JPH05157642A - 計測装置 - Google Patents
計測装置Info
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- JPH05157642A JPH05157642A JP34764491A JP34764491A JPH05157642A JP H05157642 A JPH05157642 A JP H05157642A JP 34764491 A JP34764491 A JP 34764491A JP 34764491 A JP34764491 A JP 34764491A JP H05157642 A JPH05157642 A JP H05157642A
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- signal
- temperature
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ひずみゲージブリッジや温度検出ブリッジに
より検出されたひずみ信号の補正処理を行って、正確な
計測値が得られるようにする。 【構成】 ひずみゲージブリッジ１や温度検出ブリッジ
で検出した信号により変調された微小矩形波信号をディ
ジタルに変換するアナログ／ディジタル変換器３と、矩
形波電圧信号を取り出すレベル変換回路１６とを設け
て、マイクロプロセッサ５に、上記矩形波電圧信号によ
って上記信号に補正処理を加えさせる。
より検出されたひずみ信号の補正処理を行って、正確な
計測値が得られるようにする。 【構成】 ひずみゲージブリッジ１や温度検出ブリッジ
で検出した信号により変調された微小矩形波信号をディ
ジタルに変換するアナログ／ディジタル変換器３と、矩
形波電圧信号を取り出すレベル変換回路１６とを設け
て、マイクロプロセッサ５に、上記矩形波電圧信号によ
って上記信号に補正処理を加えさせる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ひずみ計測素子や温
度計測素子の電気抵抗の変化を、電圧に変換することに
より、信号中のひずみデータや温度データを計測する計
測装置に関するものである。
度計測素子の電気抵抗の変化を、電圧に変換することに
より、信号中のひずみデータや温度データを計測する計
測装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図３は例えば特願平３−１５２１９６号
に示された従来のひずみや温度を計測する計測装置を示
すブロック図であり、図において、１は被計測体に貼り
付けられた例えばひずみゲージと、このひずみゲージに
比較して温度計数が非常に小さい抵抗体とからなるひず
みゲージブリッジ、２は差動増幅器、３は信号をマイク
ロプロセッサ５にディジタルデータとして入力するアナ
ログ／ディジタル変換器、４はアナログ／ディジタル変
換器３に入力する信号を選択するアナログスイッチ、５
は矩形波の制御，信号のサンプル，演算処理などのディ
ジタル処理を行う上記のマイクロプロセッサである。
に示された従来のひずみや温度を計測する計測装置を示
すブロック図であり、図において、１は被計測体に貼り
付けられた例えばひずみゲージと、このひずみゲージに
比較して温度計数が非常に小さい抵抗体とからなるひず
みゲージブリッジ、２は差動増幅器、３は信号をマイク
ロプロセッサ５にディジタルデータとして入力するアナ
ログ／ディジタル変換器、４はアナログ／ディジタル変
換器３に入力する信号を選択するアナログスイッチ、５
は矩形波の制御，信号のサンプル，演算処理などのディ
ジタル処理を行う上記のマイクロプロセッサである。
【０００３】また、６はマイクロプロセッサ５の基準ク
ロック９を分周し、所要の周波数の矩形波を出力するデ
ィジタル出力回路、７は矩形波を正と負の矩形波に励振
する矩形波ドライバー、８はひずみゲージブリッジ１に
矩形波電圧を供給するブリッジ励振トランス、９はマイ
クロプロセッサ５からの矩形波生成のための上記の基準
クロック、１０はディジタル出力回路６によって生成さ
れた矩形波、１１は矩形波ドライバー７により正，負に
励振された矩形波電圧、１２は差動増幅器２によりアナ
ログ／ディジタル変換器３への入力レンジに見合うよう
に増幅されたひずみ出力波形を示す。
ロック９を分周し、所要の周波数の矩形波を出力するデ
ィジタル出力回路、７は矩形波を正と負の矩形波に励振
する矩形波ドライバー、８はひずみゲージブリッジ１に
矩形波電圧を供給するブリッジ励振トランス、９はマイ
クロプロセッサ５からの矩形波生成のための上記の基準
クロック、１０はディジタル出力回路６によって生成さ
れた矩形波、１１は矩形波ドライバー７により正，負に
励振された矩形波電圧、１２は差動増幅器２によりアナ
ログ／ディジタル変換器３への入力レンジに見合うよう
に増幅されたひずみ出力波形を示す。
【０００４】次に動作について説明する。マイクロプロ
セッサ５は自身の回路で発生させたクロックを、ブリッ
ジ励振トランス８の特性に応じた周波数に分周し、図４
の基準クロック９として出力する。次に、この基準クロ
ック９をディジタル出力回路６でさらに２分周した矩形
波１０として矩形波ドライバー７ヘ入力する。
セッサ５は自身の回路で発生させたクロックを、ブリッ
ジ励振トランス８の特性に応じた周波数に分周し、図４
の基準クロック９として出力する。次に、この基準クロ
ック９をディジタル出力回路６でさらに２分周した矩形
波１０として矩形波ドライバー７ヘ入力する。
【０００５】また、矩形波ドライバー７では、その矩形
波１０を正，負に励振された矩形波電圧１１として、ブ
リッジ励振トランス８を経てひずみゲージブリッジ１に
印加する。もし、上記矩形波電圧１１にひずみが発生し
ていれば、ひずみゲージブリッジ１はブリッジでの電圧
バランスがくずれ、ひずみゲージブリッジ１の出力に微
小信号が発生する。
波１０を正，負に励振された矩形波電圧１１として、ブ
リッジ励振トランス８を経てひずみゲージブリッジ１に
印加する。もし、上記矩形波電圧１１にひずみが発生し
ていれば、ひずみゲージブリッジ１はブリッジでの電圧
バランスがくずれ、ひずみゲージブリッジ１の出力に微
小信号が発生する。
【０００６】なお、上記ひずみゲージブリッジ１は、図
５に示すように、ひずみゲージブリッジの抵抗Ｒと温度
計数の小さい抵抗Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３をブリッジ接続した
ものからなり、ブリッジ電圧Ｅである矩形波を入力する
ことで、出力電圧εは、ε＝（Ｒ・Ｒ３−Ｒ１・Ｒ２）
Ｅ／（Ｒ＋Ｒ２）（Ｒ１＋Ｒ３）となる。通常、出力感
度を上げるためには、各辺の抵抗値は、Ｒ＝Ｒ２，Ｒ１
＝Ｒ３のように選定されるため、Ｒ・Ｒ３＝Ｒ１・Ｒ２
となって、ブリッジ出力εは０となる。
５に示すように、ひずみゲージブリッジの抵抗Ｒと温度
計数の小さい抵抗Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３をブリッジ接続した
ものからなり、ブリッジ電圧Ｅである矩形波を入力する
ことで、出力電圧εは、ε＝（Ｒ・Ｒ３−Ｒ１・Ｒ２）
Ｅ／（Ｒ＋Ｒ２）（Ｒ１＋Ｒ３）となる。通常、出力感
度を上げるためには、各辺の抵抗値は、Ｒ＝Ｒ２，Ｒ１
＝Ｒ３のように選定されるため、Ｒ・Ｒ３＝Ｒ１・Ｒ２
となって、ブリッジ出力εは０となる。
【０００７】従って、ひずみや温度などによって抵抗Ｒ
の値が変化すると、これに応じて出力電圧εはその大き
さおよび極性が変化することとなる。また、ひずみの方
向は、基準クロックの立上がりでブリッジ電圧Ｅおよび
出力電圧εを同一時刻でサンプルし、このサンプル点に
おける各電圧極性により判別できる。
の値が変化すると、これに応じて出力電圧εはその大き
さおよび極性が変化することとなる。また、ひずみの方
向は、基準クロックの立上がりでブリッジ電圧Ｅおよび
出力電圧εを同一時刻でサンプルし、このサンプル点に
おける各電圧極性により判別できる。
【０００８】次に、上記微小信号を差動増幅器２で増幅
し、図４にも示すようなひずみ出力波形１２を得て、こ
れをさらにアナログ／ディジタル変換器３へ入力する。
マイクロプロセッサ５は自身の基準クロック９のタイミ
ングにて、矩形波波形の安定したタイミング１４，１５
で、検出したひずみ出力波形１２をサンプルする。
し、図４にも示すようなひずみ出力波形１２を得て、こ
れをさらにアナログ／ディジタル変換器３へ入力する。
マイクロプロセッサ５は自身の基準クロック９のタイミ
ングにて、矩形波波形の安定したタイミング１４，１５
で、検出したひずみ出力波形１２をサンプルする。
【０００９】ひずみの大きさは検出したひずみ出力波形
１２の山または谷の大きさに比例するが、ひずみゲージ
ブリッジ１に印加された矩形波の正，負と、検出したひ
ずみ出力波形１２の山，谷との上記のような関係によ
り、ひずみの方向をも弁別できる。また、ひずみの大き
さは山と谷との差をとることによって、ひずみ出力波形
１２の零レベルの変動の影響を無くすこともできる。
１２の山または谷の大きさに比例するが、ひずみゲージ
ブリッジ１に印加された矩形波の正，負と、検出したひ
ずみ出力波形１２の山，谷との上記のような関係によ
り、ひずみの方向をも弁別できる。また、ひずみの大き
さは山と谷との差をとることによって、ひずみ出力波形
１２の零レベルの変動の影響を無くすこともできる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】従来の計測装置は以上
のように構成されているので、回路自体が低温から高温
までの広範囲な温度雰囲気中に設置される場合に、回路
構成素子の温度特性によって、検出したひずみや温度の
信号レベルが変動するなどの問題点があった。
のように構成されているので、回路自体が低温から高温
までの広範囲な温度雰囲気中に設置される場合に、回路
構成素子の温度特性によって、検出したひずみや温度の
信号レベルが変動するなどの問題点があった。
【００１１】特に、矩形波ドライバー７の出力である矩
形波電圧の周囲温度に対する変動は、ひずみゲージブリ
ッジ１への印加電圧の変動を招き、ひずみ検出に誤差を
生ずる大きな要因になるなどの問題点があった。
形波電圧の周囲温度に対する変動は、ひずみゲージブリ
ッジ１への印加電圧の変動を招き、ひずみ検出に誤差を
生ずる大きな要因になるなどの問題点があった。
【００１２】この請求項１の発明は上記のような問題点
を解消するためになされたもので、ひずみゲージブリッ
ジへの印加矩形波電圧の変動によるひずみ信号の誤差を
補正できる計測装置を得ることを目的とする。
を解消するためになされたもので、ひずみゲージブリッ
ジへの印加矩形波電圧の変動によるひずみ信号の誤差を
補正できる計測装置を得ることを目的とする。
【００１３】また、この請求項２の発明は、温度検出ブ
リッジへの印加矩形電圧の変動による温度検出信号の誤
差を補正できる計測装置を得ることを目的とする。
リッジへの印加矩形電圧の変動による温度検出信号の誤
差を補正できる計測装置を得ることを目的とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】この請求項１の発明に係
る計測装置は、矩形波に生じたひずみを検出する、ひず
みゲージを含んで構成されたひずみゲージブリッジと、
該ひずみゲージブリッジにより得られたひずみ信号によ
り変調された微小矩形波信号をディジタルデータに変換
するアナログ／ディジタル変換器と、上記矩形波電圧を
レベル変換した矩形波電圧信号を出力するレベル変換回
路とを設けて、マイクロプロセッサに、上記ディジタル
データにもとづき上記ひずみ信号を計測させるととも
に、該ひずみ信号を上記矩形波電圧信号により補正処理
させるようにしたものである。
る計測装置は、矩形波に生じたひずみを検出する、ひず
みゲージを含んで構成されたひずみゲージブリッジと、
該ひずみゲージブリッジにより得られたひずみ信号によ
り変調された微小矩形波信号をディジタルデータに変換
するアナログ／ディジタル変換器と、上記矩形波電圧を
レベル変換した矩形波電圧信号を出力するレベル変換回
路とを設けて、マイクロプロセッサに、上記ディジタル
データにもとづき上記ひずみ信号を計測させるととも
に、該ひずみ信号を上記矩形波電圧信号により補正処理
させるようにしたものである。
【００１５】また、この請求項２の発明に係る計測装置
は、温度データの矩形波電圧を入力して、温度変化によ
る上記矩形波の変化を検出する測温抵抗体を含んで構成
された温度検出ブリッジと、該温度検出ブリッジにより
得られた温度信号により変調された微小矩形波信号をデ
ィジタルデータに変換するアナログ／ディジタル変換器
と、上記矩形波電圧をレベル変換した矩形波電圧信号を
出力するレベル変換回路とを設け、マイクロプロセッサ
に、上記ディジタルデータにもとづき上記温度信号を計
測するとともに、該温度信号を上記矩形波電圧信号によ
り補正処理させるようにしたものである。
は、温度データの矩形波電圧を入力して、温度変化によ
る上記矩形波の変化を検出する測温抵抗体を含んで構成
された温度検出ブリッジと、該温度検出ブリッジにより
得られた温度信号により変調された微小矩形波信号をデ
ィジタルデータに変換するアナログ／ディジタル変換器
と、上記矩形波電圧をレベル変換した矩形波電圧信号を
出力するレベル変換回路とを設け、マイクロプロセッサ
に、上記ディジタルデータにもとづき上記温度信号を計
測するとともに、該温度信号を上記矩形波電圧信号によ
り補正処理させるようにしたものである。
【００１６】
【作用】この請求項１の発明におけるマイクロプロセッ
サは、レベル変換回路から得た矩形波電圧により、ひず
みゲージブリッジにより検出されたひずみ信号に対し一
定の補正演算を施して、より正確なひずみ計測を行える
ようにする。
サは、レベル変換回路から得た矩形波電圧により、ひず
みゲージブリッジにより検出されたひずみ信号に対し一
定の補正演算を施して、より正確なひずみ計測を行える
ようにする。
【００１７】また、この請求項２の発明におけるマイク
ロプロセッサは、レベル変換回路から得た矩形波電圧に
より、温度検出ブリッジにより検出された温度信号に対
し一定の補正演算を施して、より正確な温度計測を行え
るようにする。
ロプロセッサは、レベル変換回路から得た矩形波電圧に
より、温度検出ブリッジにより検出された温度信号に対
し一定の補正演算を施して、より正確な温度計測を行え
るようにする。
【００１８】
実施例１．以下、この発明の一実施例を図について説明
する。図１において、１は被計測体に貼り付けられた例
えばひずみゲージと、このひずみゲージに比較して温度
計数が非常に小さい抵抗体とからなるひずみゲージブリ
ッジ、２は差動増幅器、３は信号をマイクロプロセッサ
５にディジタルデータとして入力するアナログ／ディジ
タル変換器、４はアナログ／ディジタル変換器３に入力
する信号を選択するアナログスイッチ、５は矩形波の制
御，信号のサンプル，演算処理などのディジタル処理を
行う上記のマイクロプロセッサである。
する。図１において、１は被計測体に貼り付けられた例
えばひずみゲージと、このひずみゲージに比較して温度
計数が非常に小さい抵抗体とからなるひずみゲージブリ
ッジ、２は差動増幅器、３は信号をマイクロプロセッサ
５にディジタルデータとして入力するアナログ／ディジ
タル変換器、４はアナログ／ディジタル変換器３に入力
する信号を選択するアナログスイッチ、５は矩形波の制
御，信号のサンプル，演算処理などのディジタル処理を
行う上記のマイクロプロセッサである。
【００１９】また、６はマイクロプロセッサ５の基準ク
ロック９を分周し、所要の周波数の矩形波を出力するデ
ィジタル出力回路、７は矩形波を正と負の矩形波に励振
する矩形波ドライバー、８はひずみゲージブリッジ１に
矩形波電圧を供給するブリッジ励振トランス、９はマイ
クロプロセッサ５からの矩形波生成のための上記の基準
クロック、１０はディジタル出力回路６によって生成さ
れた矩形波、１１は矩形波ドライバー７により正，負に
励振された矩形波電圧、１２は差動増幅器２によりアナ
ログ／ディジタル変換器３への入力レンジに見合うよう
に増幅されたひずみ出力波形、１３は温度センサ、１６
は矩形波ドライバー７が出力する矩形波電圧をアナログ
／ディジタル変換器３の入力レンジに見合うように変換
するレベル変換回路、１７はレベル変換回路１６にて電
圧変換された矩形波電圧信号を示す。
ロック９を分周し、所要の周波数の矩形波を出力するデ
ィジタル出力回路、７は矩形波を正と負の矩形波に励振
する矩形波ドライバー、８はひずみゲージブリッジ１に
矩形波電圧を供給するブリッジ励振トランス、９はマイ
クロプロセッサ５からの矩形波生成のための上記の基準
クロック、１０はディジタル出力回路６によって生成さ
れた矩形波、１１は矩形波ドライバー７により正，負に
励振された矩形波電圧、１２は差動増幅器２によりアナ
ログ／ディジタル変換器３への入力レンジに見合うよう
に増幅されたひずみ出力波形、１３は温度センサ、１６
は矩形波ドライバー７が出力する矩形波電圧をアナログ
／ディジタル変換器３の入力レンジに見合うように変換
するレベル変換回路、１７はレベル変換回路１６にて電
圧変換された矩形波電圧信号を示す。
【００２０】次に動作について説明する。マイクロプロ
セッサ５は自身の回路で発生させたクロックを、ブリッ
ジ励振トランス８の特性に応じた周波数に分周し、図２
の基準クロック９として出力する。次に、この基準クロ
ック９をディジタル出力回路６にてさらに２分周した矩
形波１０として矩形波ドライバー７へ入力する。
セッサ５は自身の回路で発生させたクロックを、ブリッ
ジ励振トランス８の特性に応じた周波数に分周し、図２
の基準クロック９として出力する。次に、この基準クロ
ック９をディジタル出力回路６にてさらに２分周した矩
形波１０として矩形波ドライバー７へ入力する。
【００２１】矩形波ドライバー７では、その矩形波１０
を正，負に励振された矩形波電圧１１として、ブリッジ
励振トランス８を経てひずみゲージブリッジ１に印加す
る。もし、上記矩形波電圧１１に図２に示すようなひず
みが発生していれば、ひずみゲージブリッジ１はブリッ
ジでの電圧バランスがくずれ、ひずみゲージブリッジ１
の出力に微小信号が発生する。
を正，負に励振された矩形波電圧１１として、ブリッジ
励振トランス８を経てひずみゲージブリッジ１に印加す
る。もし、上記矩形波電圧１１に図２に示すようなひず
みが発生していれば、ひずみゲージブリッジ１はブリッ
ジでの電圧バランスがくずれ、ひずみゲージブリッジ１
の出力に微小信号が発生する。
【００２２】そこで、この微小信号を差動増幅器２で増
幅し、図２にも示すような、ひずみ出力波形１２を得
て、これをさらにアナログ／ディジタル変換器３へ入力
する。マイクロプロセッサ５は、自身の基準クロック９
のタイミングにて、矩形波波形の安定したタイミング１
４，１５で、検出したひずみ出力波形１２をサンプルす
る。
幅し、図２にも示すような、ひずみ出力波形１２を得
て、これをさらにアナログ／ディジタル変換器３へ入力
する。マイクロプロセッサ５は、自身の基準クロック９
のタイミングにて、矩形波波形の安定したタイミング１
４，１５で、検出したひずみ出力波形１２をサンプルす
る。
【００２３】一方、レベル変換回路１６は矩形波ドライ
バー７により正，負に励振された矩形波電圧１１を取り
出して、アナログ／ディジタル変換器３の入力レンジに
見合うある特定の比に電圧変換した図２に示すような矩
形波電圧信号１７を、ひずみ出力波形１２の場合と同様
に、マイクロプロセッサ５の基準クロック９のタイミン
グにて、波形の安定したタイミング１４，１５でサンプ
ルする。矩形波電圧信号１７とひずみ出力波形１２はア
ナログスイッチ４により切り替えられる。
バー７により正，負に励振された矩形波電圧１１を取り
出して、アナログ／ディジタル変換器３の入力レンジに
見合うある特定の比に電圧変換した図２に示すような矩
形波電圧信号１７を、ひずみ出力波形１２の場合と同様
に、マイクロプロセッサ５の基準クロック９のタイミン
グにて、波形の安定したタイミング１４，１５でサンプ
ルする。矩形波電圧信号１７とひずみ出力波形１２はア
ナログスイッチ４により切り替えられる。
【００２４】ひずみの大きさは、ひずみ出力波形１２の
山と谷との差をとることにより、ひずみ出力波形１２の
零レベルの変動（オフセット）の影響がキャンセルされ
る。そして、ほぼ同時にサンプルした矩形波電圧信号１
７のディジタルデータの値により、ε’＝ε×（Ｅ’／
Ｅ）の演算をマイクロプロセッサ５内部にてディジタル
演算処理することで、ひずみの大きさに補正を行う。こ
こで、ε’は補正後のひずみデータ、εはサンプルした
ひずみデータ、Ｅ’は矩形波電圧の設計値、Ｅはサンプ
ルした矩形波電圧データである。
山と谷との差をとることにより、ひずみ出力波形１２の
零レベルの変動（オフセット）の影響がキャンセルされ
る。そして、ほぼ同時にサンプルした矩形波電圧信号１
７のディジタルデータの値により、ε’＝ε×（Ｅ’／
Ｅ）の演算をマイクロプロセッサ５内部にてディジタル
演算処理することで、ひずみの大きさに補正を行う。こ
こで、ε’は補正後のひずみデータ、εはサンプルした
ひずみデータ、Ｅ’は矩形波電圧の設計値、Ｅはサンプ
ルした矩形波電圧データである。
【００２５】また、ひずみの方向の弁別も、サンプルし
た矩形波電圧データに正，負の極性をもたせることで弁
別することができる。すなわち、上記ブリッジ電圧Ｅに
対する出力電圧εの極性によって簡単に判別できる。
た矩形波電圧データに正，負の極性をもたせることで弁
別することができる。すなわち、上記ブリッジ電圧Ｅに
対する出力電圧εの極性によって簡単に判別できる。
【００２６】実施例２．また、実施例１を応用すれば請
求項２の発明に示す温度計測をする計測装置を構成でき
る。ここでは、ひずみゲージブリッジ１に代えて、被計
測体に取り付けられた１個の測温抵抗体と、この測温抵
抗体に比較して温度係数が非常に小さい３個の抵抗体と
で構成された温度検出ブリッジが用いられる。
求項２の発明に示す温度計測をする計測装置を構成でき
る。ここでは、ひずみゲージブリッジ１に代えて、被計
測体に取り付けられた１個の測温抵抗体と、この測温抵
抗体に比較して温度係数が非常に小さい３個の抵抗体と
で構成された温度検出ブリッジが用いられる。
【００２７】この実施例では、測温抵抗体により検出さ
れた被計測体の温度およびその温度の変化を検出し、こ
の検出データを上記レベル変換回路１６を通じて得られ
る矩形波電圧によって補正することができる。この場合
はひずみ計測のときと違って方向の判別はなく、温度検
出と、その温度の補正を行う。
れた被計測体の温度およびその温度の変化を検出し、こ
の検出データを上記レベル変換回路１６を通じて得られ
る矩形波電圧によって補正することができる。この場合
はひずみ計測のときと違って方向の判別はなく、温度検
出と、その温度の補正を行う。
【００２８】
【発明の効果】以上のように、この請求項１の発明によ
れば、矩形波に生じたひずみを検出する、ひずみゲージ
を含んで構成されたひずみゲージブリッジと、該ひずみ
ゲージブリッジにより得られたひずみ信号により変調さ
れた微小矩形波信号をディジタルデータに変換するアナ
ログ／ディジタル変換器と、上記矩形波電圧をレベル変
換した矩形波電圧信号を出力するレベル変換回路とを設
けて、マイクロプロセッサに、上記ディジタルデータに
もとづき上記ひずみ信号を計測させるとともに、該ひず
み信号を上記矩形波電圧信号により補正処理させるよう
に構成したので、ひずみ検出用の抵抗体素子を含んで構
成されたひずみゲージブリッジに印加される矩形波電圧
の変動による検出信号の誤差を、容易に補正でき、より
精度の高いひずみ計測ができるとともに、そのひずみの
方向の弁別が容易に行えるものが得られる効果がある。
れば、矩形波に生じたひずみを検出する、ひずみゲージ
を含んで構成されたひずみゲージブリッジと、該ひずみ
ゲージブリッジにより得られたひずみ信号により変調さ
れた微小矩形波信号をディジタルデータに変換するアナ
ログ／ディジタル変換器と、上記矩形波電圧をレベル変
換した矩形波電圧信号を出力するレベル変換回路とを設
けて、マイクロプロセッサに、上記ディジタルデータに
もとづき上記ひずみ信号を計測させるとともに、該ひず
み信号を上記矩形波電圧信号により補正処理させるよう
に構成したので、ひずみ検出用の抵抗体素子を含んで構
成されたひずみゲージブリッジに印加される矩形波電圧
の変動による検出信号の誤差を、容易に補正でき、より
精度の高いひずみ計測ができるとともに、そのひずみの
方向の弁別が容易に行えるものが得られる効果がある。
【００２９】また、この請求項２の発明によれば、温度
データの矩形波電圧を入力して、温度変化による上記矩
形波の変化を検出する測温抵抗体を含んで構成された温
度検出ブリッジと、該温度検出ブリッジにより得られた
温度信号により変調された微小矩形波信号をディジタル
データに変換するアナログ／ディジタル変換器と、上記
矩形波電圧をレベル変換した矩形波電圧信号を出力する
レベル変換回路とを設け、マイクロプロセッサに、上記
ディジタルデータにもとづき上記温度信号を計測すると
ともに、該温度信号を上記矩形波電圧信号により補正処
理させるように構成したので、温度検出ブリッジに入力
される矩形波電圧の変動による検出信号の誤差を容易に
補正でき、高精度の温度計測が行えるものが得られる効
果がある。
データの矩形波電圧を入力して、温度変化による上記矩
形波の変化を検出する測温抵抗体を含んで構成された温
度検出ブリッジと、該温度検出ブリッジにより得られた
温度信号により変調された微小矩形波信号をディジタル
データに変換するアナログ／ディジタル変換器と、上記
矩形波電圧をレベル変換した矩形波電圧信号を出力する
レベル変換回路とを設け、マイクロプロセッサに、上記
ディジタルデータにもとづき上記温度信号を計測すると
ともに、該温度信号を上記矩形波電圧信号により補正処
理させるように構成したので、温度検出ブリッジに入力
される矩形波電圧の変動による検出信号の誤差を容易に
補正でき、高精度の温度計測が行えるものが得られる効
果がある。
【図１】この発明の一実施例による計測装置を示すブロ
ック接続図である。
ック接続図である。
【図２】図１におけるブロック各部の信号波形を示すタ
イミングチャート図である。
イミングチャート図である。
【図３】従来の計測装置を示すブロック図である。
【図４】図３におけるブロック各部の信号波形を示すタ
イミングチャート図である。
イミングチャート図である。
【図５】図３におけるひずみゲージブリッジの詳細を示
す回路図である。
す回路図である。
１ ひずみゲージブリッジ ２ 差動増幅器 ３ アナログ／ディジタル変換器 ５ マイクロプロセッサ １６ レベル変換回路
Claims (2)
- 【請求項１】 矩形波電圧を入力して、該矩形波に生じ
たひずみを検出する、ひずみゲージを含んで構成された
ひずみゲージブリッジと、該ひずみゲージブリッジによ
り得られたひずみ信号により変調された微小矩形波信号
を増幅する差動増幅器と、該差動増幅器にて増幅された
微小矩形波信号をディジタルデータに変換するアナログ
／ディジタル変換器と、上記矩形波電圧をレベル変換し
た矩形波電圧信号を出力するレベル変換回路と、上記デ
ィジタルデータにもとづき上記ひずみ信号を計測すると
ともに、該ひずみ信号を上記矩形波電圧信号により補正
処理するマイクロプロセッサとを備えた計測装置。 - 【請求項２】 矩形波電圧を入力して、温度変化による
上記矩形波の変化を検出する測温抵抗体を含んで構成さ
れた温度検出ブリッジと、該温度検出ブリッジにより得
られた温度信号により変調された微小矩形波信号を増幅
する差動増幅器と、該差動増幅器にて増幅された微小矩
形波信号をディジタルデータに変換するアナログ／ディ
ジタル変換器と、上記矩形波電圧をレベル変換した矩形
波電圧信号を出力するレベル変換回路と、上記ディジタ
ルデータにもとづき上記温度信号を計測するとともに、
該温度信号を上記矩形波電圧信号により補正処理するマ
イクロプロセッサとを備えた計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34764491A JPH05157642A (ja) | 1991-12-04 | 1991-12-04 | 計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34764491A JPH05157642A (ja) | 1991-12-04 | 1991-12-04 | 計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05157642A true JPH05157642A (ja) | 1993-06-25 |
Family
ID=18391620
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34764491A Pending JPH05157642A (ja) | 1991-12-04 | 1991-12-04 | 計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05157642A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002214024A (ja) * | 2001-01-17 | 2002-07-31 | Yamato Scale Co Ltd | 重量測定装置 |
| JP2017138172A (ja) * | 2016-02-03 | 2017-08-10 | 株式会社島津製作所 | 測定装置および材料試験機 |
-
1991
- 1991-12-04 JP JP34764491A patent/JPH05157642A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002214024A (ja) * | 2001-01-17 | 2002-07-31 | Yamato Scale Co Ltd | 重量測定装置 |
| JP2017138172A (ja) * | 2016-02-03 | 2017-08-10 | 株式会社島津製作所 | 測定装置および材料試験機 |
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