JP2012003902A - 走査型電子顕微鏡及びその制御方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】一次電子線を走査するために用いる偏向器を用い、試料から放出される二次信号電子に対してのみ偏向作用する電磁界を重畳的に発生する。すなわち、一次電子線に対しては電界の偏向作用と磁界の偏向作用が相殺され、かつ、二次信号電子に対しては偏向作用が働く電界及び磁界を重畳させるオフセット電流及びオフセット電圧を、一次電子線を走査させる電界又は磁界を発生する偏向器に発生させる。
【選択図】図1
Description
そこで、本発明者は、小型でありながら検出効率が高い二次信号電子検出系を実現する。
(装置の構成)
図1に、実施例に係るSEMの構成例を示す。なお、以下の実施例は、いずれもSEMを前提に説明するが、本発明は、走査型透過電子顕微鏡(STEM:Scanning Transmission Electron Microscope)への適用も可能である。また、本実施例の場合には、二次信号電子の分離に反射板を使用する間接型検出系を実装するSEMについて説明する。
図6及び図7を使用して、走査重畳型ExB偏向器の構成と制御を説明する。図6は、走査重畳型ExB偏向器を、陰極1(電子源)側から試料側を見た場合におけるxy平面上の偏向コイル13と偏向電極14の配置構成例を示している。図6の(a)と(b)は、4極の偏向コイル13と4極の偏向電極14で構成される走査重畳型ExB偏向器の構成例を示している。2極の偏向コイル13と2極の偏向電極14が、x軸方向とy軸方向のそれぞれについて対面するように配置されている。この走査重畳型ExB偏向器は、対をなす2極の間に発生する電界Eと磁界Bが直交するように、互いに直交する位置の2極に電流と電圧が印加される。
以上説明したように、本実施例に係る走査重畳形ExB偏向きをSEMに実装することにより、従来装置と同じ鏡体長を有するSEMでありながら、二次信号電子23の検出ロスを低減できる。すなわち、小型でありながら高効率の二次信号検出系を実現でき、SEM像の品質を高めることができる。また、二次信号電子23の検出ロスを高める構成を採用する従来装置に比べ、鏡体長を短縮できる。このため、SEMの小型化と振動特性などの対環境性能を向上できる。
この実施例では、二次信号電子23を直接偏向する直接型検出系を有するSEMを説明する。図8に、本実施例に係るSEMのうち二次信号検出系のみを示す。すなわち、不図示の構成部分は、図1に示す構成と同じである。
本実施例では、実施例2の変形例について説明する。本実施例は、特に高倍率での高分解能観察が必用となる場合に用いて好適な実施例である。なお、以下に説明する制御技術は、実施例1に係る間接型検出系のSEMにも適用できる。
本実施例では、実施例2の装置構成を前提に、走査重畳型ExB偏向器を用いたイメージシフト動作について説明する。従って、後述する説明は、実施例1に係る間接型検出系のSEMにも適用できる。
本実施例でも、実施例2の変形例を説明する。すなわち、直接型検出系を実装するSEMについて説明する。図11に、本実施例に係るSEMのうち二次信号検出系のみを示す。すなわち、不図示の構成部分は、図1に示す構成と同じである。
本実施例においても、実施例2の変形例について説明する。図12に、走査重畳型ExB偏向器を用いたイメージシフト動作の概念を示す。図12の場合にも、本実施例に係るSEMのうち二次信号検出系のみを示している。
2…第一陽極
3…第二陽極
4…一次電子線
5…集束レンズ
6…集束レンズ
7…対物レンズ
8…絞り板
9…反射板
10…試料
11…試料台
12…二次信号電子(中心軌道)
13…偏向コイル
14…偏向電極
15…変換二次電子
16…電磁界直交型偏向器(ExB偏向器)
17…信号検出器
18…信号増幅器
19…加速電極
20…第二の電磁界直交型偏向器(ExB偏向器)
21…偏向する前の二次信号電子(中心軌道)
22…偏向する前の二次信号電子群
23…偏向した後の二次信号電子(中心軌道)
24…偏向した後の二次信号電子群
25…大きく偏向した後の二次信号電子の中心軌道
26…エネルギーフィルタ
27…第2の検出器、
28…低エネルギー側の二次信号電子の中心軌道
29…高エネルギー側の二次信号電子の軌道
30…高電圧制御電源
31…集束レンズ制御電源
32…集束レンズ制御電源
33…偏向コイル制御電源
34…偏向電極制御電源
36…対物レンズ制御電源
37…試料印加電源
38…加速電極電源
40…制御演算装置
41…画像メモリ
42…像表示装置
43…記憶装置
Claims (10)
- 電子源と、前記電子源から放出される一次電子線を複数の集束レンズ群によって集束して試料上で走査する光学系と、前記一次電子線の走査によって試料から発生する二次信号電子を検出する検出手段とを有し、前記検出手段の検出信号を用いて試料像を形成する走査型電子顕微鏡において、
偏向コイルの内側に偏向電極を重畳的に配置した電磁界偏向器と、
前記電磁界偏向器に発生させる電磁界を制御する制御手段と
を有し、
前記電磁界偏向器は、前記一次電子線に対しては電界の偏向作用と磁界の偏向作用が相殺される一方で、前記二次信号電子に対しては偏向作用が働く電界及び磁界を重畳させるオフセット電流及びオフセット電圧と、前記偏向コイル又は前記偏向電極に発生される前記一次電子線の偏向走査用及び/又はイメージシフト用の電界又は磁界とを、前記偏向コイル及び前記偏向電極に重畳的に発生する
ことを特徴とする走査型電子顕微鏡。 - 請求項1に記載の走査型電子顕微鏡において、
前記二次信号電子は、前記電磁界偏向器により発生される直交電磁界により偏向される
ことを特徴とした走査型電子顕微鏡。 - 請求項1又は2に記載の走査型電子顕微鏡において、
前記二次信号電子の検出手段は、
前記二次信号電子が衝突した反射板より発生される変換二次電子を信号検出器に導く電磁界直交偏向器を有する
ことを特徴とする走査型電子顕微鏡。 - 請求項1又は2に記載の走査型電子顕微鏡において、
前記二次信号電子の検出手段は、
前記オフセット電流及び前記オフセット電圧の印加により発生される電磁界により偏向された二次信号電子が直接衝突する信号検出器を有する
ことを特徴とする走査型電子顕微鏡。 - 請求項1に記載の走査型電子顕微鏡において、
前記電磁界偏向器が前記一次電子線の光軸に沿って二段に配置され、
当該二段の電磁界偏向器における前記二次信号電子の偏向方向が互いに逆向きに制御される
ことを特徴とする走査型電子顕微鏡。 - 請求項5に記載の走査型電子顕微鏡において、
前記二段の電磁界偏向器は、前記一次電子線の高加速時又は低倍率観察時の際、前記二段の電磁界偏向器における前記二次信号電子の偏向方向を互いに同じ向きに制御する
ことを特徴とする走査型電子顕微鏡。 - 請求項1又は2に記載の走査型電子顕微鏡において、
前記電磁界偏向器でイメージシフト用の電界又は磁界が発生されている場合に、イメージシフト位置に応じて前記電磁界偏向器に与えるオフセット電流及びオフセット電圧を制御し、前記二次信号電子を所定方向に偏向制御する
ことを特徴とする走査型電子顕微鏡。 - 請求項4に記載の走査型電子顕微鏡において、
前記信号検出器に対する前記二次信号電子の進行路上に負電位を印加制御できる電極を配置し、エネルギーが高い二次信号電子を選択的に検出する
ことを特徴とする走査型電子顕微鏡。 - 請求項4に記載の走査型電子顕微鏡において、
複数の前記信号検出器をエネルギーが異なる二次信号電子の検出用に対応付け、各信号検出器を二次信号電子が有するエネルギーの違いにより生じる偏向量の違いが現れる領域に別々に配置する
ことを特徴とする走査型電子顕微鏡。 - 電子源と、前記電子源から放出される一次電子線を複数の集束レンズ群によって集束して試料上で走査する光学系と、前記一次電子線の走査によって試料から発生する二次信号電子を検出する検出手段とを有し、前記検出手段の検出信号を用いて試料像を形成する走査型電子顕微鏡の制御方法において、
偏向コイルの内側に偏向電極を重畳的に配置した電磁界偏向器に、
前記一次電子線に対しては電界の偏向作用と磁界の偏向作用が相殺される一方で、前記二次信号電子に対しては偏向作用が働く電界及び磁界を重畳させるオフセット電流及びオフセット電圧と、前記偏向コイル又は前記偏向電極に発生される前記一次電子線の偏向走査用及び/又はイメージシフト用の電界又は磁界とを重畳的に発生する
ことを特徴とする走査型電子顕微鏡の制御方法。
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