JP2012064444A - プラズマ生成装置、プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】プラズマ生成装置100は、マイクロ波を発生させるマイクロ波発生装置21と、マイクロ波発生装置21に接続され、マイクロ波の伝送方向に長尺をなすとともに、該伝送方向に直交する方向の断面が矩形をした中空状の矩形導波管22と、矩形導波管22に接続されてその内部へ処理ガスを供給するガス供給装置23と、矩形導波管22の一部分であって、内部で生成したプラズマを外部で放出するアンテナ部40とを備えている。アンテナ部40は、その断面において短辺をなす壁40aに1又は複数のスロット孔41を有しており、大気圧状態の矩形導波管22内に供給された処理ガスをマイクロ波によってプラズマ化し、スロット孔41から外部の被処理体へ向けて放出する。
【選択図】図1
Description
前記マイクロ波発生装置に接続され、マイクロ波の伝送方向に長尺をなすとともに、該伝送方向に直交する方向の断面が矩形をした中空状の導波管と、
前記導波管に接続されてその内部へ処理ガスを供給するガス供給装置と、
前記導波管の一部分であって、マイクロ波により生成したプラズマを外部に放出するアンテナ部と、
を備え、
前記アンテナ部は、その断面において短辺をなす壁に1又は複数のスロット孔を有しており、大気圧状態の前記導波管内に供給された処理ガスをマイクロ波によって前記スロット孔でプラズマ化し、前記スロット孔から外部へ放出する。
[第1の実施の形態]
図1は、本発明の一実施の形態にかかるプラズマ処理装置100の概略構成を示す断面図である。図1のプラズマ処理装置100は、処理容器10と、プラズマを発生させて処理容器10内の被処理体Sへ向けて放出するプラズマ生成装置20と、被処理体Sを支持するステージ50と、プラズマ処理装置100を制御する制御部60を備え、被処理体Sに対して常圧で処理を行う大気圧プラズマ処理装置として構成されている。
処理容器10は、プラズマ処理空間を区画するための容器であって、例えばアルミニウム、ステンレス等の金属により形成することができる。処理容器10の内部は、例えばアルマイト処理のような耐プラズマエロージョン性を高める表面処理を施しておくことが好ましい。処理容器10には、被処理体Sの搬入出を行うための開口が設けられている(図示せず)。なお、大気圧プラズマ処理装置である本実施の形態のプラズマ処理装置100において、処理容器10は必須ではなく、任意の構成である。
プラズマ生成装置20は、マイクロ波を発生させるマイクロ波発生装置21と、マイクロ波発生装置21に接続された矩形導波管22と、矩形導波管22に接続されてその内部へ処理ガスを供給するガス供給装置23と、アンテナ部40内のガス及び必要に応じて処理容器10内を排気するための排気装置25と、を備えている。また、矩形導波管22の内部には、処理ガスの通過を遮るために石英などの誘電体からなる隔壁24が配備されている。さらに、矩形導波管22の一つの壁面にスロット孔41を設け、スロット孔41で生成したプラズマを外部の被処理体Sへ向けて放出するアンテナ部40を有している。
マイクロ波発生装置21は、例えば2.45GHz〜100GHz、好ましくは2.45GHz〜10GHzの周波数のマイクロ波を発生させる。本実施の形態のマイクロ波発生装置21は、パルス発振機能を備えており、パルス状のマイクロ波を発生させることができる。マイクロ波発生装置21の構成例を図2に示す。マイクロ波発生装置21においては、電源部31から発振部32のマグネトロン(またはクライストロン)33までを結ぶ高電圧ライン34上に、コンデンサ35とパルススイッチ部36が設けられている。また、パルススイッチ部36には、パルス制御部37が接続されており、周波数やデューティー比などを制御する制御信号の入力が行なわれる。このパルス制御部37は、制御部60のコントローラ61(後述)からの指示を受けて制御信号をパルススイッチ部36へ向けて出力する。そして、電源部31から高電圧を供給しつつパルススイッチ部36に制御信号を入力することにより、所定電圧の矩形波が発振部32のマグネトロン(またはクライストロン)33に供給され、パルス状のマイクロ波が出力される。このマイクロ波のパルスは、例えば、パルスオンタイム10〜50μs、パルスオフタイム200〜500μs、デューティー比を5〜70%、好ましくは10〜50%に制御することができる。なお、本実施の形態において、パルス発振機能は、連続に放電させた場合に、アンテナ部40に熱が蓄積しやすく、低温非平衡放電からアーク放電に移行することを防止する目的で設けている。アンテナ部40の冷却機構を別途手当てすれば、パルス発振機能は必須ではなく、任意の構成である。
矩形導波管22は、マイクロ波の伝送方向に長尺をなすとともに、マイクロ波の伝送方向に直交する方向の断面が矩形をした中空状をなしている。矩形導波管22は、例えば銅、アルミニウム、鉄、ステンレス等の金属やこれらの合金によって形成されている。
ガス供給装置(GAS)23は、矩形導波管22から分岐した分岐管22aに設けられたガス導入部22bに接続している。ガス供給装置23は、図示しないガス供給源、バルブ、流量制御装置等を備えている。ガス供給源は、処理ガスの種類別に備えられている。処理ガスとしては、例えば水素、窒素、酸素、水蒸気、フロン(CF4)ガス等を挙げることができる。フロン(CF4)ガスの場合は、排気装置25も併用する必要がある。また、例えばアルゴン、ヘリウム、窒素ガス等の不活性ガスの供給源も設けることができる。ガス供給装置23から矩形導波管22内に供給された処理ガスは、マイクロ波によってスロット孔41で放電が生じ、プラズマ化する。
排気装置25は、図示しないバルブやターボ分子ポンプやドライポンプなどを備えている。排気装置25は、矩形導波管22内および処理容器10の排気を行うため、矩形導波管22の分岐管22a及び処理容器10の排気口10aに接続されている。例えば、プロセス停止時に矩形導波管22内に残された処理ガスは排気装置25を作動させることによって、処理ガスを速やかに除去することができる。また、放電開始時には、矩形導波管22内及び処理容器内10内に存在する大気中のガスを処理ガスに効率よく置換する為に排気装置25を用いる。なお、大気圧プラズマ処理装置である本実施の形態のプラズマ処理装置100において、排気装置25は必須ではなく、任意の構成である。しかし、処理ガスが特にCF4ガスのように常温では安定であるが、プラズマ化することにより反応性の高いフッ素ラジカル(F)やフロロカーボンラジカル(CxFy)などを生成する可能性がある場合は、排気装置25を設けることが好ましい。
ステージ50は、処理容器10内で被処理体Sを水平に支持する。ステージ50は、処理容器10の底部に設置された支持部51により支持された状態で設けられている。ステージ50および支持部51を構成する材料としては、例えば、石英やAlN、Al2O3、BN等のセラミックス材料やAl、ステンレスなどの金属材料を挙げることができる。また、必要に応じて250℃程度まで被処理体Sを加熱できるようにヒーターを埋め込んであってもよい。なお、本実施の形態のプラズマ処理装置100において、ステージ50は被処理体Sの種類に応じて設ければよく、任意の構成である。
プラズマ処理装置100は、被処理体Sとして、例えば、LCD(液晶表示ディスプレイ)用ガラス基板に代表されるFPD(フラットパネルディスプレイ)基板や、該FPD基板に接着させる多結晶シリコンフィルム、ポリイミドフィルムなどのフィルム部材を対象にすることができる。また、有機半導体などの能動素子および受動素子を形成する目的で、例えばポリエチレンナフレタート(PEN)フィルムおよびポリエチレンテレフタレート(PET)フィルムなどのフィルム部材の表面清浄化、表面処理などもできる。プラズマ処理装置100は、例えば、FPD基板上に設けられた薄膜の改質処理や、該FPD基板への密着性を改善する目的で行う、上記フィルム部材への表面処理、清浄化処理、改質処理などの用途に使用することができる。プラズマ処理装置100では、このような比較的大面積の被処理体Sに対する処理を効率よく行うことができる。
プラズマ処理装置100を構成する各構成部は、制御部60に接続されて制御される構成となっている。コンピュータ機能を有する制御部60は、図3に例示したように、CPUを備えたコントローラ61と、このコントローラに接続されたユーザーインターフェース62と、記憶部63を備えている。記憶部63には、プラズマ処理装置100で実行される各種処理をコントローラ61の制御にて実現するための制御プログラム(ソフトウェア)や処理条件データ等が記録されたレシピが保存されている。そして、必要に応じて、ユーザーインターフェース62からの指示等にて任意の制御プログラムやレシピを記憶部63から呼び出してコントローラ61に実行させることで、制御部60の制御下で、プラズマ処理装置100において所望の処理が行われる。なお、前記制御プログラムや処理条件データ等のレシピは、コンピュータ読み取り可能な記録媒体64に格納された状態のものを記憶部63にインストールすることによっても利用できる。コンピュータ読み取り可能な記録媒体64としては、特に制限はないが、例えばCD−ROM、ハードディスク、フレキシブルディスク、フラッシュメモリ、DVDなどを使用できる。また、前記レシピは、他の装置から、例えば専用回線を介して随時伝送させてオンラインで利用したりすることも可能である。
次に、図4A〜図12を参照しながら、アンテナ部40におけるスロット孔41の配置と形状について具体例を挙げて説明する。スロット孔41の配置と形状は、スロット孔41の開口の大部分(好ましくは、開口の全面)でプラズマが生成するように設計することが好ましい。スロット孔41の開口の大部分でプラズマが生成するようにするためには、スロット孔41の配置と形状との組み合わせが重要になる。このような観点から、以下ではスロット孔41の配置と形状の好ましい態様について説明する。
ポリイミドフィルムの表面処理:
アンテナ部は、マイクロ波周波数10GHzの場合で41個/列の矩形のスロット孔が矩形導波管の短辺をなす壁の中心線に沿って直線状に配列しているものを用いた。周波数10GHz、出力1.6kWのマイクロ波発生装置を用い、パルスモジュレーターのオンタイム、オフタイムをそれぞれ30μs、220μsに設定し、アルゴンガスを14L/min(slm)流して、マイクロ波放電をしてプラズマを生成させた。この時、処理試料のポリイミドフィルムをアンテナ部の直下4mmの位置において、0〜60秒処理した。処理中のアンテナ正味の出力は1.56kWであった。処理しないポリイミドフィルム(処理時間0秒)と4秒処理後のポリイミドフィルムの水の接触角を調べると、70度から18度に変化した。処理前のポリイミド膜は疎水性であったのに対して、プラズマ処理後は水の接触角が18度と大幅に減少し、その表面が親水性に改質された。また、ポリイミドフィルムとアンテナ部のスロット形成面との距離を離すと処理効果は薄れ、特に20mm以上離すと急激に処理効果は薄れた。
酸化銅の還元:
アルゴン14slm(標準状態litter/min)、水素流量100sccm(標準状態cc/min)、窒素流量140sccm(標準状態cc/min)の混合ガスを流し、マイクロ波周波数10GHz、マイクロ波のパルスON時間=10〜50μs、OFF時間=200〜500μs、正味のマイクロ波入力1.2〜1.6kWの条件で生成させたプラズマにより、以下の方法で試験を行った。矩形スロット直下4mmの位置に、スパッタ法で形成した銅(Cu)膜を熱酸化で約20nmの膜厚に形成したCuOx膜を置き、30秒間〜15分間かけてプラズマ処理を行った。その結果、スロット直下の位置からCuOxが還元されていく様子が、CuOxの暗紫色からCuの銅色に変化することによって確認できた。これは、プラズマで生成した水素原子が、CuOxのOを取り去り、金属の銅の表面が出たもの推定された。
次に、本発明の第2の実施の形態にかかるプラズマ処理装置について、図13〜図15を参照しながら説明する。図13は、矩形導波管22のアンテナ部40を複数個(図13では3つ)並列的に配置したプラズマ処理装置101の構成例を示している。プラズマ処理装置101では、図示しない駆動機構によって、アンテナ部40に対して被処理体Sが図13中の矢印で示す方向に相対移動可能に設けられている。アンテナ部40(矩形導波管22)の長手方向と、被処理体Sの移動方向は、互いに直交するように配置されている。アンテナ部40のスロット孔41は、被処理体Sの幅以上の長さで配設されている。図13に示したように、複数のアンテナ部40を並列的に配置し、かつ被処理体Sを相対移動させることによって、被処理体Sに対して、処理斑がなく、均一なプラズマ処理を連続的に行うことが可能になる。なお、アンテナ部40を含むプラズマ生成装置20の構成は、第1の実施の形態と同様であるため、細部についての図示及び説明は省略する。なお、並列的に配置されるアンテナ部40の数は、3つに限らず、2つでも、4つ以上でもよい。
Claims (14)
- マイクロ波を発生させるマイクロ波発生装置と、
前記マイクロ波発生装置に接続され、マイクロ波の伝送方向に長尺をなすとともに、該伝送方向に直交する方向の断面が矩形をした中空状の導波管と、
前記導波管に接続されてその内部へ処理ガスを供給するガス供給装置と、
前記導波管の一部分であって、マイクロ波により生成したプラズマを外部に放出するアンテナ部と、
を備え、
前記アンテナ部は、その断面において短辺をなす壁に1又は複数のスロット孔を有しており、大気圧状態の前記導波管内に供給された処理ガスをマイクロ波によって前記スロット孔でプラズマ化し、前記スロット孔から外部へ放出するプラズマ生成装置。 - 前記マイクロ波発生装置と前記アンテナ部との間の前記導波管内に、前記処理ガスの通過を遮る隔壁を備えた請求項1に記載のプラズマ生成装置。
- 前記スロット孔は、矩形状に設けられており、その長手方向と前記アンテナ部の長手方向が一致するように配設されている請求項1又は2に記載のプラズマ生成装置。
- 複数のスロット孔が、一列に配設されている請求項3に記載のプラズマ生成装置。
- 前記アンテナ部に単一のスロット孔が設けられている請求項3に記載のプラズマ生成装置。
- 前記スロット孔の縁面は、前記壁の厚み方向に開口幅が変化するように傾斜して設けられている請求項1から5のいずれか1項に記載のプラズマ生成装置。
- さらに、パルス発生器を備え、マイクロ波をパルス状に発生させてプラズマを生成させる請求項1から6のいずれか1項に記載のプラズマ生成装置。
- 前記アンテナ部が、並列的に複数配置されている請求項1から7のいずれか1項に記載のプラズマ生成装置。
- 並列的に複数配置された前記アンテナ部において、前記壁の幅方向に、複数の前記アンテナ部にわたって、少なくとも一つの前記スロット孔が存在するように、前記アンテナ部毎に長手方向の位置をずらして前記スロット孔が配設されている請求項8に記載のプラズマ生成装置。
- 請求項1から9のいずれか1項のプラズマ生成装置を備え、発生させたプラズマを利用して被処理体に対して所定の処理を行うプラズマ処理装置。
- 前記スロット孔が被処理体に対向するように前記アンテナ部が配置される請求項10に記載のプラズマ処理装置。
- 被処理体の表裏両面にそれぞれアンテナ部が配置される請求項11に記載のプラズマ処理装置。
- 被処理体がフィルム状をなし、ロール・トゥ・ロール方式で搬送可能に設けられている請求項11又は12に記載のプラズマ処理装置。
- 請求項10から13のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置を用いて、被処理体を処理するプラズマ処理方法。
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