JP2011035313A - 電子部品装置集合体およびその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】実装基板2上に設置された複数個の電子部品3をエポキシ樹脂、フェノール樹脂、エラストマー、および無機質充填剤よりなるシート状封止材料4で覆い、加熱プレスすることにより封止した電子部品装置集合体であって、電子部品3の周端部上において、封止材料4をその厚み方向に隆起させて25〜200um高さの凸状部を形成する。
【選択図】図1
Description
前記電子部品の周端部上において、前記封止材料がその厚み方向に隆起して凸状部を形成していることを特徴としている。
実装基板上に電子部品を設置する工程、
シート状エポキシ樹脂組成物を、前記電子部品を覆うように前記実装基板上に設置する工程、
前記シート状エポキシ樹脂組成物を、温度60〜120℃、圧力100〜2000kPaでプレスすることにより、前記電子部品および実装基板と接着する工程、
前記シート状エポキシ樹脂組成物を、プレスの圧力を解放し、温度100〜200℃で熱硬化することにより、前記電子部品の周端部上において前記シート状エポキシ樹脂組成物の硬化体がその厚み方向に隆起して凸状部を形成するように前記電子部品を封止する工程、
を含むことを特徴としている。
A:エポキシ樹脂
B:フェノール樹脂
C:エラストマー
D:無機質充填剤
エポキシ樹脂(A成分)としては、特に限定されるものではない。例えば、トリフェニルメタン型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、変性ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、変性ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、フェノキシ樹脂等の各種のエポキシ樹脂を用いることができる。これらエポキシ樹脂は単独で用いてもよいし2種以上併用してもよい。エポキシ樹脂の反応性およびエポキシ樹脂組成物の硬化体の靭性を確保する観点からは、エポキシ当量150〜250、軟化点もしくは融点が50〜130℃の常温で固形のものが好ましく、中でも、信頼性の観点から、トリフェニルメタン型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂が好ましい。また、低応力性の観点から、アセタール基やポリオキシアルキレン基等の柔軟性骨格を有する変性ビスフェノールA型エポキシ樹脂が好ましく、アセタール基を有する変性ビスフェノールA型エポキシ樹脂は、液体状で取り扱い性が良いことから、特に好適に用いることができる。
〔エポキシ樹脂a〕
変性ビスフェノールA型エポキシ樹脂(DIC株式会社、EPICLON EXA−4850−150)
〔エポキシ樹脂b〕
トリフェニルメタン型エポキシ樹脂(日本化薬株式会社、EPPN−501HY)
〔フェノール樹脂〕
ノボラック型フェノール樹脂(荒川化学工業株式会社、P−200)
〔エラストマー〕
アクリル系共重合体(ブチルアクリレート:アクリロニトリル:グリシジルメタクリレート=85:8:7重量%からなる共重合体。重量平均分子量80万)
上記アクリル系共重合体は次のように合成した。ブチルアクリレート、アクリロニトリルおよびグリシジルメタクリレートを重量比率が85:8:7となるように仕込み、2,2’−アゾビスイソブチロニトリルを重合開始剤に用いて、窒素気流下、メチルエチルケトン中にて70℃で5時間および80℃で1時間のラジカル重合を行うことにより、目的とするアクリル系共重合体を得た。
〔無機質充填剤〕
平均粒径0.5μmの球状溶融シリカ粉末
〔硬化促進剤〕
2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール(四国化成工業株式会社、2PHZ)
〔シート状エポキシ樹脂組成物の作製〕
表1に示す割合で各成分を分散混合し、これに各成分の合計量と同量のメチルエチルケトンを加えて、塗工用ワニスを調製した。
〔実施例1〜6〕
電子部品として積層セラミックコンデンサ(コンデンサ厚み500μm)を碁盤目状に1万個配列設置した縦150mm、横150mm、厚み300μmのガラス−エポキシ(FR−4)基板を準備し、上記で得られた厚さ200μmのシート状エポキシ樹脂組成物(縦150mm、横150mmにカットしたもの)を基板上の全ての電子部品を覆うように配置した。配置したシート状エポキシ樹脂組成物を、真空下(0.1kPa)、温度80℃、圧力300kPaでプレスすることにより、電子部品および実装基板と接着した。ついで、プレスの圧力を解放し、シート状エポキシ樹脂組成物を熱硬化(150℃、1時間)させて電子部品を封止し、常温まで自然冷却させることにより電子部品装置集合体を得た。
〔実施例7〕
シート状エポキシ樹脂組成物を電子部品および実装基板と接着する際に、大気圧下、温度80℃、圧力300kPaでプレスすること以外は、実施例1と同様にして電子部品装置集合体を得た。
〔実施例8〕
シート状エポキシ樹脂組成物を電子部品および実装基板と接着する際に、真空下(0.1kPa)、温度50℃、圧力300kPaでプレスすること以外は、実施例1と同様にして電子部品装置集合体を得た。
〔実施例9〕
シート状エポキシ樹脂組成物を電子部品および実装基板と接着する際に、真空下(0.1kPa)、温度80℃、圧力80kPaでプレスすること以外は、実施例1と同様にして電子部品装置集合体を得た。
〔凸状部高さ〕
実施例1〜9で得られた電子部品装置集合体における、電子部品の周端部上にあるエポキシ樹脂組成物の硬化体の凸状部高さを触針式表面形状測定器(株式会社アルバック、Dektak 8)により測定した。表1に実施例1〜9の凸状部高さを、接着時の真空度、温度およびプレス圧力とあわせて示した。
〔ダイシング性〕
実施例1〜9で得られた電子部品装置集合体を、ダイサーを用いて電子部品の周端部上にあるエポキシ樹脂組成物の硬化体の凸状部を基準としてダイシングし、個々の電子部品装置に分断した。得られた電子部品装置は、設計における寸法規格に対して寸法誤差が±5%未満であり、ダイシング性が良好であった。
2 実装基板
3 電子部品の接続用電極部
4 封止樹脂層
5 凸状部高さ
Claims (6)
- 実装基板上に設置された複数個の電子部品を封止材料で封止してなる電子部品装置集合体であって、
前記電子部品の周端部上において、前記封止材料がその厚み方向に隆起して凸状部を形成していることを特徴とする、電子部品装置集合体。 - 凸状部の高さが25〜200μmであることを特徴とする、請求項1に記載の電子部品装置集合体。
- 封止材料がエポキシ樹脂組成物の硬化体であることを特徴とする、請求項1または2に記載の電子部品装置集合体。
- エポキシ樹脂組成物が下記A〜D成分を含み、かつC成分の含有量がエポキシ樹脂組成物全体の5〜40重量%であることを特徴とする、請求項3に記載の電子部品装置集合体。
A:エポキシ樹脂
B:フェノール樹脂
C:エラストマー
D:無機質充填剤 - 実装基板上に設置された複数個の電子部品をエポキシ樹脂組成物の硬化体で封止してなる電子部品装置集合体の製造方法であって、
実装基板上に電子部品を設置する工程、
シート状エポキシ樹脂組成物を、前記電子部品を覆うように前記実装基板上に設置する工程、
前記シート状エポキシ樹脂組成物を、温度60〜120℃、圧力100〜2000kPaでプレスすることにより、前記電子部品および実装基板と接着する工程、
前記シート状エポキシ樹脂組成物を、前記プレスの圧力から解放し、温度100〜200℃で熱硬化することにより、前記電子部品の周端部上において前記シート状エポキシ樹脂組成物の硬化体がその厚み方向に隆起して凸状部を形成するように前記電子部品を封止する工程、
を含むことを特徴とする、電子部品装置集合体の製造方法。 - エポキシ樹脂組成物が下記A〜D成分を含み、かつC成分の含有量がエポキシ樹脂組成物全体の5〜40重量%であることを特徴とする、請求項4に記載の電子部品装置集合体の製造方法。
A:エポキシ樹脂
B:フェノール樹脂
C:エラストマー
D:無機質充填剤
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