JP2011199138A - 電子部品相互の接続方法及び接続構造 - Google Patents
電子部品相互の接続方法及び接続構造 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011199138A JP2011199138A JP2010066267A JP2010066267A JP2011199138A JP 2011199138 A JP2011199138 A JP 2011199138A JP 2010066267 A JP2010066267 A JP 2010066267A JP 2010066267 A JP2010066267 A JP 2010066267A JP 2011199138 A JP2011199138 A JP 2011199138A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- acf
- electronic component
- electrode
- thermoplastic adhesive
- electronic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L24/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73201—Location after the connecting process on the same surface
- H01L2224/73203—Bump and layer connectors
- H01L2224/73204—Bump and layer connectors the bump connector being embedded into the layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/831—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector the layer connector being supplied to the parts to be connected in the bonding apparatus
- H01L2224/83101—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector the layer connector being supplied to the parts to be connected in the bonding apparatus as prepeg comprising a layer connector, e.g. provided in an insulating plate member
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
【課題】確実に電子部品を相互に電気的に接続して電気的接続信頼性を確保する。
【解決手段】FPC10の電極12上にACF30を配置してこれらを仮圧着し、ACF30上に熱可塑性接着剤40を塗布又は配置する。その後、電極22が電極12と対向するようにFPC20をFPC10に位置合わせして加熱せずに圧力を加え、両者をACF30の熱硬化性樹脂31により仮圧着すると共に、熱可塑性接着剤40により仮固定する。そして、圧着ツールにより加熱しながら加圧することにより、電極12,22間にACF30の導電粒子32が挟み込まれて電気的接続がなされ、更に熱硬化性樹脂31を硬化させることで接続を完了する。熱可塑性接着剤40は一部が熱硬化性樹脂31中に混入した状態で硬化する。本圧着の前に仮圧着及び仮固定がなされるため、横ずれ等を防止して確実に接続を行うことができる。
【選択図】図1
【解決手段】FPC10の電極12上にACF30を配置してこれらを仮圧着し、ACF30上に熱可塑性接着剤40を塗布又は配置する。その後、電極22が電極12と対向するようにFPC20をFPC10に位置合わせして加熱せずに圧力を加え、両者をACF30の熱硬化性樹脂31により仮圧着すると共に、熱可塑性接着剤40により仮固定する。そして、圧着ツールにより加熱しながら加圧することにより、電極12,22間にACF30の導電粒子32が挟み込まれて電気的接続がなされ、更に熱硬化性樹脂31を硬化させることで接続を完了する。熱可塑性接着剤40は一部が熱硬化性樹脂31中に混入した状態で硬化する。本圧着の前に仮圧着及び仮固定がなされるため、横ずれ等を防止して確実に接続を行うことができる。
【選択図】図1
Description
この発明は、複数の電子部品を相互に電気的に接続する接続方法及び接続構造に関する。
近年、下記特許文献1に開示されたように、ACF(Anisotropic Conductive Film:異方性導電フィルム)を用いて基板或いは電子機器等の電子部品を相互に電気的に接続することが行われている。また、このような接続は、ACP(Anisotropic Conductive Paste:異方性導電ペースト)を用いても同様に行われている。図10は、ACFを用いた従来の接続構造を示す断面図である。
従来の接続構造においては、図10(a)に示すように、例えばそれぞれ電極(接続端子)101,102が形成された基板103,104を、それらの間に熱硬化性樹脂フィルム105中に導電粒子106が混在するACF107を介在させた状態で、電極101,102同士が対向するように配置する。そして、図10(b)に示すように、基板103,104同士を重ね合わせて熱圧着する。
この時、ACF107中の電極101,102間にある導電粒子106はこれらの間に挟み込まれて物理的に接触し、基板103,104の電気的な導通が確保される。一方、ACF107中の他の導電粒子106は互いに接触しないため、基板103,104においてそれぞれ隣接する電極101,102間の絶縁性は確保された状態で接続が行われる。
しかしながら、上記特許文献1に開示された従来の接続構造や、図10を用いて説明した従来の接続構造では、基板同士や基板と電子機器とを熱圧着ツールを用いて本圧着する際に、例えば熱圧着ツールの圧着ヘッドが基板に接触する時の衝撃などにより、対向する電極間に水平方向(基板の面に沿った方向)の位置ずれが生じる場合がある。このような場合は、電極101,102間に挟み込まれる導電粒子106の量に変化(例えば、数が減少するなど)が生じ、電気的接続信頼性が著しく低下するおそれがある。
この発明は、上述した従来技術による問題点を解消するため、確実に電子部品を相互に電気的に接続して電気的接続信頼性を確保することができる電子部品相互の接続方法及び接続構造を提供することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するため、本発明に係る電子部品相互の接続方法は、第1の電極を有する第1の電子部品上に熱硬化性接着剤中に導電粒子を混在させた異方性導電フィルムを配置する工程と、前記第1の電極と接続される第2の電極を有する第2の電子部品を、前記第2の電極を前記第1の電極と対向させて前記異方性導電フィルムを介して仮圧着すると共に、前記第1の電子部品と前記第2の電子部品とを熱可塑性接着剤で仮固定する工程と、前記第1の電子部品と前記第2の電子部品とを熱圧着ツールを用いて本圧着する工程とを備えたことを特徴とする。
本発明に係る電子部品相互の接続方法によれば、第1の電子部品と第2の電子部品とが、本圧着の前に異方性導電フィルムを介して仮圧着されると共に熱可塑性接着剤で仮固定されるので、本圧着の際の位置ずれを抑えて確実に電子部品を相互に電気的に接続することができ、電気的接続信頼性を確保することができる。
また、本発明に係る電子部品相互の接続方法によれば、上記電子部品が異方性導電フィルムの熱硬化性接着剤及び熱可塑性接着剤を介して互いに接続されるので、本圧着後に熱可塑性接着剤が再度硬化することにより接着強度を増すことができる。
また、本発明に係る電子部品相互の接続方法によれば、上記電子部品が異方性導電フィルムの熱硬化性接着剤及び熱可塑性接着剤を介して互いに接続されるので、本圧着後に熱可塑性接着剤が再度硬化することにより接着強度を増すことができる。
本発明に係る電子部品相互の接続方法において、例えば前記仮圧着に先立って、前記熱可塑性接着剤が前記第1の電子部品に塗布されても良いし、前記仮圧着の後に、前記熱可塑性接着剤が前記第1の電子部品と前記第2の電子部品との間に塗布されても良い。
また、前記第1及び第2の電子部品は、例えばその少なくとも一方が、フレキシブルプリント基板である。
本発明に係る電子部品相互の接続構造は、電子部品同士がそれぞれの電極を介して接続された電子部品相互の接続構造であって、一方の電子部品の電極と他方の電子部品の電極とが異方性導電フィルムの導電粒子を介して電気的に接続され、前記電子部品間が前記異方性導電フィルム中に熱可塑性接着剤が混入した状態で固定されていることを特徴とする。
本発明に係る電子部品相互の接続構造によれば、第1の電子部品と第2の電子部品とが異方性導電フィルム中に熱可塑性接着剤が混入した状態で固定されるので、熱可塑性接着剤が本圧着後に再度硬化することにより接着強度を増すことができ、確実に電子部品間を接続することができる。
本発明に係る電子部品相互の接続構造において、前記電子部品は、例えばその少なくとも一方が、フレキシブルプリント基板である。
本発明によれば、確実に電子部品を相互に電気的に接続して電気的接続信頼性を確保することができる。
以下に、添付の図面を参照して、この発明に係る電子部品相互の接続方法及び接続構造の実施の形態を詳細に説明する。
[第1の実施形態]
図1及び図2は、本発明の第1の実施形態に係る電子部品相互の接続構造を示す断面図である。本発明の第1の実施形態に係る電子部品相互の接続構造は、図1に示すように、例えばフレキシブルプリント基板(Flexible Printed Circuits:FPC)10とFPC20との相互の接続に適用される。
図1及び図2は、本発明の第1の実施形態に係る電子部品相互の接続構造を示す断面図である。本発明の第1の実施形態に係る電子部品相互の接続構造は、図1に示すように、例えばフレキシブルプリント基板(Flexible Printed Circuits:FPC)10とFPC20との相互の接続に適用される。
FPC10,20は、例えば厚さ25μmのポリイミド(PI)基材からなる基板11,21と、この基板11,21の片面上にそれぞれ形成された銅(Cu)等の導電材からなる電極12,22とを備える。電極12,22は、例えば厚さ33μmとなるように基板11,21上にそれぞれ形成されている。
ACF30は、エポキシ系の熱硬化性樹脂(熱硬化性接着剤)31中に導電粒子32を混在させたフィルム材であり、例えば厚さ35μmとなるようにFPC10の基板11の電極12形成側に配置される。このACF30は、熱によって軟化すると共に化学反応によって固化するもので、固化後に加熱しても軟化したり融けたりしない特性を有する。
ACF30としては、例えば常温での弾性率105Pa程度、軟化時の弾性率102Pa程度、及び硬化後の弾性率106Pa程度の物性を備えたソニーケミカル&インフォメーションデバイス株式会社製のACF(型番:CP9842KS)、日立化成工業株式会社製のMF−502等を用いることができる。
熱可塑性接着剤40は、スチレン系の熱可塑性樹脂からなり、例えば厚さ20μmとなるようにFPC10に配置されたACF30上に、ACF30よりも大きな面積で塗布又は配置される。この熱可塑性接着剤40は、加熱すると軟化して加工できると共に冷却すると固化し、再度加熱すると軟化する特性を有する。
熱可塑性接着剤40としては、例えば常温での弾性率108Pa程度及び軟化後の弾性率104Pa程度の物性を備えたテクノアルファ株式会社製のペーストタイプの熱可塑性接着剤STAYSTIK30シリーズ、東亞合成株式会社製PES310S30等を用いることができる。
このように構成されたFCP10,20を、電極12,22同士を位置合わせしてACF30により仮圧着すると共に熱可塑性接着剤40により仮固定した後に、両者を熱圧着により本圧着することにより、図2に示すように、FPC10,20が電気的且つ機械的に接続される。
このため、FPC10,20同士が本圧着時(接続時)に熱圧着ツールが当接する際の衝撃などにより横ずれ(平行ずれや位置ずれ)などを起こすことなく、位置合わせ及び接続を確実に行うことができる。なお、この時、例えば電極12,22間厚は5μm程度となり、FPC10,20の総合的な厚みは120μm程度となる。なお、FPC10,20の各構成部の数値等は、設計により任意に設定することができる。
FPC10,20は、基板11,21間のACF30の熱硬化性樹脂31により基板11,21同士が固定されると共に、ACF30の水平方向の外周側にて熱可塑性接着剤40により基板11,21同士が固定された状態となる。また、FPC10,20の電極12,22間にはACF30の導電粒子32が挟み込まれる。
従って、この挟み込まれた導電粒子32aを介してFPC10,20の電気的接続が確保される。また、ACF30上に塗布又は配置された熱可塑性接着剤40のうち、基板11,21の固定に使われなかった余分な熱可塑性樹脂40aは、本圧着の際にACF30の熱硬化性樹脂31中に混入する。このため、この混入した熱可塑性接着剤40aがACF30の熱硬化性樹脂31と共に硬化すると、物性の異なる接着剤の複合効果により機械的強度が増し、FPC10,20が強固に接続される。
このように、第1の実施形態に係る電子部品相互の接続構造を用いれば、確実にFPC10,20同士を相互に電気的に接続して電気的接続信頼性を確保することができると共に、両者を確実に固定して接続することができる。なお、上述した接続構造においては、電子部品としてFPC10,20を例に挙げて説明したが、このような基板同士の接続の他に、リジッド基板を用いたり、リジッドフレキシブル基板を用いたり、後述するような基板と半導体装置などとの接続や、半導体装置同士の接続などにも本発明に係る接続構造は良好に適用することができる。
ここで、本発明の第1の実施形態に係る電子部品相互の接続方法による接続工程について、図3のフローチャートを参照しながら、図4A〜図5を参照して説明する。まず、図4Aに示すように、別途加工工程により基板11上に電極12が形成されたFPC10の電極12上にACF30を配置する(ステップS100)。そして、図4Bに示すように、ACF30に所定の温度の熱を加えながら圧力を加え、基板11とACF30とを仮圧着する(ステップS102)。
次に、図4Cに示すように、仮圧着された基板11及びACF30上に熱可塑性接着剤40を塗布又は配置する(ステップS104)。この時、熱可塑性接着剤40は、ACF30上のみならず、基板11上のACF30の水平方向外周側にもその端部を露出しないように塗布又は配置される。具体的には、図5に示すように、熱可塑性樹脂40は、FPC10の基板11上において、電極12上に配置されたACF30よりも大きな面積で塗布又は配置される。
こうして熱可塑性接着剤40を塗布又は配置したら、図4Dに示すように、FPC20を、FPC20の電極22がFPC10の電極12と対向するように位置合わせして(すなわち、図5に矢印で示すように、FPC20をFPC10に重ね合わせて)、加熱せずに圧力を加えてFPC10,20をACF30の熱硬化性樹脂31により仮圧着する(ステップS106)。
また、この仮圧着の時に、熱可塑性接着剤40は塗布又は配置してからしばらくの間は軟化した状態であるため、位置合わせして仮圧着した状態を維持しつつ熱可塑性接着剤40が硬化するまで待ち、硬化した場合はFPC10,20(の特に基板11,21同士)が更に熱可塑性接着剤40を介して仮固定される。
そして、FPC10,20が仮圧着及び仮固定されたら、図4Eに示すように、例えばFPC20の基板21上にフッ素樹脂シート38を配置して、その上から熱圧着ツールの圧着ヘッド39を当接させ、所定の加熱温度で加熱しながら加圧することで本圧着を行う(ステップS108)。この場合、圧着ヘッド39が当接する際の衝撃によっても、FPC10,20同士は、熱可塑性接着剤40により仮固定されているので、ずれることはない。熱可塑性接着剤40は加熱により軟化し、ACF30の熱硬化性樹脂31は硬化温度に達していないため同様に軟化しているので、熱可塑性接着剤40aが熱硬化性樹脂31中に混入する。
更に加熱が進むと、ACF30の熱硬化性樹脂31が硬化し(ステップS110)、本フローチャートによる一連の接続工程が終了する。これにより、図4Fに示すように、FPC10,20が熱硬化性樹脂31及び熱可塑性接着剤40により機械的に接続されると共に、導電粒子32aにより電気的に接続される。
図6は、ボンディング時間に対するACF30の熱硬化性樹脂31及び熱可塑性接着剤40の粘度の変化を示している。加熱による温度上昇は、ボンディング時間に比例している。図6に示すように、熱可塑性接着剤40の軟化温度は、ACF30の熱硬化性樹脂(熱硬化性接着剤)31の硬化温度よりも低いように設定される。
従って、熱硬化性樹脂31及び熱可塑性接着剤40の特性に合わせて、それぞれが軟化状態となる図中P付近のタイミングを利用して上述した本圧着を行えば、FPC10,20を相互に確実に接続することができるので、電気的接続信頼性を確保することが可能となる。
[第2の実施形態]
図7A〜図7Dは、本発明の第2の実施形態に係る電子部品相互の接続方法による接続工程の一部を示す断面図である。なお、以降において、既に説明した部分と重複する箇所には同一の符号を附して説明を省略し、本発明に特に関連しない部分については明記しないことがあるとする。
図7A〜図7Dは、本発明の第2の実施形態に係る電子部品相互の接続方法による接続工程の一部を示す断面図である。なお、以降において、既に説明した部分と重複する箇所には同一の符号を附して説明を省略し、本発明に特に関連しない部分については明記しないことがあるとする。
第2の実施形態は、仮圧着された基板11及びACF30上に熱可塑性接着剤40を塗布又は配置する時に、ACF30上には塗布又は配置せずにACF30の外周側のみに(すなわち、FPC10の上面から見てACF30の周辺部のみに)塗布又は配置する点が第1の実施形態と相違している。
なお、上記ステップS100における基板11上にACF30を配置する工程と、上記ステップS102における基板11とACF30とを仮圧着する工程は、第2の実施形態においても同様であるため、ここでは説明を省略する。従って、熱可塑性接着剤40を塗布又は配置するところから説明することとする。
具体的には、図7Aに示すように、仮圧着された基板11上におけるACF30の周辺部に熱可塑性接着剤40を塗布又は配置する。そして、図7Bに示すように、FPC20とFPC10とを電極12,22同士が対向するように位置合わせしてACF30の熱硬化性樹脂31により仮圧着すると共に、ACF30の周辺部に塗布又は配置された熱可塑性接着剤40により仮固定する。
その後、図7Cに示すように、フッ素樹脂シート38を介して圧着ヘッド39により上述したようにFPC20を加熱押圧することで本圧着を行い、図7Dに示すように、ACF30の熱硬化性樹脂31を硬化させて接続を完了する。第2の実施形態においては、本圧着の際にACF30の周辺部の熱可塑性接着剤40aがACF30の周辺部の熱硬化性樹脂31中に混入した状態となり、第1の実施形態と同様の作用効果を得ることができる。
[第3の実施形態]
図8A及び図8Bは、本発明の第3の実施形態に係る電子部品相互の接続方法による工程の一部を示す断面図である。上述した第1及び第2の実施形態に係る接続方法及び接続構造においては、FPC10,20をACF30を介して仮圧着するに先立って、熱可塑性接着剤40をFPC10の基板11及びACF30上或いはその周辺部に塗布又は配置した場合を例に挙げて説明したが、第3の実施形態は、熱可塑性接着剤40を仮圧着の後に塗布又は配置する点が、これら第1及び第2の実施形態と相違している。
図8A及び図8Bは、本発明の第3の実施形態に係る電子部品相互の接続方法による工程の一部を示す断面図である。上述した第1及び第2の実施形態に係る接続方法及び接続構造においては、FPC10,20をACF30を介して仮圧着するに先立って、熱可塑性接着剤40をFPC10の基板11及びACF30上或いはその周辺部に塗布又は配置した場合を例に挙げて説明したが、第3の実施形態は、熱可塑性接着剤40を仮圧着の後に塗布又は配置する点が、これら第1及び第2の実施形態と相違している。
すなわち、図8Aに示すように、電極12,22が対向するように位置合わせしてACF30の熱硬化性樹脂31により仮圧着されたFPC10,20の基板11,21間に、アプリケータ36により熱可塑性接着剤40を塗布又は配置する。すると、熱可塑性接着剤40は、図8Bに示すように、例えば表面張力により基板11,21間に隙間無く充填される。
この状態で熱可塑性接着剤40が硬化すれば、FPC10,20が仮固定される。その後の工程については同様であるため、ここでは説明を省略する。この第3の実施形態に係る電子部品相互の接続方法においても、上述した第1及び第2の実施形態と同様の作用効果を得ることができる。
[第4の実施形態]
図9は、本発明の第4の実施形態に係る電子部品相互の接続方法による工程の一部を示す断面図である。第4の実施形態では、FPC10と半導体装置50との接続を例に挙げて説明する。図9に示すように、FPC10の基板11及びACF30上に熱可塑性接着剤40を塗布又は配置して、半導体装置50を本体51に形成されたバンプ52が電極12と対向するように位置合わせし、ACF30の熱硬化性樹脂31により仮圧着すると共に熱可塑性接着剤40により仮固定する。これにより、本圧着前の半導体装置50の脱落などの不具合を防止することができる。その後、上述したような本圧着を行えば、両者を確実に接続することができる。
図9は、本発明の第4の実施形態に係る電子部品相互の接続方法による工程の一部を示す断面図である。第4の実施形態では、FPC10と半導体装置50との接続を例に挙げて説明する。図9に示すように、FPC10の基板11及びACF30上に熱可塑性接着剤40を塗布又は配置して、半導体装置50を本体51に形成されたバンプ52が電極12と対向するように位置合わせし、ACF30の熱硬化性樹脂31により仮圧着すると共に熱可塑性接着剤40により仮固定する。これにより、本圧着前の半導体装置50の脱落などの不具合を防止することができる。その後、上述したような本圧着を行えば、両者を確実に接続することができる。
10,20 フレキシブルプリント基板(FPC)
11,21 基板
12,22 電極
30 異方性導電フィルム(ACF)
31 熱硬化性樹脂
32,32a 導電粒子
36 アプリケータ
38 フッ素樹脂シート
39 圧着ヘッド
40,40a 熱可塑性接着剤
50 半導体装置
51 本体
52 バンプ
11,21 基板
12,22 電極
30 異方性導電フィルム(ACF)
31 熱硬化性樹脂
32,32a 導電粒子
36 アプリケータ
38 フッ素樹脂シート
39 圧着ヘッド
40,40a 熱可塑性接着剤
50 半導体装置
51 本体
52 バンプ
Claims (6)
- 第1の電極を有する第1の電子部品上に熱硬化性接着剤中に導電粒子を混在させた異方性導電フィルムを配置する工程と、
前記第1の電極と接続される第2の電極を有する第2の電子部品を、前記第2の電極を前記第1の電極と対向させて前記異方性導電フィルムを介して仮圧着すると共に、前記第1の電子部品と前記第2の電子部品とを熱可塑性接着剤で仮固定する工程と、
前記第1の電子部品と前記第2の電子部品とを熱圧着ツールを用いて本圧着する工程とを備えた
ことを特徴とする電子部品相互の接続方法。 - 前記仮圧着に先立って、前記熱可塑性接着剤が前記第1の電子部品に塗布される
ことを特徴とする請求項1記載の電子部品相互の接続方法。 - 前記仮圧着の後に、前記熱可塑性接着剤が前記第1の電子部品と前記第2の電子部品との間に塗布される
ことを特徴とする請求項1記載の電子部品相互の接続方法。 - 前記第1及び第2の電子部品の少なくとも一方は、フレキシブルプリント基板である
ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項記載の電子部品相互の接続方法。 - 電子部品同士がそれぞれの電極を介して接続された電子部品相互の接続構造であって、
一方の電子部品の電極と他方の電子部品の電極とが異方性導電フィルムの導電粒子を介して電気的に接続され、
前記電子部品間が前記異方性導電フィルム中に熱可塑性接着剤が混入した状態で固定されている
ことを特徴とする電子部品相互の接続構造。 - 前記電子部品の少なくとも一方は、フレキシブルプリント基板である
ことを特徴とする請求項5記載の電子部品相互の接続構造。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010066267A JP2011199138A (ja) | 2010-03-23 | 2010-03-23 | 電子部品相互の接続方法及び接続構造 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010066267A JP2011199138A (ja) | 2010-03-23 | 2010-03-23 | 電子部品相互の接続方法及び接続構造 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011199138A true JP2011199138A (ja) | 2011-10-06 |
Family
ID=44876952
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010066267A Pending JP2011199138A (ja) | 2010-03-23 | 2010-03-23 | 電子部品相互の接続方法及び接続構造 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2011199138A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016174126A (ja) * | 2015-03-18 | 2016-09-29 | デクセリアルズ株式会社 | 接続方法、及び接合体 |
JP2017183456A (ja) * | 2016-03-30 | 2017-10-05 | 東レエンジニアリング株式会社 | 半導体装置の製造方法及び製造装置 |
KR102104725B1 (ko) * | 2018-11-07 | 2020-04-24 | 한국과학기술원 | 도전입자를 함유하는 폴리머 단일층 필름, 상기 폴리머 단일층 필름의 제조 방법 및 상기 폴리머 단일층 필름을 사용한 반도체 패키지 시험용 소켓 인터포저 접속 방법 |
-
2010
- 2010-03-23 JP JP2010066267A patent/JP2011199138A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016174126A (ja) * | 2015-03-18 | 2016-09-29 | デクセリアルズ株式会社 | 接続方法、及び接合体 |
JP2017183456A (ja) * | 2016-03-30 | 2017-10-05 | 東レエンジニアリング株式会社 | 半導体装置の製造方法及び製造装置 |
WO2017169943A1 (ja) * | 2016-03-30 | 2017-10-05 | 東レエンジニアリング株式会社 | 半導体装置の製造方法及び製造装置 |
KR102104725B1 (ko) * | 2018-11-07 | 2020-04-24 | 한국과학기술원 | 도전입자를 함유하는 폴리머 단일층 필름, 상기 폴리머 단일층 필름의 제조 방법 및 상기 폴리머 단일층 필름을 사용한 반도체 패키지 시험용 소켓 인터포저 접속 방법 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5152499B2 (ja) | 電気装置及びその接続方法 | |
JP3415845B2 (ja) | 電気的接続構造及びその電気的接続方法 | |
WO2006112384A1 (ja) | 電子部品接続用突起電極とそれを用いた電子部品実装体およびそれらの製造方法 | |
JPH1056099A (ja) | 多層回路基板およびその製造方法 | |
JP6187918B2 (ja) | 回路部材の接続構造、接続方法および接続材料 | |
TW200803642A (en) | Process for producing multilayer board | |
CN113079637A (zh) | 连接体及连接体的制造方法 | |
KR101287782B1 (ko) | 전자 부품의 제조 방법, 전자 부품 및 도전성 필름 | |
JP2000195584A (ja) | 電気的接続装置と電気的接続方法 | |
WO2009107342A1 (ja) | 電子部品モジュールの製造方法 | |
JP4675178B2 (ja) | 圧着方法 | |
JP2011199138A (ja) | 電子部品相互の接続方法及び接続構造 | |
JP2016131246A (ja) | 多層基板 | |
JP2001223465A (ja) | プリント配線基板の接続方法及び接続構造 | |
WO2012132524A1 (ja) | フレキシブル多層基板 | |
JP2937705B2 (ja) | プリント配線板の接続方法 | |
JP2003297516A (ja) | フレキシブル基板の接続方法 | |
JP5608504B2 (ja) | 接続方法及び接続構造体 | |
KR101008824B1 (ko) | 고분자 입자가 부착된 전극을 구비한 반도체 디바이스 및이를 이용한 반도체 패키지 | |
WO2013012139A1 (ko) | 고주파 전자기장을 이용한 전자부품 접속방법 및 장치 | |
KR100761596B1 (ko) | 돌기형 전극을 구비한 반도체 디바이스 및 이를 이용한반도체 패키지 | |
JP6474008B2 (ja) | 接続材料 | |
JP2008016690A (ja) | 基板の電極の接続構造体及び接続方法 | |
JP4755151B2 (ja) | 電気接続装置 | |
JP6536968B2 (ja) | 接続材料 |