JP2011157434A - リン原子含有フェノール類の製造方法、リン原子含有フェノール類、硬化性樹脂組成物、その硬化物、プリント配線基板用樹脂組成物、プリント配線基板、フレキシブル配線基板用樹脂組成物、半導体封止材料用樹脂組成物、及びビルドアップ基板用層間絶縁材料用樹脂組成物 - Google Patents
リン原子含有フェノール類の製造方法、リン原子含有フェノール類、硬化性樹脂組成物、その硬化物、プリント配線基板用樹脂組成物、プリント配線基板、フレキシブル配線基板用樹脂組成物、半導体封止材料用樹脂組成物、及びビルドアップ基板用層間絶縁材料用樹脂組成物 Download PDFInfo
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Abstract
Description
(上記構造式z1〜z4中、R1、R2、R3、R4は、それぞれ独立的に、水素原子、炭素原子数1〜5のアルキル基、塩素原子、臭素原子、フェニル基、アラルキル基を表し、R5は水素原子又は炭素原子数1〜5のアルキル基を表し、Rは炭素原子1〜4のアルキル基を表し、nは芳香核上の置換基ORの数であり1〜3である。)
で表される部分構造からなる群から選択される構造部位であり、かつ、Zの少なくとも1つは前記構造式z1〜z4で表される部分構造からなる群から選択される構造部位である化学構造を有することを特徴とするリン原子含有フェノール類に関する。
本発明の製造方法は、前記した通り、アルコキシ基を芳香核上の置換基として有する芳香族アルデヒド(a1)、及び、P−H基又はP−OH基を有する有機リン化合物(a2)を反応させ、次いで、得られた反応生成物を、下記構造式(1)
(式中、R5は水素原子又は炭素原子1〜3のアルキル基であり、Rは炭素原子1〜4のアルキル基を表し、nは芳香核上の置換基ORの数であり1〜3である。)
で表される化合物(a1−1)、或いは、下記構造式(A1−b)
(上記構造式(A2−a)又は構造式(A2−b)中、Xaは水素原子又は水酸基であり、R1、R2、R3、R4はそれぞれ独立的に、水素原子、炭素原子数1〜5のアルキル基、塩素原子、臭素原子、フェニル基、アラルキル基を表す。)
で表される化合物が挙げられる。ここで、R1、R2、R3、R4を構成する炭素原子数1〜5のアルキル基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、i−プロピル基、t−ブチル基、n−ペンチル基が挙げられる。
(上記構造式x1〜x4中、R1、R2、R3、R4は、それぞれ独立的に、水素原子、炭素原子数1〜5のアルキル基、塩素原子、臭素原子、フェニル基、アラルキル基を表し、R5は水素原子又は炭素原子数1〜5のアルキル基を表し、Rは炭素原子1〜4のアルキル基を表し、nは芳香核上の置換基ORの数であり1〜3である。)
が挙げられる。
(式中、Rは水素原子又は炭素原子数1〜6のアルキル基を表し、nは0〜10の整数を表す。)で表される分子構造を有するものである。本発明では、フェノール類(a3)を原料として用いることにより、最終的に得られるフェノール類の分子構造中にトリフェニロールメタン型の分子骨格が導入され、その結果、硬化物の耐熱性が飛躍的に向上する。
(上記構造式z1〜z4中、R1、R2、R3、R4は、それぞれ独立的に、水素原子、炭素原子数1〜5のアルキル基、塩素原子、臭素原子、フェニル基、アラルキル基を表し、R5は水素原子又は炭素原子数1〜5のアルキル基を表し、Rは炭素原子1〜4のアルキル基を表し、nは芳香核上の置換基ORの数であり1〜3である。)
で表される部分構造からなる群から選択される構造部位であり、かつ、Zの少なくとも1つは前記構造式z1〜z4で表される部分構造からなる群から選択される構造部位である化学構造を有することを特徴とするリン原子含有フェノール類が挙げられる。
上記したエポキシ樹脂(B)のなかでも、特に耐熱性の点から、分子構造中にノボラック型エポキシ樹脂、ナフタレン骨格を有するエポキシ樹脂が好ましく、また、溶剤溶解性の点からビスフェノール型エポキシ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂が好ましい。
更に、上記したトリアジン化合物と、フェノール類と、アルデヒド類とを縮合反応させた場合には、実際には、種々の化合物の混合物となるため、該化合物(A’−b)は、この混合物(以下、これを「混合物(A’−b)」と略記する)として用いることが好ましい。更に、本発明では、低先膨張係数の点から前記混合物(A’−b)中の窒素原子含有率が10〜25質量%となる範囲、なかでも15〜25質量%であることが好ましい。
(式中、R’1、R’2、R’3は、アミノ基、アルキル基、フェニル基、ヒドロキシル基、ヒドロキシルアルキル基、エーテル基、エステル基、酸基、不飽和基、シアノ基のいずれかを表わす。)
で表される化合物又はイソシアヌル酸が好ましい。
1)180℃における溶融粘度:ASTM D4287に準拠
2)軟化点測定法:JIS K7234
3)GPC:測定条件は以下の通り。
測定装置 :東ソー株式会社製「HLC−8220 GPC」、
カラム:東ソー株式会社製ガードカラム「HXL−L」
+東ソー株式会社製「TSK−GEL G2000HXL」
+東ソー株式会社製「TSK−GEL G2000HXL」
+東ソー株式会社製「TSK−GEL G3000HXL」
+東ソー株式会社製「TSK−GEL G4000HXL」
検出器: RI(示差屈折径)
データ処理:東ソー株式会社製「GPC−8020モデルIIバージョン4.10」
測定条件: カラム温度 40℃
展開溶媒 テトラヒドロフラン
流速 1.0ml/分
標準 : 前記「GPC−8020モデルIIバージョン4.10」の測定マニュアルに準拠して、分子量が既知の下記の単分散ポリスチレンを用いた。
(使用ポリスチレン)
東ソー株式会社製「A−500」
東ソー株式会社製「A−1000」
東ソー株式会社製「A−2500」
東ソー株式会社製「A−5000」
東ソー株式会社製「F−1」
東ソー株式会社製「F−2」
東ソー株式会社製「F−4」
東ソー株式会社製「F−10」
東ソー株式会社製「F−20」
東ソー株式会社製「F−40」
東ソー株式会社製「F−80」
東ソー株式会社製「F−128」
試料 : 樹脂固形分換算で1.0質量%のテトラヒドロフラン溶液をマイクロフィルターでろ過したもの(50μl)。
温度計、冷却管、分留管、撹拌器を取り付けたフラスコに、9,10−ジヒドロ−9−オキサ−10−ホスファフェナントレン−10−オキサイドを108部(0.5モル)、p−アニスアルデヒド68部(0.5モル)、下記構造式
で表されるトリスフェニロールメタン型フェノール樹脂326.67部(3.33モル)を仕込み、90℃下、窒素を吹き込みながら撹拌した。その後、180度に加熱し8時間撹拌した。その後、水を加熱減圧下で除去してフェノール類(A−1)を493重量部得た。得られたフェノール類の水酸基当量は148グラム/当量、軟化点140℃であった。得られたフェノール類(A−1)のGPCチャートを図1に、MSスペクトルを図2に示す。
実施例1でトリスフェニロールメタン型フェノール樹脂を205.8部(2.1モル)に変えた以外は実施例1と同様の操作を行い、フェノール類(A−2)を350重量部得た。得られたフェノール類(A−2)の水酸基当量は173グラム/当量、軟化点160℃であった。得られたフェノール類(A−2)のGPCチャートを図3に示す。
ナスフラスコに、フェノールノボラック樹脂144g(1.0モル)を仕込み、窒素気流下、攪拌しながら100℃に昇温した。昇温後、2−(6−オキシド−6H−ジベンズ<c,e><1,2>オキサ−ホスフォリン−6−イル)メタノール230g(1.0モル)を添加して、140℃に加熱して、12時間維持した。次いで、その混合物は室温に冷却されて、ろ過、乾燥を経て、フェノール樹脂(A−3)を得た。得られたフェノール樹脂(A−3)のGPCチャートを図4に示す。
温度計、冷却管、分留管、窒素ガス導入管、撹拌器を取り付けたフラスコに、HCA216g(1.0モル)とトルエン216gを仕込み、110℃まで昇温して加熱溶解させる。次いで、p−ヒドロキシベンズアルデヒド122g(1.0モル)を仕込み、180℃まで昇温し180℃で8時間反応させた後、ろ過、乾燥を経て、下記構造式
温度計、冷却管、分留管、窒素ガス導入管、撹拌器を取り付けたフラスコに、フェノールノボラック樹脂457.6g(4.4モル)と216g(1.0モル)とp−ヒドロキシベンズアルデヒド122g(1.0モル)を仕込み、180℃まで昇温し180℃で8時間反応させた。ついで、水を加熱減圧下で除去し、下記構造単位G及び構造単位H
を繰り返し単位とするフェノール樹脂(A−5)750gを得た。得られたフェノール樹脂の軟化点は150℃(B&R法)、溶融粘度(測定法:ICI粘度計法、測定温度:150℃)は120dPa・s、水酸基当量は164g/eq、リン含有量3.7質量%であった。得られたフェノール樹脂(A−5)のGPCチャートを図6に示す。
表1に示した配合に従い、下記の方法でエポキシ樹脂組成物を調整、次いで、下記の条件で硬化させて、積層板を試作し、各種評価を行った。結果を表1に示す。
下記表1記載の組成に従い、エポキシ樹脂、硬化剤及びその他の各成分を配合た後、最終的に組成物の不揮発分(N.V.)が58質量%となるように調整した。
基材:100μm;日東紡績株式会社製ガラスクロス「#2116」
プライ数:6
プリプレグ化条件:160℃/2分
銅箔::18μm;日鉱金属株式会社製 JTC箔
硬化条件:200℃、40kg/cm2で1.5時間
成型後板厚:0.8mm
表1中の略号は下記の通りである。
「A−1」:実施例1で得られたフェノール類(A−1)
「A−2」:実施例2で得られたフェノール類(A−2)
「A−3」:比較例1で得られたフェノール樹脂(A−3)
「A−4」:比較例2で得られたフェノール化合物(A−4)
「A−5」:比較例3で得られたフェノール樹脂(A−5)
「S−TPM−130」:トリフェニロールメタン型ノボラック樹脂(JFEケミカル製「S−TPM−130」:水酸基当量98g/eq)
「TD−2090」:フェノールノボラック樹脂(DIC製「TD−2090」水酸基当量:105g/eq)、
「N−770」:フェノールノボラック型エポキシ樹脂(DIC製「N−770」、エポキシ当量185g/eq)、
「FX−289BER75」:リン変性エポキシ樹脂(東都化成製「FX−289BER75」:クレゾールノボラック型エポキシ樹脂に9,10−ジヒドロ−9−オキサ−10−ホスファフェナントレン−10−オキサイドを反応させて得られたエポキシ樹脂、エポキシ当量330g/eq.、リン含有量3.0質量%)
Claims (16)
- 前記芳香族アルデヒド(a1)が、該芳香族アルデヒド(a1)中のアルコキシ基としてメトキシ基又はエトキシ基を有するものである請求項1記載の製造方法。
- 請求項1〜3の何れか1つに記載の製造方法によって得られた分子構造を有することを特徴とするリン原子含有フェノール類。
- 下記構造式(2)
で表され、かつ、該構造式(2)中、Rは水素原子又は炭素原子数1〜10のアルキル基を表し、nは0〜10の整数を表し、Zは水素原子又は下記構造式z1〜z4
(上記構造式z1〜z4中、R1、R2、R3、R4は、それぞれ独立的に、水素原子、炭素原子数1〜5のアルキル基、塩素原子、臭素原子、フェニル基、アラルキル基を表し、R5は水素原子又は炭素原子数1〜5のアルキル基を表し、Rは炭素原子1〜4のアルキル基を表し、nは芳香核上の置換基ORの数であり1〜3である。)
で表される部分構造からなる群から選択される構造部位であり、かつ、Zの少なくとも1つは前記構造式z1〜z4で表される部分構造からなる群から選択される構造部位である化学構造を有することを特徴とするリン原子含有フェノール類。 - フェノール類(A)とエポキシ樹脂(B)とを必須成分とする硬化性樹脂組成物であって、前記フェノール類(A)が、請求項1〜3の何れか1つに記載の製造方法によって得られたリン原子含有フェノール類であることを特徴とする硬化性樹脂組成物。
- フェノール類(A)とエポキシ樹脂(B)とを必須成分とする硬化性樹脂組成物であって、前記フェノール類(A)が、請求項5記載のリン原子含有フェノール類である硬化性樹脂組成物。
- 前記フェノール類(A)と、前記エポキシ樹脂(B)との配合比率が、エポキシ樹脂(B)のエポキシ基の合計1当量に対して、フェノール類(A)中の活性水素が0.7〜1.5当量となる割合である請求項6又は7記載の硬化性樹脂組成物。
- 前記フェノール類(A)及び前記エポキシ樹脂(B)に加え、更に硬化促進剤(C)を配合する請求項6又は7記載の硬化性樹脂組成物。
- (A)成分〜(C)成分に加え、更に、有機溶剤(D)を含有する請求項9記載の硬化性樹脂組成物。
- 請求項6又は7に記載の硬化性樹脂組成物を硬化させてなる硬化物。
- 請求項10記載の組成物からなるプリント配線基板用樹脂組成物。
- 請求項10記載の組成物からなるフレキシブル配線基板用樹脂組成物。
- 請求項10記載の組成物をガラス基材に含浸、次いで硬化させてなるプリント配線基板。
- 請求項9記載の組成物に加え、更に無機充填剤を含有する半導体封止材料用樹脂組成物。
- 請求項10記載の組成物からなるビルドアップ基板用層間絶縁材料用樹脂組成物。
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