JP2011223545A - 放射線撮影システム、並びに欠陥画素検出装置及び方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】第1の吸収型格子21と第2の吸収型格子22との相対位置を変更することにより得られる複数の縞画像から被検体Hの位相コントラスト画像を取得するX線撮影システム10において、欠陥画素検出部30は、FPD20で取得されメモリ13に記憶された複数の縞画像に基づき、画素ごとに得られる強度変調信号の特性値(例えば、平均値及び振幅値)に基づいて欠陥画素を検出する。
【選択図】図1
Description
図1において、本発明の第1実施形態に係るX線撮影システム10は、被検体HにX線を照射するX線源11と、X線源11に対向配置され、X線源11から被検体Hを透過したX線を検出して画像データを生成する撮影部12と、撮影部12から読み出された画像データを記憶するメモリ13と、メモリ13に記憶される複数の画像データを画像処理して位相コントラスト画像を生成する画像処理部14と、画像処理部14により生成された位相コントラスト画像が記録される画像記録部15と、X線源11及び撮影部12の制御を行う撮影制御部16と、操作部やモニタからなるコンソール17と、コンソール17から入力される操作信号に基づいてX線撮影システム10の全体を統括的に制御するシステム制御部18とから構成されている。
次に、本発明の第2実施形態として、欠陥画素検出部30による欠陥画素の検出処理の変形例について説明する。本第実施形態では、補正処理部33は、図12に示すフローチャートに従って検出処理を行う。
また、上記各実施形態では、第2の吸収型格子22がFPD20とは独立して設けられているが、特開平2009−133823号公報に開示された構成のX線画像検出器を用いることにより、第2の吸収型格子22を排することができる。このX線画像検出器は、X線を電荷に変換する変換層と、変換層において変換された電荷を収集する電荷収集電極とを備えた直接変換型のX線画像検出器において、各画素の電荷収集電極が、一定の周期で配列された線状電極を互いに電気的に接続してなる複数の線状電極群を、互いに位相が異なるように配置することにより構成されており、電荷収集電極が特許請求の範囲に記載の強度変調手段を構成している。
11 X線源(放射線源)
11a X線焦点
20 フラットパネル検出器(FPD)
21 第1の吸収型格子
21a X線遮蔽部
22 第2の吸収型格子
22a X線遮蔽部
60 線透過性基板
61 積層体
62 溝
70 画素
71 電荷収集電極
72〜77 第1〜第6の線状電極群
78 スイッチ群
Claims (16)
- 放射線源から放射される放射線を通過させて縞画像を生成する第1の格子と、
前記縞画像の周期パターンに対して位相が異なる複数の相対位置で前記縞画像に強度変調を与える強度変調手段と、
前記強度変調手段により前記各相対位置で強度変調された縞画像を検出する放射線画像検出器と、を備えた放射線撮影システムに用いられる欠陥画素検出装置であって、
前記放射線源からの放射線照射下において、前記放射線画像検出器で取得される複数の縞画像に基づき、画素ごとに得られる強度変調信号の特性値に基づいて欠陥画素を検出することを特徴とする欠陥画素検出装置。 - 前記特性値は、振幅値、平均値、最大値、最小値、分散値、標準偏差、鮮明度、または周期から選択される1または2以上の値であることを特徴する請求項1に記載の欠陥画素検出装置。
- 前記強度変調信号の平均値及び振幅値に依存した判定基準に基づいて欠陥画素を検出することを特徴とする請求項2に記載の欠陥画素検出装置。
- 前記放射線源が非照射の状態で前記放射線画像検出器により得られるダーク画像に基づいて欠陥画素をさらに検出することを特徴とする請求項1から3いずれか1項に記載の欠陥画素検出装置。
- 放射線源から放射される放射線を通過させて縞画像を生成する第1の格子と、
前記縞画像の周期パターンに対して位相が異なる複数の相対位置で前記縞画像に強度変調を与える強度変調手段と、
前記強度変調手段により前記各相対位置で強度変調された縞画像を検出する放射線画像検出器と、を備えた放射線撮影システムに用いられる欠陥画素検出方法であって、
前記放射線源からの放射線照射下において、前記放射線画像検出器で取得される複数の縞画像に基づき、画素ごとに得られる強度変調信号の特性値に基づいて欠陥画素を検出することを特徴とする欠陥画素検出方法。 - 放射線源から放射される放射線を通過させて縞画像を生成する第1の格子と、
前記縞画像の周期パターンに対して位相が異なる複数の相対位置で前記縞画像に強度変調を与える強度変調手段と、
前記強度変調手段により前記各相対位置で強度変調された縞画像を検出する放射線画像検出器と、
前記放射線源からの放射線照射下において、前記放射線画像検出器で取得される複数の縞画像に基づき、画素ごとに得られる強度変調信号の特性値に基づいて欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、
を備えたことを特徴とする放射線撮影システム。 - 前記特性値は、振幅値、平均値、最大値、最小値、分散値、標準偏差、鮮明度、または周期から選択される1または2以上の値であることを特徴する請求項6に記載の放射線撮影システム。
- 前記欠陥画素検出手段は、前記強度変調信号の平均値及び振幅値に依存した判定基準に基づいて欠陥画素を検出することを特徴とする請求項7に記載の放射線撮影システム。
- 前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素の位置情報を記憶する記憶手段を備えることを特徴とする請求項6から8いずれか1項に記載の放射線撮影システム。
- 前記欠陥画素検出手段により新たに欠陥画素の位置情報が生成された場合に、前記記憶手段に記憶されている位置情報が、新たに生成された位置情報に更新されることを特徴とする請求項9に記載の放射線撮影システム。
- 前記欠陥画素検出手段は、前記放射線源が非照射の状態で前記放射線画像検出器により得られるダーク画像に基づいて欠陥画素をさらに検出することを特徴とする請求項10に記載の放射線撮影システム。
- 前記欠陥画素検出手段は、ダーク画像に基づいて検出された欠陥画素の位置情報を、強度変調信号の特性値に基づいて検出された欠陥画素の位置情報と区別して、識別可能に前記記憶手段に記憶させることを特徴とする請求項11に記載の放射線撮影システム。
- 前記強度変調手段は、前記縞画像と同一方向の周期パターンを有する第2の格子と、前記第1及び第2の格子のいずれか一方を所定のピッチで移動させる走査手段とからなることを特徴とする請求項6から12いずれか1項に記載の放射線撮影システム。
- 前記第1及び第2の格子は、吸収型格子であり、前記第1の格子は、前記放射線源からの放射線を縞画像として前記第2の格子に投影するものであることを特徴とする請求項13に記載の放射線撮影システム。
- 前記第1の格子は位相型格子であり、前記第1の格子は、タルボ干渉効果により、前記放射線源からの放射線を縞画像として前記第2の格子に射影するものであることを特徴とする請求項13に記載の放射線撮影システム。
- 前記放射線画像検出器は、放射線を電荷に変換する変換層と、変換層において変換された電荷を収集する電荷収集電極とを画素ごとに備えた放射線画像検出器であって、
前記電荷収集電極は、前記縞画像と同一方向の周期パターンを有する複数の線状電極群が、互いに位相が異なるように配列されてなり、
前記強度変調手段は、前記電荷収集電極により構成されていることを特徴とする請求項6から12いずれか1項に記載の放射線撮影システム。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2013120126A (ja) * | 2011-12-07 | 2013-06-17 | Canon Inc | 微細構造体、およびその微細構造体を備えた撮像装置 |
WO2013099467A1 (ja) * | 2011-12-27 | 2013-07-04 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影方法及び装置 |
JP2013198661A (ja) * | 2012-03-26 | 2013-10-03 | Konica Minolta Inc | 格子および格子の製造方法ならびに格子ユニットおよび格子ユニットの製造方法 |
US9672949B2 (en) | 2014-02-14 | 2017-06-06 | Konica Minolta, Inc. | X-ray imaging system and image processing method |
WO2018042815A1 (ja) * | 2016-08-31 | 2018-03-08 | ソニー株式会社 | 画像処理装置と画像処理方法 |
Families Citing this family (54)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102802529B (zh) * | 2009-06-16 | 2015-09-16 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 用于微分相衬成像的校正方法 |
JP5796976B2 (ja) * | 2010-05-27 | 2015-10-21 | キヤノン株式会社 | X線撮像装置 |
BR112013009248A2 (pt) * | 2010-10-19 | 2019-09-24 | Koninl Philips Electronics Nv | difração de reticulação para a geração de imagens por contraste de fase diferencial de raios x, disposição de detector de um sistema de raios x para a geração de imagens por contraste de fase de um objeto, sistema de geração de umagens médica de raios x para a geração de imagens por contraste de fase diferencial, método para a geração de imagens por contraste de fase diferencial, elemento de programa de computador para o controle de um aparelho e meio legível por computador |
EP2630476B1 (en) * | 2010-10-19 | 2017-12-13 | Koninklijke Philips N.V. | Differential phase-contrast imaging |
JP2012095865A (ja) * | 2010-11-02 | 2012-05-24 | Fujifilm Corp | 放射線撮影装置、放射線撮影システム |
JP2012143553A (ja) * | 2010-12-24 | 2012-08-02 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影装置および放射線画像検出器 |
US20150117599A1 (en) * | 2013-10-31 | 2015-04-30 | Sigray, Inc. | X-ray interferometric imaging system |
CN104066375B (zh) * | 2012-01-24 | 2017-08-11 | 皇家飞利浦有限公司 | 多方向相衬x射线成像 |
CN104540451B (zh) * | 2012-03-05 | 2019-03-08 | 罗切斯特大学 | 用于微分相位衬度锥束ct和混合锥束ct的方法和装置 |
JP2013255040A (ja) * | 2012-06-05 | 2013-12-19 | Canon Inc | 撮像装置、撮像システム、撮像装置の制御方法およびプログラム |
JP6232059B2 (ja) * | 2012-06-27 | 2017-11-15 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | デジタルpet(dpet)エネルギー校正方法 |
JP6006618B2 (ja) * | 2012-11-12 | 2016-10-12 | 株式会社東芝 | 赤外線固体撮像素子の検査装置および検査方法 |
JP6116222B2 (ja) * | 2012-12-13 | 2017-04-19 | キヤノン株式会社 | 演算装置、プログラム及び撮像システム |
DE102012224258A1 (de) | 2012-12-21 | 2014-06-26 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgenaufnahmesystem zur differentiellen Phasenkontrast-Bildgebung eines Untersuchungsobjekts mit Phase-Stepping sowie angiographisches Untersuchungsverfahren |
JP6191136B2 (ja) * | 2013-01-10 | 2017-09-06 | コニカミノルタ株式会社 | 画像生成方法 |
US20140278292A1 (en) * | 2013-03-15 | 2014-09-18 | Airbus Operations (Sas) | Method for coupling non-destructive inspection data for a material or structure to an analysis tool |
DE102013205406A1 (de) * | 2013-03-27 | 2014-10-16 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgenaufnahmesystem zur Röntgenbildgebung bei hohen Bildfrequenzen eines Untersuchungsobjekts mittels direkter Messung des Interferenzmusters |
JP6238604B2 (ja) * | 2013-07-09 | 2017-11-29 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像システム |
JPWO2015015851A1 (ja) * | 2013-07-30 | 2017-03-02 | コニカミノルタ株式会社 | 医用画像システム及び関節軟骨状態のスコア判定方法 |
US10269528B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-04-23 | Sigray, Inc. | Diverging X-ray sources using linear accumulation |
US10297359B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray illumination system with multiple target microstructures |
US10295485B2 (en) | 2013-12-05 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray transmission spectrometer system |
USRE48612E1 (en) | 2013-10-31 | 2021-06-29 | Sigray, Inc. | X-ray interferometric imaging system |
EP3064930B1 (en) * | 2013-10-31 | 2018-04-18 | Tohoku University | Non-destructive inspection device |
US10304580B2 (en) | 2013-10-31 | 2019-05-28 | Sigray, Inc. | Talbot X-ray microscope |
JP2015166676A (ja) * | 2014-03-03 | 2015-09-24 | キヤノン株式会社 | X線撮像システム |
JP2015190776A (ja) * | 2014-03-27 | 2015-11-02 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置および撮像システム |
US10401309B2 (en) | 2014-05-15 | 2019-09-03 | Sigray, Inc. | X-ray techniques using structured illumination |
JP6451400B2 (ja) * | 2015-02-26 | 2019-01-16 | コニカミノルタ株式会社 | 画像処理システム及び画像処理装置 |
US10352880B2 (en) | 2015-04-29 | 2019-07-16 | Sigray, Inc. | Method and apparatus for x-ray microscopy |
US9508127B1 (en) * | 2015-06-30 | 2016-11-29 | Konica Minolta Laboratory U.S.A., Inc. | Processing for creating a transmission image without artificial noises |
US10295486B2 (en) | 2015-08-18 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | Detector for X-rays with high spatial and high spectral resolution |
US11266363B2 (en) * | 2016-02-17 | 2022-03-08 | Rensselaer Polytechnic Institute | Energy-sensitive multi-contrast cost-effective CT system |
JP6619258B2 (ja) * | 2016-02-29 | 2019-12-11 | 株式会社日立製作所 | X線検出器、x線ct装置、x線検出方法、及びx線検出プログラム |
US10772592B2 (en) * | 2016-07-28 | 2020-09-15 | Shimadzu Corporation | X-ray phase contrast imaging apparatus |
US11000249B2 (en) * | 2016-11-10 | 2021-05-11 | Koninklijke Philips N.V. | X-ray detector for grating-based phase-contrast imaging |
US10247683B2 (en) | 2016-12-03 | 2019-04-02 | Sigray, Inc. | Material measurement techniques using multiple X-ray micro-beams |
WO2018111170A1 (en) * | 2016-12-14 | 2018-06-21 | Scint-X Ab | X-ray absorbing gratings for phase contrast imaging |
WO2018175570A1 (en) | 2017-03-22 | 2018-09-27 | Sigray, Inc. | Method of performing x-ray spectroscopy and x-ray absorption spectrometer system |
US10578566B2 (en) | 2018-04-03 | 2020-03-03 | Sigray, Inc. | X-ray emission spectrometer system |
WO2019236384A1 (en) | 2018-06-04 | 2019-12-12 | Sigray, Inc. | Wavelength dispersive x-ray spectrometer |
US10658145B2 (en) | 2018-07-26 | 2020-05-19 | Sigray, Inc. | High brightness x-ray reflection source |
US10656105B2 (en) | 2018-08-06 | 2020-05-19 | Sigray, Inc. | Talbot-lau x-ray source and interferometric system |
CN109187550A (zh) * | 2018-08-15 | 2019-01-11 | 苏州富鑫林光电科技有限公司 | 一种基于光栅成像的缺陷检测成像方法 |
DE112019004433T5 (de) | 2018-09-04 | 2021-05-20 | Sigray, Inc. | System und verfahren für röntgenstrahlfluoreszenz mit filterung |
CN112823280A (zh) | 2018-09-07 | 2021-05-18 | 斯格瑞公司 | 用于深度可选x射线分析的系统和方法 |
CN114729907B (zh) | 2019-09-03 | 2023-05-23 | 斯格瑞公司 | 用于计算机层析x射线荧光成像的系统和方法 |
US11175243B1 (en) | 2020-02-06 | 2021-11-16 | Sigray, Inc. | X-ray dark-field in-line inspection for semiconductor samples |
US11719727B1 (en) | 2020-02-10 | 2023-08-08 | National Technology & Engineering Solutions Of Sandia, Llc | Systems and methods for screening particle source manufacturing and development test data |
US11217357B2 (en) | 2020-02-10 | 2022-01-04 | Sigray, Inc. | X-ray mirror optics with multiple hyperboloidal/hyperbolic surface profiles |
CN115667896A (zh) | 2020-05-18 | 2023-01-31 | 斯格瑞公司 | 使用晶体分析器和多个检测器元件的x射线吸收光谱的系统和方法 |
WO2022061347A1 (en) | 2020-09-17 | 2022-03-24 | Sigray, Inc. | System and method using x-rays for depth-resolving metrology and analysis |
DE112021006348T5 (de) | 2020-12-07 | 2023-09-21 | Sigray, Inc. | 3d-röntgenbildgebungssystem mit hohem durchsatz, das eine transmissionsröntgenquelle verwendet |
US11885755B2 (en) | 2022-05-02 | 2024-01-30 | Sigray, Inc. | X-ray sequential array wavelength dispersive spectrometer |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008102685A1 (ja) * | 2007-02-21 | 2008-08-28 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | 放射線画像撮影装置及び放射線画像撮影システム |
WO2008102654A1 (ja) * | 2007-02-21 | 2008-08-28 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | X線画像システム及びx線画像プログラム |
JP2009105582A (ja) * | 2007-10-22 | 2009-05-14 | Sony Corp | ノイズ補正回路、撮像装置及びノイズ補正方法 |
JP2010017209A (ja) * | 2008-07-08 | 2010-01-28 | Fujifilm Corp | 放射線画像処理装置および方法 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4532730B2 (ja) | 2000-12-26 | 2010-08-25 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び撮像方法 |
JP2008079923A (ja) | 2006-09-28 | 2008-04-10 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | 放射線画像撮影装置 |
JP2008200359A (ja) | 2007-02-21 | 2008-09-04 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | X線撮影システム |
JP2009133823A (ja) | 2007-10-31 | 2009-06-18 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出器および放射線位相画像撮影装置 |
EP2073040A2 (en) | 2007-10-31 | 2009-06-24 | FUJIFILM Corporation | Radiation image detector and phase contrast radiation imaging apparatus |
JP5438649B2 (ja) * | 2010-03-26 | 2014-03-12 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影システム及び位置ずれ判定方法 |
JP2011224329A (ja) * | 2010-03-30 | 2011-11-10 | Fujifilm Corp | 放射線撮影システム及び方法 |
JP2012090945A (ja) * | 2010-03-30 | 2012-05-17 | Fujifilm Corp | 放射線検出装置、放射線撮影装置、放射線撮影システム |
JP2012143549A (ja) * | 2010-12-21 | 2012-08-02 | Fujifilm Corp | 放射線画像生成方法および放射線画像撮影装置 |
JP5475737B2 (ja) * | 2011-10-04 | 2014-04-16 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影装置及び画像処理方法 |
-
2010
- 2010-09-22 JP JP2010211941A patent/JP5378335B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2011
- 2011-01-28 US US13/016,759 patent/US8591108B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008102685A1 (ja) * | 2007-02-21 | 2008-08-28 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | 放射線画像撮影装置及び放射線画像撮影システム |
WO2008102654A1 (ja) * | 2007-02-21 | 2008-08-28 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | X線画像システム及びx線画像プログラム |
JP2009105582A (ja) * | 2007-10-22 | 2009-05-14 | Sony Corp | ノイズ補正回路、撮像装置及びノイズ補正方法 |
JP2010017209A (ja) * | 2008-07-08 | 2010-01-28 | Fujifilm Corp | 放射線画像処理装置および方法 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013120126A (ja) * | 2011-12-07 | 2013-06-17 | Canon Inc | 微細構造体、およびその微細構造体を備えた撮像装置 |
WO2013099467A1 (ja) * | 2011-12-27 | 2013-07-04 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影方法及び装置 |
JP2013198661A (ja) * | 2012-03-26 | 2013-10-03 | Konica Minolta Inc | 格子および格子の製造方法ならびに格子ユニットおよび格子ユニットの製造方法 |
US9672949B2 (en) | 2014-02-14 | 2017-06-06 | Konica Minolta, Inc. | X-ray imaging system and image processing method |
WO2018042815A1 (ja) * | 2016-08-31 | 2018-03-08 | ソニー株式会社 | 画像処理装置と画像処理方法 |
US11336849B2 (en) | 2016-08-31 | 2022-05-17 | Sony Corporation | Image processing apparatus and image processing method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5378335B2 (ja) | 2013-12-25 |
US20110235775A1 (en) | 2011-09-29 |
US8591108B2 (en) | 2013-11-26 |
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