JP6544256B2 - 測定装置および材料試験機 - Google Patents
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Description
11 ねじ棹
13 クロスヘッド
14 ロードセル
16 テーブル
18 変位計
19 カバー
21 上つかみ具
22 下つかみ具
23 制御部
26 表示部
30 負荷機構
40 ひずみゲージブリッジ回路
51 DAC
52 オペアンプ
53 パワーアンプ
54 オペアンプ
55 パワーアンプ
56 計装アンプ
57 LPF
58 ADC
60 FPGA
61 波形メモリ
62 波形メモリ
63 タイミング制御部
64 DACI/F
65 ADCI/F
66 乗算器
67 積算器
68 オフセット減算部
69 ゲイン乗算部
Claims (6)
- 被測定物に生じた物理量の変化を電圧に変換するひずみゲージブリッジ回路を有し、励起信号を生成して前記ひずみゲージブリッジ回路を駆動するとともに、当該励起信号に対する応答であるひずみ信号を受け取る測定回路を備えた測定装置において、
前記測定回路は、
類似矩形波の1周期分の波形データを記憶させる第1メモリと、前記波形データの1周期内の各位相に対応するとともに前記波形データよりもパルス幅が狭い乗算データを記憶させる第2メモリを有し、前記波形データに基づいて類似矩形波を前記励起信号として生成するとともに、前記ひずみ信号に対して前記乗算データを乗算することにより、前記ひずみ信号における、前記第1メモリに記憶されている1周期分の前記波形データの極性が変わった直後に相当する領域のデータを破棄して、所定の領域のデータのみを採取することを特徴とする測定装置。 - 請求項1に記載の測定装置において、
前記第1メモリに記憶された前記波形データは上下対称となっている測定装置。 - 請求項1または請求項2に記載の測定装置において、
前記第1メモリに記憶された前記波形データは、前記波形データの波形の立ち上がりおよび立ち下がり部分が曲線状の波形である測定装置。 - 請求項1または請求項2に記載の測定装置において、
前記第1メモリに記憶された前記波形データは、前記波形データにおける最高値および最低値である時間を通常矩形波よりも小さくした波形である測定装置。 - 試験片に試験力を与える負荷機構を備え、材料試験を実行する材料試験機であって、
請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の測定装置を備えることを特徴とする材料試験機。 - 請求項5に記載の材料試験機において、
前記測定装置は、前記試験片に与えられた試験力を検出するロードセルを含む測定装置、または、前記試験片に生じた変位を検出する変位計を含む測定装置である材料試験機。
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