JP2011243664A5 - - Google Patents
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Description
基板に形成されるマークは基板の表面に剥き出しになっていることは少なく、マークの上部に層構造がある場合、マークの位置を検出するための検出光が薄膜干渉等によって弱まり、検出器がモアレ縞を検出できなくなることがあった。そこで、本発明は、型および基板に形成されたマークにより生じるモアレ縞の検出に有利なインプリント装置を提供することを例示的目的とする。
本発明は、第1マークと第2マークを用いて基板と型との位置合わせを行い、前記基板上のインプリント材に前記型を用いてパターンを形成するインプリント装置であって、第1マークおよび第2マークを斜入射照明し、前記第1マークおよび前記第2マークからの回折光を検出する検出器と、前記検出器の光軸の角度を調整する調整部と、を備え、前記第2マークは、前記型のパターン面に平行でかつ互いに直交する第1軸および第2軸にそれぞれ沿う第1方向および第2方向の双方に格子ピッチを有する格子パターンを含み、前記第1マークには、前記第1方向に格子ピッチを有する格子パターンを含み、前記第1マークと前記第2マークとの前記第1方向の格子ピッチは互いに異なり、前記検出器は、撮像素子と、前記第1マークの格子と前記第2マークの格子で回折された光によって前記撮像素子の撮像面にモアレ縞を形成する光学系と、を備え、前記調整部は、前記第1軸および前記第2軸に直交する第3軸からの角度を調整する、ことを特徴とする。
次に、基板の上に形成された積層構造に対するスコープ6の対応力について述べる。基板1のマーク5は表面に剥き出しになっていることは少なく、数層から数十層の積層構造の内部に構成されている場合が多い。マーク5の上部に透明な物質からなる層がある場合、照明光の波長によっては照明光がマーク5から返ってこないことがある(所謂薄膜干渉)。このとき、照明光の波長を変えてやれば、薄膜干渉の条件から外れ、マーク5を観察することが可能となる。これに基づき、スコープ6で観察する場合も照明光の波長λを可変とし、積層構造に応じて最もよく検出できる条件を設定する。それと同時に、式2に示す条件に基づき、スコープ6の傾斜角度を可変とし、照明光の波長λとマーク5のx方向の格子ピッチdから導かれる回折角となるようにスコープ6を駆動機構(調整部12)により駆動し、計測信号を取得する。
〔第3実施形態〕
つぎに、図10に基づいて第3実施形態の検出器について説明する。図10は型2のマーク4単体を計測するためのスコープ6を示している。このスコープ6は第1実施形態のスコープと同じものを使っても良いし、別途専用のスコープを用意しても良い。インプリント処理における型2の押し付け時及び離型時に型2に力が加えられるため、型2がインプリントヘッド3に対してずれる可能性が懸念されている。そこで、型2の位置をリアルタイムで計測することが求められている。図10の型2には、ウエハ1上のマーク5との位置合わせを行う為のマーク4と型2の位置を計測する為のマーク4’とが形成されている。マーク4,4’はピッチを変えることで、計測時に最適な回折角が異なるように設計されている。
つぎに、図10に基づいて第3実施形態の検出器について説明する。図10は型2のマーク4単体を計測するためのスコープ6を示している。このスコープ6は第1実施形態のスコープと同じものを使っても良いし、別途専用のスコープを用意しても良い。インプリント処理における型2の押し付け時及び離型時に型2に力が加えられるため、型2がインプリントヘッド3に対してずれる可能性が懸念されている。そこで、型2の位置をリアルタイムで計測することが求められている。図10の型2には、ウエハ1上のマーク5との位置合わせを行う為のマーク4と型2の位置を計測する為のマーク4’とが形成されている。マーク4,4’はピッチを変えることで、計測時に最適な回折角が異なるように設計されている。
Claims (10)
- 第1マークと第2マークを用いて基板と型との位置合わせを行い、前記基板上のインプリント材に前記型を用いてパターンを形成するインプリント装置であって、
第1マークおよび第2マークを斜入射照明し、前記第1マークおよび前記第2マークからの回折光を検出する検出器と、
前記検出器の光軸の角度を調整する調整部と、
を備え、
前記第2マークは、前記型のパターン面に平行でかつ互いに直交する第1軸および第2軸にそれぞれ沿う第1方向および第2方向の双方に格子ピッチを有する格子パターンを含み、
前記第1マークには、前記第1方向に格子ピッチを有する格子パターンを含み、
前記第1マークと前記第2マークとの前記第1方向の格子ピッチは互いに異なり、
前記検出器は、撮像素子と、前記第1マークの格子と前記第2マークの格子で回折された光によって前記撮像素子の撮像面にモアレ縞を形成する光学系と、を備え、
前記調整部は、前記第1軸および前記第2軸に直交する第3軸からの角度を調整する、ことを特徴とするインプリント装置。 - 前記調整部は、前記撮像面に形成されるモアレ縞の視認性が許容範囲内となるように前記検出器の光軸の角度を調節する、ことを特徴とする請求項1に記載のインプリント装置。
- 前記調整部は、前記第1軸および前記第2軸に直交する第3軸と前記第2軸とを含む面内における前記検出器の光軸の前記第3軸からの角度を調整する、ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のインプリント装置。
- 前記第1マークに斜入射される光の前記第2マークに対する入射角をα、前記第2マークの前記第2方向の格子ピッチをd、nを自然数、前記検出器の光軸の前記第3軸からの角度をθとするとき、
前記調整部は、θ=±sin−1{(nλ/d)−sinα}を満たすように前記検出器の光軸の前記第3軸からの角度を調整する、ことを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載のインプリント装置。 - 前記検出器は、前記第1マークに斜入射する光を前記第1マークに射出する照明系を備え、
前記照明系の光軸が前記検出器の光軸と同軸に構成され、前記第2マークの前記第2方向の格子ピッチをd、nを自然数、前記検出器の光軸の前記第3軸からの角度をθとするとき、
前記調整部は、θ=sin−1(nλ/2d)を満たすように前記検出器の光軸の前記第3軸からの角度を調整する、ことを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載のインプリント装置。 - 前記モアレ縞の視認性を表す指標が、前記モアレ縞の信号の振幅、強度、レンジまたはコントラストを含む、ことを特徴とする請求項2に記載のインプリント装置。
- 前記検出器は、前記撮像面に形成されたモアレ縞の情報に基づいて前記第1方向における前記第1マークと前記第2マークとの相対位置を求める処理部を含み、
前記処理部により求められた相対位置に応じて、前記第1方向における前記型と前記基板との相対位置が調整される、ことを特徴とする請求項1ないし請求項6のいずれか1項に記載のインプリント装置。 - 前記処理部は、前記第3軸に沿う方向における前記第1マークと前記第2マークとの間隔を示す情報にさらに基づいて、前記第1方向における前記第1マークと前記第2マークとの相対位置を求める、ことを特徴とする請求項1ないし請求項7のいずれか1項に記載のインプリント装置。
- 前記検出器は、前記第1マークおよび前記第2マークを斜入射照明する照明系を含み、
前記照明系は、互いに波長が異なる複数の光源を含み、前記複数の光源を切り替えて照明することができることを特徴とする請求項1ないし請求項7のいずれか1項に記載のインプリント装置。 - 請求項1ないし請求項9のいずれか1項に記載のインプリント装置を用いてパターンを基板上に形成する工程と、
前記工程で前記パターンを形成された基板を加工する工程と、
を含む、ことを特徴とする物品の製造方法。
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