JPH03252578A - 磁気検出装置 - Google Patents
磁気検出装置Info
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- JPH03252578A JPH03252578A JP2049458A JP4945890A JPH03252578A JP H03252578 A JPH03252578 A JP H03252578A JP 2049458 A JP2049458 A JP 2049458A JP 4945890 A JP4945890 A JP 4945890A JP H03252578 A JPH03252578 A JP H03252578A
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Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A41—WEARING APPAREL
- A41D—OUTERWEAR; PROTECTIVE GARMENTS; ACCESSORIES
- A41D25/00—Neckties
- A41D25/06—Neckties with knot, bow or like tied by the user
- A41D25/10—Means for holding the knot, or the like
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A41—WEARING APPAREL
- A41B—SHIRTS; UNDERWEAR; BABY LINEN; HANDKERCHIEFS
- A41B3/00—Collars
- A41B3/12—Collars with supports for neckties or cravats
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Hall/Mr Elements (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的コ
(産業上の利用分野)
本発明は半導体ホールセンサを磁気検出に使用する磁気
検出装置に関する。
検出装置に関する。
(従来の技術)
従来、電子モータのロータ磁極の位置検出には半導体ホ
ールセンサ単体のホール出力電圧が使用されている。
ールセンサ単体のホール出力電圧が使用されている。
このように半導体ホールセンサは単体で使用するのが一
般的であるが、以下のような問題点があった。
般的であるが、以下のような問題点があった。
(イ)出力電圧の温度依存性が生ずる。
一般に半導体では温度によってキャリアの数及び易動度
が変化するため、ホール出力電圧も変化し、実使用上問
題となる。即ち、実装上あるいは使用温度上制限が加わ
る温度による変化量は半導体材料固有のバンドギャップ
できまる。
が変化するため、ホール出力電圧も変化し、実使用上問
題となる。即ち、実装上あるいは使用温度上制限が加わ
る温度による変化量は半導体材料固有のバンドギャップ
できまる。
Si 1.1eV、 In Sb 0.18eV。
In As O,36eV、 Ga As 1.43
eVであるのでGa Asがこの点で最も優れている(
温度特性が小さく、−5001)pm/’Cのオーダで
ある)。しかし、温度特性のために、使用用途の範囲に
制限があることは事実で、例えば広い温度幅の環境にさ
らされる車や、高信頼性を要求される産業用途ではまだ
まだ難点がある。
eVであるのでGa Asがこの点で最も優れている(
温度特性が小さく、−5001)pm/’Cのオーダで
ある)。しかし、温度特性のために、使用用途の範囲に
制限があることは事実で、例えば広い温度幅の環境にさ
らされる車や、高信頼性を要求される産業用途ではまだ
まだ難点がある。
(ロ)零磁界での出力、即ちオフセット電圧が存在する
。
。
実際の半導体ホールセンサ素子では、形状のわずかな非
対称性や材料の不均質性があるため、電流の流れが一様
でなくなり、零磁界でも出力電圧が生ずる。オフセット
電圧が大きいと、磁束Bの正負に対する出力電圧が異な
る。即ち、例えば十Bの出力に対してホール素子の実際
の出力VM(+) I −I VH+ Vnolとする
と、−Bに対してはl VN(−) l −I VH−
VHOIとナル。シタがって、IV)101が大きいと
、本来、IVM(+)1− I VM(−)l −I
VHIとしての回路設計がなされるので、設計マージン
がとれなくなる。最悪、モータが動作しなくなることも
ある。
対称性や材料の不均質性があるため、電流の流れが一様
でなくなり、零磁界でも出力電圧が生ずる。オフセット
電圧が大きいと、磁束Bの正負に対する出力電圧が異な
る。即ち、例えば十Bの出力に対してホール素子の実際
の出力VM(+) I −I VH+ Vnolとする
と、−Bに対してはl VN(−) l −I VH−
VHOIとナル。シタがって、IV)101が大きいと
、本来、IVM(+)1− I VM(−)l −I
VHIとしての回路設計がなされるので、設計マージン
がとれなくなる。最悪、モータが動作しなくなることも
ある。
又、従来、特性の揃った一対の半導体ホールセンサ素子
を一定の間隔を設けて配設し両者の差電圧を出力に取出
すことで、2素子の線上での磁場の傾斜を検出するもの
もある。しかしながら、このような2素子の線上での磁
場の傾斜を検出するものでは同一特性の素子間の差電圧
を取り出すため磁場そのものの検出には使用できない。
を一定の間隔を設けて配設し両者の差電圧を出力に取出
すことで、2素子の線上での磁場の傾斜を検出するもの
もある。しかしながら、このような2素子の線上での磁
場の傾斜を検出するものでは同一特性の素子間の差電圧
を取り出すため磁場そのものの検出には使用できない。
あくまで磁場の変化分の検出に限られる。
(発明が解決しようとする課題)
本発明は上記の事情に鑑みてなされたもので、磁場その
ものを良好に検出し得、かつ、ホール出力電圧の温度特
性及びオフセット電圧を改善し得る磁気検出装置を提供
することを目的とする。
ものを良好に検出し得、かつ、ホール出力電圧の温度特
性及びオフセット電圧を改善し得る磁気検出装置を提供
することを目的とする。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段と作用)
本発明は上記目的を達成するために、同一半導体チップ
あるいは同一外囲器内に形成した一対のホールセンサか
らなる磁気検出装置において、一方のホールセンサの出
力電圧を他方のホールセンサの出力電圧より大きくし、
両方のホールセンサの出力電圧の差を出力として取り出
すことを特徴とするものである。
あるいは同一外囲器内に形成した一対のホールセンサか
らなる磁気検出装置において、一方のホールセンサの出
力電圧を他方のホールセンサの出力電圧より大きくし、
両方のホールセンサの出力電圧の差を出力として取り出
すことを特徴とするものである。
(実施例)
以下図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す回路図であり、7は半
導体チップ又は外囲器で、この同一半導体チップ上又は
同一外囲器内には第1のホールセンサ5及び第2のホー
ルセンサ6が形成される。
導体チップ又は外囲器で、この同一半導体チップ上又は
同一外囲器内には第1のホールセンサ5及び第2のホー
ルセンサ6が形成される。
この第1のホールセンサ5には入力端子IC(−)1及
び入力端子ICI(+)2及び出力端子VHI(+)
3が設けられ、第2のホールセンサ6には入力端子I
C(−)1及び入力端子IC2(+)2’及び出力端子
V)12(+) 4が設けられる。前記第1のホールセ
ンサ5の出力電圧V)If(+)を第2のホールセンサ
6の出力電圧VH2(+)より大きくなるように181
のホールセンサ5を構成する。しかして、第1のホール
センサ5の出力電圧MHI(+)と第2のホールセンサ
6の出力電圧VH2(+)の差を磁気検出装置の出力と
して取り出す。尚、入力端子2に加えられた制御電流I
CL(+)は第1のホールセンサ5を過って入力端子
1に流れ、入力端子2′に加えられた制御電流I C2
(+)は第2のホールセンサ6を通って入力端子1に流
れる。又、mlのホールセンサ5及び第2のホールセン
サ6には磁束密度Bが貫通している。
び入力端子ICI(+)2及び出力端子VHI(+)
3が設けられ、第2のホールセンサ6には入力端子I
C(−)1及び入力端子IC2(+)2’及び出力端子
V)12(+) 4が設けられる。前記第1のホールセ
ンサ5の出力電圧V)If(+)を第2のホールセンサ
6の出力電圧VH2(+)より大きくなるように181
のホールセンサ5を構成する。しかして、第1のホール
センサ5の出力電圧MHI(+)と第2のホールセンサ
6の出力電圧VH2(+)の差を磁気検出装置の出力と
して取り出す。尚、入力端子2に加えられた制御電流I
CL(+)は第1のホールセンサ5を過って入力端子
1に流れ、入力端子2′に加えられた制御電流I C2
(+)は第2のホールセンサ6を通って入力端子1に流
れる。又、mlのホールセンサ5及び第2のホールセン
サ6には磁束密度Bが貫通している。
第2図は本発明に係る半導体チップ8上に形成した電極
構造の一例であり、第1のホールセンサ5は入力電極I
C(−)11−1.入力電極I C1(+)12、出
力電極VHI(+) 13.出力電極VH(−)17−
1.動作領域15より構成され、第2のホールセンサ6
は入力電極I C(−)11−2.入力電極I C2(
+) 12 ’出力電極VH2(+)14.出力電極V
H(−)17−2.動作領域16より構成される。
構造の一例であり、第1のホールセンサ5は入力電極I
C(−)11−1.入力電極I C1(+)12、出
力電極VHI(+) 13.出力電極VH(−)17−
1.動作領域15より構成され、第2のホールセンサ6
は入力電極I C(−)11−2.入力電極I C2(
+) 12 ’出力電極VH2(+)14.出力電極V
H(−)17−2.動作領域16より構成される。
前記入力電極I C(−)11−1と入力電極I C(
−)11−2はパターンで接続され、前記出力電極VH
(−)17−1と出力電極VH(−)17−2 ハハ9
−ンで接続される。
−)11−2はパターンで接続され、前記出力電極VH
(−)17−1と出力電極VH(−)17−2 ハハ9
−ンで接続される。
次に、第1のホールセンサ5の出力電圧VHI(+)を
第2のホールセンサ6の出力電圧Vl(2(+)より大
きくする手段について説明する。
第2のホールセンサ6の出力電圧Vl(2(+)より大
きくする手段について説明する。
一般に、ホールセンサの出力電圧VHは以下のように表
わされる。
わされる。
VH=KII IIRd・■cIIB
ただし、K1は比感度、Rdは入力抵抗、Icは制御電
流、Bはホールセンサ素子動作層を貫通する磁束密度で
ある。
流、Bはホールセンサ素子動作層を貫通する磁束密度で
ある。
さらに、K1は以下のように表わされる。
K!〆一」−・−リー・fH
Rd d
ただし、RHはホール係数でキャリア濃度に逆比例する
。dは動作層の厚み、fHは動作層の形状と易動度で決
まる因子である。
。dは動作層の厚み、fHは動作層の形状と易動度で決
まる因子である。
■第1のホールセンサ5のホール係数RHを第2のホー
ルセンサ6のホール係数RHより大きくすることにより
、第1のホールセンサ5の出方電圧Vll(+)を第2
のホールセンサ6の出力電圧VH2(+)より大きくす
る。
ルセンサ6のホール係数RHより大きくすることにより
、第1のホールセンサ5の出方電圧Vll(+)を第2
のホールセンサ6の出力電圧VH2(+)より大きくす
る。
すなわち、第3図に示すように、半導体基板32に形成
された第1のホールセンサ5の動作層30のイオン注入
の打込エネルギを、第2のホールセンサ6の動作層31
のイオン注入の打込エネルギより大きくし、同じ抵抗値
を維持して動作層30を動作層31より深く形成すると
、キャリヤ密度nが小さくなるので、RH” 1 /
nよりホール係数RHは大きくなり第1のホールセンサ
5のホール出力電圧VHを大きくすることができる。
された第1のホールセンサ5の動作層30のイオン注入
の打込エネルギを、第2のホールセンサ6の動作層31
のイオン注入の打込エネルギより大きくし、同じ抵抗値
を維持して動作層30を動作層31より深く形成すると
、キャリヤ密度nが小さくなるので、RH” 1 /
nよりホール係数RHは大きくなり第1のホールセンサ
5のホール出力電圧VHを大きくすることができる。
これと同時に、動作層30の不純物散乱が動作層31の
不純物散乱より減少するので、易動度が大きくなり、因
子fHが大きくなり第1のホールセンサ5のホール出力
電圧V)Iを大きくすることができる。
不純物散乱より減少するので、易動度が大きくなり、因
子fHが大きくなり第1のホールセンサ5のホール出力
電圧V)Iを大きくすることができる。
尚、第3図において、N+層26,27、動作層30よ
り第1のホールセンサ5が形成され、N′″層28.2
9、動作層31より第2のホールセンサ6が形成される
。前記N+層26には入力電極I C(−)21を介し
てボンディングワイヤ33が接続され、前記N+層27
には入力電極I C1(+)を介してボンディングワイ
ヤ34が接続される。又、前記N+層28には入力電極
I C(−)が設けられ、前記N+層29には入力電極
I C2(+) 24を介してボンディングワイヤ35
が接続される。25は半導体基板32の表面に形成され
た絶縁膜である。
り第1のホールセンサ5が形成され、N′″層28.2
9、動作層31より第2のホールセンサ6が形成される
。前記N+層26には入力電極I C(−)21を介し
てボンディングワイヤ33が接続され、前記N+層27
には入力電極I C1(+)を介してボンディングワイ
ヤ34が接続される。又、前記N+層28には入力電極
I C(−)が設けられ、前記N+層29には入力電極
I C2(+) 24を介してボンディングワイヤ35
が接続される。25は半導体基板32の表面に形成され
た絶縁膜である。
尚、因子fHだけを変える手段としては動作層の形状を
変える手段もある。
変える手段もある。
■第1のホールセンサ5の貫通磁束密度Bを第2のホー
ルセンサ6の貫通磁束密度Bより大きくすることにより
、第1のホールセンサ5の出力電圧VHI(+)を第2
のホールセンサ6の出力電圧VH2(+)より大きくす
る。
ルセンサ6の貫通磁束密度Bより大きくすることにより
、第1のホールセンサ5の出力電圧VHI(+)を第2
のホールセンサ6の出力電圧VH2(+)より大きくす
る。
即ち、第4図に示すように、第3図のように形成した半
導体チップにおいて、第1のホールセンサ5に対応した
上面に、磁性体例えば軟磁性材料36を形成する。この
軟磁性材料36を形成するには例えばフェライト粉等の
磁性粉を混ぜた樹脂を半導体チップの上面に滴下してエ
ンキャップ状に形成する。すなわち、磁性体の集磁効果
により周囲磁束が集束され磁束密度Bが大きくなり、第
1のホールセンサ5の出力電圧VHI(+)を第2のホ
ールセンサ6の出力電圧VH2(+)より大きくするこ
とができる。尚、磁性体としてヒステリシス特性を持た
ない軟磁性材料を用いた場合には残留磁気の影響を小さ
くし、交番磁界での使用に支障がないようにすることが
できる。
導体チップにおいて、第1のホールセンサ5に対応した
上面に、磁性体例えば軟磁性材料36を形成する。この
軟磁性材料36を形成するには例えばフェライト粉等の
磁性粉を混ぜた樹脂を半導体チップの上面に滴下してエ
ンキャップ状に形成する。すなわち、磁性体の集磁効果
により周囲磁束が集束され磁束密度Bが大きくなり、第
1のホールセンサ5の出力電圧VHI(+)を第2のホ
ールセンサ6の出力電圧VH2(+)より大きくするこ
とができる。尚、磁性体としてヒステリシス特性を持た
ない軟磁性材料を用いた場合には残留磁気の影響を小さ
くし、交番磁界での使用に支障がないようにすることが
できる。
尚、半導体チップの第1のホールセンサに対応した下面
あるいは両面に磁性体を形成してもよい。
あるいは両面に磁性体を形成してもよい。
半導体チップの下面に磁性体を形成するには磁性体をペ
レット状に切り出して半導体チップに接着するか、ある
いは磁性粉を混ぜた樹脂を半導体チップの裏面に塗布す
る。
レット状に切り出して半導体チップに接着するか、ある
いは磁性粉を混ぜた樹脂を半導体チップの裏面に塗布す
る。
■第1のホールセンサ5の入力抵抗Rdを第2のホール
センサ6の入力抵抗Rdより大きくすることにより、第
1のホールセンサ5の出力電圧VHI(+)を第2のホ
ールセンサ6の出力電圧VH2(+)より大きくする。
センサ6の入力抵抗Rdより大きくすることにより、第
1のホールセンサ5の出力電圧VHI(+)を第2のホ
ールセンサ6の出力電圧VH2(+)より大きくする。
この場合は定電流使用に有効である。
即ち、第1のホールセンサ5の動作層のシート抵抗ρS
を第2のホールセンサ6の動作層のシート抵抗ρSより
高くすればいいので、第1のホールセンサ5の動作層の
ドーズ量を少なくする。例えば、第1のホールセンサ5
の動作層のドーズ量を200KeVで2 X 10 ”
am−2とし、第2のホールセンサ6の動作層のドーズ
量を200KeVで4 X 10 ”an−2とするこ
とニヨリ、第117)*−ルセンサ5の入力抵抗Rdを
第2のホールセンサ6の入力抵抗Rdより大きくするこ
とができ、第1のホールセンサ5の出力電圧VHI(+
)を第2のホールセンサ6の出力電圧VH2(+)より
大きくすることができる。
を第2のホールセンサ6の動作層のシート抵抗ρSより
高くすればいいので、第1のホールセンサ5の動作層の
ドーズ量を少なくする。例えば、第1のホールセンサ5
の動作層のドーズ量を200KeVで2 X 10 ”
am−2とし、第2のホールセンサ6の動作層のドーズ
量を200KeVで4 X 10 ”an−2とするこ
とニヨリ、第117)*−ルセンサ5の入力抵抗Rdを
第2のホールセンサ6の入力抵抗Rdより大きくするこ
とができ、第1のホールセンサ5の出力電圧VHI(+
)を第2のホールセンサ6の出力電圧VH2(+)より
大きくすることができる。
次に本実施例の効果について説明する。
■温度改善効果
第5図に示すように、同一温度特性を有する第1のホー
ルセンサ5と第2のホールセンサ6の差を出力として取
り出すので、温度特性は相殺され、小さくなる。
ルセンサ5と第2のホールセンサ6の差を出力として取
り出すので、温度特性は相殺され、小さくなる。
尚、モノリシックでも、ハイブリッドでも同様の効果を
期待できる。
期待できる。
■オフセット電圧(V HO)縮小効果ハイブリッドの
場合に限るが、特性が同一で接近したオフセット電圧を
有する一対のホールセンサをベアリングすることで実現
できる。すなわち、第1のホールセンサ5のオフセット
電圧をVHOIとし、j@2のホールセンサ6のオフセ
ット電圧をV )102とした場合、ベアリングした一
対のホールセンサのオフセット電圧VHOはV HO−
V HotVHO2テ、V Hot ! V HO2な
らv no= o テある。
場合に限るが、特性が同一で接近したオフセット電圧を
有する一対のホールセンサをベアリングすることで実現
できる。すなわち、第1のホールセンサ5のオフセット
電圧をVHOIとし、j@2のホールセンサ6のオフセ
ット電圧をV )102とした場合、ベアリングした一
対のホールセンサのオフセット電圧VHOはV HO−
V HotVHO2テ、V Hot ! V HO2な
らv no= o テある。
[発明の効果]
以上延べたように本発明によれば、磁場そのものを良好
に検出することができ、かつ、ホール出力電圧の温度特
性及びオフセット電圧を改善することができる磁気検出
装置を提供することができる。
に検出することができ、かつ、ホール出力電圧の温度特
性及びオフセット電圧を改善することができる磁気検出
装置を提供することができる。
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図は本発
明に係る半導体チップ上面の一例を示す構成説明図、第
3図は本発明に係る半導体チップの一例を示す断面図、
第4図は本発明に係る半導体チップの他の例を示す断面
図、第5図は本発明に係る温度特性の一例を示す特性図
である。 1.2.2’・・・入力端子、3,4・・・出力端子、
5・・・第1のホールセンサ、6・・・第2のホールセ
ンサ、7・・・半導体チップ又は外囲器、11−1゜1
1−2.12.12’ 、21,22,23゜24・・
・入力電極、13,14.17−1.17−2・・・出
力電極、15.16・・・動作領域、18・・・半導体
チップ、26・・・絶縁膜、26.27,28゜29・
・・N十層、30.31・・・動作層、32・・・半導
体基板、33,34.35・・・ボンディングワイヤ、
36・・・軟磁性材料。 第1図
明に係る半導体チップ上面の一例を示す構成説明図、第
3図は本発明に係る半導体チップの一例を示す断面図、
第4図は本発明に係る半導体チップの他の例を示す断面
図、第5図は本発明に係る温度特性の一例を示す特性図
である。 1.2.2’・・・入力端子、3,4・・・出力端子、
5・・・第1のホールセンサ、6・・・第2のホールセ
ンサ、7・・・半導体チップ又は外囲器、11−1゜1
1−2.12.12’ 、21,22,23゜24・・
・入力電極、13,14.17−1.17−2・・・出
力電極、15.16・・・動作領域、18・・・半導体
チップ、26・・・絶縁膜、26.27,28゜29・
・・N十層、30.31・・・動作層、32・・・半導
体基板、33,34.35・・・ボンディングワイヤ、
36・・・軟磁性材料。 第1図
Claims (2)
- (1)同一半導体チップあるいは同一外囲器内に形成し
た一対のホールセンサからなる磁気検出装置において、
一方のホールセンサの出力電圧を他方のホールセンサの
出力電圧より大きくし、両方のホールセンサの出力電圧
の差を出力として取り出すことを特徴とする磁気検出装
置。 - (2)一方のホールセンサの出力電圧を大きくする手段
として、半導体チップの上もしくは下もしくは両方に磁
性体を配置したことを特徴とする請求項1記載の磁気検
出装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2049458A JPH0769407B2 (ja) | 1990-03-02 | 1990-03-02 | 磁気検出装置 |
KR1019910002993A KR910017201A (ko) | 1990-03-02 | 1991-02-25 | 자기검출장치 |
KR2019950002626U KR960000763Y1 (ko) | 1990-03-02 | 1993-02-17 | 자기검출장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2049458A JPH0769407B2 (ja) | 1990-03-02 | 1990-03-02 | 磁気検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03252578A true JPH03252578A (ja) | 1991-11-11 |
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