JP2011210293A - 光情報再生装置、光情報記録装置及び情報記録方法 - Google Patents

光情報再生装置、光情報記録装置及び情報記録方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 光ディスクの大容量化、高速化においては多値記録が有効であるが、従来技術では多値度の増大に伴いS/N比が不足し、このことが多値度を制限する要因となっていた。
【解決手段】 2つの光束の干渉により生じる定在波を記録する光情報記録を行う際、少なくとも一方の光束の偏光方向を多段階に変調する。また、再生時には、再生光の互いに直交する偏光成分のそれぞれに対し、再生用参照光と干渉させ、互いに干渉の位相が異なる3つ以上の干渉光を前記それぞれの偏光成分に対して同時に生成して検出する。
【選択図】図1

Description

本発明は、光ディスク装置の記録容量の大容量化、転送速度の高速化に関する。
光ディスクは、青色半導体レーザと、高NA対物レンズを用いるブルーレイディスクの製品化に至って、光学系の分解能としてはほぼ限界に達している。更なる大容量化とデータ転送速度の高速化を同時に実現する方法としては、多値記録が有力である。多値記録に関する技術としては、例えば特許文献1,特許文献2,特許文献3、特許文献4、特許文献5、特許文献6,特許文献7などに述べられている。
特許文献1,特許文献2,特許文献3、特許文献4、特許文献5では、記録媒体への照射される記録光のパワーに対して記録マークの反射率が連続的に変化する媒体を提供することにより、多値レベルでの記録を可能にしている。特許文献6では、所定のセル内における記録マークの長さと位置を変調することにより、反射光量分布のパターンによる多値記録を行う方式を提供している。
一方、特許文献7では、ページデータを記録するホログラムメモリにおいて、情報光の位相を多値記録することにより、記録容量の増大を図っている。この概要について図25を用いて説明する。まず、データの記録時には、光源2501から出射されたレーザ光を空間光変調器2502によって変調し、これを記録媒体2503に入射することで情報を記録する。ここで、空間光変調器2502は図26(a)のように多数のピクセルからなり、このうち中心部分を通過する光に対して各ピクセルに位相変調を行い、情報光とする。(図の白い部分は位相0、灰色部分は色の濃さに応じた位相変調、黒い部分は透過率0を表す。)周辺部分を通過する光に対しては無変調もしくは適当な位相変調を行い、参照光とする。このとき、情報光と参照光の干渉パターンが記録媒体2503に記録される。次に再生時には、空間光変調器2502において図26(b)のように空間光変調器の中心部分では変調を行わずにDC光とし、周辺部分については記録時と同じ変調を施して、それぞれの部分を通過したレーザ光を記録媒体に照射する。すると、参照光の照射によって情報光が生成され、これにDC光が重なった状態の光がイメージセンサ2504によって検出される。このとき、検出される光は情報光とDC光と干渉を起こしたものであり、情報光の各ピクセルはそれぞれの位相に対応した強度変調を受け、検出される。更に、上記DC光の位相を空間光変調器2502により一様に変化させ、同様の測定を行う。すると、情報光の各ピクセルにおけるDC光との位相関係が変化するため、異なった強度パターンの光がイメージセンサで検出される。このように、DC光の位相を0、π/2、π、3π/2の4種類の状態におけるイメージセンサ2504の出力を得ることにより、情報光の各ピクセルの位相値を得ることができる。また、特許文献7では、位相変調と併せて強度変調も行い、さらに多値度を高めている。
また、特許文献9では、ページデータを記録するホログラムメモリにおいて、偏光感応性の媒体を用いることにより、光の偏光状態を用いた多値記録と、多重記録を実現している。この概要を、図27を用いて説明する。まず多値記録の場合について説明する。記録時には、光源から出射された光を無偏光ビームスプリッタ2701によって信号光と参照光に分岐し、信号光は空間光変調器2502を通過し、変調器のピクセル毎に所定の直線偏光とされ、記録媒体に照射される。参照光は変調されることなく直線偏光状態のまま信号光と同一箇所に記録媒体2503に照射される。次に再生時には、参照光のみを記録時と同一の偏光状態で記録媒体2503に照射する。すると、記録時の信号光と同一の偏光状態を持った光が記録媒体から出射される。この光は偏光ビームスプリッタ2702で分離され、それぞれCCDカメラ2703,2704で検出される。CCDカメラ2703,2704はピクセルごとの偏光状態のうちそれぞれp偏光成分とs偏光成分の大きさに応じた値を出力するため、ピクセル毎にこれらの大きさの比から偏光状態を推定する。したがって記録時に直線偏光状態を多段階に変調すれば、それらに応じた多段階の出力がピクセル毎に得られるため、多値情報の記録・再生が可能となる。次に多重記録の場合について説明する。多重記録の場合は、図27において空間光変調器2502では従来と同様の強度変調を行い、信号光、参照光の偏光状態はビーム面内で一定(例えば信号光はp偏光、参照光はs偏光)のまま記録媒体2503に照射し、ホログラム記録を行う。次に、信号光の偏光を、図示しないλ/2などを用いて90度変え(すなわちs偏光にして)、空間光変調器で別のデータ変調を行い、同一箇所にもう一度ホログラム記録を行う。そして再生時には、参照光のみを記録時と同一の偏光状態で照射する。すると、記録媒体からは、信号光がp偏光のときの状態と、s偏光のときの状態が重ね合わさった光が出射される。このためこの光を偏光ビームスプリッタ2702でp偏光とs偏光に分離し、各偏光状態で記録した時のデータがそれぞれCCDカメラで検出される。すなわち、s偏光状態とp偏光状態とを用いて、多重記録・再生が実現される。
一方、記録容量を高める別のアプローチとして、通常のCDやDVDのような光ディスクと同じく、光を記録媒体上に回折限界近くまで集光し、対向する2つの光を同一箇所に集光することで、集光点付近での2つの光の干渉縞(定在波)を記録する方法が検討されている。(例えば非特許文献1、特許文献8参照)この方式では、面記録密度は従来の光ディスクと同程度である一方で、記録層の多層化が容易、多重記録が可能であって大容量化が容易であり、かつ干渉を記録する方式でありながら、ページデータホログラムのような厳しいトレランスが要求されず、実装が比較的容易であるという利点がある。
特開2001−184649号公報(対応EP1235210A) 特開昭58−215735号公報(対応GB2122408A) 特開平2−064932号公報 特許第3559590号 特開昭61−211835号公報(対応USP4711815) 特許第3033864号(対応USP55552321) 特開2008−310924号公報(対応US2008/0310281) 特開2007−220206号公報(対応EP1986187A) 特許第4104718号
R.R. Mcleod et al., "Microholographic multilayer optical disk data storage," Appl. Opt., Vol. 44, 2005, pp.3197
上記特許文献1,特許文献2,特許文献3、特許文献4、特許文献5においては、反射光量レベルの大きさによって多値データを判別するが、これは図28のように、通常の光ディスクのように2値レベルで記録、再生する場合に比べて判別すべきレベルの差が近接し、実質的に信号レベルが低下するのと同じ状況になる。すなわち、多値度(多値レベルの数)に比例して信号のS/N比が低下するため、大幅な多値化は実質的に困難であるという本質的な問題がある。特許文献6においても、多数の検出器を用いて信号光を検出するため、各検出器当たりの光量が低下し、上記と同様にS/N比の不足によって多値度を大幅に増やすのは困難である。更に、多数の検出器と、それらの出力に対する複雑な信号処理が必要になることから、装置の複雑化、高コスト化が懸念される。
また、特許文献7では、記録された位相情報を読み出すために、1つの記録箇所に対して4回読出しを行う必要がある。さらに読み出しの度にDC光の位相を変える必要があり、この位相の切り替えも位相変調器の応答速度程度の時間を要するため、実質的なデータ読出し速度が(従来の強度変調を行う場合に比べて)大幅に低下してしまう。さらに、4回の読み出しの間に光源のパワーや、これに伴う記録媒体における散乱光が揺らぐため、位相値を推定するための4回の読み出しの値はそれぞれランダムな誤差を含む。これによって推定される位相値がゆらぐ。同様に、検出器のノイズも位相値のゆらぎの原因となる。この検出器に由来する位相ゆらぎは、検出される光強度レベルが十分大きければ問題とならない。上記DC光の強度が十分大きければ十分な光強度レベルを得ることが可能であるが、実際は検出器の飽和により入力可能な光量に制限があるため、十分な光強度レベルを得られない虞がある。以上の理由により、特許文献7に記載の方法では位相値のゆらぎが発生するため、位相の多値度を大幅に増やすのは実質的に困難である。
また、特許文献9の方法のうち、偏光状態による多値記録・再生の場合は、再生方法としてp偏光成分とs偏光成分の出力を合成する必要があるが、2つのCCDカメラで検出されたピクセル情報の対応を取るため、2つのCCDカメラの位置合わせを極めて精密に行う必要があり、実装が非常に難しいという問題がある。また、本方法では再生される光のp偏光とs偏光の位相差の情報を得ることができないため、例えば±45度偏光を区別することができない。したがって偏光の変調範囲は直線偏光の0度(p偏光)から90度(s偏光)の範囲に限られる。このため特許文献1等と同様の理由により、多値度を高めるとS/N比が不足するため、大幅な多値化が困難であると言う問題がある。また、偏光の多値変調には一般的に、液晶素子による空間光変調器が用いられるが、駆動電圧に対する応答が線型でないため、多値変調を精度良く行うことは、多値度が高くなるにつれ困難となる。また、多数のピクセルに対して個別に変調を行う構造のため、変調器のサイズ、コストが高くなる。
特許文献9の方法のうち、偏光状態による多重記録・再生の場合は、多値記録と同様に記録容量を増大させる利点を有するが、各偏光状態の記録を順次行う必要があるため、記録容量の増大に比例してデータの記録時間が増大してしまうという問題がある。
また、特許文献7、特許文献9の方法は、基本的にページデータホログラムであるがゆえに、光源の波長、記録媒体への入射角度などの装置の調整トレランスが厳しく、実現が容易でないという本質的な問題を孕んでいる。
また、特許文献8、非特許文献1の方法では、大容量化が容易である一方で、面記録密度が従来技術を上回らないことから、データ転送速度の向上が難しいという課題がある。また、一般に、これらの方法における信号光強度は微弱であり、特許文献1等と同様に、多値レベルで記録再生を行う場合に実質的に信号レベルが低下するため、著しくS/N比が不足する。従って多値レベルでの記録再生は実質的に困難である。
上記課題に鑑み、本発明の第一の目的は、高い記録密度の光情報記録媒体から高速な再生を行うことが可能な、光情報再生装置を提供することである。
また、本発明の第二の目的は、高い記録密度と高速な記録速度を両立することが可能な、光情報記録装置を提供することである。
本発明の第一の目的を達成するために以下の手段を用いた。
(1)記録媒体より生成される再生光の互いに直交する偏光成分のそれぞれに対し、光源から生成される再生用参照光と干渉させ、互いに干渉の位相が異なる3つ以上の干渉光を前記それぞれの上記偏光成分に対して同時に生成し、これらの干渉光を検出器によって検出し、前記検出器の出力から再生光に含まれる記録情報を信号処理により復調した。
これにより、例えば±45°直線偏光の区別が可能となるため、従来の方法よりもより多値度の高い偏光変調の識別が可能となる。さらに高強度の再生用参照光と干渉させることにより、信号振幅の増幅も同時に行うことが可能であるため、多値度を高める際に問題となるS/N比の低下を避けることができ、多値度の高い再生信号であっても十分なS/N比で信号を再生することが可能となる。
(2)さらに、(1)における信号処理として、再生光の偏光角を出力するものとした。これにより、変調された偏光角と出力信号が線型な関係となるため、精度良く偏光角を識別することが可能となる。
(3)さらに、(2)における信号処理として、再生光の偏光角とともに、再生光の強度もしくは再生用参照光に対する位相のうち少なくとも一方を出力するものとした。これにより、より多値度の高い変調信号を識別することが可能になる。また、位相の出力は再生光の強度揺らぎであるレーザーノイズやディスクノイズによらない出力であるため、特に位相の多値変調の識別の精度を高くすることができる。
(4)別の方法として、(1)における信号処理は、前記再生光の直交する前記偏光成分のそれぞれにつき、強度もしくは再生用参照光に対する位相のうち少なくとも一方を、出力するものとした。これにより、偏光多重記録された記録媒体から多重化された各データを同時に再生することが可能であり、データ読み出し速度の向上が可能である。
本発明の第二の目的を達成するために下記の手段を用いた。
(5)光情報記録媒体のほぼ同一箇所で、互いに対向する方向から2つの光束が集光されることによって、前記2つの光束の干渉により生じる定在波を記録する手段と、前記2つの光束の少なくとも一方の偏光を多段階に変調する偏光変調手段を備えることとした。
これにより、変調手段として線型な応答を示す素子を使用することが可能となり、多値度の向上が可能となる。
なお、ほぼ同一箇所とは、2つの光束の干渉により、定在波を生成できる程度に光のガウシアン分布が重なっていれば良い。
(6)(5)において、前記偏光変調手段は、電気光学変調器とした。これにより、駆動電圧に対する偏光変調の大きさが線型な関係となるため、精度良く多値変調を行うことが可能となり、多値度の向上に寄与する。
(7)(5)の偏光変調手段として、前記2つの光束が前記記録媒体中の集光される箇所において、互いに同一の方向に光電場が振動する直線偏光状態となるような変調を行う偏光変調手段であるとした。
これにより、再生光の偏光角の所定の変調範囲を実現するために必要な、記録時の偏光角の変調範囲を小さくすることができ、偏光変調器の変調範囲が狭い場合でも十分に多値度の高い偏光変調を行うことが可能となる。
(8)(5)の手段において、前記2つの光束は単一の光束を無偏光光分割手段によって分割することにより生成されるものであり、前記偏光変調手段は、前記単一の光束の偏光状態を変調するものである単一の偏光変調手段であるとした。
これにより、2つの光束の偏光変調を1つの偏光変調手段で行うことが可能となり、装置の簡素化、小型化、低コスト化を実現することが可能である。
(9)(5)の手段において、さらに記録される定在波の位相変調と強度変調を同時に行った。これにより、光の偏光、位相、強度という3つの独立なパラメータを信号変調に用いるため、多値度を大幅に高めることが可能となり、記録密度とデータ転送速度の大幅な増大が可能である。
(10)別の手段として、偏光状態を用いた多重記録を行った。より具体的には、光情報記録媒体のほぼ同一箇所で、互いに対向する方向から第一及び第二の光束が集光されることによって、前記2つの光束の干渉により生じる定在波を記録する手段を有し、変調としては位相変調と強度変調の少なくとも一方を行い、記録時の二光束の偏光状態を2通りに設定し、各設定においてそれぞれ位相変調と強度変調を行った。
これにより、記録密度の向上が可能となる。なお、多重記録の効果は、多値度を倍に増やすことと同等であり、位相・強度変調の多値度が高いほど効果記録密度増大の効果は大きい。
(11)(10)の記録において、2種類の偏光状態の設定による記録を同時に行うため、互いにインコヒーレントな2光束を合波した光束を2分割したものを記録に用いた。位相・強度変調はインコヒーレントな2成分のそれぞれに対して同時に行う。ここで上記の合波する光束が互いにインコヒーレントであるとは、これらの光束の位相関係が合波される時点で不定であるということを意味しており、多重記録される2種類のデータが互いに干渉しないために必要な条件である。これは多重記録される2つの定在波が独立に記録されるための条件である。このように記録を行うことで、記録密度、再生速度のみならず、記録速度も同時に高めることが可能である。
(12)(11)の手段において、インコヒーレントな2光束の生成手段として、単一の光源からの光束を分割し、光源のコヒーレンス長よりも十分大きな光路長差を伴って合波する構成を用いた。光源のコヒーレンス長とは、当該光源のからの光束を2分割、合波して干渉させる際に、干渉光の強め合い状態と弱め合い状態の強度差が、合波時の光路長差がゼロの場合に比べて半分になる光路長差を意味している。コヒーレンス長よりも十分大きな光路長差を伴って分割した2光束を合波すると、2光束間の位相関係が不定になり、インコヒーレントな状態で合波される。このような構成を用いることで、インコヒーレントな2光束を単一の光源で生成することが可能であり、低コストに多重・同時記録が可能となる。ここで、十分大きな光路長差とは、そのような光路長差を伴って重ね合わせられた2光束が互いに干渉しないような光路長差を意味する。
(13)(11)の手段において、インコヒーレントな2光束の別の生成手段として、同一波長で発振する、異なる2つの光源からの光束を用いた。これにより、簡素な構成で多重・同時記録が可能である。
(14)(10)の手段において、記録媒体として光束を反射するミラー面を設けるものを用いる場合には、ドライブ構成としては記録時の2光束を同一方向から入射する構成とした。従来技術においてこのような同一方向から入射する構成では、2光束の偏光状態が同一である必要があるため、同一方向から入射するためにビームスプリッタ等で合波する時点で必然的に光量の半分を失うため、光利用効率が低かった。これに対し本手段では2光束の偏光方向を直交させることが可能であるため、例えば偏光ビームスプリッタで合波することにより、上記の光量の損失を避けることができ、記録時の光利用効率を高めることが可能である。
また、上記再生装置を用いて、記録媒体に記録された情報を再生する方法、上記記録装置を用いて、情報を記録媒体に記録する情報記録方法についても、上記と同様の効果がある。
上記構成により、再生では、高いS/N比を保ったまま多値度の高い再生信号を得ることができ、記録では、線型な応答を示す素子を使用することが可能となり、多値度が向上するため、結果的に、高速高密度な記録再生を達成することが可能となる。
本発明の基本的な実施形態 偏光変調器の詳細を説明する図。 対向する2つの光束により定在波が生成されることを説明する図。 アゾベンゼン分子が光照射により配向することを説明する図 位相変調と光源の発光パターンの関係を表す図。 記録媒体中の信号光、参照光、サーボ光の様子を示す図。記録された定在波の位置によって再生光の位相が変調されることを説明する図。 偏光ビームスプリッタによって再生光と再生用参照光が合波される様子を説明する図。 偏光角を再生する信号処理回路のブロック図。 3つの干渉光を検出する場合の干渉光学系の図。 本発明と従来技術における偏光角の再生信号シミュレーション結果。 参照光の記録媒体からの透過光を信号光として用いる別の実施形態を示す図。 偏光変調、強度変調、位相変調を行う別の実施形態を示す図。 位相変調によって記録される定在波が変化することを説明する図。 位相変調により記録された定在波から発生する再生光の位相が変化することを説明する図。 偏光角、位相値、強度値を再生する信号処理回路のブロック図。 位相変調と強度変調の再生信号シミュレーション結果。 記録時の信号光と参照光の偏光状態を2通りに変化させて多重記録を行う別の実施形態の構成図。 多重記録された位相・強度変調信号を再生する信号処理回路のブロック図。 円偏光の信号光、参照光による定在波記録の原理を説明する図。 多重記録された位相・強度変調信号の再生信号シミュレーション結果。 多重記録を同時に行う別の実施形態の構成図。 2つの光源を用いて多重記録を同時に行う別の実施形態を示す図。 信号光・参照光を記録媒体の同一方向から入射する別の実施形態の構成図。 信号光・参照光が記録媒体の同一方向から入射する場合の記録媒体中での信号光、参照光、サーボ光の様子を示す図。 ページデータ記録ホログラムにおいて位相変調を行う従来技術の構成図。 従来の実施例における記録時、再生時の空間光変調器による変調パターンを表す図。 ページデータ記録ホログラムにおいて偏光変調または偏光多重記録を行う従来技術の構成図。 従来技術において多値変調を行う際にS/N比が低下することを説明する図。 本発明の装置の信号処理部の構成を示す図。 本発明の差動検出器の構成を示す図。 本発明の再生装置の構成を示す図。
以下、図1を用いて本発明の実施形態を説明する。
図1は本発明の基本的な実施形態である。まず記録時の動作について説明する。マイクロプロセッサ101からの指示により、ドライバ102は半導体レーザ103に対して後述するドライバ104による信号変調と同期したパルス状の駆動を行い、半導体レーザ103をパルス発光させる。この光束はコリメートレンズ105によって平行光となり、λ/2板106を透過した後に偏光ビームスプリッタ107に入射する。偏光ビームスプリッタ107は分離面に入射するp偏光をほぼ100%透過し、s偏光をほぼ100%反射させる機能を有している。半導体レーザからの光束の偏光状態はp偏光となっており、また記録時にはλ/2板106の光学軸の方向は水平面に対して0度に設定されており、偏光ビームスプリッタ107においてすべての光束が透過する。次に光は偏光変調器108を通過し、前記半導体レーザ103のパルス発光と同期して駆動されるドライバ104によって偏光状態が変調された後、無偏光ビームスプリッタ109に入射し、透過光と反射光に分割される。ここで、透過光は偏光変調器で変調された偏光状態が保持され、反射光はミラーでの反射と同様に偏光方向が左右反転する。(なお、この偏光変化はp偏光とs偏光の間に180度の位相差が発生することと等価である。)この透過光(以後、信号光と呼ぶ)、反射光(以後、参照光と呼ぶ)が記録に用いられる。
偏光変調器においては、マイクロプロセッサ101から送られたユーザデータが符号化回路110によって多値データとして符号化され、これがドライバ104に送られて偏光変調器における変調信号となる。偏光変調器は入力された直線偏光の光を所定の直線偏光に変換するものであり、本実施例では電気光学素子を用いた図2のような構成となっている。変調器に入力されるp偏光の光は軸方向が水平偏光に対して22.5度に設定されたλ/2板201を通過し、p偏光成分とs偏光成分を等しく含んだ45度方向の直線偏光となる。この状態をジョーンズベクトルで表すと
Figure 2011210293
となる。第一成分はp偏光成分、第二成分はs偏光成分を表す。次に光束は電気光学素子202を通過し、駆動電圧に応じたp偏光成分に対するs偏光成分の位相差φが発生する。ここで光束の偏光状態は
Figure 2011210293
となる。最後に光束は軸方向が水平方向に対して45度に設定されたλ/4板203を通過する。このときの偏光状態は
Figure 2011210293
となり、電気光学素子202での位相変調φに応じて出力される光の直線偏光方向が変化し、偏光方向の変調が実現される。偏光の回転角は電気光学素子202での発生位相差φに対してφ/2(単位はラジアン)である。ここで重要なのは、電気光学素子の位相変調量と偏光の回転角とが厳密に線型な関係になっていることである。さらに電気光学素子の駆動電圧に対する位相変化もほぼ線型であるため、駆動電圧に対する偏光角の変化は線型な応答である。このことは、多値度が高い場合であっても制度よく変調を行うことが可能であることを意味している。本実施例では8値の変調とし、電気光学素子202で発生させる位相差φを0,±π/8,±π/4、±3π/8、π/2の8通りに変調し、p偏光方向を0°として0°、±11.25°、±22.5°、±33.75°、45°の8通りの直線偏光を発生させた。なお、偏光変調器としてはこの限りではなく、他に磁気光学素子などを用いてもよい。
なお、偏光変調器は信号光と参照光それぞれの光路中に挿入し、同一の偏光を行っても同一の偏光変調を実現できる。本実施例では光束を信号光と参照光に分割する前の状態で偏光変調を行い、偏光変調器の個数を最小限に抑え、光学系を簡素化することを図っている。
さて、信号光はビームサンプラ111(透過率90%以上、反射率10%以下)、リレーレンズ112を通過し、ガルバノミラー113で反射して対物レンズ114によって記録媒体115の中に集光される。一方、参照光はリレーレンズ116を通過し、ダイクロイックミラー117で反射して対物レンズ118によって記録媒体115の中に集光される。
信号光と参照光は記録媒体115において同一の場所に集光される。すると、図3に示すように光の進行方向が正反対で、同一方向に電場が振動する偏光状態である信号光、参照光の干渉により光強度分布において定在波(干渉縞)が発生する。信号光、参照光は集光点付近においてパワー密度が急激に高くなるため、図3(a)に示すように定在波が実質的に集光点の近傍に局在するような状態となる。記録媒体117は偏光感応性の媒体であり、この定在波の各位置における偏光状態と強度に応じて複屈折を生じ、干渉縞のパターンが媒体の複屈折の空間分布として記録される。
ここで、本発明の記録の原理について述べる。本発明で用いる偏光感応性の記録媒体は、照射される光の偏光方向を軸とした複屈折を生じる媒体である。具体例として側鎖にアゾベンゼンを有するアクリル系ポリマーが知られている。光照射される前の媒体の分子構造は、図4(a)のごとく各アゾベンゼン分子がランダムな方向を向いた状態になっており、光学的な異方性を有しない。この媒体に光を照射すると、図4(b)のごとく各アゾベンゼンが照射光のエネルギーを吸収し、照射される光の偏光方向と垂直な方向に配向する。ここでアゾベンゼンは細長い形の分子であるため、長手方向とそれに垂直な方向とで屈折率が異なる。したがって光照射後の図4(b)の状態の媒体は分子の配向方向とそれに垂直な方向とで異なる屈折率を有し、異方性を生じる。また、異方性の大きさは、配向される分子の数に比例するため、照射する光強度(エネルギー密度)に比例する。
ここで、上記のごとく図3に示されるような光の定在波が記録媒体上に発生する場合を考える。本実施例では照射される二光束は同一方向に振動する偏光状態となっている。(すなわち、例えば一方の光束が光の進行方向から見て45度方向の偏光であれば、もう一方の光束の偏光は光の進行方向から見て−45度となっている。)したがって発生する定在波も同一方向に振動する。このとき、定在波の振動方向(偏光方向)の屈折率は上記プロセスにより、図3(b)のごとく照射前の屈折率よりも大きな方向に、定在波の強度分布と同様に変調される。一方、定在波の振動方向と直交する方向の屈折率は、図3(b)のごとく照射前の屈折率よりも小さい方向に、定在波の強度分布と同様に記録される。なぜなら、記録前の屈折率は媒体の分子の長手方向の屈折率と短方向の屈折率の平均値であるため、配向により記録に用いる光の偏光方向の屈折率が増大すれば、それに垂直な方向の屈折率は減少するからである。ここで、このように記録された媒体に光を照射して信号を再生する場合を考える。このとき、照射される光の、記録時の定在波の振動方向の偏光成分と、これに直交する成分はそれぞれ図3(b)のような屈折率分布により散乱され、戻り光を生じる。この散乱光の電場は一般に、屈折率の変調量(すなわち、照射前の屈折率からの変化量)に比例することが知られている。ここで図3(b)より明らかなように、上記2つの偏光方向においては、屈折率の変調量はちょうど大きさが同じで符号が逆転したものとなっている。このことは、上記2つの偏光方向において、散乱光の位相がそれぞれπ異なることを意味している。散乱光は実際には照射光に対して反対方向にミラーで反射されるごとく発生するため、結局、散乱光は、照射光がミラーで反射され、かつλ/2板を透過するのと等価な状態になる。そして、記録時の照射光の偏光方向がこの仮想的なλ/2板の軸方向となる。従って、記録時の照射光の偏光方向を変調することで、再生時の戻り光(散乱光)の偏光方向が変調され、この戻り光の偏光方向を検出することで、記録情報の再生が可能になる。
ここで、発光パルスと偏光変調器104の変調について詳しく述べる。1つの偏光変調信号を記録媒体に記録する間、変調偏光は一定値であることが望ましい。そうでなければ1箇所に複数の異なる偏光方向に対応した干渉縞が記録されることになり、再生信号レベルの低下や再生信号の誤差を生じる原因となる。このため、図5のごとく、光源が発光状態である間に偏光変調器の変調位相を固定し、発光していない状態のときに次の変調位相へと切り替えればよい。
さて、図1に戻り、安定して記録動作を行うためのサーボ機構について説明する。半導体レーザ119は半導体レーザ103と異なる波長で発振する半導体レーザであり、マイクロプロセッサ101からの指示によりドライバ120によって駆動され、p偏光の光束を出射する。(以後、この光束をサーボ光と呼ぶ。)本実施例で半導体レーザ103の波長を405nm、半導体レーザ119の波長を650nmとした。この光束はコリメータ121を通過して平行光となった後、偏光ビームスプリッタ122とλ/4板123を通過し、右円偏光となってダイクロイックミラーに117に入射する。ダイクロイックミラー117は波長405nmの光を反射し、650nmの光を透過する性質があり、これにより参照光とサーボ光が同軸とされる。サーボ光は、対物レンズ118によって記録媒体中115に形成されているサーボ面に集光される。(図6を参照のこと。)サーボ面は記録型のCD,DVDなどと同じようにグルーブ(溝)が形成されており、サーボ面からの反射光を4分割ディテクタ124によって検出し、対物レンズアクチュエータにサーボ信号をフィードバックすることで、フォーカスサーボ、トラックサーボを行うことができる。本実施例ではフォーカスサーボとして非点収差法を、トラックサーボとしてプッシュプル法を採用した。このとき、参照光はサーボ光と同軸になっているため、記録媒体上での集光点の相対位置が保たれる。従って、リレーレンズ112,116を適切に設定し、サーボ面に対して一定の距離の平面内に干渉縞を記録することができる。また、リレーレンズを構成する一方のレンズを光軸方向に動かすことにより、参照光の集光点の光軸方向の位置が変わる。これにより、一様な記録媒体中に多層記録を行うことができる。なお、リレーレンズ112,116は各設定において記録媒体で発生する球面収差をキャンセルし、回折限界の集光が行われるように設計されている。
なお、本実施例では信号光、参照光生成のための半導体レーザ103とは別個にサーボ光生成のための光源を用いたが、これは本発明において必須の構成ではなく、例えば同一光源から信号光、参照光、サーボ光を生成してもよい。
一方、信号光は記録媒体115中で参照光と同一の集光点に集光される必要がある。このため、記録媒体114を透過した参照光を用いてサーボ駆動を行う。具体的には、記録媒体115を通過した参照光をビームサンプラで4分割ディテクタ125に導いて検出し、非点収差法によって対物レンズ114の光軸方向位置を制御し、ラジアル方向のプッシュプル法によって対物レンズ114のラジアル方向位置を制御し、タンジェンシャル方向のプッシュプル法によってガルバノミラー113のタンジェンシャル方向の角度を制御する。これにより、参照光と信号光の光束を完全に一致(進行方向のみ逆)させることができ、信号光の集光点を参照光の集光点と一致させることで効果的に定在波を発生させる。
次に、再生時の動作について説明する。半導体レーザ103はDC発光し、λ/2板106を通過して偏光ビームスプリッタ107に入射する。ここで再生時にはλ/2板106は光学軸方向が水平方向に対して22.5度に設定されており、45度偏光となった光束のp偏光成分が偏光ビームスプリッタ107を透過し、s成分が反射する。s偏光状態の反射光は軸方位が22.5度のλ/2板126によって45度偏光となり、偏光ビームスプリッタ127に入射する。以後、この光束を再生用参照光と呼ぶ。p偏光状態の透過光は駆動電圧が印加されない状態(すなわち変調がなされない状態の)偏光変調器108を通過して無偏光ビームスプリッタ109に入射し、透過光と反射光に分割される。ここで再生時には透過光もしくは反射光いずれか一方のみを使用する。本実施例では反射光を使用するため、透過光は図示しないシャッタ等を用いて遮光する。上記反射光は記録時の参照光と同じ光路を辿り、記録時と同様に半導体レーザ119の光束によってサーボ制御された対物レンズ118によって記録媒体115中に集光される。ここでもリレーレンズ116を適切に設定することで、所定の記録層上に参照光を集光させる。
ここで、記録時に定在波が記録媒体115の屈折率変化として記録された場所に参照光が照射されると、周期的な屈折率変化によって反射光が生成される。そして記録時の偏光方向に対応した軸方位のλ/2板に相当する位相変化を受け、反射光は偏光変調される。以後、この反射光を再生光と呼ぶ。本実施例では記録時の参照光の偏光方向が0°、±11.25°、±22.5°、±33.75°、45°の8通りに変調されていたため、再生光の偏光方向は0°、22.5°、45°、67.5°、90°、112.5°、135°、157.5°の8通りに変調される。
再生光は記録媒体115に照射された光と逆の光路をたどり、無偏光ビームスプリッタ109に入射して透過光と反射光に分割されるが、再生には透過光のみを用いる。この透過光は上記の再生用参照光と異なる方向から偏光ビームスプリッタ127に入射する。ここで、偏光ビームスプリッタ127はp偏光を透過してs偏光を反射するため、図7のごとく再生光のp偏光成分と再生用参照光のs偏光成分が同軸となって1つの光束(以後、第一の干渉光束と呼ぶ)となり、また再生光のs偏光成分と参照光のp偏光成分が同軸となってもうひとつの光束(以後、第二の干渉光束と呼ぶ)となる。これらの光束はそれぞれ検出光学系128、129に入射する。第一の干渉光束は無偏光ビームスプリッタ130によって透過光、反射光に2分割される。透過光は光学軸が水平方向に対して22.5度に設定されたλ/2板131を通過して偏光が45度回転し、ウォラストンプリズム132によってp偏光成分とs偏光成分に分離される。分離された光束は差動検出器133の2つのフォトダイオード134、135にそれぞれ入射し、強度の差に比例した電気信号が差動検出器133から出力される。同様に、無偏光ハーフビームスプリッタ130を反射した光束は、光学軸が水平方向に対して45度に設定されたλ/4板136を通過した後にウォラストンプリズム137によって分離され、同様に差動検出器138で検出される。後で述べるように、ウォラストンプリズム132、137で分離された後の光束はいずれも再生光と再生用参照光とが干渉した干渉光であり、差動検出器133,138の出力は干渉成分を抽出したものになっている。また、第二の干渉光束についても、干渉光学系128と同一の構成である干渉光学系129によって第一の干渉光束と同様に検出され、差動検出器139、140によって再生光と再生用参照光の干渉成分が出力される。
差動検出器133、138、139、140の出力はデジタル信号処理回路141に送られ、ここで再生光の偏光方向(偏光角)が再生信号として得られる。信号処理回路141のブロック図を図8に示す。差動検出器133、138、139、140の出力(それぞれD1,D2,D3,D4とする)は図示しないAD変換器によってデジタル信号に変換された後、複素電場演算回路801に送られ、ここで再生光のp偏光成分、s偏光成分それぞれについて(再生用参照光によって増幅された)振幅の大きさと、(再生用参照光を基準とした)位相が演算結果として出力される。すなわち、この演算結果により再生光の電場状態が特定される。これらの演算結果のうち位相の演算結果は符号判別回路802に送られる。ここでp偏光成分とs偏光成分の位相の大きさを比較することにより、p偏光成分とs偏光成分が同位相であるか、逆位相であるかが判別され、同位相の場合は+1が、逆位相の場合はー1が出力される。この判別により例えば±45°偏光の区別が可能になる。最後に、p偏光、s偏光それぞれの振幅の大きさと、上記位相の判別結果が偏光角演算回路803に送られ、最終的に再生光の偏光の角度(偏光値)が出力される。
得られた偏光値は復号回路143に送られてユーザデータに変換され、マイクロプロセッサ101を通して上位装置144に送られる。
ここで、検出光学系131によって偏光変調信号を再生する原理について述べる。まず、検出光学系128の動作について述べる。検出光学系128に入射する光束は、p偏光成分として再生光を、s偏光成分として再生用参照光を含んでいるため、この偏光状態をジョーンズベクトルで表すと
Figure 2011210293
となる。ここでEspは再生光のp成分の電場、Erは再生用参照光のs成分の電場である。また、このベクトルの第一成分はp偏光を、第二成分はs偏光を表す。この光束が無偏光ビームスプリッタ透過し、λ/2板133を通過した後のジョーンズベクトルは
Figure 2011210293
となる。次にウォラストンプリズム134によってp偏光成分とs偏光成分に分離されるため、分離された光束の電場はそれぞれ
Figure 2011210293
Figure 2011210293
となり、再生光と再生用参照光の重ね合わせ、すなわち干渉光となっている。一方、無偏光ビームスプリッタ132を反射した光がλ/4板138を通過した後のジョーンズベクトルは
Figure 2011210293
となる。次にウォラストンプリズム139によってp偏光成分とs偏光成分に分離されるため、分離された光束の電場はそれぞれ
Figure 2011210293
Figure 2011210293
となり、やはり再生光と再生用参照光の重ね合わせ、すなわち干渉光となっている。従って4つの分岐光145,146,147,148の強度はそれぞれ、
Figure 2011210293
Figure 2011210293
Figure 2011210293
Figure 2011210293
となり、それぞれ第1項、第2項が再生光、再生用参照光の強度成分を表し、第3項が再生光と再生用参照光の干渉を表す項である。Δφpは再生用参照光の位相を基準とした再生項のp成分の位相である。差動検出器135,140の出力はこれらの分岐光の強度の差分に比例するため、それぞれ
Figure 2011210293
Figure 2011210293
と表され、上記の干渉を表す項に比例した出力となっている。ηは検出器の変換効率である。
ここで、もう一方の検出光学系については、入力される第二の干渉光束の偏光状態が
Figure 2011210293
と表される。Erは再生用参照光のp偏光成分、Essは再生光のs偏光成分である。ここで、再生用参照光は45°偏光状態で偏光ビームスプリッタ130に入射するため、p偏光成分とs偏光成分が(位相も含め)等しく、同じ文字Erを用いて表している。干渉光学系の構成は干渉光学系と全く同一であるため、上記と同様に、干渉光学系内部の差動検出器の出力はそれぞれ
Figure 2011210293
Figure 2011210293
と表される。Δφsは再生用参照光の位相を基準とした再生項のs偏光成分の位相である。
なお、本実施例では検出光学系において4つの干渉光の強度から位相値を推定したが、干渉光強度を決めるパラメータは(1)信号光強度,(2) 再生用参照光強度,(3)信号光と再生用参照光の位相差、の3つであるため、原理的には3つの異なる位相の干渉光強度を検出することにより、上記と同様に再生光電場の強度、位相を推定可能である。たとえば第一の光束を検出する検出光学系128の代わりに、図9に示す検出光学系900を用いる。ここでは、入射光束を無偏光ビームスプリッタ901、902によって3つに分割し、そのうち1つの光束はs偏光がp偏光に対して120度の位相差を生じる位相板903を, 別の光束にはs偏光がp偏光に対して240度の位相差を生じる位相板904を通過させ、3つの光束のいずれも45度偏光のみを透過する偏光子905、906、907を透過し、検出器908、909、910によって検出する。これらの検出器の出力は
Figure 2011210293
Figure 2011210293
Figure 2011210293
と表される(検出器の変換効率は省略)。これらの出力から、下記の演算を行うことにより再生光のp偏光成分の電場の大きさ、位相をそれぞれ推定できる。
Figure 2011210293
Figure 2011210293
第二の干渉光束についても全く同様に行うことで、結果的に再生光の複素振幅を特定することができ、偏光角を再生可能である。
上記は、3つの異なる位相の干渉光強度を検出する例を説明したが、このように、位相、偏光を調整するようにして、4つ、5つなどの、3つ以上の複数の位相の干渉光強度を検出することができる。
ここで、本発明により従来(特許文献9)よりも多値度の高い偏光変調信号の記録・再生が可能であることについて説明する。まず、本発明における出力D1,D2,D3,D4は、参照光の電場の絶対値が乗算された形になっている。従って参照光の強度を高めることにより出力信号レベルを高くすることができ、検出器のアンプノイズに対して高いS/N比を確保でき、多値レベルの識別が容易になるため、多値度を高めることができる。また、本方式は再生光p偏光成分、s偏光成分の位相を検出することができるため、例えば+45°偏光と−45°偏光を識別することが可能である。したがって任意の直線偏光を識別することが可能であり、従来0°から90°の範囲までの偏光変調に比べ、偏光変調の範囲が2倍になり、原理的に多値度をさらに高めることが可能となる。なお、本実施例では直線偏光の場合について扱ったが、本実施例の再生方法によれば、任意の偏光状態を識別することが可能である。
図10(a)は本実施例の再生信号のシミュレーション結果を示したものである。横軸は時間、縦軸は再生された直線偏光の偏光角を表している。再生された偏光角は変調時の偏光角0°、22.5°、45°、67.5°、90°、112.5°、135°、157.5°の8値に近い値となっており、識別誤差を生じることなく正しく偏光角を再生することができる。これに対し、本実施例と同一の再生光に対し、特許文献9のごとく、p偏光とs偏光成分の強度のみを測定して偏光角を再生する場合の再生信号のシミュレーション結果を図10(b)に示す。この場合、上述のように例えば±45°偏光を区別できないために、再生される偏光角は0°から90°の範囲に限定されてしまっている。また、再生信号レベルが微弱であるために、再生信号の誤差が大きく、再生される偏光角に識別エラーが生じて正しく偏光角の再生を行うことができない。本発明の方法では信号が微弱であっても参照光の強度を大きくとることで信号レベルの増強を図ることができ、これにより図10(a)のように微弱な再生信号であっても十分にノイズを抑圧することが可能である。
なお、本実施例では記録時に、半導体レーザ103からの光束を分岐して信号光、参照光を生成して記録媒体の反対側から入射する構成としたが、信号光、参照光の生成方法や、それらの入射方法はこの限りではない。たとえば図11のように、記録媒体に最初に入射する光束を参照光とし、記録媒体を透過した参照光を信号光としてもよい。この場合、信号光はミラー1101で反射して同じ光路を逆に辿り、再び記録媒体に入射して参照光と干渉する。また、特許文献8のごとく、信号光と参照光を同軸にして同一方向から記録媒体に入射し、一方の光を記録媒体の裏面に構成されるミラー面で片方の光束を反射させ、同一の集光点に反対方向から集光させる構成としてもよい。
本実施例においては偏光変調として信号光と参照光を同一方向に振動する直線偏光としたが、変調方法はこの限りではない。例えば特許文献9のごとく、参照光の偏光を固定し、信号光の偏光のみを変調しても同様に偏光情報の記録・再生が可能である。ただし、本実施例の偏光変調は特許文献9に比べ、再生時に同一の偏光状態を得るための記録時の偏光回転量が半分であるため、位相変調器202での位相変調量が限られている場合などに有効である。
なお、本実施例は記録媒体へのデータ記録、再生のいずれも可能であるが、構成の一部を使用して再生装置とすることももちろん可能である。より具体的には図31のごとく、図1の構成より、偏光変調器108とそのドライバ104、ビームサンプラ111、リレーレンズ112、ガルバノミラー113、対物レンズ114、4分割ディテクタ125など、記録時のみに使用する構成要素を省略すればよい。
本実施例は、実施例1における偏光変調に加え、信号光の位相、強度を変調することにより更なる多値度の増大を狙ったものである。全体の構成図を図12に示す。この場合、記録時に符号化回路110によってドライバ104への変調信号とともにドライバ102,1202への変調信号が生成される。半導体レーザ103はドライバ102によって変調信号に応じた発光強度の変調がなされ、位相変調器1202はドライバ1201によって透過する信号光の位相を変調する。(なお、半導体レーザ103は実施例1と同様にパルス発光しているため、パルスのピーク強度の大きさが変調されている。)本実施例では半導体レーザ103の強度変調を強度比が1:2の2値に、位相変調器1202の位相変調を0、π/4、π/2、3π/4、π、5π/4、3π/2、7π/4の8値とした。さらに、位相変調においては、後述する安定した再生信号の取得のために、差分符号化を行う。すなわち、ある変調位相の値と直前の変調位相の差を記録信号とする。他の動作は基本的に実施例1と同一である。
上記のごとく変調された信号光、参照光は実施例1と同様に記録媒体115に集光され、両者の干渉による定在波の強度分布が屈折率変化として記録される。ここで信号光が位相変調をなされている場合、定在波の強め合いの位置(位相)の変化として変調された位相値が記録される。図13は信号光、参照光の集光箇所における定在波の2次元強度分布を示したものである。横方向が信号光、参照光の光軸方向、縦方向がそれに垂直な(任意の)方向であり、色の濃い部分ほど強度が大きい。図13上部の強度分布は位相変調が0の場合であり、図13の下部は位相変調が2πΔl/λ(λは信号光、参照光の波長)、すなわち位相変調器1202によって光路長がΔlだけ変調されている場合の強度分布である。図13に示すように、光路長の変調Δlに対し、定在波のピーク位置がΔl/2だけシフトする。このような強度分布が媒体の屈折率変化として記録されたものに対して、光を照射すると、図14(b)のごとく、光軸方向の位置がΔl/2だけ変化したミラーで光が反射されるのとまったく同様に、図14(a)のごとく再生光に光路長変調Δlがなされる。したがって記録時の変調された位相が、再生光の位相として再生される。
ここで重要なことは、変調される光路長(位相)と記録される定在波のピーク位置のシフト量とが、厳密に線型な関係になっており、その比例係数は記録媒体や光学系によらないということである。特許文献1などの従来の多値記録方式では、光強度などの変調レベルに対する記録媒体の応答が線型でない、もしくは比例係数が媒体や光学系に依存するために、精度良く多値レベルを記録することが難しかった。これに対して本発明の方式においては、上記のごとく変調量が極めて精度良く記録状態に反映されるため、簡易で高精度な記録が可能となり、その結果容易に多値度を高めることができる。
なお、上記では、8値の位相変調を行う例を示したが、これに限られないことは、言うまでもない。
また、強度変調に関しては、半導体レーザ103の強度に比例して上記の定在波の強度分布が一様に変化するため、記録媒体の屈折率変化の大きさとして記録される。このため再生時には、再生光の強度として再生される。
次に、再生時の動作について説明する。検出光学系128,129によって4つの差動信号D1,D2,D3,D4が生成されるまでは実施例1と全く同様である。本実施例での信号処理回路141のブロック図を図15に示す。実施例1と同様に、複素電場演算回路801により再生光の電場振幅が特定されているため、偏光角のみならず、位相と強度を推定することが可能となっている。位相値に関しては位相推定回路1501において、p偏光、s偏光それぞれの位相値φ1、φ2と、偏光角の推定値pより、下記の表1に従い推定値が出力される。
Figure 2011210293
また、強度値は強度推定回路1502において、p偏光、s偏光それぞれの振幅の大きさの二乗を加算したものとして得られる。
上記の信号処理回路の出力は復号回路143に送られ、信号処理回路141で得られた偏光角、位相値、強度値よりユーザデータが復号される。ここで、位相値については直前の位相推定値との差分に基づき復号される。出力されたユーザデータはマイクロプロセッサ101を通して上位装置144に送られる。
ここで差分符号化について詳しく述べる。信号処理回路によって得られた位相φは、実際は変調位相以外の成分を含んでおり、正確には
Figure 2011210293
と表される。ここでφsは位相変調器で変調された位相、φr1は記録された時点における信号光と参照光の光路長差(位相変調分は除く)に対応する位相差、φr2は再生時における再生光と再生用参照光の光路長差(位相変調分は除く)に対応する位相差、である。φr1、φr2はそれぞれ、主に記録時と再生時の記録媒体の面ぶれ(光軸方向の変移、100μmオーダ)によって発生する。そして、これらは時刻とともに変動する。しかし、本発明においては面ぶれの速度が数10kHz〜数100kHz程度であるのに対し、データは数10MHz〜数100MHzで書き込まれるため、隣接する書き込み位置(シンボル)ではφr1、φr2はほぼ一定である。従って隣接シンボル間の差を復号信号とすることにより、上記の不要な位相成分φr1、φr2の影響を受けることなく信号を再生することができる。
ここで、本発明の位相検出方法により従来に比べて高いS/N比を得られることについて説明する。一般に、光情報再生装置においては、主な再生信号のノイズは、レーザーノイズ、ディスクノイズ、検出器ノイズ(アンプノイズ)、ショットノイズに分類される。(ページデータのホログラムメモリにおいては更に散乱光のノイズが問題となる。)特許文献1やCD,DVDなどの市販の光ディスクなど、ほとんどの従来技術においては、再生時に記録媒体から反射される光強度の変化を信号として読み取る。このため、光源の発光強度の揺らぎであるレーザーノイズは再生信号にノイズとして加算され、S/N比低下の原因となりうる。また、特許文献7についても既に述べたように、4通りの出力から位相値を得る際にレーザーノイズが位相値の誤差を生ずる。これに対し、本実施例において得られる位相値の再生信号は、光源の強度に無関係な出力であるため、レーザーノイズの影響を受けない。ここで重要なことは、4つの分岐光が同時に生成され、差動検出器の出力が(時間的に)同時に得られていることである。これにより、再生光や再生用参照光の強度が変動したとしても、分岐光が一様に変動するため、位相値を出力する演算において上記の強度変動を常にキャンセルし、レーザーノイズの影響を受けない出力となる。次に、ディスクノイズは記録媒体の反射率のゆらぎであり、記録媒体から反射される光強度の変化を信号として読み取る方式に対しては、レーザーノイズと同様に揺らぎ成分となる。しかし本発明では、レーザーノイズの場合と同様にキャンセルされ、ディスクノイズの影響が抑圧される。検出器ノイズは、検出される光に関係なく検出器が持つノイズであり、記録媒体の反射率が小さいなどの原因により、検出される光の光量が小さいときに問題となる。これに対し、本発明では再生用参照光の光量を十分大きくすることで検出器ノイズの影響を抑圧することができる。なぜなら、検出器ノイズは差動検出器の出力信号に加算される形で現れるが、(検出器ノイズを除いた)差動検出器の出力信号の大きさは再生用参照光の電場の絶対値に比例するため、再生用参照光の強度を大きくすることで検出器ノイズの大きさを相対的に小さくすることが可能となるからである。なお、本実施例では、差動検出器は図30のように、2つのフォトダイオードに入射した分岐光による光電流の差が、トランスインピーダンスアンプ3001によって電流‐電圧変換される、電流差動型の構成となっている。本構成により、十分な出力レベルを得るために再生用参照光の強度を高めた場合でも、再生用参照光自身の強度による光電流は2つのフォトダイオードで等しく、キャンセルされるため、トランスインピーダンスアンプでの飽和が起きないため、十分な出力信号レベルを得ることができ、効果的にアンプノイズの相対的な大きさを抑圧することができる。また、上記の差動検出器の構成においては、フォトダイオード2つにつきトランスインピーダンス1つが対応するため、通常のディテクタのごとくフォトダイオードの光電流をトランスインピーダンスで電流―電圧変換した出力を4つ用いて演算を行うよりも検出器ノイズを3dB低減することができ、この点においてもアンプノイズの抑圧に効果的である。
このように、本実施例の再生方法は原理的に除去が難しいショットノイズ以外のノイズに対して十分な抑圧効果があり、従来技術に比べて大幅なS/N比の向上が可能となるため、多値度を大幅に高めることが可能となり、記録媒体へのデータ記録容量と転送速度を劇的に高めることが可能となる。
図16は本実施例のうち位相値、強度値の再生信号のシミュレーション結果である。図は複素平面状に再生された光電場が信号点として配置されており、各点の絶対値が強度値の平方根、偏角が位相値となっている。いずれの信号点も変調信号を精度良く復調しており、正確に再生信号が得られることがわかる。また、これら位相値、強度値とともに、図10に示されるような偏光角も同時に再生される。
なお、本実施例では偏光角に加え、位相と強度を同時に変調したが、位相変調あるいは強度変調の一方のみを行っても構わない。また、位相変調値と強度変調値に相関があってもよく、例えばQAM(Quadrature Amplitude Modulation)のように、変調される電場複素振幅が複素平面状において格子点状に配置されるような変調であっても構わない。QAMは電場複素振幅の実部成分と虚部成分を独立に変調する方式であるが、上記のように位相変調値と強度変調値が相関を持った位相・強度変調と捉えることができる。
本実施例の場合も実施例1と同様、構成の一部を使用して再生装置とすることも可能である。具体的には図28のごとく、図1の構成より、偏光変調器108とそのドライバ104、位相変調器1202とそのドライバ1201、ビームサンプラ111、リレーレンズ112、ガルバノミラー113、対物レンズ114、4分割ディテクタ125など、記録時のみに使用する構成要素を省略すればよい。
本実施例は、記録時の偏光状態を2通りに変化させることにより、多重記録を実現するものである。本実施例の構成図を図17に示す。まず記録時の動作について説明する。基本的な動作は実施例2と同一であるが、信号変調として偏光変調は行わず、位相変調と強度変調のみを行う。ここで、軸方位が45°のλ/4板1701,1702を用いて、信号光、参照光の偏光状態としてはそれぞれ、光の進行方向から見たときに右円偏光、左円偏光となって記録媒体115に入射するように設定されている。この偏光状態において記録媒体に、実施例1、2と同様に信号光、参照光の干渉光が記録される。(以後、この動作を第一の記録と呼ぶ。)その後、λ/4板1701、1702の軸方位をそれぞれ90°ずつ変化させ、記録媒体に集光される信号光、参照光の偏光状態をそれぞれ(光の進行方向から見たときに)左円偏光、右円偏光とする。この偏光状態において記録媒体115に再度信号光、参照光の干渉光を記録する。(以後、この動作を第二の記録と呼ぶ。)このとき、1度目の偏光状態の設定において記録した場所と同一の場所に重ねて記録する。すなわち、多重記録を行う。
再生時の動作としては、実施例1、2、と同様に、参照光と信号光いずれか一方の光路より記録媒体に光束を照射し、反射光を検出光学系128,129で検出する。(本実施例では参照光の光路を用いる。)ここで、λ/4板1702の軸方位を0度に設定し、記録媒体にはp偏光(すなわち、右円偏光と左円偏光の重ね合わせ)の光が照射されるようにする。すると、照射光の右円偏光成分は前記第一の記録により記録された干渉縞に応じて反射され、右円偏光の再生光が生成される。同様にして照射光の左円偏光成分は、前記第二の記録により記録された干渉縞に応じて反射され、左円偏光の再生光が生成される。これらの右円偏光と左円偏光の再生光は同軸となって上記照射光と逆の光路を辿る。ここでλ/4板1702を通過するため、右円偏光は+45°直線偏光に、左円偏光はー45°直線偏光となる。さらに偏光ビームスプリッタ127に入射する直前に軸方位が22.5°のλ/2板1703を通過し、再生光のうち記録媒体115から出射された時点で右円偏光成分だったものはp偏光に、左円偏光成分だったものはs偏光に変換された状態で偏光ビームスプリッタ127に入射する。その後再生光は実施例1、2と同様に+45°直線偏光の参照光と合波され、検出光学系128,129によって信号D1,D2,D3,D4が出力される。ここで、図7のように再生光のp偏光成分は検出光学系128へ、s偏光成分は検出光学系129へ導かれるため、D1,D2は第一の記録によって記録された信号が復調されたものになっており、D3,D4は同様に第二の記録によって記録された信号が復調されたものになっている。これらの出力信号は信号処理回路141に送られる。ここで信号処理回路141のブロック図は図18のようになっており、D1,D2より第一の記録によって記録された強度値、位相値がそれぞれ推定され、
同様にD3,D4より第二の記録によって記録された強度値、位相値がそれぞれ推定される。これらの推定値より復号回路143によりユーザデータが復号される。
ここで上記の多重記録、再生の原理を説明する。例として上記第一の記録の場合を考える。記録媒体中での信号光、参照光の定在波は、実施例1、実施例2の場合と異なり、光軸方向のいずれの場所でも同じ振幅の大きさを持ち、また定在波の振動の方向が図19に示すように、光軸方向の位置によって連続的に変化する。(図中の振動方向を表す矢印は、実際には光軸に垂直な面内の振動方向を表している。)これに伴い、記録媒体中のアゾベンゼン分子の配向は光軸方向の位置によって連続的に変化し、その周期はλ/2nとなる。(λは信号光、参照光の波長、nは記録媒体115の平均屈折率)この構造は、液晶分子の配向がらせん状に変化するコレステリック液晶と全く同一である。このようなコレステリック結晶においては、らせんのピッチの2倍の波長の光が入射するとき、らせんと反対方向に回転する円偏光の場合は同一の偏光状態の反射光が発生し、らせんと同一方向に回転する円偏光の場合にはほぼ100%透過するという性質が知られている。(例えばS.Chandrasekhar著、「Liquid Crystal」,Cambridge University Press、1992年、p243―245を参照のこと。)したがって本発明において記録された記録媒体も全く同様の性質を示すため、参照光が入射した方向から直線偏光の光が入射すると、直線偏光の右円偏光成分のみが記録された定在波に応じて右円偏光の反射光を発生させ、左円偏光成分は反射光を生じずにほぼ100%透過する。ここで、第二の記録を行うと、今度はらせんの方向が逆向きのコレステリック液晶に相当するアゾベンゼン分子の配向が発生する。この配向により、今度は左円偏光が選択的に反射されるが、この配向による右円偏光の反射は発生しない。したがって、第一の記録と第二の記録を行った後に直線偏光の光を記録媒体に照射すると、第一の記録に応じて右円偏光成分が、第二の記録に応じて左円偏光成分がそれぞれ偏光状態を保持したまま反射される。さらに、記録時の強度変調は、配向するアゾベンゼン分子の数に対応するため、再生時の反射率の大きさとして変調される。また、記録時の位相変調は、上記のらせん構造の光軸方向の位置として記録されるため、実施例2と全く同様に、再生光の位相変化として再生される。
本実施例の再生信号のシミュレーション結果を図20に示す。図20(a)はD1,D2の出力から得られた電場の複素振幅(第一の記録に対応)を、図20(b)はD3,D4の出力から得られた電場の複素振幅(第二の記録に対応)をそれぞれ表している。それぞれ変調状態に近い値が得られ、識別誤差がほとんどないことから、第一の記録と第二の記録が多重化された信号を分離して再生することができることを表している。
なお、本実施例では多重記録の信号光と参照光の偏光状態として右円偏光と左円偏光を扱ったが、使用可能な偏光状態はこの限りではない。例えば特許文献9のごとく、参照光の偏光をp偏光に固定し、信号光の偏光をp偏光状態とs偏光状態に変化させて多重記録してもよい。再生時に多重記録された2種類の定在波から生成される再生光の偏光方向が互いに直交していれば、本実施例と同様にそれぞれの定在波に記録された情報を分離して再生することが可能である。
また、本実施例も実施例2と同様、記録時の信号変調としては位相変調と強度変調いずれか一方の変調であっても構わないし、QAMのような位相変調値と強度変調値に相関を持った変調方式であっても構わない。
本実施例の場合も実施例1と同様、構成の一部を使用して再生装置とすることも可能である。具体的には図17の構成より、位相変調器1202とそのドライバ1201、ビームサンプラ111、λ/4板1701、リレーレンズ112、ガルバノミラー113、対物レンズ114、4分割ディテクタ125など、記録時のみに使用する構成要素を省略すればよい。
S.Chandrasekhar著、「Liquid Crystal」,Cambridge University Press、1992年、p243―245
本実施例は、実施例3における第一の記録と第二の記録を同時に行う別の実施形態である。本実施例の構成図を図21に示す。この場合、強度変調は強度変調器2101,2102によって行うため、半導体レーザ103は実施例1と同じく一定のピーク強度でパルス発光する。偏光ビームスプリッタ107を反射した光束は軸方位が22.5°に設定されたλ/2板2103によって+45°直線偏光となった後、偏光ビームスプリッタ2104でp偏光成分の透過光とs偏光成分の反射光に分割される。ここで透過光と反射光はそれぞれ、ドライバ2105,2106によって駆動される強度変調器2101,2102によって強度変調がなされた後、偏光ビームスプリッタ2107によって再び合波される。ここで、半導体レーザ103としてはマルチモード発振するものを用いており、偏光ビームスプリッタ2104からの透過光と反射光が偏光ビームスプリッタ2107で合波されるまでの光路長差は、半導体レーザ103のコヒーレンス長(本実施例では100μm程度)より十分大きく設定されており、合波後のp偏光成分とs偏光成分の間の位相関係が不定、すなわちコヒーレンスが無い、すなわちインコヒーレントな状態になっている。本実施例では光路長差を8mmとした。合波された後の光束は無偏光ビームスプリッタ109により信号光と参照光に分割され、実施例3と同様に記録媒体115に記録されるが、信号光は無偏光ビームスプリッタ109から出射した直後に位相変調器2108,2109(それぞれドライバ2114,2115により駆動される)を通過し、それぞれp偏光成分と、s偏光成分に対する位相変調が行われる。(このような特定の偏光方向に対する位相変調の動作は、電気光学結晶を用いて行うことができる。)また、参照光はミラー対2110,2111によって反射され、このミラー対をアクチュエータ2112によって入射光束の方向に可動とすることで、信号光と参照光の記録媒体115中で集光される箇所における光路長差がほぼゼロになるようにする。このためにアクチュエータ2112は対物レンズ118を駆動するフォーカスエラー信号によって制御され、その変位量は対物レンズ118の変位量の半分になるように設定されている。
このとき、信号光と参照光はそれぞれ、偏光ビームスプリッタ2104における透過光と反射光が互いにインコヒーレントな状態で合波されたものになっている。但し、記録媒体中の集光箇所においては、信号光、参照光における、偏光ビームスプリッタを透過した光束はともにp偏光でありかつコヒーレンスがあり、定在波が発生する。同様に、信号光、参照光における、偏光ビームスプリッタを反射した光束の成分についても、記録媒体中の集光箇所においてともにs偏光でありかつコヒーレンスがあるため、定在波が発生する。従って、偏光ビームスプリッタ2104からの透過光による記録が実施例3の第一の記録に対応し、偏光ビームスプリッタ2104からの反射光による記録が実施例3の第二の記録に対応するため、これらの2つの記録動作を同時に行っている。上記透過光、反射光の間に光路長差を発生させたのは、これらの2光束が記録媒体上で干渉するのを避けるためであり、これにより2つの記録動作が互いに干渉しない、理想的な多重記録動作が実現できる。
また、再生時の動作としては、λ/2板2103の軸方位を0°に設定して偏光ビームスプリッタ2104においてすべての光束が透過するようにし、強度変調器2101での変調を行わない(すなわち光強度の減衰を生じさせない)ように設定するが、他の部分については実施例3と同一である。これによって第一の記録と第二の記録が同時になされた記録媒体115から、これらの記録動作によって記録された情報が同時に再生される。
本実施例は、実施例3における第一の記録と第二の記録を同時に行う別の実施形態である。本実施例の構成は図22に示すとおりである。本実施例においては、記録時に2つの同一波長で発振する半導体レーザ103,2201を同時に発光させて偏光ビームスプリッタ2107によって同軸にする。ここで半導体レーザ103から出射される光束は強度変調器2101、位相変調器2108によって変調され(第一の記録に相当)、半導体レーザ2202から出射される光束は強度変調器2106、位相変調器2109によって変調される(第二の記録に相当)。この場合も実施例4と同様、信号光と参照光はそれぞれ、偏光ビームスプリッタ2104における透過光と反射光が互いにインコヒーレントな状態で合波されたものになっている。そして、記録媒体中の集光箇所においては、信号光、参照光における、偏光ビームスプリッタを透過した光束はともにp偏光でありかつコヒーレンスがあり、定在波が発生する。同様に、信号光、参照光における、偏光ビームスプリッタを反射した光束の成分についても、記録媒体中の集光箇所においてともにs偏光でありかつコヒーレンスがあるため、定在波が発生する。
また、再生時には半導体レーザ2201は発光させず、半導体レーザ103を発光させる。他の部分の動作については実施例4と同一である。本実施例においては、半導体レーザ103,2201のスペクトル線幅を時間の単位に換算した値が、記録時のパルス発光の発光時間よりも十分短い条件において、これら二つの半導体レーザからの光束の干渉が無視できる。本実施例では中心波長λ=405nm,線幅Δλ=0.01nmであり、線幅を時間に換算するとλ^2/(cΔλ)=54[ps]であり(cは真空中の高速)、パルス発光の時間約1nsよりも十分短いため、第一の記録と第二の記録の間の干渉が実質的に発生せずに、理想的な多重記録が可能である。
本実施例は、直交した偏光状態にある二光束を同一方向から入射して記録し、光利用効率の向上を狙った別の実施形態である。本実施例の構成は図31に示すとおりである。まず記録時には、強度変調された半導体レーザ103からの光束が軸方向0°のλ/2板106を透過し、無偏光ビームスプリッタ109によって透過光である信号光と反射光である参照光とに分割される。信号光は位相変調器1202によって位相変調され、リレーレンズ112、偏光ビームスプリッタ2302、軸方向が45°のλ/4板2303、ダイクロイックミラー117を透過し、対物レンズ118によって記録媒体115中に集光される。一方参照光は、軸方向が45°のλ/2板2301、リレーレンズ116を通過後、偏光ビームスプリッタ2302により信号光と同軸となった後、信号光と同様に記録媒体115に集光される。また、サーボ光は実施例1等と同様に参照光と同軸となって記録媒体115中に集光される。ここで記録媒体中の様子は図24のようになっている。信号光は記録媒体中の所定の位置に集光され、参照光は記録媒体に設けられた反射面によって反射された後に、信号光と同一の場所に集光される。また、サーボ光は実施例1等と同様に記録媒体に設けられたサーボ面に集光される。このようにして、実施例3と同様に、信号光と参照光の集光位置にデータ記録を行うことが可能である。また、多重記録を行うため。λ/4板2303の軸方向を45°と135°の二通りに切り替え、それぞれの設定角において別のデータを記録する。
再生時は、λ/2板106の軸方向を22.5°に設定し、偏光ビームスプリッタ107によって強度の等しいp偏光の透過光とs偏光の反射光とに分割する。透過光は無偏光ビームスプリッタ109によってに透過光と反射光とに分割され、それぞれ記録時と同様に記録媒体中の記録箇所に集光される。ただし、リレーレンズ116の調整により、透過光と反射光のいずれも記録媒体中の反射面を反射せずに、記録箇所に直接集光される。すると、反射光と透過光がそれぞれ多重記録された2種類のデータに対する再生光を発生するため、実施例3と同様にこれらの再生光を検出することにより、多重化されたデータを同時に再生することが可能である。
本実施例の構成では記録時の参照光と信号光の直交が偏光している点が従来技術(例えば特許文献8)と異なり、信号光と参照光を偏光ビームスプリッタ2302によって合波することで記録時の光利用効率を高めることが可能である。
本実施例は、上記実施例とは異なる種類の記録媒体から、偏光多値変調された再生光を得て検出する別の実施例である。本実施例の構成は図31となっており、実施例1における記録のみに必要な箇所を省略した形になっている。記録媒体は図6に示される実施例1の記録媒体の構造において、定在波が記録される箇所に、代わりに文献Optics Express Vol.16,No.13、9622に示されているものと同様のV溝状ピットが配列された記録層が存在する。このV溝状ピットに円偏光の光を集光して照射すると、V溝の方向に長軸もしくは短軸を有する楕円偏光が再生光として得られる。実際の再生の動作としては、半導体レーザ103から出射された光束を、偏光ビームスプリッタ107と無偏光ビームスプリッタ109の間に挿入された図示しないλ/4板によって円偏光とし、記録媒体115に集光して照射し、再生光として生成される反射光を検出光学系128,129で実施例1と同様に検出する。信号処理部141では図29のブロック図で示される演算を施され、出力としてV溝の角度(再生光の楕円偏光の長軸角度に一致)を出力信号として得る。この演算において、p偏光とs偏光の電場E1,E2、位相φ1、φ2より楕円偏光の長軸角度を得るために、ストークスパラメータs1、s2を演算により求め、これらの比と符号の正負から長軸角度を演算している。この原理はMax Born, Emil Worf著「Principles of Optics」7版、Cambridge University Press、1999、p24-33 に記載されている。
Optics Express Vol.16,No.13、9622 Max Born, Emil Worf著「Principles of Optics」7版、Cambridge University Press、1999、p24-33
本実施例は、実施例3とは別の記録媒体より、偏光多重記録された再生信号を得る別の実施例である。本実施例の構成は実施例7と同様に図28に示される。記録媒体は図6に示される実施例1の記録媒体の構造において、定在波が記録される箇所に、代わりに文献Peter Zijlstra, et al., Nature 459、410―413に示されているものと同様の、金のナノ粒子が配列された記録層が存在する。この記録媒体は偏光多重記録されており、再生時にp偏光を照射する場合とs偏光を照射する場合とで別々の強度変調信号が得られる。実際の再生の動作としては、半導体レーザ103から出射された光束を、偏光ビームスプリッタ107と無偏光ビームスプリッタ109の間に挿入された図示しないλ/2板によって+45度直線偏光とし、記録媒体115に集光して照射し、再生光として生成される反射光を検出光学系128,129で実施例3と同様に検出する。信号処理部141では図18において位相の演算を省略したものを用い、p偏光成分の強度変調信号とs偏光成分の強度変調信号を別々に出力する。すなわち、記録媒体に照射される光のp偏光成分とs偏光成分がそれぞれ異なる強度変調をされ、これを分離して検出しており、偏光多重記録されたデータを一括して再生することが可能である。
Peter Zijlstra, et al., Nature 459、410―413
本発明により、大容量と高い転送速度を両立した光情報記録再生装置の提供が可能となり、大容量ビデオレコーダや、ハードディスクデータバックアップ装置、保存情報アーカイブ装置など、幅広い産業応用が期待できる。
101:マイクロプロセッサ、102:ドライバ、103:半導体レーザ、104:ドライバ、105:コリメートレンズ、106:λ/2板、107:偏光ビームスプリッタ、108:偏光変調器、109:無偏光ビームスプリッタ、110:符号化回路、111:ビームサンプラ、112:リレーレンズ、113:ガルバノミラー、114:対物レンズ、115:記録媒体、116:リレーレンズ、117:ダイクロイックミラー、118:対物レンズ、119:半導体レーザ、120:ドライバ、121:コリメータ、122:偏光ビームスプリッタ、123:λ/4板、124、125:4分割ディテクタ、126:λ/2板、127:偏光ビームスプリッタ、128、129:検出光学系、130:無偏光ビームスプリッタ、131:λ/2板、132:ウォラストンプリズム、133、138、139、140:差動検出器、134、135:フォトダイオード、136:λ/4板、137:ウォラストンプリズム、141:デジタル信号処理回路、201:λ/2板、202:電気光学素子、203:λ/4板、801:複素電場演算回路、802:符号判別回路、803:偏光角演算回路、900:検出光学系、901、902:無偏光ビームスプリッタ、903、904:位相板、905、906、907:偏光子、908、909、910:検出器、1101:ミラー、1201:ドライバ、1202:位相変調器、1501:位相演算回路、1502:強度演算回路、1701、1702、1703:λ/4板、2101、2102:強度変調器、2103:λ/2板、2104:偏光ビームスプリッタ、2105、2106:ドライバ、2107:偏光ビームスプリッタ、2108、2109:位相変調器、2110、2111:ミラー、2112:アクチュエータ、2114、2115:ドライバ、2201:半導体レーザ、2202:ドライバ、2203:コリメートレンズ、2204:λ/2板、2205:ドライバ、2301:λ/2板、2302:偏光ビームスプリッタ、2303:λ/4板、2501: 光源、2502:空間光変調器、2503:記録媒体、2504:イメージセンサ、2701:無偏光ビームスプリッタ、2702:偏光ビームスプリッタ、2703、2704:CCDカメラ

Claims (15)

  1. 記録媒体より生成される再生光の互いに直交する偏光成分のそれぞれに対し、光源から生成される再生用参照光と干渉させ、互いに干渉の位相が異なる3つ以上の干渉光を前記それぞれの上記偏光成分に対して同時に生成する干渉光学系と、
    前記干渉光を検出する検出器と、
    前記検出器の出力から再生光に含まれる記録情報を復調する信号処理部と、を備えることを特徴とする光情報再生装置。
  2. 請求項1に記載の光情報再生装置において、前記信号処理部は、前記再生光の偏光角度を出力するものであることを特徴とする光情報再生装置。
  3. 請求項2に記載の光情報再生装置において、前記信号処理部は、前記再生光の強度もしくは再生用参照光に対する位相のうち少なくとも一方を出力するものであることを特徴とする光情報再生装置。
  4. 請求項1に記載の光情報再生装置において、前記信号処理部は、前記再生光の直交する前記偏光成分のそれぞれにつき、強度もしくは再生用参照光に対する位相のうち少なくとも一方を、出力するものであることを特徴とする光情報再生装置。
  5. 光情報記録媒体のほぼ同一箇所で、互いに対向する方向から2つの光束が集光されることによって、前記2つの光束の干渉により生じる定在波を記録する手段と、
    前記2つの光束の少なくとも一方の偏光を多段階に変調する偏光変調手段と、
    を備えることを特徴とする光情報記録装置。
  6. 請求項5に記載の光情報記録装置において、前記偏光変調手段は、電気光学変調器であることを特徴とする光情報記録再生装置。
  7. 請求項5に記載の光情報記録装置において、前記偏光変調手段は、前記2つの光束が前記記録媒体中の集光される箇所において、互いに同一の方向に光電場が振動する直線偏光状態となるような変調を行う偏光変調手段であることを特徴とする光情報記録装置。
  8. 請求項5に記載の光情報記録装置において、前記2つの光束は単一の光束を無偏光光分割手段によって分割することにより生成されるものであり、前記偏光変調手段は、前記単一の光束の偏光状態を変調するものである単一の偏光変調手段であることを特徴とする光情報記録装置。
  9. 請求項5に記載の光情報記録装置において、前記2つの光束の少なくとも一方の位相状態を変調する位相変調手段と、前記2つの光束の少なくとも一方の強度を変調する強度変調手段のうち、少なくとも一方を有し、前記偏光変調手段と、前記位相変調手段と前記強度変調手段の少なくとも一方とが同時に変調動作を行った状態の前記定在波が前記記録媒体に記録されることを特徴とする光情報記録装置。
  10. 光情報記録媒体のほぼ同一箇所で、互いに対向する方向から第一及び第二の光束が集光されることによって、前記第一及び第二の記録光束の干渉により生じる定在波を記録する手段と、
    前記定在波の位相と大きさの少なくとも一方を変調する変調手段と、を備え、
    前記第一の記録光束と前記第二の記録光束の偏光状態の組み合わせ2通りに対し、前記変調手段によって変調された定在波が同一の記録媒体に記録されることを特徴とする光情報記録装置。
  11. 請求項10に記載の光情報記録装置において、
    前記第一の光束は互いにインコヒーレントな第3の記録光束と第4の記録光束を合波することにより生成されるものであり、
    前記第二の光束は互いにインコヒーレントな第5の記録光束と第6の記録光束を合波することにより生成されるものであり、
    前記第3の記録光束と前記第5の記録光束は記録媒体中の集光箇所において互いにコヒーレントであり、
    前記第4の記録光束と前記第6の記録光束は記録媒体中の集光箇所において互いにコヒーレントであり、
    前記第3の記録光束と前記第5の記録光束は前記偏光状態の組み合わせの一方に等しい偏光状態であり、
    前記第4の記録光束と前記第6の記録光束は前記偏光状態の組み合わせのもう一方に等しい偏光状態であり、
    前記変調手段は、前記第3の記録光束と前記第5の記録光束による定在波の強度と位相の少なくとも一方を変調する第一の変調手段と、前記第4の記録光束と前記第6の記録光束による定在波の強度と位相の少なくとも一方を変調する第二の変調手段とからなり、
    前記第3の記録光束と前記第5の記録光束による定在波の記録と、前記第4の記録光束と前記第6の記録光束による定在波の記録とが、同時に行われることを特徴とする光情報記録装置
  12. 請求項11に記載の光情報記録装置において、単一の光源からの光束を2つの光束に分割し、光源のコヒーレンス長より大きな遅延を伴って合波し、さらにこの合波された光束を2分割して2つの出力光束を生成する光学系を備え、前記2つの出力光束が、それぞれ前記第一の光束と前記第二の光束であることを特徴とする光情報記録装置。
  13. 請求項11に記載の光情報記録装置において、2つの光源からの光束を合波し、この合波された光束を2分割して2つの出力光束を生成する光学系を備え、前記2つの出力光束が、それぞれ前記第一の光束と前記第二の光束であることを特徴とする光情報記録装置。
  14. 請求項10に記載の光情報記録装置において、前記第一の光束と前記第二の光束とが互いに直交した偏光状態であり、
    前記第一の光束と前記第二の光束とを合波する偏光合波手段を備え、
    合波された前記第一の光束と前記第二の光束とが、光束を反射するミラー面を備えた記録媒体に対して同一方向から入射することを特徴とする光情報記録装置。
  15. 照射される光電場の振動方向とそれに垂直な方向とで互いに逆向きの屈折率変化を生じる記録媒体のほぼ同一箇所に、2つの光束を互いに対向する方向から集光させ、前記2つの光束の少なくとも一方の偏光を多段階に変調して、前記2つの光束の干渉により生じる定在波を記録することを特徴とする情報記録方法。
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