JP2011196735A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2011196735A5
JP2011196735A5 JP2010061804A JP2010061804A JP2011196735A5 JP 2011196735 A5 JP2011196735 A5 JP 2011196735A5 JP 2010061804 A JP2010061804 A JP 2010061804A JP 2010061804 A JP2010061804 A JP 2010061804A JP 2011196735 A5 JP2011196735 A5 JP 2011196735A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
excitation light
spectrum
integrator
window
user
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010061804A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP5640257B2 (ja
JP2011196735A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority claimed from JP2010061804A external-priority patent/JP5640257B2/ja
Priority to JP2010061804A priority Critical patent/JP5640257B2/ja
Priority to TW100105595A priority patent/TWI500912B/zh
Priority to US13/033,612 priority patent/US8415639B2/en
Priority to KR1020110023609A priority patent/KR101781219B1/ko
Priority to CN201110069976.0A priority patent/CN102192786B/zh
Publication of JP2011196735A publication Critical patent/JP2011196735A/ja
Publication of JP2011196735A5 publication Critical patent/JP2011196735A5/ja
Publication of JP5640257B2 publication Critical patent/JP5640257B2/ja
Application granted granted Critical
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

JP2010061804A 2010-03-18 2010-03-18 量子効率測定方法および量子効率測定装置 Active JP5640257B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010061804A JP5640257B2 (ja) 2010-03-18 2010-03-18 量子効率測定方法および量子効率測定装置
TW100105595A TWI500912B (zh) 2010-03-18 2011-02-21 量子效率測量方法、量子效率測量裝置以及積分器
US13/033,612 US8415639B2 (en) 2010-03-18 2011-02-24 Quantum efficiency measurement method, quantum efficiency measurement apparatus, and integrator
KR1020110023609A KR101781219B1 (ko) 2010-03-18 2011-03-17 양자 효율 측정 방법, 양자 효율 측정 장치 및 적분기
CN201110069976.0A CN102192786B (zh) 2010-03-18 2011-03-18 量子效率测量方法、量子效率测量装置和积分器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010061804A JP5640257B2 (ja) 2010-03-18 2010-03-18 量子効率測定方法および量子効率測定装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2011196735A JP2011196735A (ja) 2011-10-06
JP2011196735A5 true JP2011196735A5 (enExample) 2013-04-04
JP5640257B2 JP5640257B2 (ja) 2014-12-17

Family

ID=44601322

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010061804A Active JP5640257B2 (ja) 2010-03-18 2010-03-18 量子効率測定方法および量子効率測定装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8415639B2 (enExample)
JP (1) JP5640257B2 (enExample)
KR (1) KR101781219B1 (enExample)
CN (1) CN102192786B (enExample)
TW (1) TWI500912B (enExample)

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4666376A (en) 1984-06-04 1987-05-19 Solomon Fred D Solar powered pump assembly
JP5491369B2 (ja) 2010-11-29 2014-05-14 浜松ホトニクス株式会社 量子収率測定装置
JP5491368B2 (ja) * 2010-11-29 2014-05-14 浜松ホトニクス株式会社 量子収率測定装置及び量子収率測定方法
JP5760589B2 (ja) * 2011-03-30 2015-08-12 豊田合成株式会社 白色ｌｅｄ装置用蛍光体の蛍光スペクトルの測定方法及び測定装置
WO2013054379A1 (en) 2011-10-13 2013-04-18 Otsuka Electronics Co., Ltd. Optical measurement system, optical measurement method, and mirror plate for optical measurement system
WO2013070982A1 (en) * 2011-11-08 2013-05-16 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Systems and methods for simultaneous multi-directional imaging for capturing tomographic data
JP6041691B2 (ja) * 2013-01-31 2016-12-14 大塚電子株式会社 測定装置および測定方法
JP5529305B1 (ja) 2013-02-04 2014-06-25 浜松ホトニクス株式会社 分光測定装置、及び分光測定方法
CN103344621B (zh) * 2013-07-03 2015-12-02 重庆大学 一种荧光量子效率测量装置及其测量方法
JP6279399B2 (ja) * 2014-05-23 2018-02-14 浜松ホトニクス株式会社 光計測装置及び光計測方法
US9952101B2 (en) 2014-12-02 2018-04-24 Hamamatsu Photonics K.K. Spectrometry device and spectrometry method
JP6693694B2 (ja) * 2014-12-02 2020-05-13 浜松ホトニクス株式会社 分光測定装置および分光測定方法
CN104713647A (zh) * 2015-03-10 2015-06-17 张美英 光谱仪及光谱分析方法
JP6613063B2 (ja) 2015-07-07 2019-11-27 大塚電子株式会社 光学特性測定システム
JP6227068B1 (ja) * 2016-07-27 2017-11-08 浜松ホトニクス株式会社 試料容器保持部材、光計測装置及び試料容器配置方法
AU2017343368B2 (en) * 2016-10-11 2022-10-27 Marama Labs Limited A spectrometer apparatus for measuring spectra of a liquid sample using an integrating cavity
JP2018179884A (ja) 2017-04-19 2018-11-15 株式会社島津製作所 量子収率算出方法、分光蛍光光度計及び量子収率算出プログラム
CN107228849B (zh) * 2017-06-23 2019-04-26 厦门大学 白光led荧光粉变温光谱特性的透射式测试装置及方法
JP6856558B2 (ja) * 2018-01-23 2021-04-07 浜松ホトニクス株式会社 光測定装置及び光測定方法
JP6856559B2 (ja) * 2018-01-23 2021-04-07 浜松ホトニクス株式会社 光測定装置及び光測定方法
WO2019166799A1 (en) * 2018-02-27 2019-09-06 University Court Of The University Of St Andrews Apparatus for analysing a liquid sample comprising particles
CN111175627B (zh) * 2018-11-09 2023-04-07 固安鼎材科技有限公司 一种oled器件光电及量子效率测试系统
GB202001397D0 (en) 2020-01-31 2020-03-18 Odx Innovations Ltd Apparatus, system and method for measuring properties of a sample
CN111707369B (zh) * 2020-06-28 2024-04-12 中国计量大学 一种双光路分光测色仪及测色方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05113386A (ja) * 1990-11-30 1993-05-07 Shimadzu Corp 光損失測定装置
JP3117565B2 (ja) * 1992-11-27 2000-12-18 松下電器産業株式会社 光束計
JP3287775B2 (ja) 1996-02-29 2002-06-04 松下電器産業株式会社 蛍光体の量子効率測定方法および測定装置
JP3247845B2 (ja) 1996-11-13 2002-01-21 松下電器産業株式会社 蛍光体の量子効率測定方法および装置
JP3266046B2 (ja) 1997-04-21 2002-03-18 松下電器産業株式会社 蛍光体の量子効率測定装置
JP3437140B2 (ja) * 2000-03-28 2003-08-18 株式会社島津製作所 赤外放射温度計
JP2002310902A (ja) * 2001-04-16 2002-10-23 Central Glass Co Ltd 波長選択性のある散乱光測定方法
DE10207610A1 (de) * 2002-02-22 2003-09-25 Rudolf Schwarte Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung und Verarbeitung elektrischer und optischer Signale
JP4418731B2 (ja) * 2004-10-27 2010-02-24 日本放送協会 フォトルミネッセンス量子収率測定方法およびこれに用いる装置
JP5022587B2 (ja) * 2005-10-07 2012-09-12 富士フイルム株式会社 半導体レーザの駆動方法および装置、並びに補正パターンの導出方法および装置
WO2007122674A1 (ja) * 2006-04-12 2007-11-01 Panasonic Corporation 光学測定装置
JP2007298310A (ja) * 2006-04-27 2007-11-15 Sanyo Electric Co Ltd 光学装置
JP4452737B2 (ja) * 2007-10-25 2010-04-21 大塚電子株式会社 光束計および測定方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2011196735A5 (enExample)
JP5640257B2 (ja) 量子効率測定方法および量子効率測定装置
JP4631080B2 (ja) 量子効率測定装置および量子効率測定方法
JP2005207982A5 (enExample)
US9423339B2 (en) Spectrum measuring device and spectrum measuring method
JP2014518390A5 (enExample)
JP2013539865A5 (enExample)
JP2015052616A5 (ja) 光学特性測定装置
JP2011229735A5 (enExample)
JP2017026599A (ja) 水素ガス検査方法および水素ガス検査装置
JP2016114523A5 (enExample)
CL2013002327A1 (es) Dispositivo de medicion de la concentracion en una molecula en una atmosfera gaseosa que comprende un emisor de radiacion laser en presencia de primera ventana dispuesta sobre o dentro de la pared del recinto; suplemento; recinto; procedimiento de medicion de la concentracion.
CN105358946B (zh) 用于光谱测量系统的校准的光学基准
WO2013135611A3 (de) Vorrichtung und verfahren zum messen eines zielgases
JP5988983B2 (ja) 校正装置および校正方法
CN102753949B (zh) 分光光度计及其性能测定方法
JP2014142309A5 (enExample)
JP5152083B2 (ja) 分光蛍光光度計
BR102016019315B1 (pt) Sistema e método para medir a degradação térmica de compósitos
WO2014108528A3 (en) Polarization measuring device, lithography apparatus, measuring arrangement, and method for polarization measurement
BR112013018523A2 (pt) espectrômetro de emissão e método de operação
KR101034716B1 (ko) 양자 효율 측정 장치 및 양자 효율 측정 방법
JP2015066265A (ja) 被検体情報取得装置
KR101623490B1 (ko) 독성가스의 광범위 측정용 반사형 적외선 검출기를 이용한 가스 측정 장치 및 방법, 그리고 이를 실행하기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체
JP2010197229A (ja) 蛍光ｘ線分析装置