜組み合わせて使用可能である。

１ 疲労試験装置
２ 供試体
３ き裂モニタリング装置
１１ スペクトラム発生装置
１２ 制御装置
１３ アクチュエータ
１４ ロードセル
１５ 変位計
２１ 波形データ
２２ 波形生成部
２３ 信号生成部
２４ Ｄ／Ａ変換部
１０１ 疲労試験装置
１０２ 供試体
１１２ 制御装置
１１３ アクチュエータ
１１４ ロードセル
１１５ 変位計
１３２ 駆動信号
１３３ 荷重又は変位
１４１ 荷重フィードバック信号
１４２ 変位フィードバック信号

Claims (6)

1. 実機での荷重又は変位に合わせた時系列の波形データに基づいて、波形信号を生成する外部波形発生部と、
   前記波形信号に基づいて、駆動信号を生成する制御部と、
   前記駆動信号に基づいて、供試体に負荷として荷重又は変位を与える駆動部と
   を具備する
   疲労試験装置。
2. 請求項１に記載の疲労試験装置において、
   前記駆動部が与える荷重の大きさを計測する荷重計測部及び前記駆動部が与える変位の大きさを計測する変位計測部のうちの少なくとも一方を更に具備し、
   前記波形生成部は、前記荷重計測部及び前記変位計測部の少なくとも一方の計測結果と前記波形データとに基づいて、前記計測結果が前記波形データに対応するように、前記波形信号を補正する
   疲労試験装置。
3. 請求項１又は２に記載の疲労試験装置において、
   前記外部波形発生部は、
   前記波形データに基づいて、波形を生成する波形生成部と、
   前記波形に基づいて、前記波形信号を生成する信号生成部と
   を備える
   疲労試験装置。
4. 請求項１乃至３のいずれか一項に記載の疲労試験装置において、
   前記外部波形発生部は、倍率の値の入力に基づいて、前記波形信号の振幅に当該倍率の値を掛けた信号を前記波形信号として出力する
   疲労試験装置。
5. 請求項１乃至４のいずれか一項に記載の疲労試験装置において、
   前記波形データは、前記負荷の回数、前記負荷の最大値、前記負荷の最小値を含む
   疲労試験装置。
6. 請求項１乃至５のいずれか一項に記載の疲労試験装置において、
   前記供試体に生じるき裂長さを計測するき裂計測部を更に具備し、
   前記き裂計測部は、前記波形データと前記き裂長さとに基づいて、き裂進展特性を算出する
   疲労試験装置。

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