JP2011203173A - ホール素子 - Google Patents

ホール素子 Download PDF

Info

Publication number
JP2011203173A
JP2011203173A JP2010072175A JP2010072175A JP2011203173A JP 2011203173 A JP2011203173 A JP 2011203173A JP 2010072175 A JP2010072175 A JP 2010072175A JP 2010072175 A JP2010072175 A JP 2010072175A JP 2011203173 A JP2011203173 A JP 2011203173A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
hall element
hall
position detection
elements
chip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010072175A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5879025B2 (ja
Inventor
Tetsuro Ogata
哲朗 尾形
Takayuki Watanabe
隆行 渡辺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Asahi Kasei Electronics Co Ltd
Original Assignee
Asahi Kasei Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kasei Electronics Co Ltd filed Critical Asahi Kasei Electronics Co Ltd
Priority to JP2010072175A priority Critical patent/JP5879025B2/ja
Publication of JP2011203173A publication Critical patent/JP2011203173A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5879025B2 publication Critical patent/JP5879025B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

【課題】従来の位置検出装置では、第1のホール素子および第2のホール素子をそれぞれ別のチップ内に形成していた。従って、2チップを使用しているため、コストが高く、パッケージを小さくできないという問題があった。また、ダイボンドの位置ずれにより、前記第1のホール素子と前記第2のホール素子との間のギャップ精度が悪いという問題もあった。
【解決手段】本発明に係るホール素子では、前記第1のホール素子および前記第2のホール素子が1チップ内に形成される。また、適正なレイアウトによりチップサイズを縮小することができる。これにより、パッケージサイズを小さくすることができる。さらに、本発明に係るホール素子では、前記第1のホール素子および前記第2のホール素子がリソグラフィーにより同一チップに同時に形成されるので、前記第1のホール素子と前記第2のホール素子との間のギャップ精度を向上させることができる。
【選択図】図3

Description

本発明は、位置検出装置において使用されるホール素子に関し、具体的には1チップ内に2個のホール素子を形成されたホール素子に関する。
近年、デジタルスチルカメラやデジタルビデオカメラ等の撮像装置において、CCD等の撮像素子の多画素化、小型化に伴い、オートフォーカス用レンズやズーム用レンズの位置決め制御における数μmオーダーの高い精度が要求されるようになってきている。これは、撮像素子が多画素化、小型化されるほど、レンズの位置決め誤差によるピントボケが目立ちやすくなることから、撮像装置としての性能を確保するために、高度なレンズの位置決め精度が必要とされるからである。また、デジタルスチルカメラやデジタルビデオカメラ等の撮像装置の小型化に伴い、更なる位置検出装置の小型化が求められている。
このような要求を満たすために、所定の等しいピッチで反転する磁極を交互に配置した直線状の多極磁石と、ホール素子などの磁気センサを複数用いることで、小型で高精度な位置検出装置を実現することができる。このような位置検出装置では、多極磁石の着磁ピッチをλとしたとき、(1/4+m)×λのギャップを隔てて2個の磁気センサを配置する。ここで、mは0以上の整数である。多極磁石を移動させることにより、2個の磁気センサのうちの一方から正弦波出力、他方から余弦波出力を得て、その値を演算することにより位置を検出できることが、特許文献1に記載されている。
上記の位置検出装置では、位置検出精度を向上させるために、様々な演算や回路を用いて、正弦波出力と余弦波出力の振幅を同じにし、正弦波出力と余弦波出力の電気角位相差を正確に90°にするということが知られている。
また、磁気センサとしてホール素子を2個使用した位置検出装置は、特許文献2に記載されている。かかる発明の技術的特徴を利用した実際の製品として、旭化成エレクトロニクス製のHQ−0221やHQ−0222等を挙げることができる。
特開2004−012745号公報 特開2008−076194号公報
特許文献1、2に見られるように、従来の位置検出装置では、2個のホール素子をそれぞれ別のチップ内に形成していた。従って、2チップを使用しているため、コストが高く、パッケージを小さくできないという問題があった。
また、2個のホール素子を用いて位置検出を行う場合、図1Aに示すように、2個のホール素子の入力端子を共通とし、出力端子を各々取り出して6端子としていた。そのため、1チップから1個のホール素子を取得するような従来のチップを使用すると、2個のホール素子間の接続は、ワイヤー8本を用いてリードフレーム上で配線して6端子とする必要があった。あるいは、図1Bに示すように、8端子として、外部の配線で入力を共通とする必要があった。いずれの場合も、8本のワイヤーを必要とする。
さらに、それぞれのチップを配置する際に位置ばらつきによる検出精度の悪化もあった。例えば、ダイボンドによる位置ずれとして、数10μmオーダーの位置ばらつきが生じる問題があった。
本発明は、位置検出装置に用いられるホール素子であって、ホール素子は、同一基板上に第1のホール素子と第2のホール素子とを備え、第1のホール素子と第2のホール素子とは、共通の電源入力端子および共通のGND端子に対して接続されることを特徴とする。
本発明の一実施形態において、第1のホール素子と第2のホール素子とは、共通の電源入力端子および共通のGND端子に対し並列に接続される。
本発明の一実施形態において、第1のホール素子と第2のホール素子とは、化合物半導体から成る。
本発明の一実施形態において、位置検出装置は、直線的に移動する磁石を備え、第1のホール素子に共通の電源入力端子から信号が入力される方向は、第1のホール素子および第2のホール素子が形成される基板上の面において、磁石が移動する方向に沿った軸に対し反時計回りに45度傾斜し、第2のホール素子に共通の電源入力端子から信号が入力される方向は、第1のホール素子および第2のホール素子が形成される基板上の面において、磁石が移動する方向に沿った軸に対し時計回りに45度傾斜している。
本発明により、2個のホール素子を1チップ内に形成し、後述する適正なレイアウトによって、チップサイズを縮小することができるので、パッケージサイズを小さくすることができる。
さらに、2個のホール素子の配置に関して、従来の2個のホール素子が別々に形成された2個のチップでは、組立時のダイボンドによる位置ばらつきがホール素子間のギャップ精度を悪化させていたのに対し、本発明では、2個のホール素子をリソグラフィーにより同一チップに同時に形成するので、従来の2個のチップで見られるようなホール素子間のギャップ精度悪化の問題を解消することができる。
図1Aおよび図1Bは、従来技術の実施例に係るホール素子を接続する配線図である。 図2Aおよび図2Bは、本発明に係る2個のホール素子を用いた位置検出方法を示す概念図である。 本発明の一実施例に係る位置検出装置用ホール素子の平面図である。 従来技術の実施例に係る位置検出装置用ホール素子の平面図である。 本発明の一実施例に係る位置検出装置用ホール素子の製造プロセスを示す図である。 本発明の別の実施例に係る位置検出装置用ホール素子の平面図である。
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態を詳細に説明する。
図2Aは、位置検出装置における多極磁石23と2個のホール素子(21、22)の一配置例を示す図である。位置検出装置は、第1のホール素子21と、第2のホール素子22と、直線状の多極磁石23とから構成され、直線状の多極磁石23は、所定の等しいピッチで磁極を交互に反転して配置される。λは磁極の着磁ピッチ、dは第1のホール素子21と第2のホール素子22との間のギャップを表す。特許文献1に記載の位置検出装置では、d=(1/4+m)×λの距離を隔てて2個の磁電変換素子が配置されている(ここで、mは0以上の整数)。図2Aには、m=0のとき、即ちd=1/4×λのときの配置が示されている。
ここで、多極磁石23が移動する方向をX軸、多極磁石23の着磁面に垂直な方向をZ軸、X軸およびZ軸に垂直な軸をY軸と定義する。以後の図面においても、この座標の定義は共通のものとする。
このような配置で多極磁石23をX軸方向に移動させることにより、例えば、第1のホール素子21から正弦波出力、第2のホール素子22から余弦波出力を得て、その値を用いて演算することにより位置を検出することができる。
図2Bは、位置検出装置における磁極数が2である磁石24と2個のホール素子(21、22)の一配置例を示す図である。この位置検出装置は、第1のホール素子21と、第2のホール素子22と、磁極数が2である磁石24とから構成される。図2Bにおいて、実線矢印は、磁石24が移動する方向を表し、破線矢印は、磁界を表す。
図2Aおよび図2Bに示すような磁石とホール素子との配置で磁石をX軸方向に移動させ、2個のホール素子から得られる出力電圧を演算することで、磁石に対する相対的な位置を検出することができる。
本発明に係るホール素子は、2個のホール素子が精度よく配置されており、決められた短い着磁ピッチλの多極磁石との組合せにおいて、特に効果を発揮する。
なお、図2Aにおいては、隣り合うN極とN極とのピッチを着磁ピッチλとしているが、これはホール素子がN極とS極とを判別可能であるからであり、異方性磁気抵抗素子などのN極とS極が判別できない磁気センサでは、隣り合うN極とS極とのピッチを着磁ピッチλとすることは言うまでも無い。
本発明においては、2個のホール素子(21、22)を1チップ内に形成する。これにより、第1のホール素子21と第2のホール素子22との間のギャップdを最小に、即ち1/4×λ(m=0)にするようなホール素子の直近の配置が可能になる。これに対し、1チップ内にホール素子が1個形成されるような従来のホール素子を使用する場合、図2Aのような配置を実現するために2チップを使用するので、着磁ピッチλがλ=560μmの場合、dを1/4×λ=140μm(m=0)とするようなホール素子の配置は不可能であり、最小でも(1/4+1)×λ=700μm(m=1)以上のギャップが必要となった。従って、パッケージサイズが大きくなるという問題があったが、本発明により、このような問題は解消される。
図3は、本発明の一実施例に係るホール素子の平面図である。基板39上に2個のホール素子と6個の電極パッド(33、34、35、36、37、38)が形成されている。第1のホール素子31および第2のホール素子32は、共通の電源入力端子である電極パッド34および共通のGND端子である電極パッド38に対して、並列に接続される。図3に示すように、電源入力端子である電極パッド34から第1のホール素子31へ信号が入力される方向は、X軸に対して反時計回りに45度傾斜しており、電源入力端子である電極パッド34から第2のホール素子32へ信号が入力される方向は、X軸に対して時計回りに45度傾斜している。
本実施例における設計の前提として、ホール素子(31、32)の受感部サイズはともに、L=90μm、W1=30μm、L/W1=3とした。このようなサイズの第1のホール素子(31、32)は、着磁ピッチがλ=560μmである多極磁石に対応するものであり、多極磁石と共に位置検出装置を構成する。また、電極パッド(33、34、35、36、37、38)の各々は、直径75μmの円が内接する大きさであり、各パッドの中心間の距離を120μm以上確保した。ホール素子(31、32)と電極パッドとを接続する配線の幅W2は、20μmである。さらに、電極パッド、配線から成る電極パターンは、他の電極パターンとの距離を少なくとも20μm以上となるようにし、電極パターンと基板39の外周端との間隔を15μm以上確保した。
上記実施例と比較するために、図4に、従来技術の実施例に係るホール素子の平面図を示す。基板49上に1個のホール素子41と4個の電極パッド(43、44、45、46)が形成されている。
上記前提のもとでは、4インチウエハから得られる取り数は、1チップから2素子を取る場合43300であり、従来の2チップから2素子を取る場合の取り数36800と比較して、18%取り数が増加する。
また、2個のホール素子の配置に関して、従来の2チップの場合では組立時のダイボンドによる位置ばらつきが素子間ギャップ精度を悪化させていたのに対し、本発明に係るチップではリソグラフィーにより2個のホール素子を同一チップに同時に形成するので、素子間ギャップのずれを解消することができる。
さらに、本発明では、1チップ内で2個のホール素子が同一の電源入力端子および同一のGND端子に接続されるので、電極パッド数が6となる。従来の2チップの場合におけるパッド数8(4パッド×2チップ)と比べて、電極パッド数を減少させることができるので、組立におけるワイヤー数を減少させることができ、組立工程の効率も向上する。
本実施例に係る位置検出装置用ホール素子の製造プロセスを、図5を参照しながら説明する。まず、GaAs基板51上に分子線エピタキシー法により化合物半導体からなる活性層52を成膜した後、リソグラフィーによるエッチングでホール素子53を形成する。次に、PCVDにより保護膜54を成膜した後、コンタクトホール55を形成し、電極パターン56を1回の蒸着で形成して作製する。
1チップ内における第1のホール素子と第2のホール素子との間の入力端子およびGND端子を接続する方法は、直列でも並列でも可能である。並列接続の場合、配線の多層化により受感部と電極パッドを接続することも可能であるが、本発明のように電極パターンを同一平面上に形成するほうが工程を簡略化できるので、より好ましい。
図6は、本発明の別の実施例に係るホール素子の平面図である。基板69上に2個のホール素子(61、62)と6個の電極パッド(63、64、65、66、67、68)が形成されている。第1のホール素子61および第2のホール素子62は、共通の電源入力端子である電極パッド65および共通のGND端子である電極パッド66に対して、並列に接続される。図6に示すように、第1のホール素子61および第2のホール素子62に信号が入力される方向は共に、Y軸に対して平行(0度)の関係にある。この場合、4インチウエハから得られる取り数は、1チップから2素子を取る場合40300であり、従来の2チップから2素子を取る場合の取り数36800と比較して、9.5%取り数が増加する。
21、22、31、32、41、53、61、62 ホール素子
23 多極磁石
24 磁石
33、34、35、36、37、38、43、44、45、46、63、64、65、66、67、68 電極パッド
39、49、69 基板
51 GaAs基板
52 活性層
54 保護膜
55 コンタクトホール
56 電極パターン

Claims (4)

  1. 位置検出装置に用いられるホール素子であって、
    前記ホール素子は、同一基板上に第1のホール素子と第2のホール素子とを備え、
    前記第1のホール素子と前記第2のホール素子とは、共通の電源入力端子および共通のGND端子に対して接続されることを特徴とするホール素子。
  2. 前記第1のホール素子と前記第2のホール素子とは、前記共通の電源入力端子および前記共通のGND端子に対し並列に接続されることを特徴とする請求項1に記載のホール素子。
  3. 前記第1のホール素子と前記第2のホール素子とは、化合物半導体から成ることを特徴とする請求項1または2に記載のホール素子。
  4. 前記位置検出装置は、直線的に移動する磁石を備え、
    前記第1のホール素子に前記共通の電源入力端子から信号が入力される方向は、前記第1のホール素子および前記第2のホール素子が形成される基板上の面において、前記磁石が移動する方向に沿った軸に対し反時計回りに45度傾斜し、
    前記第2のホール素子に前記共通の電源入力端子から信号が入力される方向は、前記第1のホール素子および前記第2のホール素子が形成される基板上の面において、前記磁石が移動する方向に沿った軸に対し時計回りに45度傾斜していることを特徴とする請求項1ないし3の何れかに記載のホール素子。
JP2010072175A 2010-03-26 2010-03-26 ホール素子 Active JP5879025B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010072175A JP5879025B2 (ja) 2010-03-26 2010-03-26 ホール素子

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010072175A JP5879025B2 (ja) 2010-03-26 2010-03-26 ホール素子

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011203173A true JP2011203173A (ja) 2011-10-13
JP5879025B2 JP5879025B2 (ja) 2016-03-08

Family

ID=44879962

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010072175A Active JP5879025B2 (ja) 2010-03-26 2010-03-26 ホール素子

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5879025B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013083577A (ja) * 2011-10-11 2013-05-09 Denso Corp 位置検出装置
CN109597005A (zh) * 2018-12-20 2019-04-09 上海理工大学 基于视觉定位的空间磁场测量系统
JP2022510249A (ja) * 2018-11-30 2022-01-26 世宗大学校産学協力団 異常ホール効果を利用する磁気センサ、ホールセンサおよびホールセンサの製造方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62208683A (ja) * 1986-03-07 1987-09-12 Seiko Instr & Electronics Ltd 磁気センサ
JPH03252578A (ja) * 1990-03-02 1991-11-11 Toshiba Corp 磁気検出装置
JPH06164015A (ja) * 1992-11-27 1994-06-10 Nippondenso Co Ltd 磁気センサ
JPH09231889A (ja) * 1996-02-26 1997-09-05 Matsushita Electric Works Ltd 位置検出センサ
JP2003065796A (ja) * 2001-08-27 2003-03-05 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 磁電変換素子及びこれを用いた変位検出装置
JP2008051638A (ja) * 2006-08-24 2008-03-06 Denso Corp 回転角度検出装置
JP2009150732A (ja) * 2007-12-19 2009-07-09 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 位置検出装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62208683A (ja) * 1986-03-07 1987-09-12 Seiko Instr & Electronics Ltd 磁気センサ
JPH03252578A (ja) * 1990-03-02 1991-11-11 Toshiba Corp 磁気検出装置
JPH06164015A (ja) * 1992-11-27 1994-06-10 Nippondenso Co Ltd 磁気センサ
JPH09231889A (ja) * 1996-02-26 1997-09-05 Matsushita Electric Works Ltd 位置検出センサ
JP2003065796A (ja) * 2001-08-27 2003-03-05 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 磁電変換素子及びこれを用いた変位検出装置
JP2008051638A (ja) * 2006-08-24 2008-03-06 Denso Corp 回転角度検出装置
JP2009150732A (ja) * 2007-12-19 2009-07-09 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 位置検出装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013083577A (ja) * 2011-10-11 2013-05-09 Denso Corp 位置検出装置
JP2022510249A (ja) * 2018-11-30 2022-01-26 世宗大学校産学協力団 異常ホール効果を利用する磁気センサ、ホールセンサおよびホールセンサの製造方法
JP7207671B2 (ja) 2018-11-30 2023-01-18 世宗大学校産学協力団 異常ホール効果を利用する磁気センサ、ホールセンサおよびホールセンサの製造方法
CN109597005A (zh) * 2018-12-20 2019-04-09 上海理工大学 基于视觉定位的空间磁场测量系统
CN109597005B (zh) * 2018-12-20 2021-04-30 上海理工大学 基于视觉定位的空间磁场测量系统

Also Published As

Publication number Publication date
JP5879025B2 (ja) 2016-03-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5165963B2 (ja) 磁気センサ及びその製造方法
US9891295B2 (en) Sensor device and sensor arrangement
JP2006300779A (ja) 回転検出装置
JP5124879B2 (ja) 位置検出装置、および、その位置検出装置を用いた電子機器
US10066942B2 (en) Sensor module, and sensor chip and processing circuit chip used therefor
JP5612398B2 (ja) 磁気センサ
JP5879025B2 (ja) ホール素子
US20180234004A1 (en) Driving mechanism
JP2008304470A (ja) 磁気センサ
JP5284024B2 (ja) 磁気センサ
JP4855454B2 (ja) 位置検出装置及びその位置検出装置を用いた電子機器
JP5074342B2 (ja) 位置検出装置及びその位置検出装置を用いた電子機器
JP5483516B2 (ja) 位置検出装置、位置検出装置を有する光学系と撮像装置
JP2016192516A (ja) ホールセンサデバイス及び位置検出装置
JP2004069695A (ja) ポインティングデバイス用磁気センサ
JP5103158B2 (ja) 磁気式座標位置検出装置
JP2012173206A (ja) 磁気センサ及びその製造方法
CN209897142U (zh) 相机模组
JP4786986B2 (ja) 電子部品
JP2013246030A (ja) 位置検出装置
US20240060838A1 (en) Magnetoelastic torque sensor device, system and method
WO2023058697A1 (ja) モータ用位置検知システム
EP4328607A1 (en) Magnetic sensor device, and method of producing same
US11849650B2 (en) Stacked die assembly
US20230092845A1 (en) Sensor

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130122

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20130122

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20130122

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20131004

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131015

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140107

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140306

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20140930

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20141226

RD13 Notification of appointment of power of sub attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7433

Effective date: 20150106

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20150106

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20150127

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20150403

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20151202

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160201

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5879025

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350