JP2011529588A5 - - Google Patents

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制御対象のタイプおよびその制御パラメタが既知である場合、手動のパラメタ設定の他には、計算によるパラメタ設定が可能である。このためには、観察しようとする閉制御ループをモデル化する必要がある。閉制御ループ構造は、少なくとも２つの素子、制御器と制御対象（区間特性）とから構成される。例えば印刷機構の調整動作の区間特性はふつう、遅延時間Ｔ(v)sを有する１次遅れ素子としてモデル化される。制御技術的には上記の区間特性はふつうＰＩ制御器によって補償されて２次のシステムが得られるようにする。この際にはＰゲインおよびＩ成分に対して種々異なる設計判定基準がある。
有利には上記の制御器パラメタの設計は外乱特性について行われる。ふつうのレジスタ制御プロセスにおいて、オペレータによって印刷プロセス中にレジスタ制御器の目標値が調整されることは極めてまれである。したがって上記の印刷プロセス中、制御器はむしろ発生した外乱（＝制御偏差）を調整するために設けられているのである。したがって制御器パラメタの設計では目標値が変化するケースではなく、外乱が発生するケースを考慮すべきである。上記の複数の最適化ストラテジを比較する際（目標値の跳躍ないしは外乱特性）には、外乱特性による最適化の場合、Ｐゲインが大きくなることが多く、これにより、発生した誤差はより迅速に調整される。またこの誤差は、跳躍的には生じず、むしろゆっくり発生する。このような制御器に目標値の跳躍が加わった場合、これは大きな行過ぎ量になり、ひいては劣悪な制御性能に結び付くことがある。目標値跳躍は、オペレータによる目標値変化によって生じることもある。有利には上記の外乱特性に最適化される。ここで目標特性は、有利には目標量の適当なプレフィルタリングによって（例えば減算点の前の１次遅れフィルタによって）最適化されて、例えばハンチングが最小化される。このプレフィルタは、目標値が変化した場合に、これがより小さな動的変化で上記の閉制御ループに供給されて、例えば上記の制御器が限界で駆動されないようにするのに使用される。これそのものは非線形性に結び付き、結果的に動的な変化は小さくなり、上記の閉制御ループのハンチングになる。
閉制御ループ３００には、制御ゲインＫRと積分時間ＴNとを有するＰＩ素子３１０が含まれている。上記の計算ユニットの計算時間によって発生する一定のむだ時間は、むだ時間素子３２０においてむだ時間Ｔt,SPSで示されている。上記の操作量のランプ特性によって発生する速度依存のむだ時間Ｔ(v)Rは、素子３３０においてモデル化される。速度に依存する区間時間Ｔ(v)Sを有する区間特性は、最終的に１次遅れ素子３４０においてモデル化される。
閉制御ループ素子４２０は、１次遅れ特性によって適合化される。この他に別の制御技術的な適合化が可能であることは当然である。閉制御ループ４００内の閉制御ループ素子４２０の位置は当業者には選択可能である。例えば、閉制御ループ素子４２０は、フィードバックに配置することも可能である。

Claims (1)

  1. 例えば１次遅れフィルタを用いて前記の目標量のプレフィルタリングすることによって前記の目標特性を最適化する、
    請求項９または１０に記載の方法。
JP2011520338A 2008-07-31 2009-06-19 処理機械用の閉制御ループをモデル化する方法 Pending JP2011529588A (ja)

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