JP2011203080A - 画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラム - Google Patents

画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラム Download PDF

Info

Publication number
JP2011203080A
JP2011203080A JP2010070043A JP2010070043A JP2011203080A JP 2011203080 A JP2011203080 A JP 2011203080A JP 2010070043 A JP2010070043 A JP 2010070043A JP 2010070043 A JP2010070043 A JP 2010070043A JP 2011203080 A JP2011203080 A JP 2011203080A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image data
angle
rotation
wide
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010070043A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5221584B2 (ja
Inventor
Shinichi Shinoda
伸一 篠田
Yasutaka Toyoda
康隆 豊田
Ryoichi Matsuoka
良一 松岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi High Technologies Corp
Hitachi High Tech Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Technologies Corp, Hitachi High Tech Corp filed Critical Hitachi High Technologies Corp
Priority to JP2010070043A priority Critical patent/JP5221584B2/ja
Priority to US13/578,651 priority patent/US8687921B2/en
Priority to PCT/JP2011/057274 priority patent/WO2011118745A1/ja
Publication of JP2011203080A publication Critical patent/JP2011203080A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5221584B2 publication Critical patent/JP5221584B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • G06T7/001Industrial image inspection using an image reference approach
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/70Determining position or orientation of objects or cameras
    • G06T7/73Determining position or orientation of objects or cameras using feature-based methods
    • G06T7/74Determining position or orientation of objects or cameras using feature-based methods involving reference images or patches
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10Image acquisition modality
    • G06T2207/10056Microscopic image
    • G06T2207/10061Microscopic image from scanning electron microscope
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108Industrial image inspection
    • G06T2207/30148Semiconductor; IC; Wafer

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

【課題】試料の観察画像の回転を精度よく検出することのできる画像処理技術を提供する。
【解決手段】本発明に係る画像処理装置は、試料の測定箇所を含む広角画像データを介して、測定画像データと基準画像データの間の回転ずれを間接的に補正する。
【選択図】図1

Description

本発明は、試料の観察画像を処理する画像処理技術に関するものである。
半導体装置を製造する際、各プロセスにおいて基板上に形成されたパターンが設計された通りに形成されているかどうかを検査するため、従来から測長走査型電子顕微鏡などが広く用いられている。
下記特許文献1には、CAD(Computer Aided Design)を用いた設計データとSEM(Scanning Electron Microscope)で撮像した配線パターンの画像(SEM画像)を比較して配線パターンの出来映えを評価する手法が記載されている。
下記特許文献2には、パターンを評価する前に設計データを用いてSEM像の回転を検出して補正する手法が記載されている。これは、SEM像が回転しているとパターンを誤評価する可能性があるためである。
特開2002−31525号公報 特開2006−269710号公報
近年では半導体の微細化が進み、パターン形状が複雑化している。そのため、SEM像のパターン形状と設計データのパターン形状の間に乖離が生じると、パターン評価の精度に与える影響は従来よりも大きくなってきている。
上記特許文献2に記載の技術では、SEM像のパターン形状と設計データのパターン形状が似ている場合には高精度な回転補正が可能であるが、両者の形状が乖離すると回転の検出精度が低下してしまう可能性がある。また、帯電等による撮像毎の微小な回転を精度よく検出するのは難しい。
本発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、試料の観察画像の回転を精度よく検出することのできる画像処理技術を提供することを目的とする。
本発明に係る画像処理装置は、試料の測定箇所を含む広角画像データを介して、測定画像データと基準画像データの間の回転ずれを間接的に補正する。
本発明に係る画像処理装置によれば、広角画像データを介して測定画像データと基準画像データの間の回転ずれを間接的に補正するので、広角画像データと基準画像データの間のマッチング、および広角画像データと測定画像データの間のマッチングを精度よく行うことができる。これにより、比較的大きな回転ずれが生じている場合でも、その回転ずれを精度よく検出することができる。
実施の形態1に係る画像処理装置1の機能ブロック図である。 第1回転角検出部10の機能ブロック図である。 部位検出部102が検出するパターンの1例を示す図である。 広角画像データと基準画像データをマッチングする過程を説明する図である。 倍率調整部11の機能ブロック図である。 第2回転角検出部12の機能ブロック図である。 局所領域マッチング部122が行うマッチング処理を説明する図である。 局所領域の対応位置ずれを用いて回転角を算出する手法を説明する図である。 回転角算出部13の機能ブロック図である。 実施の形態2に係る画像処理装置1の機能ブロック図である。 実施の形態3に係る画像処理装置1の機能ブロック図である。 実施の形態4に係る画像処理装置1の機能ブロック図である。 実施の形態5に係る画像処理装置1の機能ブロック図である。 実施の形態2における画像処理装置1の動作フローである。
<実施の形態1>
図1は、本発明の実施の形態1に係る画像処理装置1の機能ブロック図である。画像処理装置1は、試料の観察画像を処理する装置であり、基準画像データ記憶部2、広角画像データ記憶部3、測定画像データ記憶部4、第1回転角検出部10、倍率調整部11、第2回転角検出部12、回転角算出部13、回転補正部14を備える。
基準画像データ記憶部2は、測定対象となるパターンと比較してパターンの出来栄えを評価するための基準パターンの画像データを記憶する。例えば、CADを用いて作成した集積回路の設計データを基に作成したパターン画像を基準画像データとしてもよいし、さらに近接効果補正等の補正を加えたパターン画像を基準画像データとしてもよい。また、基板上に生成された出来映えの良いパターンを撮像して得た撮像画像を基準画像データとしても用いてもよい。
広角画像データ記憶部3は、測定対象のパターンが含まれる広い領域を低倍率で撮像して得た画像データ(広角画像データ)を記憶する。
測定画像データ記憶部4は、測定対象のパターンを撮像して得た画像データ(測定画像データ)を記憶する。測定画像データは測定画像のパターンを抽出して得た輪郭画像としてもよい。以降の説明では、測定画像データは測定画像の輪郭画像データであるものとする。同様に、基準画像データおよび広角画像データを輪郭画像データとしてもよい。
第1回転角検出部10は、基準画像データと広角画像データの間の回転ずれ角度を検出する。検出手法は後述の図3〜図4で説明する。
第2回転角検出部12は、広角画像データと測定画像データの間の回転ずれ角度を検出する。ただし、広角画像データと測定画像データは画像の倍率が異なる。そこで倍率調整部11は、各画像データを拡大または縮小して両者の倍率を同じ倍率に合わせる。第2回転角検出部12は、倍率調整後の各画像データを用いて、広角画像データと測定画像データの間の回転ずれ角度を検出する。
回転角算出部13は、第1回転角検出部10が検出した回転ずれ角度と、第2回転角検出部12が検出した回転ずれ角度を用いて、基準画像データと測定画像データの間の回転ずれ角度を算出する。
回転補正部14は、回転角算出部13が算出した回転ずれ角度を用いて測定画像データを回転補正する。
第1回転角検出部10、第2回転角検出部12、回転角算出部13は、一体的に構成することもできる。以下の実施の形態でも同様である。
図2は、第1回転角検出部10の機能ブロック図である。回転角検出部10は、マッチング部101、部位検出部102、回転算出部103を備える。
マッチング部101は、基準画像データと広角画像データを広い範囲でマッチングし、広角画像データと基準画像データが相互に対応する大まかな対応位置を求める。例えば、広角画像データをテンプレートとしてこれに合致する基準画像データ上の領域を検索し、両者の正規化相関を算出し、最も相関が高い位置を検出する。これにより、基準画像データと広角画像データが相互に対応する位置を求めることができる。
部位検出部102は、基準画像データと広角画像データを比較する際に用いる基準画像データ上のパターンを検出し、検出したパターンの基準画像データ上および広角画像データ上における位置を求める。ここで用いるパターンは、基準画像データと広角画像データを比較し易いパターン、例えば直線パターンやコーナーパターンなどとすることが望ましい。後述の図3でこのパターンを例示する。
回転算出部103は、広角画像データと基準画像データの間の回転角を算出する。算出手法は後述の図3〜図4で説明する。
図3は、部位検出部102が検出するパターンの1例を示す図である。ここでは凸型のパターンを図3(a)に例示した。
図3(a)に示した凸型パターンは、P1からP4の4パターンのコーナーを有する。部位検出部102は、例えば図3(b)に示すような、P1〜P4に対応する3×3画素マトリクスのコーナー検出フィルタを用いてパターンマッチングを行なうことにより、各コーナーを検出することができる。
各コーナー間は直線部であると考えることができる。コーナー間の長さが所定長以上の場合は直線部であるとみなしてもよい。また、線検出フィルタを用いて直線部を検出してもよい。基準画像データ上のパターン形状は最も理想的な形状であるため、直線パターン、コーナーパターン、端点パターン等の部位を容易に検出することができる。
部位検出部102は、検出した各パターンの位置を、回転算出部103へ出力する。回転算出部103は、その位置を用いて基準画像データと広角画像データとを対応させて比較し、画像データ間の回転角を算出する。
図4は、広角画像データと基準画像データをマッチングする過程を説明する図である。図4(a)に示す広角画像データと、図4(b)に示す基準画像データを、マッチング部101が取得した対応位置で合わせると、図4(c)のようになる。
部位検出部102は、広角画像データと基準画像データの対応するパターンのうち、図3で説明した直線パターン部分を検出する。ここでは図4(d)に示すように、基準画像データ1020の矩形パターンの直線部分を検出し、広角画像データ1021と対応させた例を示した。直線パターン以外のパターンを用いて、広角画像データと基準画像データを対応させてもよい。
回転算出部103は、例えば、基準画像データ1020のA点と対応する広角画像データ1021のA’点の距離L1を求める。同様に基準画像データ1020のB、C、D点と対応する広角画像データ1021のB’、C’、D’点の距離L2〜L4を求める。
画像データ間に回転ずれが生じていなければ、A−A’間の距離L1、B−B’間の距離L2C−C’間の距離L3、D−D’間の距離L4は略同じ値となる。画像データ間に回転ずれが生じている場合は、図4(e)に示すように、A−A’間の距離L1’とB−B’間の距離L2’の値が異なってくる。回転算出部103は、AからBまでの距離と、距離L1’と距離L2’の差分(傾き)を用いて、画像データ間の回転角を算出することができる。
なお、図4では説明の簡易のためA〜Dの4点を用いて直線パターンの傾きを算出する例を示したが、比較する点数を増やしたり、より長い直線パターンを用いたりして、回転角の検出精度を上げることもできる。
図5は、倍率調整部11の機能ブロック図である。倍率調整部11は、広角画像データと測定画像データが同じ視野範囲内で同じ画像サイズとなるように、画像データのサイズ変換を行う。
例えば、広角画像データを撮像する倍率が測定画像データを撮像する倍率に対して1/4の低倍率である場合、拡大部110は広角画像データを4倍に拡大処理し、測定画像データはそのまま(1倍)とする。これにより、各画像データは同じ視野範囲内で同じ画像サイズとなる。または、広角画像データをそのまま(1倍)にしておき、縮小部111は測定画像データを1/4倍に縮小してもよい。拡大部110、縮小部111は、バイリニア処理で上記各処理を行ってもよい。
上記説明では、広角画像データの撮像倍率は測定画像データの撮像倍率に対して1/4としたが、この倍率は常に固定値として決めておいてもよいし、実際の撮像倍率を用いて適宜調整してもよい。例えば、広角画像データおよび測定画像データを撮影したそれぞれの撮像倍率値S11を、あらかじめ適当な記憶装置に格納しておき、その撮像倍率値S11を用いて、広角画像データと測定画像データが、同じ視野範囲内で同じ画像サイズになるように、拡大率または縮小率を調整することが考えられる。
また、ここでは拡大部110と縮小部111をともに設けているが、いずれかの画像データは拡大または縮小せず1倍のままで用いるのであれば、拡大部110と縮小部111どちらか一方があればよい。
図6は、第2回転角検出部12の機能ブロック図である。第2回転角検出部12は、マッチング部121、局所領域マッチング部122、回転算出部123を備える。
マッチング部121は、広角画像データと測定画像データとの間でマッチングを行い、画像データ間の対応位置を求める。例えば、測定画像データをテンプレートとして広角画像データを検索し、マッチング部101と同様に正規化相関を求めて対応する画像位置を求める。
局所領域マッチング部122は、画像を分割して複数の局所領域に分け、各局所領域を個別にマッチングする。ここでのマッチングは、基準画像データと広角画像データの間で行う広い範囲のマッチングとは異なる。
図7は、局所領域マッチング部122が行うマッチング処理を説明する図である。図7(a)は、マッチング部121が求めた対応位置で測定画像データと広角画像データを重ね合せた画像である。局所領域マッチング部122は、図7(b)に示すように、測定画像データを縦横5×5=25個の局所領域に分け、局所領域毎に測定画像データと基準画像データの間でマッチングを行う。
局所領域マッチング部122は、マッチングを行う際に、マッチング部121が求めた対応位置を基準として25個の局所領域を切り出し、同位置をそれぞれの局所領域の原点座標とする。局所領域マッチング部122は、各局所領域の原点座標を基準として局所画像同士を比較し、マッチングを行う。
画像データ間に回転が生じていなければ、各局所領域をマッチングさせると、基準画像データと測定画像データが相互に対応する位置は原点座標となるはずである。しかし、画像データ間に回転が生じている場合は、図7(c)に示すように、対応位置は回転ずれに応じて原点座標からずれる。
局所領域マッチング部122は、この対応位置と原点座標からのズレを、それぞれの局所領域について求める。回転算出部123は、局所領域マッチング部122が求めたそれぞれの局所領域のズレを用いて、回転角を算出する。
図8は、局所領域の対応位置ずれを用いて回転角を算出する手法を説明する図である。図8に示す例では、回転角は、局所領域Aと局所領域Bの間の距離Wと、局所領域Aから局所領域BまでのズレHが判れば、回転角θを求めることができる。
図9は、回転角算出部13の機能ブロック図である。回転角算出部13は、加算部130を用いて基準画像データと測定画像データの間の回転角を求める。例えば、第1回転角検出部10が求めた基準画像データと広角画像データの間の回転角θ1と、第2回転角検出部12が求めた広角画像データと測定画像データの間の回転角θ2を加算することにより、基準画像データと測定画像データの間の回転角を求めることができる。回転補正部14は、基準画像データと測定画像データの間の回転角を用いて測定画像データを回転補正する。
以上のように、本実施の形態1に係る画像処理装置1は、測定画像データと基準画像データを直接マッチングして回転角を検出することに代えて、広角画像データを介して間接的に回転角を検出する。これによる効果について以下に説明する。
測定画像データは高倍率で撮像するため、基準画像データと比較する際に狭い領域の比較しか行うことができず、回転ずれの影響を大きく受け、回転角を正確に検出することができない可能性がある。これに対し、広角画像データは広い領域の画像であるため、多少の回転ずれが生じていても比較的マッチングを行いやすい。したがって、広角画像データと基準画像データのマッチング精度は比較的よいと思われる。
また、広角画像データと測定画像データは、ともに同じパターンを撮像して得た画像データである。そのため、帯電等により広角画像データと撮像した時点と測定画像データを撮像した時点の間で回転ずれが多少生じていても、両者のマッチング精度は比較的よいと思われる。
すなわち、測定画像データと基準画像データを直接比較してマッチングを行う場合よりも、広角画像データを介してマッチングを行って回転角を検出する方が、各画像データ間のマッチング精度が良好であると考えられる。そのため、結果として測定画像データと基準画像データの間の回転ずれを精度よく検出することができる。
<実施の形態2>
図10は、本発明の実施の形態2に係る画像処理装置1の機能ブロック図である。本実施の形態2に係る画像処理装置1は、実施の形態1で説明した構成に加え、新たに撮像部5と出力部6を備える。
撮像部5は、測定対象である試料を撮像して広角画像データおよび測定画像データを取得し、それぞれ広角画像データ記憶部3と測定画像データ記憶部4に格納する。また、撮影した倍率値S11を倍率調整部11に出力する。倍率調整部11は、その倍率値S11を用いて、広角画像データと測定画像データの画像サイズを合わせる。
出力部6は、回転算出部13が算出した回転角を、画面表示、プリンタ出力、データ出力などの手法で出力する。これにより、ユーザが回転ずれ角度を明確に把握することができる。
撮像部5または表示部6は、他の実施の形態においても同様に設けることができる。
<実施の形態3>
本実施の形態3では、実施の形態1〜2とは異なる画像処理装置1の構成例を説明する。各機能部の処理は概ね実施の形態1〜2と同様であるため、以下では差異点を中心に説明する。
図11は、本実施の形態3に係る画像処理装置1の機能ブロック図である。本実施の形態3では、回転角検出部13が測定画像データと基準画像データの間の回転角を算出した後、回転補正部14は、測定画像データに代えて基準画像データを回転補正する。この場合でも、実施の形態1と同様の効果を発揮することができる。
<実施の形態4>
図12は、本発明の実施の形態4に係る画像処理装置1の機能ブロック図である。本実施の形態4では、測定画像データと広角画像データをマッチングする前に、広角画像データを回転補正する点が、実施の形態1〜3とは異なる。また、広角画像データの回転補正を行う第2回転補正部15を新たに備える。以下では、実施の形態1〜3との差異点を中心に説明する。
第2回転補正部15は、第1回転角検出部10が検出した、基準画像データと広角画像データの間の回転角を用いて、広角画像データを回転補正する。回転補正した広角画像データは、倍率調整部11に出力される。
倍率調整部11は、回転補正した広角画像データと測定画像データの画像サイズを調整し、同じ視野範囲で同じ画像の大きさになるようにする。以後の処理は実施の形態1〜2と同様である。
以上のように、本実施の形態4では、実施の形態1〜3と同様に、広角画像データを介して基準画像データと測定画像データの間の回転ずれを検出することができる。
<実施の形態5>
図13は、本発明の実施の形態5に係る画像処理装置1の機能ブロック図である。本実施の形態5では、まず初めに広角画像データと測定画像データをマッチングして広角画像データを回転補正し、次に広角画像データと基準画像データをマッチングして基準画像データを回転補正する。また、基準画像データの回転補正を行う第2回転補正部15を新たに備える。以下では、実施の形態1〜4との差異点を中心に説明する。
回転補正部14は、第2回転角検出部12が検出した、測定画像データと広角画像データの間の回転ずれ角度を用いて、広角画像データを回転補正する。回転補正した広角画像データは、第1回転角検出部10に出力される。
第2回転補正部15は、第1回転角検出部10が検出した、基準画像データと広角画像データの間の回転角を用いて、基準画像データを回転補正する。
以上のように、本実施の形態5では、実施の形態1〜4と同様に、広角画像データを介して基準画像データと測定画像データの間の回転ずれを検出することができる。
<実施の形態6>
図14は、実施の形態2における画像処理装置1の動作フローである。以下、図14の各ステップについて説明する。なお、他の実施の形態に係る画像処理装置1の動作フローは、ステップの順番や処理対象となる画像データが図14とは異なるが、その他は図14と概ね同様である。
(図14:ステップS1401〜S1402)
撮像部5は、測定画像データと広角画像データを撮影する。撮影順序はいずれが先でもよい。
(図14:ステップS1403)
第1回転角検出部10は、基準画像データと広角画像データの間の回転ずれ角度を検出する。
(図14:ステップS1404)
第2回転角検出部12は、広角画像データと測定画像データの間の回転ずれ角度を検出する。
(図14:ステップS1405)
回転角算出部13は、ステップS1403〜S1404で得た回転ずれ角度を用いて、基準画像データと測定画像データの間の回転ずれ角度を算出する。回転補正部14は、その回転ずれ角度を用いて測定画像データを回転補正する。
<実施の形態7>
以上の実施の形態1〜6では、広角画像データは測定画像データを撮像した倍率よりも低倍率で撮像した画像データであるとしたが、低倍率の画像データでなくても、測定画像データを含む、測定画像データより広い画像領域のデータを用いることもできる。
例えば、測定画像と同じ倍率の画像を複数枚撮像して、パノラマ処理で広い画像として合成した画像を用いることが考えられる。画像を合成する際に、画像間で回転補正を行いながら合成することにより、パノラマ合成する画像間の回転を少なくすることができる。
ただし、パノラマ合成する最初の時点で画像データが回転していれば、その回転角に合わせて以降の画像データが回転補正されていくので、結果としてパノラマ合成画像全体が回転することになる。その回転を基準画像データと比較して、上記で説明した同様の方法でパノラマ合成画像データの回転を検出することもできる。
<実施の形態8>
以上の実施の形態1〜7では、画像データ間をマッチングして相互に対応する位置を求め、回転角を検出することを説明した。一方、回転ずれが生じている場合は、回転角のみならず対応位置も正確でない場合がある。
そこで、回転補正部14または第2回転補正部15は、画像データを回転補正した後に改めて画像データ間のマッチングを行って対応位置を求め、位置ずれが生じていれば位置補正を行うようにしてもよい。
<実施の形態9>
以上の実施の形態1〜8において、広角画像データを撮像して得る際に、広角画像データ内に含まれるパターンの数が少ないと、比較対象が少ないことになるので、検出精度の観点から好ましくない。
そこで撮像部5は、広角画像データ内のパターン数が所定閾値以上となるように、撮像位置または撮像倍率を調整する。具体的には、広角画像を撮像する毎にその広角画像データ内のパターンを例えば図3で説明したような手法で検出し、パターン数が所定閾値未満である場合は撮像位置または撮像倍率を変更して改めて撮像する。この繰り返しにより、パターンが所定閾値以上含まれる広角画像データを得ることができる。
<実施の形態10>
以上の実施の形態1〜9において、画像処理装置1が備える各記憶部は、例えばHDD(Hard Disk Drive)やメモリ装置などの書き込み可能な記憶装置を用いて構成することができる。
撮像部5は、測長走査型電子顕微鏡などの撮像デバイスとその制御装置を用いて構成することができる。
また、その他の各機能部は、これらの機能を実現する回路デバイスのようなハードウェアを用いて構成することもできるし、マイコンやCPU(Central Processing Unit)のような演算装置とその動作を規定するソフトウェアを用いて構成することもできる。さらには、コンピュータにこれら機能部の動作を実現したソフトウェアをインストールし、当該コンピュータを画像処理装置1として構成することもできる。
1:画像処理装置、2:基準画像データ記憶部、3:広角画像データ記憶部、4:測定画像データ記憶部、5:撮像部、6:出力部、10:第1回転角検出部、101:マッチング部、102:部位検出部、103:回転算出部、11:倍率調整部、110:拡大部、111:縮小部、12:第2回転角検出部、121:マッチング部、122:局所領域マッチング部、123:回転算出部、13:回転角算出部、130:加算部、14:回転補正部、15:第2回転補正部。

Claims (17)

  1. 試料の観察画像を処理する画像処理装置であって、
    試料上の測定箇所を撮影して得た測定画像データを記憶する測定画像データ記憶部と、
    前記測定箇所を包含する広角領域を撮影して得た広角画像データを記憶する広角画像データ記憶部と、
    前記測定箇所が所望のパターンを有するか否かを判断する基準となる基準画像データを記憶する基準画像データ記憶部と、
    画像データの回転角を算出する回転角算出部と、
    画像データを回転補正する回転補正部と、
    を備え、
    前記回転角算出部は、
    前記測定画像データ、前記広角画像データ、および前記基準画像データの間の回転ずれ角度を算出し、
    前記回転補正部は、
    その回転ずれ角度を用いて前記測定画像データと前記基準画像データの間の回転ずれを補正する
    ことを特徴とする画像処理装置。
  2. 前記回転角算出部は、
    前記広角画像データと前記基準画像データの間の第1回転ずれ角度と、
    前記広角画像データと前記測定画像データの間の第2回転ずれ角度と、
    を算出するとともに、
    前記第1回転ずれ角度と前記第2回転ずれ角度を用いて前記基準画像データと前記測定画像データの間の回転ずれ角度を算出し、
    前記回転補正部は、
    その回転ずれ角度を用いて前記測定画像データの回転ずれを補正する
    ことを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。
  3. 画像データの拡大または縮小を行う倍率調整部を備え、
    前記倍率調整部は、
    前記測定画像データまたは前記広角画像データを拡大または縮小して倍率を揃え、
    前記回転角算出部は、
    倍率を揃えた前記広角画像データと前記基準画像データを用いて前記第2回転ずれ角度を算出する
    ことを特徴とする請求項2記載の画像処理装置。
  4. 前記回転角算出部は、
    前記広角画像データと前記基準画像データの間の第1回転ずれ角度と、
    前記広角画像データと前記測定画像データの間の第2回転ずれ角度と、
    を算出するとともに、
    前記第1回転ずれ角度と前記第2回転ずれ角度を用いて前記測定画像データと前記基準画像データの間の回転ずれ角度を算出し、
    前記回転補正部は、
    その回転ずれ角度を用いて前記基準画像データの回転ずれを補正する
    ことを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。
  5. 画像データの拡大または縮小を行う倍率調整部を備え、
    前記倍率調整部は、
    前記測定画像データまたは前記広角画像データを拡大または縮小して倍率を揃え、
    前記回転角算出部は、
    倍率を揃えた前記広角画像データと前記基準画像データを用いて前記第2回転ずれ角度を算出する
    ことを特徴とする請求項4記載の画像処理装置。
  6. 前記広角画像データと前記基準画像データの間の第1回転ずれ角度を算出する第1回転ずれ角検出部と、
    前記第1回転ずれ角度を用いて前記基準画像データと前記広角画像データの間の回転ずれを補正する第1回転ずれ補正部と、
    前記第1回転ずれ補正部が補正した前記広角画像データと前記測定画像データの間の第2回転ずれ角度を算出する第2回転ずれ角検出部と、
    前記第2回転ずれ角度を用いて前記広角画像データと前記測定画像データの間の回転ずれを補正する第2回転ずれ補正部と、
    を備え、
    前記回転角算出部は前記第1回転ずれ角検出部と前記第2回転ずれ角検出部を含み、
    前記回転補正部は前記第1回転ずれ補正部と前記第2回転ずれ補正部を含む
    ことを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。
  7. 画像データの拡大または縮小を行う倍率調整部を備え、
    前記倍率調整部は、
    前記第1回転ずれ補正部が補正した前記広角画像データまたは前記測定画像データを拡大または縮小して倍率を揃え、
    前記第2回転ずれ角算出部は、
    倍率を揃えた前記広角画像データと前記基準画像データを用いて前記第2回転ずれ角度を算出する
    ことを特徴とする請求項6記載の画像処理装置。
  8. 前記広角画像データと前記測定画像データの間の第1回転ずれ角度を算出する第1回転ずれ角検出部と、
    前記第1回転ずれ角度を用いて前記測定画像データと前記広角画像データの間の回転ずれを補正する第1回転ずれ補正部と、
    前記第1回転ずれ補正部が補正した前記広角画像データと前記基準画像データの間の第2回転ずれ角度を算出する第2回転ずれ角検出部と、
    前記第2回転ずれ角度を用いて前記広角画像データと前記基準画像データの間の回転ずれを補正する第2回転ずれ補正部と、
    を備え、
    前記回転角算出部は前記第1回転ずれ角検出部と前記第2回転ずれ角検出部を含み、
    前記回転補正部は前記第1回転ずれ補正部と前記第2回転ずれ補正部を含む
    ことを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。
  9. 画像データの拡大または縮小を行う倍率調整部を備え、
    前記倍率調整部は、
    前記測定画像データまたは前記広角画像データを拡大または縮小して倍率を揃え、
    前記第1回転ずれ角算出部は、
    倍率を揃えた前記広角画像データと前記測定画像データを用いて前記第1回転ずれ角度を算出する
    ことを特徴とする請求項8記載の画像処理装置。
  10. 前記測定画像データ、前記広角画像データ、前記基準画像データは、輪郭抽出処理で抽出した画像データであることを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。
  11. 前記回転角算出部の算出結果を出力する出力部を備えたことを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。
  12. 前記広角画像データは、パノラマ合成処理で作成した画像データであることを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。
  13. 前記回転補正部は、
    回転補正した後の画像データ間の位置ずれを検出し、その位置ずれを補正する
    ことを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。
  14. 前記広角領域を撮影して前記広角画像データを得る撮影部を備え、
    前記撮影部は、
    前記広角領域に含まれるパターンの密度が所定閾値以上となるように撮影位置を定める
    ことを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。
  15. 前記広角領域を撮影して前記広角画像データを得る撮影部を備え、
    前記撮影部は、
    前記広角領域に含まれるパターンの密度が所定閾値以上となるように撮影倍率を定める
    ことを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。
  16. 試料の観察画像を処理する画像処理方法であって、
    試料上の測定箇所を撮影して得た測定画像データを取得するステップと、
    前記測定箇所を包含する広角領域を撮影して得た広角画像データを取得するステップと、
    前記測定箇所が所望のパターンを有するか否かを判断する基準となる基準画像データを取得するステップと、
    画像データの回転角を算出する回転角算出ステップと、
    画像データを回転補正する回転補正ステップと、
    を有し、
    前記回転角算出ステップでは、
    前記測定画像データ、前記広角画像データ、および前記基準画像データの間の回転ずれ角度を算出し、
    前記回転補正ステップでは、
    その回転ずれ角度を用いて前記測定画像データと前記基準画像データの間の回転ずれを補正する
    ことを特徴とする画像処理方法。
  17. 請求項16記載の画像処理方法をコンピュータに実行させることを特徴とする画像処理プログラム。
JP2010070043A 2010-03-25 2010-03-25 画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラム Active JP5221584B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010070043A JP5221584B2 (ja) 2010-03-25 2010-03-25 画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラム
US13/578,651 US8687921B2 (en) 2010-03-25 2011-03-25 Image processing apparatus, image processing method, and image processing program
PCT/JP2011/057274 WO2011118745A1 (ja) 2010-03-25 2011-03-25 画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010070043A JP5221584B2 (ja) 2010-03-25 2010-03-25 画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011203080A true JP2011203080A (ja) 2011-10-13
JP5221584B2 JP5221584B2 (ja) 2013-06-26

Family

ID=44673287

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010070043A Active JP5221584B2 (ja) 2010-03-25 2010-03-25 画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラム

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8687921B2 (ja)
JP (1) JP5221584B2 (ja)
WO (1) WO2011118745A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015093228A1 (ja) * 2013-12-20 2015-06-25 Ntn株式会社 パターン加工方法
JPWO2015098342A1 (ja) * 2013-12-26 2017-03-23 浜松ホトニクス株式会社 画像処理方法、画像処理装置、画像処理プログラム、及び画像処理プログラムを記憶した記憶媒体
JP2021500740A (ja) * 2017-10-20 2021-01-07 ケーエルエー コーポレイション 大オフセットダイ・ダイ検査用複数段階画像整列方法

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5795847B2 (ja) * 2010-09-15 2015-10-14 キヤノン株式会社 画像処理装置および画像処理方法
US20160292845A1 (en) * 2015-03-31 2016-10-06 Macronix International Co., Ltd. Determining contact edge roughness of a contact hole etched in a wafer
WO2016181338A1 (en) * 2015-05-13 2016-11-17 Vinay Bawri Computer implemented method for ranking, searching and managing contacts in electronic device

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002031525A (ja) * 2000-07-14 2002-01-31 Seiko Instruments Inc 半導体ウエハのパターン形状評価方法及び装置
JP2006269710A (ja) * 2005-03-24 2006-10-05 Toshiba Corp パターン評価方法および半導体装置の製造方法
WO2007094439A1 (ja) * 2006-02-17 2007-08-23 Hitachi High-Technologies Corporation 試料寸法検査・測定方法、及び試料寸法検査・測定装置
JP2008251766A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Hitachi High-Technologies Corp 半導体デバイスの欠陥観察方法及びその装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6466701B1 (en) * 1997-09-10 2002-10-15 Ricoh Company, Ltd. System and method for displaying an image indicating a positional relation between partially overlapping images
JP4644210B2 (ja) * 2005-01-14 2011-03-02 富士通セミコンダクター株式会社 パターン欠陥検査方法
JP4943304B2 (ja) * 2006-12-05 2012-05-30 株式会社 Ngr パターン検査装置および方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002031525A (ja) * 2000-07-14 2002-01-31 Seiko Instruments Inc 半導体ウエハのパターン形状評価方法及び装置
JP2006269710A (ja) * 2005-03-24 2006-10-05 Toshiba Corp パターン評価方法および半導体装置の製造方法
WO2007094439A1 (ja) * 2006-02-17 2007-08-23 Hitachi High-Technologies Corporation 試料寸法検査・測定方法、及び試料寸法検査・測定装置
JP2008251766A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Hitachi High-Technologies Corp 半導体デバイスの欠陥観察方法及びその装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015093228A1 (ja) * 2013-12-20 2015-06-25 Ntn株式会社 パターン加工方法
JPWO2015098342A1 (ja) * 2013-12-26 2017-03-23 浜松ホトニクス株式会社 画像処理方法、画像処理装置、画像処理プログラム、及び画像処理プログラムを記憶した記憶媒体
JP2021500740A (ja) * 2017-10-20 2021-01-07 ケーエルエー コーポレイション 大オフセットダイ・ダイ検査用複数段階画像整列方法
JP7170037B2 (ja) 2017-10-20 2022-11-11 ケーエルエー コーポレイション 大オフセットダイ・ダイ検査用複数段階画像整列方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2011118745A1 (ja) 2011-09-29
US20130011080A1 (en) 2013-01-10
US8687921B2 (en) 2014-04-01
JP5221584B2 (ja) 2013-06-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5221584B2 (ja) 画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラム
JP5987073B2 (ja) 撮像部を用いたワークの位置決め装置
TWI461861B (zh) 測量複數個半導體裝置層的相對位置之方法及系統
US9390324B1 (en) Image processing device and method of image processing
JP6594039B2 (ja) 画像処理装置、方法及びプログラム
JP4951496B2 (ja) 画像生成方法及びその画像生成装置
KR101828124B1 (ko) 패턴 평가 방법 및 패턴 평가 장치
JP3739550B2 (ja) ウェハの測定位置決定方法
TW201842329A (zh) 圖案測定裝置,及半導體計測系統
JP7001494B2 (ja) ウェハ観察装置
JP6061496B2 (ja) パターン計測装置、パターン計測方法及びパターン計測プログラム
JP5114302B2 (ja) パターン検査方法,パターン検査装置及びパターン処理装置
JP2008014700A (ja) ワークの検査方法及びワーク検査装置
JP3545542B2 (ja) ウェハの回転方向検出方法
CN109148433B (zh) 用于确定集成电路器件的尺寸的方法和设备
JP2010287762A (ja) パターン検査方法、パターン検査プログラムおよびパターン検査装置
JP2009162718A (ja) 基板検査装置および検査領域設定方法
JP2008052598A (ja) 画像位置計測方法、画像位置計測装置、および画像位置計測プログラム
JP4915940B2 (ja) 画像処理用データ作成方法及び画像処理用データ作成装置
JP2017049036A (ja) 画像測定装置及びその制御プログラム
JP2006269710A (ja) パターン評価方法および半導体装置の製造方法
JP2018059768A (ja) 演算処理装置、形状測定装置、演算処理方法、形状測定方法及びプログラム
JP2004192506A (ja) パターンマッチング装置、パターンマッチング方法およびプログラム
JP2016063336A (ja) キャリブレーション方法、キャリブレーションプログラム及びキャリブレーション装置
TWI489195B (zh) 增加影像擷取系統偵測範圍的方法及其相關的影像擷取系統

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20111206

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121113

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130111

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130205

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130307

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160315

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5221584

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350