JP2011247782A - 試験装置及びタイミング調整方法 - Google Patents

試験装置及びタイミング調整方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2011247782A
JP2011247782A JP2010122035A JP2010122035A JP2011247782A JP 2011247782 A JP2011247782 A JP 2011247782A JP 2010122035 A JP2010122035 A JP 2010122035A JP 2010122035 A JP2010122035 A JP 2010122035A JP 2011247782 A JP2011247782 A JP 2011247782A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
input
output
timing
unit
adjustment
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2010122035A
Other languages
English (en)
Inventor
Makoto Hayazaki
誠 早崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Priority to JP2010122035A priority Critical patent/JP2011247782A/ja
Publication of JP2011247782A publication Critical patent/JP2011247782A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

【課題】精度の高いキャリブレーションを行なうための試験装置を提供する。
【解決手段】入出力端に入力された入力信号を検出する入力部、および、出力信号を入出力端から出力する出力部をそれぞれ有し、被試験デバイスと信号を受け渡す複数の入出力部と、それぞれの入出力部において、入力部が入力信号を検出する入力タイミングを調整するタイミング調整部と、それぞれの入出力部における入力タイミングを調整する場合に、複数の入出力部のそれぞれの入出力端を電気的に接続する接続部とを備え、タイミング調整部は、それぞれの入力部における入力タイミングを調整する場合に、他の複数の入出力部の出力部に入力調整信号を順次出力させ、それぞれの出力部が出力した入力調整信号を当該入力部が検出する検出タイミングの平均に基づいて、当該入力部における入力タイミングを調整する入力調整機能を有する試験装置。
【選択図】図2

Description

本発明は、試験装置及びタイミング調整方法に関する。
従来、被試験デバイスを試験する試験装置のピンのタイミング補正は、キャリブレーション用ボードを使って実行されている。キャリブレーション用ボードは、複数のピンの配線をボード上で互いに接続して、各ピンから出力する信号を、他のピンで測定させる。これにより、各ピンにおける信号出力タイミングおよび信号測定タイミングのバラツキを検出して、タイミング補正を行なう(例えば、特許文献1参照)。
特許文献1 特開2004−157129号公報
キャリブレーション用ボードは、各ピンを等長配線で接続することにより行なう。しかし、各ピンを等長配線で接続することは難しく、配線長のバラツキにより、タイミング補正に誤差が生じてしまう。例えば、キャリブレーション用ボード上では、各ピンからの配線を共通の導電パターンに接続することで、各配線を接続する。しかし、導電パターンに対して対角に接続される配線対と、隣接して接続される配線対とでは、導電パターンにおける信号の伝達経路長が異なることから、各ピン間の配線長にはばらつきがある。このため等長配線を前提としたキャリブレーションの精度が低下する。
上記課題を解決するために、本発明の第1の態様においては、被試験デバイスを試験する試験装置であって、入出力端に入力された入力信号を検出する入力部、および、出力信号を入出力端から出力する出力部をそれぞれ有し、被試験デバイスと信号を受け渡す複数の入出力部と、それぞれの入出力部において、入力部が入力信号を検出する入力タイミングを調整するタイミング調整部と、それぞれの入出力部における入力タイミングを調整する場合に、複数の入出力部のそれぞれの入出力端を電気的に接続する接続部とを備え、タイミング調整部は、それぞれの入力部における入力タイミングを調整する場合に、他の複数の入出力部の出力部に入力調整信号を順次出力させ、それぞれの出力部が出力した入力調整信号を当該入力部が検出する検出タイミングの平均に基づいて、当該入力部における入力タイミングを調整する入力調整機能を有する試験装置が提供される。
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
試験装置200の機能構成例を、被試験デバイス300とあわせて示すブロック図である。 ドライバ回路100における出力タイミングおよび入力タイミングを調整する場合の、試験装置200の構成例を示す。 接続部50及び配線52、54、56、58を拡大して示す。 本実施形態にかかるタイミング調整部400の基準調整機能を示すタイミング図である。 本実施形態にかかるタイミング調整部400の入力調整機能を示すタイミング図である。 本実施形態にかかるタイミング調整部400の出力調整機能を示すタイミング図である。
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
図1は、試験装置200の機能構成例を、被試験デバイス300とあわせて示すブロック図である。試験装置200は、半導体回路等の被試験デバイス300を試験する装置であって、パターン発生部110、ドライバ回路100、タイミング調整部400、及び、判定部120を備える。被試験デバイス300は、ソケットボード等に載置されてよい。
パターン発生部110は、所定の論理パターンを有するパターンデータを発生してドライバ回路100に供給する。例えば、パターン発生部110は、使用者等により予め与えられるデータまたはアルゴリズムに基づいて、当該パターンデータを発生する。パターン発生部110は、被試験デバイス300の内部回路に所定の動作を行わせる論理パターンを有するパターンデータを発生してよい。
ドライバ回路100は、被試験デバイス300の複数の入出力ピンに対応して複数の入出力部を有する。それぞれの入出力部は、パターン発生部110から与えられるパターンデータに応じた論理パターンのパターン信号を、予め定められた出力タイミングで被試験デバイス300における試験対象の各ピンに供給する。また、それぞれの入出力部は、被試験デバイス300における試験対象の各ピンが出力する応答信号の、予め定められた入力タイミングにおける論理値を測定する。
タイミング調整部400は、ドライバ回路100におけるそれぞれの入出力部の、出力タイミングおよび入力タイミングを調整する。より具体的には、タイミング調整部400は、それぞれの入出力部から被試験デバイス300(またはソケットボード等)までの配線長、および、それぞれの入出力部の応答速度等のバラツキを相殺するように、出力タイミングおよび入力タイミングを調整する。
判定部120は、被試験デバイス300の良否を判定する。判定部120は、パターン信号に応じて被試験デバイス300が出力する応答信号に応じて、被試験デバイス300の良否を判定する。例えば判定部120は、応答信号の論理パターンと、所定の期待値パターンとを比較することで、被試験デバイス300の良否を判定する。
図2は、ドライバ回路100における出力タイミングおよび入力タイミングを調整する場合の、試験装置200の構成例を示す。図2においては、パターン発生部110および判定部120を省略する。また図2においては、ドライバ回路100の一部として、被試験デバイス300と信号を受け渡す複数の入出力部10、20、30、40を示す。また、タイミング調整部400の一部として、複数の入出力部10、20、30、40に対応して設けられる、複数の第1可変遅延回路16、26、36、46、および、複数の第2可変遅延回路18、28、38、48を示す。
また、試験装置200は、ドライバ回路100における出力タイミングおよび入力タイミングを調整する場合に、ソケットボード等に代えてドライバ回路100に接続されるキャリブレーション用ボード500を備える。キャリブレーション用ボード500には、それぞれの入出力部10、20、30、40の入出力端11、21、31、41を、配線52、54、56、58を介して電気的に接続する接続部50が設けられる。
複数の入出力部10、20、30、40は、それぞれの入出力端11、21、31、41に入力された入力信号(被試験デバイス300の試験時においては応答信号)を検出する入力部12、22、32、42、および、出力信号(被試験デバイス300の試験時においてはパターン信号)を入出力端11〜41から出力する出力部14、24、34、44をそれぞれ有する。複数の入出力部10、20、30、40は、それぞれドライバ回路100のピンP、P、P、Pに対応する。入力部12、22、32、42は、それぞれコンパレータCP、CP、CP、CPを有してよい。出力部14、24、34、44は、それぞれドライバDR、DR、DR、DRを有してよい。
第2可変遅延回路18、28、38、48は、試験装置200におけるタイミング発生器から与えられるストローブ信号を遅延させて入力部12、22、32、42に入力する。入力部12、22、32、42は、入力されるストローブ信号の各エッジタイミングで入力信号の論理値を検出する。タイミング調整部400は、第2可変遅延回路18、28、38、48における遅延量を制御することで、入力部12、22、32、42が入力信号の論理値を検出する入力タイミングを調整する。
第1可変遅延回路16、26、36、46は、タイミング発生器から与えられるタイミング信号を遅延させて出力部14、24、34、44に入力する。出力部14、24、34、44はタイミング信号の各エッジタイミングを基準として出力信号を出力する。タイミング調整部400は、第1可変遅延回路16、26、36、46における遅延量を制御することで、それぞれの出力部14、24、34、44が出力信号を出力する出力タイミングを調整する。
接続部50は、それぞれの入出力部10、20、30、40における入力タイミングおよび出力タイミングを調整する場合に、複数の入出力部10、20、30、40のそれぞれの入出力端11、21、31、41を電気的に接続する。つまり、ピンP、P、P、Pのキャリブレーションを行なう場合に、接続部50は各ピンの入出力端11、21、31、41どうしを配線52、54、56、58によって電気的に接続する。
配線52、54、56、58は長さが等しくなるように設計される。つまり、複数のピンP、P、P、Pは、共通の接続部50に接続されており、各ピンの入出力端11、21、31、41から接続部50までの配線長は等しい。
また、本実施形態において、配線52、54、56、58と接続部50との接点は、接続部50を中心にして等間隔で配置されてよい。つまり、当該接点は、接続部50を中心に回転対称となるように配置されてよい。
図3は、接続部50及び配線52、54、56、58を拡大して示す。接続部50の内部において、ピンPから出力しピンPへ入力する信号が通過する経路62、及び、ピンPから出力しピンPへ入力する信号が通過する経路64が示されている。経路64の長さは接続部50の直径(または対角線)と略等しいのに対して、経路62の長さは接続部50の直径よりも短く、接続部50の内部において、経路62と経路64はわずかに長さが異なる。
つまり、接続部50の直径(または対角線)方向に配置されたピンP及びPを結ぶ配線長は隣り合って配置されたピンP及びPを結ぶ配線長に比べてわずかに長い。したがって、各ピンどうしを結ぶ配線長にばらつきが生じ、等長配線を前提としたタイミング調整を行っても、各ピン間にスキューが残留する。そこで、本実施形態において、タイミング調整部400は、当該配線長のバラツキによるスキューを改善するべく各ピンの入出力タイミングを調整する。
本実施形態において、タイミング調整部400は、基準調整機能、入力調整機能、及び出力調整機能を備える。基準調整機能は、それぞれの出力部14、24、34、44における出力タイミングを、予め定められたいずれかの入力部12、22、32、42を基準に調整する。この場合、いずれかの入力部12、22、32、42を基準にして出力タイミングを調整するので、接続部50における経路長のバラツキによる出力タイミングのバラツキは残留する。
より具体的には、タイミング調整部400は、それぞれの出力部14、24、34、44に、所定のタイミングでエッジを有する基準調整信号を順次出力させる。そして、それぞれの出力部14、24、34、44が基準調整信号を出力してから、予め定められた基準入力部が当該基準調整信号のエッジを検出するまでの時間に基づいて、それぞれの出力部14、24、34、44における出力タイミングを調整する。当該時間は、それぞれの出力部14、24、34、44が基準調整信号のエッジを出力してから、基準入力部が当該基準調整信号のエッジを検出するまでの時間から計測できる。
ここで、いずれかの入力部12、22、32、42が、基準入力部として機能してよい。本実施形態では、入力部22を基準入力部とする。
入力調整機能は、各ピンPからPにおけるそれぞれの入力部12、22、32、42における入力タイミングを、他の3つのピンにおける全ての出力部14、24、34、44を用いて調整する。例えば、入力部12における入力タイミングを調整する場合、他のピンにおける出力部24、34、44から順次信号を出力して、入力部12で各信号のエッジを検出する検出タイミングの平均を計測する。
検出タイミングは、入力部12がストローブ信号の各エッジにおいて検出する論理値が遷移したときの、ストローブ信号のエッジ番号により規定されてよい。同様に、他の入力部22、32、42についても当該平均を計測する。そして、当該平均の、複数の入力部12、22、32、42におけるバラツキを小さくするように、それぞれの入力部12、22、32、42における入力タイミングを調整する。この場合、検出タイミングの平均を用いて入力タイミングを調整するので、接続部50における経路長のバラツキによるスキューも低減できる。
出力調整機能は、各ピンPからPにおけるそれぞれの出力部14、24、34、44における出力タイミングを、他の3つのピンにおける全ての入力部12、22、32、42を用いて調整する。例えば、出力部14における出力タイミングを調整する場合、出力部14から信号を出力させ、他のピンにおける入力部22、32、42が信号を検出する検出タイミングの平均を計測する。同様に、他の出力部24、34、44についても当該平均を計測する。そして、当該平均の、複数の出力部14、24、34、44におけるバラツキを小さくするように、それぞれの出力部14、24、34、44における出力タイミングを調整する。この場合、検出タイミングの平均を用いて出力タイミングを調整するので、接続部50における経路長のバラツキによるスキューも低減できる。
タイミング調整部400は、入力調整機能によりそれぞれの入力部12、22、32、42における入力タイミングを調整してから、出力調整機能によりそれぞれの出力部14、24、34、44における出力タイミングを調整してよい。つまり、本実施形態にかかる入力調整機能によりスキューが改善された入力部12、22、32、42を使って、出力部14、24、34、44を調整することにより出力部14、24、34、44のスキューが改善される。
タイミング調整部400は、基準調整機能、入力調整機能、及び出力調整機能をこの順番で実行してよい。これにより、簡易に実行できる基準調整機能によりそれぞれの出力部14、24、34、44における出力タイミングを概ね調整してから、比較的に時間のかかる入力調整機能および出力調整機能により、接続部50における経路長の差異等の微小なバラツキを低減することができる。このため、効率よく出力タイミングおよび入力タイミングを調整することができる。
また、タイミング調整部400は、入力調整機能及び出力調整機能の組み合わせを繰り返して実行してもよい。つまり、タイミング調整部400は、入力調整機能および出力調整機能を交互に複数回ずつ繰り返して実行してよい。これにより、経路長のバラツキによる入出力タイミングのスキューを更に低減することができる。
なお、基準調整機能においては、それぞれの入力部12、22、32、42における入力タイミングを、予め定められたいずれかの出力部14、24、34、44を基準に調整してもよい。この場合、タイミング調整部400は、基準調整機能、出力調整機能、及び入力調整機能をこの順番で実行する。以下では、基準調整機能において、それぞれの出力部14、24、34、44における出力タイミングを調整する例を用いて、タイミング調整部400の動作を説明する。
図4は本実施形態にかかるタイミング調整部400の基準調整機能を示すタイミング図である。なお本例では、経路62のように接続部50において隣接する接点を介するピン間の信号伝達時間を図4の横軸における5カウントとし、経路64のように接続部50において対角の接点を介するピン間の信号伝達時間を図4の横軸における6カウントとする。
本例では、それぞれの出力部14、24、34、44の出力タイミングを、基準入力部として機能する入力部22を用いて調整する。ただし、入力部22に対応する出力部24の出力タイミングは、入力部22では直接計測することができないので、他の入力部の入力タイミングを、入力部22の入力タイミングに合わせてから、当該入力部を用いて出力部24の出力タイミングを調整する。
本例のステップ1では、入力部22および入力部32の入力タイミングを合わせる。より具体的には、タイミング調整部400は、いずれかの出力部(本例では出力部14)から基準調整信号を出力させる。そして、基準入力部として機能する入力部22とは異なるいずれかの入力部(本例では入力部32)が当該基準調整信号を検出するタイミングに応じて、当該入力部22における入力タイミングを調整する。例えば、出力部14が基準調整信号を出力してから、入力部22および入力部32が当該基準調整信号を検出するまでの時間が、それぞれ予め定められた基準値となるように、各ストローブ信号の遅延量を調整する。
出力部14および入力部22は、接続部50において隣接する接点を介して接続されるのに対して、出力部14および入力部32は、接続部50において対角の接点により接続される。このため、等長配線を前提とした当該タイミング調整を行っても、入力部32が信号を検出するタイミングは、入力部22が信号を検出するタイミングに対して、図4の横軸における1カウント分の遅延ΔCPを有する。
ステップ2において、タイミング調整部400は、基準入力部として機能する入力部22とは異なる入出力部10、30、40における出力部14、34、44から基準調整信号を順次出力させ、入力部22がそれぞれの基準調整信号のエッジを検出するタイミングに応じて、出力部14、34、44における出力タイミングを調整する。例えば、各出力部14、34、44が基準調整信号のエッジを出力してから、入力部22がそれぞれの基準調整信号のエッジを検出するまでの時間が、上述した基準値となるように、それぞれの出力部14、34、44に対するタイミング信号の遅延量を調整する。
出力部14および出力部34は入力部22に対して、接続部50において隣接する接点により接続されるのに対して、出力部44は入力部22に対して、接続部50において対角方向の接点により接続される。このため、等長配線を前提とした当該タイミング調整を行っても、出力部14および出力部34が信号を出力するタイミングは、出力部44が信号を出力するタイミングに対して、図4の横軸における1カウント分の遅延を有する。
ステップ3において、基準入力部として機能する入力部22と同一の入出力部20における出力部24から基準調整信号を出力させ、入力タイミングを調整した入力部32が当該基準調整信号を検出するタイミングに応じて、出力部24における出力タイミングを調整する。例えば、出力部24が基準調整信号のエッジを出力してから、入力部32が基準調整信号のエッジを検出するまでの時間が、上述した基準値となるように、出力部24に対するタイミング信号の遅延量を調整する。
上述したように、入力部32が信号を検出するタイミングは、入力部22が信号を検出するタイミングよりも1カウント分遅延して調整されているので、上述したタイミング調整を行っても、出力部24が信号を出力するタイミングは、出力部14および出力部34が信号を出力するタイミングよりも1カウント分の遅延を有する。このため、本例の基準調整機能を実行した場合でも、経路長のばらつきによる出力部14、24、34、44のスキューΔDRとして、2カウント分が残留する。
ところで、ステップ1から3はこの順番で実行されなくとも、ステップ1が最後とならなければ、いずれの順番で実行してもよい。例えば、ステップ2を最初に実行して基準の入力部22により出力部14、34、44の出力タイミングを調整した後、ステップ1を実行していずれかの出力部(例えば出力部14)により、基準の入力部22および他のいずれかの入力部の入力タイミングを合わせる。そして、ステップ3を実行して、当該他の入力部を用いて、基準の入力部22に対応する出力部24の出力タイミングを調整してよい。また、ステップ1を最初に実行して出力部14により基準の入力部22および他のいずれかの入力部の入力タイミングを合わせた後、ステップ3およびステップ2をこの順番で実行してもよい。
図5は本実施形態にかかるタイミング調整部400の入力調整機能を示すタイミング図である。ここで、入力調整機能とは、タイミング調整部400が、それぞれの入力部12、22、32、42における入力タイミングを調整する場合に、他の複数の入出力部10、20、30、40の出力部14、24、34、44に入力調整信号を順次出力させ、それぞれの出力部14、24、34、44が出力した入力調整信号を、調整対象の入力部が検出する検出タイミングの平均に基づいて、当該入力部における入力タイミングを調整する機能を指す。ここで、入力調整信号とは、入力部12、22、32、42の入力タイミングを調整するための論理値がL論理からH論理に立ち上がるエッジを有する信号を指す。
例えば、タイミング調整部400は、入力部12を含む入出力部10以外の他の複数の入出力部20、30、40の出力部24、34、44から、上記基準調整機能で調整された各タイミングで入力調整信号を順次出力させる。そして、それぞれの出力部24、34、44が出力した入力調整信号のエッジを入力部12が検出する検出タイミングの平均を算出し、その平均に基づいて入力部12の入力タイミングを調整してよい。
また、タイミング調整部400は、それぞれの出力部24、34、44が出力した入力調整信号を、入力部12が検出する検出タイミングが、予め定められたタイミングとなるように、それぞれの出力部24、34、44毎に入力部12の入力タイミングを設定してよい。そして、タイミング調整部400は、それぞれの出力部24、34、44毎に入力部12に設定した入力タイミングの設定データの平均値を、入力部12の入力タイミングの設定データとしてもよい。
本例では、出力部24が入力調整信号を出力してから入力部12が当該入力調整信号を検出するまでの時間が5カウント、出力部24が入力調整信号を出力してから入力部12が当該入力調整信号を検出するまでの時間が6カウント、出力部44が入力調整信号を出力してから入力部12が当該入力調整信号を検出するまでの時間が5カウントとなる。そして、それぞれの出力部24、34、44の出力タイミングは、図5に示すようなバラツキを有するので、入力部12の入力タイミングは、それぞれの出力部24、34、44毎に、図5に示す位置に調整される。
上述したようにタイミング調整部400は、出力部24、34、44毎に入力部12に設定した3つの設定データの平均を算出し、それを入力部12の設定データ値としてよい。こうして調整された入力部12の入力タイミングを図5において平均CPで示す。
残りの入力部22、32、42についても同様に、タイミング調整部400は、設定データまたは検出タイミングの平均を用いて、入力タイミングを調整する。例えば入力部22の入力タイミングを調整する場合、タイミング調整部400は、入力部22を含む入出力部20以外の他の複数の入出力部10、30、40の出力部14、34、44から上記基準調整機能で調整された各タイミングで入力調整信号を順次出力させる。そして、それぞれの出力部14、34、44が出力した入力調整信号を、入力部22が検出する検出タイミングの平均を算出し、その平均に基づいて入力部22の入力タイミングを調整する。入力部32、42についても同様であるので、説明を省略する。
図5に示すように、本実施形態にかかるタイミング調整部400の入力調整機能によれば、1カウント分のバラツキを有する配線を用いた入力タイミング調整において、入力部12、22、32、42の入力タイミングのスキューΔCP'を(平均CP−平均CP)=2/3カウント分に抑えることができた。
図6は、本実施形態にかかるタイミング調整部400の出力調整機能を示す。ここで、出力調整機能とは、タイミング調整部400が、それぞれの出力部14、24、34、44における出力タイミングを調整する場合に、それぞれの出力部14、24、34、44に出力調整信号を出力させ、他の複数の入出力部10、20、30、40における入力部12、22、32、42が出力調整信号を検出する検出タイミングの平均に基づいて、それぞれの出力部14、24、34、44における出力タイミングを調整する機能を指す。ここで、出力調整信号とは、出力部のタイミングを調整するための論理値がL論理からH論理に立ち上がるエッジを有する信号を指す。
例えば、出力部14の出力タイミングを調整する場合、タイミング調整部400は、出力部14に出力調整信号を出力させ、出力部14を含む入出力部10以外の入出力部20、30、40の入力部22、32、42に当該出力調整信号を検出させる。本例では、それぞれの入力部12、22、32、42の入力タイミングは、図5に関連して説明した入力調整機能により既に調整されている。
そして、タイミング調整部400は、それぞれの入力部22、32、42が出力調整信号を検出する検出タイミングの平均を算出し、その平均に基づいて出力部14の出力タイミングを調整する。また、タイミング調整部400は、それぞれの入力部22、32、42について、出力調整信号を検出する検出タイミングが予め定められたタイミングとなるように、それぞれの入力部22、32、42毎に、出力部14の出力タイミングを調整してもよい。
図6では、それぞれの入力部22、32、42毎に調整した出力部14の出力タイミングを示す。タイミング調整部400は、それぞれの入力部22、32、42に対して調整された出力部14の出力タイミングの設定データの平均を算出し、その平均に基づいて出力部14の出力タイミングを調整してよい。
本例では、出力部14が出力調整信号を出力してから入力部22が当該出力調整信号を検出するまでの時間が5カウントであり、出力部14が出力調整信号を出力してから入力部32が当該出力調整信号を検出するまでの時間が6カウントであり、出力部14が出力調整信号を出力してから入力部42が当該出力調整信号を検出するまでの時間が5カウントとなる。また、入力部22、32、42の入力タイミングは、図6に示すようなバラツキを有するので、出力部14の出力タイミングは、図6に示す位置に調整される。
上述したようにタイミング調整部400は、入力部22、32、42に対して設定した出力部12の出力タイミングの設定データの平均を算出し、設定データの平均により出力部14の出力タイミングを調整する。こうして調整された出力部14の出力タイミングを図6において平均DRで示す。
残りの出力部24、34、44についても同様に、設定データまたは検出タイミングの平均を用いて、入力タイミングを調整する。図6に示すように、本実施形態にかかるタイミング調整部の出力調整機能によれば、配線長のばらつきによる出力部14、24、34、44のスキューΔDR'を(平均DR−平均DR)=2/9カウント分に抑えることができた。
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。
10、20、30、40・・・入出力部、11、21、31、41・・・入出力端、12、22、32、42・・・入力部、14、24、34、44・・・出力部、16、26、36、46・・・第1可変遅延回路、18、28、38、48・・・第2可変遅延回路、50・・・接続部、52、54、56、58・・・配線、62、64・・・経路、100・・・ドライバ回路、110・・・パターン発生部、120・・・判定部、200・・・試験装置、300・・・被試験デバイス、400・・・タイミング調整部、500・・・キャリブレーション用ボード

Claims (8)

  1. 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
    入出力端に入力された入力信号を検出する入力部、および、出力信号を前記入出力端から出力する出力部をそれぞれ有し、前記被試験デバイスと信号を受け渡す複数の入出力部と、
    それぞれの入出力部において、前記入力部が前記入力信号を検出する入力タイミングを調整するタイミング調整部と、
    それぞれの前記入出力部における前記入力タイミングを調整する場合に、前記複数の入出力部のそれぞれの前記入出力端を電気的に接続する接続部と
    を備え、
    前記タイミング調整部は、それぞれの前記入力部における前記入力タイミングを調整する場合に、他の複数の前記入出力部の前記出力部に入力調整信号を順次出力させ、それぞれの前記出力部が出力した前記入力調整信号を当該入力部が検出する検出タイミングの平均に基づいて、当該入力部における前記入力タイミングを調整する入力調整機能を有する試験装置。
  2. 前記タイミング調整部は、それぞれの前記出力部が前記出力信号を出力する出力タイミングを調整する場合に、それぞれの前記出力部に出力調整信号を出力させ、当該出力部が出力した前記出力調整信号を他の複数の前記入出力部が検出する検出タイミングの平均に基づいて、当該出力部における前記出力タイミングを調整する出力調整機能を更に有する
    請求項1に記載の試験装置。
  3. 前記タイミング調整部は、前記入力調整機能によりそれぞれの前記入力部における前記入力タイミングを調整してから、前記出力調整機能によりそれぞれの前記出力部における前記出力タイミングを調整する
    請求項2に記載の試験装置。
  4. 前記タイミング調整部は、前記入力調整機能によりそれぞれの前記入力部における前記入力タイミングを調整する前に、それぞれの前記出力部に基準調整信号を順次出力させ、それぞれの前記出力部が前記基準調整信号を出力してから予め定められた基準入力部が当該基準調整信号を検出するまでの時間に基づいて、それぞれの前記出力部における前記出力タイミングを調整する基準調整機能を更に有する
    請求項3に記載の試験装置。
  5. いずれかの前記入力部が、前記基準入力部として機能する
    請求項4に記載の試験装置。
  6. 前記タイミング調整部は、前記基準調整機能を実行する場合に、
    前記基準入力部として機能する前記入力部とは異なる前記入出力部における前記出力部から前記基準調整信号を順次出力させ、前記基準入力部がそれぞれの前記基準調整信号を検出するタイミングに応じて、当該出力部における前記出力タイミングを調整し、
    前記出力タイミングを調整したいずれかの前記出力部から前記基準調整信号を出力させ、前記基準入力部として機能する前記入力部とは異なる前記入力部が当該基準調整信号を検出するタイミングに応じて、当該入力部における前記入力タイミングを調整し、
    前記基準入力部として機能する前記入力部と同一の前記入出力部における前記出力部から前記基準調整信号を出力させ、前記入力タイミングを調整した前記入力部が当該基準調整信号を検出するタイミングに応じて、当該出力部における前記出力タイミングを調整する
    請求項5に記載の試験装置。
  7. 前記タイミング調整部は、前記入力調整機能および前記出力調整機能を交互に複数回ずつ繰り返して実行する
    請求項2から6のいずれか一項に記載の試験装置。
  8. 入出力端に入力された入力信号を検出する入力部、および、出力信号を前記入出力端から出力する出力部をそれぞれ有する複数の入出力部を用いて被試験デバイスを試験する試験装置において、それぞれの入出力部が前記入力信号を検出する入力タイミングを調整するタイミング調整方法であって、
    前記複数の入出力部のそれぞれの前記入出力端を電気的に接続する接続段階と、
    それぞれの前記入力部における前記入力タイミングを調整する場合に、他の複数の前記入出力部の前記出力部に入力調整信号を順次出力させ、それぞれの前記出力部が出力した前記入力調整信号を当該入力部が検出する検出タイミングの平均に基づいて、当該入力部における前記入力タイミングを調整する入力調整段階と
    を備えるタイミング調整方法。
JP2010122035A 2010-05-27 2010-05-27 試験装置及びタイミング調整方法 Pending JP2011247782A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010122035A JP2011247782A (ja) 2010-05-27 2010-05-27 試験装置及びタイミング調整方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010122035A JP2011247782A (ja) 2010-05-27 2010-05-27 試験装置及びタイミング調整方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2011247782A true JP2011247782A (ja) 2011-12-08

Family

ID=45413214

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010122035A Pending JP2011247782A (ja) 2010-05-27 2010-05-27 試験装置及びタイミング調整方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2011247782A (ja)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04127073A (ja) * 1990-09-18 1992-04-28 Hitachi Ltd タイミング補正方法
JPH05157812A (ja) * 1991-12-05 1993-06-25 Yokogawa Electric Corp Icテスタ
JP2000314764A (ja) * 1999-05-06 2000-11-14 Advantest Corp Ic試験装置のタイミング校正方法及びこの校正方法に用いるショートデバイス
JP2004157129A (ja) * 2001-06-07 2004-06-03 Advantest Corp 半導体試験装置のキャリブレーション方法
JP2008506125A (ja) * 2004-07-09 2008-02-28 フォームファクター, インコーポレイテッド 通信チャンネルを較正および/またはデスキューする方法および装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04127073A (ja) * 1990-09-18 1992-04-28 Hitachi Ltd タイミング補正方法
JPH05157812A (ja) * 1991-12-05 1993-06-25 Yokogawa Electric Corp Icテスタ
JP2000314764A (ja) * 1999-05-06 2000-11-14 Advantest Corp Ic試験装置のタイミング校正方法及びこの校正方法に用いるショートデバイス
JP2004157129A (ja) * 2001-06-07 2004-06-03 Advantest Corp 半導体試験装置のキャリブレーション方法
JP2008506125A (ja) * 2004-07-09 2008-02-28 フォームファクター, インコーポレイテッド 通信チャンネルを較正および/またはデスキューする方法および装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5279724B2 (ja) 試験装置およびキャリブレーション方法
TWI546545B (zh) 輔助測試電路及具有該輔助測試電路之晶片及電路板
US7543202B2 (en) Test apparatus, adjustment apparatus, adjustment method and adjustment program
JP4948421B2 (ja) 試験装置、調整装置、調整方法、および、調整プログラム
WO2008050607A1 (fr) Testeur, puce de comparateur de pilote, dispositif de mesure de réponse, procédé d'étalonnage et dispositif d'étalonnage
US7768255B2 (en) Interconnection substrate, skew measurement method, and test apparatus
US6812727B2 (en) Semiconductor integrated circuit device and testing method thereof
TW202119807A (zh) 影像測試系統及其測試組件
US9625520B2 (en) Latch-up test device and method for testing wafer under test
JP4179883B2 (ja) 終端抵抗装置、データ伝送装置及び終端抵抗回路の検査方法
TW201502540A (zh) 用於判斷第一接腳與第二接腳之連接狀態的檢測電路與檢測方法
JP5066184B2 (ja) 試験装置および伝送装置
JP2011247782A (ja) 試験装置及びタイミング調整方法
JPWO2008152695A1 (ja) 電子装置、電子装置の試験方法
US7733113B2 (en) Semiconductor test device
US8791741B2 (en) Adjustment apparatus, adjustment method and test apparatus
WO2010087009A1 (ja) 電子デバイス、試験装置および試験方法
JP2009047480A (ja) 半導体試験装置
JP4611885B2 (ja) 検査システム、検査方法および配線長調整方法
JP5202401B2 (ja) 試験装置およびキャリブレーション方法
JP2006064607A (ja) Icテスタ
JP2020531803A (ja) 回路パス内のタイミングスキューの低減
JP2012177646A (ja) 半導体集積回路及び半導体集積回路のテスト方法
JP2002350502A (ja) 半導体試験装置
JP5249357B2 (ja) 電子デバイス、試験装置および試験方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120830

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130712

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130730

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20131126