JP2011238715A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2011238715A5
JP2011238715A5 JP2010107768A JP2010107768A JP2011238715A5 JP 2011238715 A5 JP2011238715 A5 JP 2011238715A5 JP 2010107768 A JP2010107768 A JP 2010107768A JP 2010107768 A JP2010107768 A JP 2010107768A JP 2011238715 A5 JP2011238715 A5 JP 2011238715A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
region
gate electrode
effect transistor
channel region
forming
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010107768A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011238715A (ja
JP5154603B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority claimed from JP2010107768A external-priority patent/JP5154603B2/ja
Priority to JP2010107768A priority Critical patent/JP5154603B2/ja
Priority to PCT/JP2011/060581 priority patent/WO2011138958A1/ja
Priority to US13/696,551 priority patent/US9202895B2/en
Priority to CN201180021920.6A priority patent/CN102870245B/zh
Priority to KR1020127031785A priority patent/KR101442943B1/ko
Priority to TW100116093A priority patent/TWI514585B/zh
Publication of JP2011238715A publication Critical patent/JP2011238715A/ja
Publication of JP2011238715A5 publication Critical patent/JP2011238715A5/ja
Publication of JP5154603B2 publication Critical patent/JP5154603B2/ja
Application granted granted Critical
Priority to US14/531,723 priority patent/US9123752B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (12)

  1. ソース領域及びドレイン領域並びにチャネル領域を含む酸化物導電体層と、
    前記チャネル領域の導通状態を制御するゲート電極と、
    前記ゲート電極と前記チャネル領域との間に形成され強誘電体材料又は常誘電体材料からなるゲート絶縁層とを備え、
    前記チャネル領域の層厚は、前記ソース領域の層厚及び前記ドレイン領域の層厚よりも薄く、かつ
    前記チャネル領域の層厚が前記ソース領域の層厚及び前記ドレイン領域の層厚よりも薄い前記酸化物導電体層は、型押し成形技術を用いて形成されたものであることを特徴とする
    電界効果トランジスタ。
  2. 記チャネル領域のキャリア濃度及び層厚は、前記電界効果トランジスタがオフ状態のときに、前記チャネル領域全体が空乏化するような値に設定され、かつ
    前記チャネル領域のキャリア濃度は、1×10 18 cm −3 〜1×10 21 cm −3 の範囲内にあり、
    前記チャネル領域の層厚は、5nm〜100nmの範囲内にあることを特徴とする
    請求項1に記載の電界効果トランジスタ。
  3. ソース領域及びドレイン領域並びにチャネル領域を含む酸化物導電体層と、前記チャネル領域の導通状態を制御するゲート電極と、前記ゲート電極と前記チャネル領域との間に形成され強誘電体材料又は常誘電体材料からなるゲート絶縁層とを備え、前記チャネル領域の層厚は、前記ソース領域の層厚及び前記ドレイン領域の層厚よりも薄い電界効果トランジスタを製造するための電界効果トランジスタの製造方法であって、
    前記チャネル領域の層厚が前記ソース領域の層厚及び前記ドレイン領域の層厚よりも薄い前記酸化物導電体層を、型押し成形技術を用いて形成することを特徴とする
    電界効果トランジスタの製造方法。
  4. 固体基板における一方の表面上に前記ゲート電極を形成する第1工程と、
    強誘電体材料又は常誘電体材料の原料を含む溶液を前記固体基板における一方の表面上に塗布して強誘電体材料又は常誘電体材料の原料を含む膜を形成した後、熱処理を施すことにより、前記固体基板における一方の表面上に前記ゲート絶縁層を形成する第2工程と、
    酸化物導電性材料の原料を含む溶液を前記ゲート絶縁層上に塗布することにより酸化物導電性材料の原料を含む膜を形成した後、前記ソース領域に対応する領域及び前記ドレイン領域に対応する領域よりも前記チャネル領域に対応する領域が凸となるように形成された凹凸型を用いて、前記酸化物導電性材料の原料を含む膜に対して型押し成形加工を行い、さらにその後、熱処理を施すことにより、前記ソース領域、前記ドレイン領域及び前記チャネル領域を形成する第3工程とをこの順序で含むことを特徴とする
    請求項3に記載の電界効果トランジスタの製造方法。
  5. 体基板における一方の表面上に前記ゲート電極を形成する第1工程と、
    強誘電体材料又は常誘電体材料の原料を含む溶液を前記固体基板における一方の表面上に塗布して強誘電体材料又は常誘電体材料の原料を含む膜を形成した後、前記チャネル領域に対応する領域よりも前記ソース領域に対応する領域及び前記ドレイン領域に対応する領域が凸となるように形成された凹凸型を用いて前記強誘電体材料又は常誘電体材料の原料を含む膜に対して型押し成形加工を行い、さらにその後、熱処理を施すことにより、前記ソース領域に対応する領域及び前記ドレイン領域に対応する領域よりも前記チャネル領域に対応する領域が凸となるような構造を有する前記ゲート絶縁層を形成する第2工程と、
    酸化物導電性材料の原料を含む溶液を前記固体基板における一方の表面上に塗布して酸化物導電性材料の原料を含む膜を形成した後、平坦型を用いて前記酸化物導電性材料の原料を含む膜に対して型押し加工を行い、さらにその後、熱処理を施すことにより、前記ソース領域、前記ドレイン領域及びチャネル領域を形成する第3工程とをこの順序で含むことを特徴とする
    請求項3に記載の電界効果トランジスタの製造方法。
  6. 記第3工程においては、型押し成形技術を用いて前記酸化物導電性材料の原料を含む膜の一部を除去することにより素子分離する工程を含むことを特徴とする
    請求項3又は請求項4に記載の電界効果トランジスタの製造方法。
  7. 記第1工程においては、前記ゲート電極を形成する部分にコンタクトプリンティング法を用いてめっき触媒物質を付着し、その後、当該めっき触媒物質が付着した領域に無電解めっきを施すことにより前記ゲート電極を形成することを特徴とする
    請求項3又は請求項4に記載の電界効果トランジスタの製造方法。
  8. 記第1工程においては、前記ゲート電極を形成する部分にコンタクトプリンティング法を用いて親液化処理を施し、その後、当該親液化処理を施した領域にゲート電極の原料を含むインクを供給し、さらにその後、熱処理を施すことにより前記ゲート電極を形成することを特徴とする
    請求項3又は請求項4に記載の電界効果トランジスタの製造方法。
  9. 体基板における一方の表面上に、酸化物導電性材料の原料を含む溶液を塗布することにより酸化物導電性材料の原料を含む膜を形成した後、前記ソース領域に対応する領域及び前記ドレイン領域に対応する領域よりも前記チャネル領域に対応する領域が凸となるように形成された凹凸型を用いて、前記酸化物導電性材料の原料を含む膜に対して型押し成形加工を行い、さらにその後、熱処理を施すことにより、前記ソース領域、前記ドレイン領域及び前記チャネル領域を形成する第1工程と、
    強誘電体材料又は常誘電体材料の原料を含む溶液を前記固体基板における一方の表面上に塗布して強誘電体材料又は常誘電体材料の原料を含む膜を形成した後、平坦型を用いて前記強誘電体材料又は常誘電体材料の原料を含む膜に対して型押し加工を行い、さらにその後、熱処理を施すことにより、前記ゲート絶縁層を形成する第2工程と、
    前記ゲート絶縁層上に、前記ゲート電極を形成する第3工程とをこの順序で含むことを特徴とする
    請求項3に記載の電界効果トランジスタの製造方法。
  10. 記第1工程においては、型押し成形技術を用いて前記酸化物導電性材料の原料を含む膜の一部を除去することにより素子分離する工程を含むことを特徴とする
    請求項9に記載の電界効果トランジスタの製造方法。
  11. 記第3工程においては、前記ゲート電極を形成する部分に、コンタクトプリンティング法を用いてめっき触媒物質を付着し、その後、当該めっき触媒物質が付着した領域に無電解めっきを施すことにより前記ゲート電極を形成することを特徴とする
    請求項9に記載の電界効果トランジスタの製造方法。
  12. 記第3工程においては、前記ゲート電極を形成する部分にコンタクトプリンティング法を用いて親液化処理を施し、その後、当該親液化処理を施した領域にゲート電極の原料を含む原料を含むインクを供給し、さらにその後、熱処理を施すことにより前記ゲート電極を形成することを特徴とする
    請求項9に記載の電界効果トランジスタの製造方法。
JP2010107768A 2010-05-07 2010-05-07 電界効果トランジスタ及びその製造方法 Expired - Fee Related JP5154603B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010107768A JP5154603B2 (ja) 2010-05-07 2010-05-07 電界効果トランジスタ及びその製造方法
KR1020127031785A KR101442943B1 (ko) 2010-05-07 2011-05-06 기능성 디바이스의 제조방법, 강유전체 재료층의 제조방법, 전계 효과 트렌지스터의 제조방법, 및 박막 트랜지스터, 전계 효과 트렌지스터, 및 전압식 잉크젯 헤드
US13/696,551 US9202895B2 (en) 2010-05-07 2011-05-06 Process for production of functional device, process for production of ferroelectric material layer, process for production of field effect transistor, thin film transistor, field effect transistor, and piezoelectric inkjet head
CN201180021920.6A CN102870245B (zh) 2010-05-07 2011-05-06 功能设备的制造方法、场效应晶体管和薄膜晶体管
PCT/JP2011/060581 WO2011138958A1 (ja) 2010-05-07 2011-05-06 機能性デバイスの製造方法、強誘電体材料層の製造方法、電界効果トランジスタの製造方法、並びに薄膜トランジスタ、電界効果トランジスタ、及び圧電式インクジェットヘッド
TW100116093A TWI514585B (zh) 2010-05-07 2011-05-06 A manufacturing method of a functional element, a thin film transistor, and a piezoelectric ink jet head
US14/531,723 US9123752B2 (en) 2010-05-07 2014-11-03 Process for production of functional device, process for production of ferroelectric material layer, process for production of field effect transistor, thin film transistor, field effect transistor, and piezoelectric ink jet head

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010107768A JP5154603B2 (ja) 2010-05-07 2010-05-07 電界効果トランジスタ及びその製造方法

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012265997A Division JP5656966B2 (ja) 2012-12-05 2012-12-05 電界効果トランジスタ及びその製造方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2011238715A JP2011238715A (ja) 2011-11-24
JP2011238715A5 true JP2011238715A5 (ja) 2012-10-11
JP5154603B2 JP5154603B2 (ja) 2013-02-27

Family

ID=45326386

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010107768A Expired - Fee Related JP5154603B2 (ja) 2010-05-07 2010-05-07 電界効果トランジスタ及びその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5154603B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6470352B2 (ja) * 2012-10-18 2019-02-13 出光興産株式会社 酸化物半導体薄膜

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000058837A (ja) * 1998-08-05 2000-02-25 Sanyo Electric Works Ltd 半導体素子及びその製造方法
JP4767616B2 (ja) * 2005-07-29 2011-09-07 富士フイルム株式会社 半導体デバイスの製造方法及び半導体デバイス
US7989361B2 (en) * 2006-09-30 2011-08-02 Samsung Electronics Co., Ltd. Composition for dielectric thin film, metal oxide dielectric thin film using the same and preparation method thereof
JP4388544B2 (ja) * 2006-12-19 2009-12-24 セイコーエプソン株式会社 半導体装置の製造方法、電気光学装置および電子機器
JP2009218295A (ja) * 2008-03-07 2009-09-24 Ricoh Co Ltd 薄膜トランジスタ、その製造方法、アクティブマトリクス型薄膜トランジスタアレイ及びアクティブマトリクス駆動表示装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2008235876A5 (ja)
WO2008114564A1 (ja) 薄膜トランジスタ及び薄膜トランジスタの製造方法
TW200746441A (en) Manufacturing method of thin film transistor and thin film transistor, and display
JP2012160719A5 (ja)
TW201614804A (en) Semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device
JP2010532559A5 (ja)
JP2011238714A5 (ja)
TW200603233A (en) Method for manufacturing thin film transistor, electro-optical device and electronic apparatus
JP2005354044A5 (ja)
JP2003163337A5 (ja)
TW200608576A (en) Method for fabricating organic thin film transistor and method for fabricating liquid crystal display device using the same
GB2467711A (en) Organic thin film transistors, active matrix organic optical devices and methods of making the same
TW200729516A (en) Semiconductor device and method for fabricating the same
TW200744212A (en) Thin film transistor and fabrication method thereof
EP1958243A4 (en) METHOD OF MANUFACTURING A SEMICONDUCTOR DEVICE
JP2011187952A5 (ja) 半導体装置の作製方法
GB2467259A (en) Organic thin film transistors, active matrix organic optical devices and methods of making the same
JP2005311325A5 (ja)
GB2474406A (en) Surface treated substrates for top gate organic thin film transistors
JP2009230128A5 (ja)
JP2015114460A5 (ja)
JP2007184437A (ja) 半導体装置の製造方法
TW200950973A (en) Intaglio printing plate, production method for intaglio printing plate, production method for electronic substrate, and production method for display device
TW200742081A (en) Method for fabricating a thin film transistor
JP2007335862A5 (ja)