JP2011035190A - マルチビームレーザ光量制御回路および該マルチビームレーザ光量制御回路を具備する光走査装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】実装面積を削減でき、コストを低く抑えることができるAPC回路構成のマルチビームレーザ光量制御技術の提供。
【解決手段】半導体レーザLD1,LD2と、その光量を受光する単一の受光素子PDと、自動光量制御回路100を備える。自動光量制御回路100は、受光素子PDで受光した光量に対応する電流を電圧に変換する電流電圧変換手段101と、電流電圧変換手段101で得られた電圧と基準電圧の誤差を増幅して出力する単一の誤差増幅回路1021と、誤差増幅回路1021の出力を半導体レーザの各々に対応させて蓄積する記憶回路1022,1032と、記憶回路1022,1032に蓄積された電圧に基づいて半導体レーザの各々の駆動電流を生成する駆動電流生成手段104,105を有し、該駆動電流生成手段104,105の出力により半導体レーザLD1,LD2の各々の光量を所望の値に制御するようにした。
【選択図】図1−A
【解決手段】半導体レーザLD1,LD2と、その光量を受光する単一の受光素子PDと、自動光量制御回路100を備える。自動光量制御回路100は、受光素子PDで受光した光量に対応する電流を電圧に変換する電流電圧変換手段101と、電流電圧変換手段101で得られた電圧と基準電圧の誤差を増幅して出力する単一の誤差増幅回路1021と、誤差増幅回路1021の出力を半導体レーザの各々に対応させて蓄積する記憶回路1022,1032と、記憶回路1022,1032に蓄積された電圧に基づいて半導体レーザの各々の駆動電流を生成する駆動電流生成手段104,105を有し、該駆動電流生成手段104,105の出力により半導体レーザLD1,LD2の各々の光量を所望の値に制御するようにした。
【選択図】図1−A
Description
本発明は、レーザビーム等の光ビームを走査して描画を行う光走査装置における光ビーム光量の自動制御技術に関し、特に複数の光ビームの出力光強度を自動制御する機能、すなわちAPC:Auto Power Control;オート・パワー・コントロール)機能を備えたマルチビームレーザ光量制御回路および該マルチビームレーザ光量制御回路を具備する光走査装置に関するものである。
レーザビーム等の光ビームを用いて描画を行う光走査装置、例えばレーザ走査装置では、所望の濃度の描画を得るためにレーザビームの光強度を所定の強度に制御する必要があり、この光強度の制御のためにAPC機能を備えた光出力制御装置が用いられる。
APC機能は、レーザダイオード等の光源から出射されたレーザビームをフォトダイオード等の受光素子で受光することによって光強度をモニタし、モニタしたレーザビームの光強度が予め設定した基準値になるように光源に供給する駆動電流をフィードバック制御するものである。
以下、特開2001−24273号公報(特許文献1)に記載されたAPC機能を有する光出力制御装置を用いた従来のマルチビームレーザ走査装置を説明する。
図5は、特許文献1に開示された記従来のマルチビームレーザ走査装置の概略構成を示す図である。
マルチビームレーザ走査装置50は、同図に示すように、複数個の半導体レーザLD(図のLD51A,51B)で発光したレーザビームLBをコリメートレンズ53で平行ビームにし、シリンドリカルレンズ54でビーム整形した後、高速回転駆動されるポリゴンミラー55に投射し、レーザビームLBをポリゴンミラー55の反射面で反射させることによって主走査方向に偏向し、fθレンズ56を通して感光ドラム57の感光面に主走査する。
また、感光ドラム57は主走査方向に回転軸57aを有しており、その回転軸57aの回りに回転駆動することで、レーザビームLBを副走査する。所望の画像に対応する描画データによってレーザビームを変調しておくことにより所望のパターンを描画する。
また、感光ドラム57の片側位置には、走査されるレーザビームLBを主走査する直前の時点で受光して主走査及びAPC制御のタイミング基準となる水平同期信号出力する同期PD58が配置されている。ここで、各半導体レーザLD51A,51Bから出射されるレーザ光の一部を受光素子(フォトダイオード)PD52において検出し、感光ドラム57に対して主走査を行う前のタイミングで各半導体レーザLD51A,51Bでのレーザ光の光出力を制御するための光出力制御回路(APC回路)59が設けられている。
図6は、従来のレーザダイオード駆動装置(図5の光出力制御回路(APC回路)59に相当)の一般的な概略ブロック図である。同図ではマルチビーム数を2とした場合の例である。
レーザダイオード駆動装置30は、同図に示すように、自動光量制御回路300を有する。自動光量制御回路300は、半導体レーザLD1のAPC制御を行うための構成として、PD制御回路A 301a、誤差増幅回路A 3021とホールド回路A 3022からなるサンプルホールド回路S/H1 302、駆動電流生成回路A 304を備え、半導体レーザLD2のAPC制御を行うための構成として、PD制御回路B 301b、誤差増幅回路B 3031とホールド回路B 3032からなるサンプルホールド回路S/H2 303、駆動電流生成回路B 305を備えている。
PD制御回路A 301aとPD制御回路B 301bの各々は、受光素子PDからモニタした半導体レーザLD1または半導体レーザLD2のそれぞれのチャンネルのレーザ光の光強度に値する帰還電流IDを帰還電圧VDに変換する回路である。
また、抵抗Rpd1およびRpd2は、受光素子PDでモニタしたレーザ光の光強度に対応する帰還電流IDを流して電圧降下を発生させて帰還電圧VDを生成するため抵抗である。抵抗Rpd1およびRpd2を可変抵抗とすることで、半導体レーザLD1または半導体レーザLD2のそれぞれのチャンネルごとのLD特性に応じた電圧変換を行うことが可能になる。
誤差増幅回路A 3021と誤差増幅回路B 3031の各々は、PD制御回路A 301aとPD制御回路B 301bで得られた帰還電圧VD と予め設定された基準電圧Vref1,Vref2を比較する回路である。基準電圧Vref1,Vref2としては、半導体レーザLD1,半導体レーザLD2の標準的な動作時の発光量に対する半導体レーザLDの帰還電圧VDに等しくなるように設定しておくことが考えられる。
ホールド回路A 3022とホールド回路B 3032の各々は、帰還電圧VD と基準電圧Vref1,Vref2の差をホールドする回路である。APC制御が完了すると、上記差電圧をホールドしておき、APC状態を安定して保持する。
駆動電流生成回路A 304と駆動電流生成回路B 305の各々は、ホールド回路A 3022とホールド回路B 3032の各々にホールドされている正電圧または負電圧に基づき、それぞれLD駆動電流を増加または減少させる駆動回路である。
以上のフィードバック制御が各半導体レーザの駆動電流に対して行われ、各半導体レーザの光強度は、所定値すなわち基準電圧Vref1,Vref2に収束される。
なお、同図において、イネーブル信号XAPCEN1とXAPCEN2は、それぞれ半導体レーザLD1とLD2のAPC機能をイネーブルにする信号であり、描画パターンデータDATA1とDATA2は、感光ドラム(図9の感光ドラム57)に所望の描画を行うために半導体レーザLD1とLD2の発光出力を変調するためのデータであり、この描画パターンデータにより半導体レーザLD1およびLD2の駆動電流をオン/オフする。これらのイネーブル信号や描画パターンデータは外部コンピュータから与えられる。
図7は、図5に記載の光出力制御回路(APC回路)59の処理を説明するためのフローチャートである。以下、光出力制御回路(APC回路)59の処理を図6に記載のレーザダイオード駆動装置30の構成図を参照しながら説明する。
図7において、半導体レーザLD1,LD2の2つのチャネルは同様の動作を行うので、以下の説明では、半導体レーザLD1のチャネルに関わる回路を用いて説明し、半導体レーザLD2のチャネルに関わる回路については括弧書きで示す。
先ず、半導体レーザLD1(半導体レーザLD2)を点灯すると(ステップS101)、半導体レーザLD1(半導体レーザLD2)から出射するレーザ光を受光素子PDが受光し、それぞれの受光電流、すなわち帰還電流ID を出力する(ステップS102,S103)。
帰還電流ID はPD制御回路A 301a(PD制御回路B 301b)において帰還電圧VDに変換され(ステップS104)、S/H(サンプルホールド)回路302(303)の誤差増幅回路A 3021(誤差増幅回路B 3031)にて第1の基準電圧Vref1(第2の基準電圧Vref2)と比較される(ステップS105)。
そして、前記帰還電圧VD が基準電圧Vref1(基準電圧Vref2)よりも低電圧であるか否かを判定し、帰還電圧VD が基準電圧Vref1(基準電圧Vref2)よりも低電圧の場合には(ステップS105:Y)、「基準電圧Vref1(基準電圧Vref2)−帰還電圧VD 」の差電圧が正電圧であり、この正電圧をホールド回路A 3022(ホールド回路B 3032)にホールドし(ステップS106)、この正の値によりLD駆動電流が増加するように駆動電流生成回路A 304(駆動電流生成回路B 305)を制御する(ステップS107)。これにより、半導体レーザLD1(半導体レーザLD2)の発光出力が増加し、これに伴って受光素子PDの帰還電流ID が増加し、基準電圧Vref1(基準電圧Vref2)との差電圧が縮小される。
また、ステップS105での比較において、帰還電圧VD が基準電圧Vref1(基準電圧Vref2)よりも高電圧の場合には(ステップS105:N)、「基準電圧Vref1(基準電圧Vref2)−帰還電圧VD 」の差電圧が負電圧となり、この負電圧をホールド回路A 3022(ホールド回路B 3032)にホールドし(ステップS108)、この負の値によりLD駆動電流が減少するように駆動電流生成回路A 304(駆動電流生成回路B 305)を制御する(ステップS109)。これにより、半導体レーザLD1(半導体レーザLD2)の発光出力が減少し、これに伴って受光素子PDの帰還電流ID が減少し、基準電圧Vref1(基準電圧Vref2)との差電圧が縮小される。
以上の処理を繰り返すことにより、基準電圧と帰還電圧との差が最終的に零となり、半導体レーザLD1(LD2)の光出力は基準電圧Vref1(基準電圧Vref2)に追従したものとなる。このようにして半導体レーザLD1(半導体レーザLD2)のAPC制御が実現される。
上述したように、近年、複数のレーザダイオード(半導体レーザ)で発生されるマルチビームレーザを同時に走査して描画を行うことで描画の高速化を実現したマルチビーム走査方式のレーザ走査装置が提案されている。このような従来のマルチビーム走査方式のレーザ走査装置の光出力制御装置では、複数のレーザダイオードのそれぞれに対してモニタ用フォトダイオード(受光素子)を設けるとともに、各レーザダイオードに対してサンプル回路を含む独立のAPC機能を設けている。
また、複数のレーザダイオード(半導体レーザ)を一つのパッケージに内装しているマルチビームレーザダイオードでは、通常ではモニタ用フォトダイオードは一つあるいはレーザダイオードの数よりも少ない数で設けられているが、上記特開2001−024273号公報(特許文献1)に示すように、各レーザダイオードの光量制御に、誤差増幅回路を含む独立のAPC機能を設けている。
このように、従来技術では、誤差増幅回路を各レーザダイオードに対応させて別個に設けているので、実装面積が増加し、コスト高になってしまうという問題があった。
そこで本発明は、上記の如き問題を解消し、マルチビームレーザダイオードの光量を制御するためのAPC回路構成において、各レーザダイオードに対して誤差増幅回路を一つだけ設ける構成を採用することで、実装面積を削減でき、コストを低く抑えることができるマルチビームレーザ光量制御回路を提供することを目的とする。
本発明は、上記目的を達成するために、次の如き構成を採用したものである。
a)本発明に係るマルチビームレーザ光量制御回路は、複数の半導体レーザと、該複数の半導体レーザから出力される光量を受光する単一の受光素子と、該単一の受光素子で受光した光量に基づいて前記複数の半導体レーザの光量を自動光量制御(APC)する自動光量制御回路を備えたマルチビームレーザ光量制御回路であって、前記自動光量制御回路は、前記受光素子で受光した光量に対応する電流を電圧に変換する電流電圧変換手段と、該電流電圧変換手段で得られた電圧と予め設定された基準電圧の誤差を増幅して出力する単一の誤差増幅回路と、該誤差増幅回路から出力された電圧を前記複数の半導体レーザの各々に対応させて蓄積する複数の記憶回路と、該複数の記憶回路に蓄積された電圧に基づいて前記複数の半導体レーザの各々の駆動電流を生成する、前記複数の半導体レーザの各々に対応して設けられた複数の駆動電流生成手段を有し、該複数の駆動電流生成手段の出力により、前記半導体レーザの各々の光量を所望の値に制御することを特徴としている。
a)本発明に係るマルチビームレーザ光量制御回路は、複数の半導体レーザと、該複数の半導体レーザから出力される光量を受光する単一の受光素子と、該単一の受光素子で受光した光量に基づいて前記複数の半導体レーザの光量を自動光量制御(APC)する自動光量制御回路を備えたマルチビームレーザ光量制御回路であって、前記自動光量制御回路は、前記受光素子で受光した光量に対応する電流を電圧に変換する電流電圧変換手段と、該電流電圧変換手段で得られた電圧と予め設定された基準電圧の誤差を増幅して出力する単一の誤差増幅回路と、該誤差増幅回路から出力された電圧を前記複数の半導体レーザの各々に対応させて蓄積する複数の記憶回路と、該複数の記憶回路に蓄積された電圧に基づいて前記複数の半導体レーザの各々の駆動電流を生成する、前記複数の半導体レーザの各々に対応して設けられた複数の駆動電流生成手段を有し、該複数の駆動電流生成手段の出力により、前記半導体レーザの各々の光量を所望の値に制御することを特徴としている。
b)また、上記マルチビームレーザ光量制御回路において、前記誤差増幅回路は、前記電流電圧変換手段で得られた電圧と前記複数の半導体レーザ毎に予め設定された複数の基準電圧の中から選択された一つの基準電圧との誤差を増幅するものであることを特徴としている。
c)さらに、上記マルチビームレーザ光量制御回路において、前記複数の半導体レーザの各々に対応して設けられた複数の駆動電流生成手段の各々は、描画パターンデータによる描画以外時に半導体レーザのバイアス電流を生成するバイアス電流設定回路と、描画パターンデータによる描画時に半導体レーザの駆動電流を描画パターンデータに応じてオン/オフされるイッチング電流を生成するスイッチング電流設定回路からなり、前記誤差増幅回路は、前記電流電圧変換手段で得られた電圧と、前記複数の半導体レーザ毎に予め設定された、前記バイアス電流設定回路に流れる電流を制御するための基準電圧および前記スイッチング電流設定回路に流れる電流を制御するための基準電圧の中から選択された一つの基準電圧との誤差を増幅する誤差増幅回路からなり、前記記憶回路は、前記誤差増幅回路の出力を、前記選択した基準電圧に対応する半導体レーザ毎にバイアス電流設定回路あるいはスイッチング電流設定回路のいずれかに対応付けて蓄積する複数の記憶回路からなることを特徴としている。
d)さらに、上記マルチビームレーザ光量制御回路において、前記バイアス電流設定回路と前記スイッチング電流設定回路は、それぞれ対応する半導体レーザに直列に接続されたトランジスタと抵抗で構成され、該トランジスタは、前記複数の記憶回路の中の、対応する記憶回路の出力によって制御されることを特徴としている。
e)本発明に係る光走査装置は、上記の如きマルチビームレーザ光量制御回路を備えたことを特徴としている。
本発明によれば、APC用の誤差増幅回路を、半導体レーザ数すなわちマルチビーム数にかかわらず一つ持つだけでよいため、実装面積を削減でき、コストを低く抑えることが可能なマルチビームレーザ光量制御回路および光走査装置を実現できる。
<概要>
本発明は、複数の光源から出射された光ビームを感光体に走査して描画を行うマルチビーム方式の光走査技術に係り、複数の光源の光強度を自動で制御するAPCを行う光出力制御装置を備え、誤差増幅回路を各ビーム共通の1回路の構成にすることを特徴とする。この場合、複数の光源の各光強度を同じ受光手段で検出し、当該検出出力に基づいて複数の光源のAPCを時分割したタイミングで行うようにする。
本発明は、複数の光源から出射された光ビームを感光体に走査して描画を行うマルチビーム方式の光走査技術に係り、複数の光源の光強度を自動で制御するAPCを行う光出力制御装置を備え、誤差増幅回路を各ビーム共通の1回路の構成にすることを特徴とする。この場合、複数の光源の各光強度を同じ受光手段で検出し、当該検出出力に基づいて複数の光源のAPCを時分割したタイミングで行うようにする。
<第1の実施例>
図1−Aは、本発明の第1の実施例(基本構成)に係るマルチビームレーザ光量制御回路のブロック図であり、誤差増幅回路を一つだけ設けたことを特徴としている。同図は、マルチビーム数を2とした場合の例である。
図1−Aは、本発明の第1の実施例(基本構成)に係るマルチビームレーザ光量制御回路のブロック図であり、誤差増幅回路を一つだけ設けたことを特徴としている。同図は、マルチビーム数を2とした場合の例である。
また、図1−Bは、本発明に係るマルチビームレーザ光量制御回路における光量自動制御の基本動作を説明するための図であり、同図(a)は、基本動作のフローチャートであり、同図(b)は、該フローチャートを説明するためのタイミングチャートである。以下、図1−Aおよび図1−Bを参照しながら第1の実施例における回路動作を説明する。
本実施例に係るマルチビームレーザ光量制御回路10は、図1−Aに示すように、PD制御回路101、誤差増幅回路1021、ホールド回路1022および1032、駆動電流生成回路104,105からなる自動光量制御回路100を有している。
PD制御回路101は、受光素子PDからモニタしたレーザ光の光強度に対応する帰還電流を、帰還電圧へ変換する回路である。誤差増幅回路1021で前記PD制御回路101によるモニタ電圧と予め設定した基準電圧とを比較する。ここまでの動作を各ビーム共通の構成にする。
この構成において、チャンネル1(半導体レーザLD1に対応するチャネル)をAPCする場合は、まず半導体レーザLD1の駆動電流を初期化(初期値は所望の光量に相当する電流よりも小さい値を設定)した後(図1−BのステップS1)、該駆動電流を徐々に増加させる(同ステップS2)。すると半導体レーザLD1が点灯する(ステップS3)。受光素子PDによって半導体レーザLD1からの光を受光し(ステップS4)、受光により発生する帰還電流IVを帰還電圧VDに変換する(ステップS5)。
次に、誤差増幅回路1021により、帰還電圧VDと基準電圧Vref1を比較し(ステップS6)、該帰還電圧VDが基準電圧Vref1未満の場合は(ステップS6:N)、ステップS2に戻り、駆動電流をさらに増加させる。
以上のステップS2〜S6の処理を、該帰還電圧VDが基準電圧Vref1以上のなるまで繰り返し、該帰還電圧VDが基準電圧Vref1以上になったら(ステップS6:Y)、スイッチ1021aをホールド回路A 1022側に切り替え、誤差増幅回路1021のそのときの出力電圧を半導体レーザLD1側のホールド回路A 1022に蓄積する(ステップS7)。
また、チャンネル2(半導体レーザLD2に対応するチャネル)をAPCする場合も同様に、まず半導体レーザLD2の駆動電流を初期化(初期値は所望の光量に相当する電流よりも小さい値を設定)した後(図1−BのステップS1)、該駆動電流を徐々に増加させる(同ステップS2)。すると半導体レーザLD2が点灯する(ステップS3)。受光素子PDによって半導体レーザLD2からの光を受光し(ステップS4)、受光により発生する帰還電流IVを帰還電圧VDに変換する(ステップS5)。
次に、誤差増幅回路1021により、帰還電圧VDと基準電圧Vref2を比較し(ステップS6)、該帰還電圧VDが基準電圧Vref2未満の場合は(ステップS6:N)、ステップS2に戻り、駆動電流をさらに増加させる。
以上のステップS2〜S6の処理を、該帰還電圧VDが基準電圧Vref2以上のなるまで繰り返し、該帰還電圧VDが基準電圧Vref2以上になったら(ステップS6:Y)、スイッチ1021aをホールド回路A 1022側に切り替え、誤差増幅回路1021のそのときの出力電圧を半導体レーザLD1側のホールド回路A 1022に蓄積する(ステップS7)。
以上により、チャンネル毎に時系列的にAPCを行うことによって所望の光強度に値する電圧を記憶することができる。なお、図1−Bに示したマルチビームレーザ光量制御回路における光量自動制御の基本動作は、後述する第2の実施例と第3の実施例でも同様である。
駆動電流生成回路A 104および駆動電流生成回路B 105は、それぞれホールド回路A 1022およびホールド回路B 1032に蓄積された電圧値によりチャンネル毎のLD駆動電流を生成する。誤差増幅回路1021で用いられる上記基準電圧は、正常に動作している標準動作時に、駆動電流生成回路A 104および駆動電流生成回路B 105によって所望のLD駆動電流が生成され半導体レーザLD1または半導体レーザLD2の光量が最適になるように設定される。
なお、上述したチャネル1とチャネル2におけるAPCは、イネーブル信号XAPCEN1とXAPCEN2を用いて、時系列的に行われる。
以上により、半導体レーザLD1または半導体レーザLD2の光量が減少した場合はそれぞれの駆動電流を増大するように、逆に半導体レーザLD1または半導体レーザLD2の光量が増大した場合はそれぞれの駆動電流を減少するように自動制御することができる。
なお、従来技術を説明した図6と同様に、抵抗Rpd1およびRpd2は、受光素子PDからモニタしたレーザ光の光強度に対応する帰還電流IDを流して電圧降下を発生させ帰還電圧VDを生成するため抵抗であり、これらを可変抵抗とすることで、半導体レーザLD1または半導体レーザLD2のそれぞれのチャンネルごとのLD特性に応じた電圧変換を行うことが可能になる。
また、従来技術を説明した図6と同様に、図1におけるイネーブル信号XAPCEN1とXAPCEN2は、それぞれ半導体レーザLD1とLD2のAPC機能をイネーブルにする信号であり、描画パターンデータDATA1とDATA2は、感光ドラム(図9の感光ドラム57)に所望の描画を行うために半導体レーザLD1とLD2の発光出力を変調するためのデータであり、この描画パターンデータにより半導体レーザLD1およびLD2の駆動電流をオン/オフする。これらのイネーブル信号や描画パターンデータは外部コンピュータから与えられる。
上述した図6で説明した従来例では、誤差増幅回路をチャネル毎(すなわち半導体レーザ毎)に設けているので、実装面積が増加し、コスト高になってしまうという問題点を有しているが、本発明の第1の実施例は、半導体レーザの光量を制御するためのAPC回路構成において、半導体レーザの数(チャネル数)によらず誤差増幅回路を一つだけ持つ構成とすることで、上記問題点を解消し、実装面積を削減でき、コストを低く抑えることが可能なマルチビームレーザ光量制御回路を実現できるという効果を有している。
<第2の実施例>
図2は、本発明の第2の実施例に係るマルチビームレーザ光量制御回路10bのブロック図である。また、図3は、本実施例におけるタイミングチャートを示す図である。
図2は、本発明の第2の実施例に係るマルチビームレーザ光量制御回路10bのブロック図である。また、図3は、本実施例におけるタイミングチャートを示す図である。
(第1の参考例)
図2に示した第2の実施例を説明する前に、図8を用いて誤差増幅回路をチャネル毎に設けた第1の参考例を説明する。
本参考例に係るマルチビームレーザ光量制御回路10aは、図8に示すように、チャネル数すなわちマルチビーム数(半導体レーザ数)を2とした場合の例である。同図に示すように、マルチビームレーザ光量制御回路10aは、PD制御部101a、誤差増幅部1021a、記憶部A 1022a、記憶部B 1032a、駆動電流生成部A 104a、駆動電流生成部B 105aを有している。
図2に示した第2の実施例を説明する前に、図8を用いて誤差増幅回路をチャネル毎に設けた第1の参考例を説明する。
本参考例に係るマルチビームレーザ光量制御回路10aは、図8に示すように、チャネル数すなわちマルチビーム数(半導体レーザ数)を2とした場合の例である。同図に示すように、マルチビームレーザ光量制御回路10aは、PD制御部101a、誤差増幅部1021a、記憶部A 1022a、記憶部B 1032a、駆動電流生成部A 104a、駆動電流生成部B 105aを有している。
また、図8における抵抗Rpd1およびRpd2、イネーブル信号XAPCEN1とXAPCEN2、描画パターンデータDATA1とDATA2は、第1の実施例と同様のものである。本参考例では、各チャンネルのAPCのイネーブル信号XAPCEN1(イ)とXAPCEN2(ロ)を各部のチャンネルを選択するための入力信号としている(図中(イ),(ロ)で示す)。
本参考例において、PD制御部101aでは、各受光素子PDからモニタしたレーザ光の光強度に対応する帰還電流IDを帰還電圧VDへ変換する。
すなわち、チャンネル1(半導体レーザLD1側)をAPCする場合はイネーブル信号XAPCEN1によりスイッチSWpd1をON、スイッチSWpd2をOFFとし、抵抗Rpd1を介してGND接地とし、帰還電圧VD1を得る。
一方、チャンネル2(半導体レーザLD2側)をAPCする場合は、イネーブル信号XAPCEN2によりスイッチSWpd1をOFF、スイッチSWpd2をONとし、抵抗Rpd2を介してGND接地とし、帰還電圧VD2を得る。
本参考例では、上述したように、抵抗Rpd1,Rpd2をチャンネル個別に持ち、イネーブル信号XAPCEN1(イ)とXAPCEN2(ロ)によりスイッチSWpd1とSWpd2を切り替えられるようにしている。
誤差増幅部1021aは、PD制御部101aで得られたチャネル毎のモニタ帰還電圧VDと所望の発光量を得るために予め設定された基準電圧(VREF1端子の電圧,VREF2端子の電圧)を、チャネル毎に設けられた誤差増幅回路(APCamp1とAPCamp2)で比較する。基準電圧(VREF1端子の電圧,VREF2端子の電圧)は、正常に動作している標準動作時に、駆動電流生成部A 104aおよび駆動電流生成部B 105aによって所望のLD駆動電流が生成され半導体レーザLD1または半導体レーザLD2の光量が最適になるように設定されている。
具体的には、チャンネル1(半導体レーザLD1側)をAPCする場合は、イネーブル信号XAPCEN1により、スイッチSWvref1をON、スイッチSWvref2をOFFとし、VREF1端子の電圧とモニタ電圧(帰還電圧)VD1を、チャネル1側の誤差増幅回路(APCamp1)により比較する。
チャンネル2(半導体レーザLD2側)をAPCする場合は、イネーブル信号XAPCEN2により、スイッチSWvref1をOFF、スイッチSWvref2をONとし、VREF2端子の電圧とモニタ電圧(帰還電圧)VD2を、チャネル2側の誤差増幅回路(APCamp2)により比較する。
PD制御部101aおよび誤差増幅部1021aは、各チャネル(半導体レーザLD1およびLD2)に対して同じ構成とする。
記憶部A 1022aおよび記憶部B 1032aは、誤差増幅部1021aからの出力電圧を、それぞれ記憶手段としてのコンデンサC1aおよびコンデンサC2aに蓄積する。
具体的には、チャンネル1(半導体レーザLD1側)をAPCする場合は、イネーブル信号XAPCEN1により、スイッチSWh1をON、スイッチSWh2をOFFとし、誤差増幅回路(APCamp1)の出力電圧を記憶部A 1022aの記憶回路(図のコンデンサC1a)に蓄積する。
チャンネル2(半導体レーザLD2側)をAPCする場合は、イネーブル信号XAPCEN2により、スイッチSWh1をOFF、スイッチSWh2をONとし、誤差増幅回路(APCamp2)の出力電圧を、記憶部B 1032aの記憶回路(図のコンデンサC2a)に蓄積する。
駆動電流生成部A 104aおよび駆動電流生成部B 105aでは、上述の誤差増幅部1021aの2つの誤差増幅回路(APCamp1とAPCamp2)で所望の光量を検出するまで駆動電流量の増減を繰り返し、半導体レーザLD1,LD2からの発光強度を所望の強度になるまで調整する。
(本実施例)
図2を用いて本発明の第2の実施例を説明する。本実施例に係るマルチビームレーザ光量制御回路10bは、上述した図8における誤差増幅部1021aを誤差増幅部1021bに変更した点が参考例と異なる。
図2を用いて本発明の第2の実施例を説明する。本実施例に係るマルチビームレーザ光量制御回路10bは、上述した図8における誤差増幅部1021aを誤差増幅部1021bに変更した点が参考例と異なる。
すなわち、上記参考例では、誤差増幅部1021aをチャネル毎に異なる基準電圧を有する2つの誤差増幅回路(APCamp1とAPCamp2)で構成しているが、本実施例の誤差増幅部1021bでは、VREF1端子とVREF2端子の異なる基準電圧を、イネーブル信号XAPCEN1(イ)とAPCEN2(ロ)により切り替えて入力するようにした一つの誤差増幅回路(APCamp)で構成している。
基準電圧(VREF1端子の電圧,VREF2端子の電圧)は、正常に動作している標準動作時に、駆動電流生成部A 104bおよび駆動電流生成部B 105bによって所望のLD駆動電流が生成され半導体レーザLD1または半導体レーザLD2の光量が最適になるように設定されている。
本発明の第2の実施例では、誤差増幅部が異なるものの、その他の部分は上述した参考例と同様に動作することは明らかであるので、動作の詳細な説明は省略する。
このようにしてマルチチャンネル毎に各半導体レーザLDの特性に応じた所望の光量を発生させるための駆動電流を得ることができる。また、定期的にAPCを実行することにより、半導体レーザLDの特性の経年変化、温度変化による特性シフトも補正することができる。
上述した第1の参考例では、誤差増幅回路をチャネル毎(すなわち半導体レーザ毎)に設けているので、実装面積が増加し、コスト高になってしまうという問題点を有しているが、第2の実施例によれば、半導体レーザの光量を制御するためのAPC回路構成において、半導体レーザの数によらず誤差増幅回路を一つだけ持つ構成とすることで、実装面積を削減でき、コストを低く抑えることが可能なマルチビームレーザ光量制御回路を実現できるという効果を有している。
図3は、イネーブル信号XAPCEN1とAPCEN2と、描画パターンデータDATA1とDATA2の信号のチャート図である。
同図に示すように、イネーブル信号XAPCEN1が(L)レベルのときに、半導体レーザLD1側のAPC処理が行われ、半導体レーザLD2側は消灯され、逆にイネーブル信号XAPCEN2が(L)レベルのときに、半導体レーザLD2側のAPC処理が行われ、半導体レーザLD1側は消灯される。
同図に示すように、イネーブル信号XAPCEN1が(L)レベルのときに、半導体レーザLD1側のAPC処理が行われ、半導体レーザLD2側は消灯され、逆にイネーブル信号XAPCEN2が(L)レベルのときに、半導体レーザLD2側のAPC処理が行われ、半導体レーザLD1側は消灯される。
マルチビームの場合(本明細書では2チャネルの場合で説明しているが一般には3以上の多チャネルでよいことはいうまでもない)、互いに時系列にかつ時分割的にAPC処理が実施される。APC処理には最初に1回だけ行われる初期化APC処理と、周期的に行われるAPC処理があり、どちらも上述したAPC処理と実質的に同様の処理が行われる。
画像描画時には、描画パターンデータDATA1およびDATA2の入力端子からの点灯論理(H)のとき、APCにより求めた各チャンネルの電流を生成し、描画パターンデータDATA1およびDATA2の入力端子からの消灯論理(L)のときには電流を流さないようにして描画する。これにより描画パターンデータDATA1およびDATA2に対応した所望の画像を描画することができる。
<第3の実施例>
図4は、本発明の第3の実施例を説明するための図である。
本実施例は、同図に示すように、複数のチャネル(図は2つのチャネルの場合を示す)に対して一つの誤差増幅回路でAPC処理を行う実施例である。
図4は、本発明の第3の実施例を説明するための図である。
本実施例は、同図に示すように、複数のチャネル(図は2つのチャネルの場合を示す)に対して一つの誤差増幅回路でAPC処理を行う実施例である。
図4には、本実施例における構成、すなわち、APC制御を行うAPC制御回路201と、各半導体レーザのそれぞれのチャネル毎の駆動電流を設定する駆動電流設定回路202,204の具体的回路構成も示してある。
駆動電流設定回路A 202は、半導体レーザLD1の駆動電流を設定するための回路であり、同図に示すように、LD1用バイアス電流駆動用回路とLD1用スイッチング電流駆動用回路から構成される。
LD1用バイアス電流駆動用回路は、通常時に半導体レーザLD1に流す駆動電流を設定するための回路であり、直列接続されたトランジスタT21とバイアス電流設定用抵抗(Rbi)と、該トランジスタT21のゲートに出力が接続された誤差増幅回路A21とから構成される。
LD1用スイッチング電流駆動用回路は、画像の描画を行うために描画パターンデータDATA1に基づいて半導体レーザLD1のオン/オフ(点灯/消去)を制御するための回路であり、直列接続されたスイッチSaとトランジスタT22とスイッチ電流設定用抵抗(Rsw)と、該トランジスタT22のゲートに出力が接続された誤差増幅回路A22から構成される。
誤差増幅回路A21の一方の入力(−)はトランジスタT21とバイアス電流設定用抵抗(Rbi)の接続点に接続され、誤差増幅回路A22の一方の入力(−)はトランジスタT22とスイッチ電流設定用抵抗(Rsw)の接続点に接続される。
コンデンサC21に蓄積された電圧が誤差増幅回路A21の他方の入力(+)に、コンデンサC22に蓄積された電圧が誤差増幅回路A22の他方の入力(+)に、それぞれ接続される。
同様に、駆動電流設定回路204は、半導体レーザLD2の駆動電流を設定するための回路であり、同図に示すように、LD2用バイアス電流駆動用回路とLD2用スイッチング電流駆動用回路から構成される。
LD2用バイアス電流駆動用回路は、通常時に半導体レーザLD2に流す駆動電流を設定するための回路であり、直列接続されたトランジスタT23とバイアス電流設定用抵抗(Rbi)と、該トランジスタT23のゲートに出力が接続された誤差増幅回路A23とから構成される。
LD2用スイッチング電流駆動用回路は、画像の描画を行うために描画パターンデータDATA2に基づいて半導体レーザLD2のオン/オフ(点灯/消去)を制御するための回路であり、直列接続されたスイッチSbとトランジスタT24とスイッチ電流設定用抵抗(Rsw)と、該トランジスタT24のゲートに出力が接続された誤差増幅回路A24から構成される。
誤差増幅回路A23の一方の入力(−)はトランジスタT23とバイアス電流設定用抵抗(Rbi)の接続点に接続され、誤差増幅回路A24の一方の入力(−)はトランジスタT24とスイッチ電流設定用抵抗(Rsw)の接続点に接続される。
また、コンデンサC23に蓄積された電圧が誤差増幅回路A23の他方の入力(+)に、コンデンサC24に蓄積された電圧が誤差増幅回路A24の他方の入力(+)に、それぞれ接続される。
なお、基準電圧選択回路200に入力される基準電圧(Vref1〜Vref4)は、正常に動作している標準動作時に、半導体レーザLD1および半導体レーザLD2それぞれのバイアス電流とスイッチング電流が最適になるように設定されている。
以下、動作を説明する。
以上の回路構成において、半導体レーザLD1,LD2の発光による光量を受光素子PDで受光して得られる帰還電流IVを、I/V変換回路(第1,2の実施例のPD制御回路(PD制御部)に相当)20Aにより帰還電圧VDに変換する。
以上の回路構成において、半導体レーザLD1,LD2の発光による光量を受光素子PDで受光して得られる帰還電流IVを、I/V変換回路(第1,2の実施例のPD制御回路(PD制御部)に相当)20Aにより帰還電圧VDに変換する。
I/V変換回路20Aの出力と基準電圧選択回路200によって選択された基準電圧を、複数のチャネルに対して一つだけ設けられた誤差増幅回路(APCamp)A2に入力する。APC制御回路1〜4において、APC1信号〜APC4信号によってスイッチS21〜S24を時系列的(時分割的)に制御し、誤差増幅回路(APCamp)A2の出力をそれぞれのコンデンサC21〜C24に蓄積する。
コンデンサC21〜C24に蓄積された電圧を誤差増幅回路A21〜A24に入力することにより、コンデンサC21〜C24に蓄積された電圧の大小によって半導体レーザLD1,LD2の駆動電流の大小が制御される。このようにして、受光素子で検出した光量が減少した場合は、半導体レーザLD1またはLD2の駆動電流を増大させ、逆に受光素子で検出した光量が増大した場合は半導体レーザLD1またはLD2の駆動電流を減少させるようにすることができる。
本実施例によれば、上記構成を採用することにより、半導体レーザ数すなわちマルチビーム数にかかわらず、また、複数の半導体レーザの各々にバイアス電流駆動用回路とスイッチング電流駆動用回路を設けるようにしても(この場合、ホールド回路は半導体レーザ数×2個必要)、APC制御回路201の誤差増幅回路は一つ持つだけでよいため、実装面積を大幅に削減でき、コストを低く抑えることが可能なレーザ光量制御回路を実現できるようになる。
(第2の参考例)
上記第3の実施例に対する第2の参考例を説明する。図9は、第2の参考例を示す図である。
上記第3の実施例に対する第2の参考例を説明する。図9は、第2の参考例を示す図である。
第2の参考例である図9が、本発明の第3の実施例である図4と異なる点は、図9では、APC制御用の誤差増幅回路を、半導体レーザ数すなわちマルチビーム数毎に、バイアス電流駆動用回路とスイッチング電流駆動用回路を別々に設けていることである(図9の誤差増幅回路A4a〜A4d参照)。それ以外については上述した本発明の第3の実施例と同様であるので、詳しい説明は省略する。このため、実装面積が増加し、コスト高になってしまうという問題があった。
これに対して、本発明の第3の実施例である図4のAPC制御回路201は、半導体レーザ数すなわちマルチビーム数にかかわらず、また、複数の半導体レーザの各々にバイアス電流駆動用回路とスイッチング電流駆動用回路を設けた場合であっても、APC制御回路の誤差増幅回路として、増幅回路A2を一つ設けるだけでよいため、実装面積を削減でき、コストを低く抑えることが可能なレーザ光量制御回路を実現できるようになる。
なお、上記第1の実施例〜3の実施例で説明した本発明に係るマルチビームレーザ光量制御回路は、ファクシミリ,コピー機,スキャナなどの光走査装置に適用できることはいうまでもない。
10,10a,10b:マルチビームレーザ光量制御回路
101,101a,301a,301b:PD制御回路
1021:誤差増幅回路
1022,1032:ホールド回路
104,105:駆動電流生成回路
104a,105a:駆動電流生成部
1021:誤差増幅回路
1021A:スイッチ
1021a,1021b:誤差増幅部
1022,1032:ホールド回路
1022a,1032a:記憶部
30:レーザダイオード駆動装置
50:マルチビームレーザ走査装置
51A,51B:半導体レーザ
52:受光素子(フォトダイオード)PD
53:コリメートレンズ
54:シリンドリカルレンズ
55:ポリゴンミラー
56:fθレンズ
57:感光ドラム
57a:回転軸
58:同期PD
59:光出力制御回路(APC回路)
20A:I/V変換回路
200:基準電圧選択回路
201:APC制御回路
202,204,402a,402b:駆動電流設定回路
203,205,400a,400b:駆動電流制御回路
300:自動光量制御回路
302,303:サンプルホールド回路S/H
3021,3031::誤差増幅回路
3022,3032:ホールド回路
304,305:駆動電流生成回路
LD,LD1,LD2:半導体レーザ
PD:受光素子
ID:帰還電流
VD,VD1,VD2:帰還電圧
LB:レーザビーム
Vref1,Vref2:基準電圧
XAPCEN1,XAPCEN2:イネーブル信号
DATA1,DATA2:描画パターンデータ
Rpd1,Rpd2:抵抗
SWpd1,SWpd2SWvref1,SWvref2,SWh1,SWh2:スイッチ
VREF1,VREF2:基準電圧の端子
APCamp1,APCamp2:誤差増幅回路
C1a,C1b,C2a,C2b,:コンデンサ
T21〜T24,T41〜T44:トランジスタ
C21〜C24,C41〜C44:コンデンサ
A2,A21〜A24,A4a〜A4d,A41〜A44:誤差増幅回路
Rbi:バイアス電流設定用抵抗
Rsw:スイッチ電流設定用抵抗
Sa:スイッチ
101,101a,301a,301b:PD制御回路
1021:誤差増幅回路
1022,1032:ホールド回路
104,105:駆動電流生成回路
104a,105a:駆動電流生成部
1021:誤差増幅回路
1021A:スイッチ
1021a,1021b:誤差増幅部
1022,1032:ホールド回路
1022a,1032a:記憶部
30:レーザダイオード駆動装置
50:マルチビームレーザ走査装置
51A,51B:半導体レーザ
52:受光素子(フォトダイオード)PD
53:コリメートレンズ
54:シリンドリカルレンズ
55:ポリゴンミラー
56:fθレンズ
57:感光ドラム
57a:回転軸
58:同期PD
59:光出力制御回路(APC回路)
20A:I/V変換回路
200:基準電圧選択回路
201:APC制御回路
202,204,402a,402b:駆動電流設定回路
203,205,400a,400b:駆動電流制御回路
300:自動光量制御回路
302,303:サンプルホールド回路S/H
3021,3031::誤差増幅回路
3022,3032:ホールド回路
304,305:駆動電流生成回路
LD,LD1,LD2:半導体レーザ
PD:受光素子
ID:帰還電流
VD,VD1,VD2:帰還電圧
LB:レーザビーム
Vref1,Vref2:基準電圧
XAPCEN1,XAPCEN2:イネーブル信号
DATA1,DATA2:描画パターンデータ
Rpd1,Rpd2:抵抗
SWpd1,SWpd2SWvref1,SWvref2,SWh1,SWh2:スイッチ
VREF1,VREF2:基準電圧の端子
APCamp1,APCamp2:誤差増幅回路
C1a,C1b,C2a,C2b,:コンデンサ
T21〜T24,T41〜T44:トランジスタ
C21〜C24,C41〜C44:コンデンサ
A2,A21〜A24,A4a〜A4d,A41〜A44:誤差増幅回路
Rbi:バイアス電流設定用抵抗
Rsw:スイッチ電流設定用抵抗
Sa:スイッチ
Claims (5)
- 複数の半導体レーザと、該複数の半導体レーザから出力される光量を受光する単一の受光素子と、該単一の受光素子で受光した光量に基づいて前記複数の半導体レーザの光量を自動光量制御(APC)する自動光量制御回路を備えたマルチビームレーザ光量制御回路であって、
前記自動光量制御回路は、
前記受光素子で受光した光量に対応する電流を電圧に変換する電流電圧変換手段と、該電流電圧変換手段で得られた電圧と予め設定された基準電圧の誤差を増幅して出力する単一の誤差増幅回路と、該誤差増幅回路から出力された電圧を前記複数の半導体レーザの各々に対応させて蓄積する複数の記憶回路と、該複数の記憶回路に蓄積された電圧に基づいて前記複数の半導体レーザの各々の駆動電流を生成する、前記複数の半導体レーザの各々に対応して設けられた複数の駆動電流生成手段を有し、該複数の駆動電流生成手段の出力により、前記半導体レーザの各々の光量を所望の値に制御するものである
ことを特徴とするマルチビームレーザ光量制御回路。 - 請求項1に記載のマルチビームレーザ光量制御回路において、
前記誤差増幅回路は、前記電流電圧変換手段で得られた電圧と前記複数の半導体レーザ毎に予め設定された複数の基準電圧の中から選択された一つの基準電圧との誤差を増幅するものであることを特徴とするマルチビームレーザ光量制御回路。 - 請求項2に記載のマルチビームレーザ光量制御回路において、
前記複数の半導体レーザの各々に対応して設けられた複数の駆動電流生成手段の各々は、描画パターンデータによる描画以外時に半導体レーザのバイアス電流を生成するバイアス電流設定回路と、描画パターンデータによる描画時に半導体レーザの駆動電流を描画パターンデータに応じてオン/オフされるイッチング電流を生成するスイッチング電流設定回路からなり、
前記誤差増幅回路は、前記電流電圧変換手段で得られた電圧と、前記複数の半導体レーザ毎に予め設定された、前記バイアス電流設定回路に流れる電流を制御するための基準電圧および前記スイッチング電流設定回路に流れる電流を制御するための基準電圧の中から選択された一つの基準電圧との誤差を増幅する誤差増幅回路からなり、
前記記憶回路は、前記誤差増幅回路の出力を、前記選択した基準電圧に対応する半導体レーザ毎にバイアス電流設定回路あるいはスイッチング電流設定回路のいずれかに対応付けて蓄積する複数の記憶回路からなる
ことを特徴とするマルチビームレーザ光量制御回路。 - 請求項3に記載のマルチビームレーザ光量制御回路において、
前記バイアス電流設定回路と前記スイッチング電流設定回路は、それぞれ対応する半導体レーザに直列に接続されたトランジスタと抵抗で構成され、該トランジスタは、前記複数の記憶回路の中の、対応する記憶回路の出力によって制御されることを特徴とするマルチビームレーザ光量制御回路。 - 請求項1から4のいずれかに記載のマルチビームレーザ光量制御回路を備えたことを特徴とする光走査装置。
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