JP2003248368A - マルチビーム走査装置 - Google Patents

マルチビーム走査装置

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JP2003248368A
JP2003248368A JP2002361668A JP2002361668A JP2003248368A JP 2003248368 A JP2003248368 A JP 2003248368A JP 2002361668 A JP2002361668 A JP 2002361668A JP 2002361668 A JP2002361668 A JP 2002361668A JP 2003248368 A JP2003248368 A JP 2003248368A
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Tadaaki Suda
忠明 須田
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 マルチビーム走査装置における複数の半導体
レーザ(LD)を制御するための制御ラインの数を低減
し、LDの適正な制御を行う。 【解決手段】 LD1B〜1Yからのレーザ光を走査す
る走査ユニット部100と、走査ユニット部100にL
Dを制御するための基準信号を送出するコントローラ部
200とを備える。コントローラ部200は複数のLD
を制御するための複数のデューティ信号を時間軸上に並
べて走査ユニット部100に出力する。走査ユニット部
100は複数のLDを個別に駆動するための駆動回路1
10B〜110Yと、各デューティ信号を電圧に変換す
るデューティ電圧回路140と、各デューティ信号から
各駆動回路に対応するデューティ信号を検出してデュー
ティ電圧を基準電圧として対応する駆動回路に入力する
基準電圧回路120B〜120Y,130B〜130Y
を備える。1本の制御ラインL10で複数のLDを個別
に制御することが可能になり、コントローラ部200と
走査ユニット部100との間の制御ラインの本数を低減
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は複数個の発光素子、
特に複数個のレーザダイオード(LD)から出射される
レーザ光を走査して描画を行うマルチビーム走査装置に
関し、特に複数個のLDの発光出力を個別に制御するた
めの制御回路の改善に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年におけるレーザ光を利用した走査装
置では、カラー化のために黒、シアン、マゼンタ、イエ
ローの4色についてそれぞれ個別のLDと感光ドラムを
設け、各LDから出射されるレーザ光を対応する感光ド
ラムに対して描画を行うとともに、これらのLDの発光
出力を同時に制御するタンデム方式の走査装置の開発が
盛んである。また、1つの感光ドラムを備える走査装置
においても描画速度の向上を図るために、複数のLDの
レーザ光を同時に走査するマルチビーム方式の走査装置
も開発されている。これらタンデム方式及びマルチビー
ム方式のように複数のレーザビームを同期して走査する
走査装置をここでは広義のマルチビーム走査装置と称す
る。
【0003】ところで、LDを光源とする走査装置では
所要の濃度の描画を行うためには、LDの高速時の変調
特性を改善するためのバイアス制御と、LDの発光出力
を自動制御するAPC制御が行われる。このようなバイ
アス制御とAPC制御を前述のマルチビーム走査装置に
対して行う場合には、複数個のLDについてそれぞれに
制御を行う必要があり、そのために各LDにはそれぞれ
個別の駆動回路が設けられ、しかも各駆動回路を独立し
て制御する構成がとられている。例えば、前述の4色の
タンデム方式の走査装置の場合には、各色に対応した4
個のLDのそれぞれに駆動回路が設けられるとともに、
各駆動回路についてバイアス制御とAPC制御が行われ
ている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このようにマルチビー
ム走査装置では、LDの個数に対応して駆動回路が設け
られ、しかも各駆動回路についてバイアス制御やAPC
制御を独立して行う必要がある。また、一般にこの種の
走査装置では、LDや駆動回路が設けられている走査ユ
ニット部と、制御を行うためのCPUや画像データを記
憶している画像メモリ等を備えたコントローラ部とは独
立した構成とされているため、走査ユニット部の駆動回
路を制御するためには、走査ユニット部とコントローラ
部とを制御ラインによって接続する必要がある。そのた
め、前述のような4個のLDを備えるタンデム方式の走
査装置では、各駆動回路についてバイアス制御とAPC
制御の制御ラインが必要となり、合計で8本の制御ライ
ンが必要になり、マルチビーム走査装置の全体構成の複
雑化をまねくとともに、各制御ラインを伝送される画像
信号や制御用電流の相互間の変動によって適正なバイア
ス制御やAPC制御を行うことが難しいという問題があ
る。
【0005】本発明の目的は、マルチビーム走査装置に
おける制御ラインの数を低減し、LDに対する適正な制
御を行うことを可能にしたマルチビーム走査装置を提供
するものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明のマルチビーム走
査装置は、複数のLDから出射される各レーザ光を感光
体に対して走査する走査ユニット部と、走査ユニット部
にLDを制御するための基準信号を送出するコントロー
ラ部とを備えており、コントローラ部は複数のLDをそ
れぞれ制御するための複数のデューティ信号を生成し、
かつ各デューティ信号を時間軸上に並べて走査ユニット
部に出力するデューティ信号生成手段を備え、走査ユニ
ット部は複数のLDをそれぞれ個別に駆動するための複
数の駆動回路と、各デューティ信号を電圧に変換するデ
ューティ電圧回路と、各デューティ信号から各駆動回路
に対応するデューティ信号を検出し、検出したデューテ
ィ信号に同期してデューティ電圧回路から出力されるデ
ューティ電圧を基準電圧として対応する駆動回路に入力
する基準電圧回路とを備える。
【0007】このマルチビーム走査装置では、例えば、
デューティ信号生成手段は各駆動回路で使用される基準
電圧に対してそれぞれ異なる周波数の信号としてデュー
ティ信号を生成し、デューティ信号検出回路はそれぞれ
の駆動回路に対応する周波数のデューティ信号を検出す
る構成とする。また、デューティ電圧回路は各デューテ
ィ信号を平均化して当該デューティ信号のデューティ比
に対応した電圧を出力する構成とする。さらに、基準電
圧回路は、デューティ信号から駆動回路に対応するデュ
ーティ信号を検出するデューティ信号検出回路と、デュ
ーティ信号検出回路で検出されたデューティ信号の出力
タイミング時にデューティ電圧回路から出力されるデュ
ーティ電圧をサンプルし、かつサンプルしたデューティ
電圧をホールドするサンプル・ホールド回路とを備え
る。
【0008】本発明によれば、コントローラ部では複数
の半導体レーザに対してそれぞれ異なる周波数のデュー
ティ信号を生成し、このデューティ信号を1本の制御ラ
インを通して走査ユニットに伝送し、走査ユニット部で
はデューティ信号の周波数を弁別し、対応する周波数の
デューティ信号からデューティ電圧を得て、これを各駆
動回路の基準電圧として取り込むことが可能になる。し
たがって、複数の半導体レーザを1本の制御ラインで個
別に制御することが可能になり、コントローラ部と走査
ユニット部との間の制御ラインの本数を低減し、マルチ
ビーム走査装置の構成の簡易化が実現できる。また、異
なる制御ラインを通して信号を伝送するような場合にお
けるライン間の誤差やばらつきが生じることはなく、適
正な制御が可能になる。
【0009】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態を図面を
参照して説明する。図1は本発明のマルチビーム走査装
置として4色の描画を行うタンデム方式の走査装置に適
用した実施形態の概略構成を示す斜視図である。この走
査装置は走査ユニット部100とコントローラ部200
とで構成されている。前記走査ユニット部100は、黒
(B)、シアン(C)、マゼンタ(M)、イエロー
(Y)の各描画色に対応した4個のLD1B,1C,1
M,1Yを内蔵した光源ユニット1を備える。この光源
ユニット1は、1枚の基板1a上に前記4個のLD1
B,1C,1M,1Yを副走査方向(同図の上下方向)
に配列している。各LD1B,1B,1M,1Yにはそ
れぞれ各LDから出射されるレーザ光を受光するモニタ
PD(フォトダイオード)が一体に設けられているが、
ここでは図示は省略している。前記各LDの前面にはそ
れぞれ各LDから出射されるれレーザ光を平行ビームと
するためのコリメータレンズ2B,2C,2M,2Yが
配置され、これらをケーシング1b内に一体的にパッケ
ージした構成となっている。また、前記光源ユニット1
の前側位置には副走査方向に曲率を有するシリンドリカ
ルレンズ3が配設されている。さらに、前記シリンドリ
カルレンズ3を通過したレーザ光を主走査方向(同図の
水平方向)に偏向するためのポリゴンミラー4と、偏向
された各レーザ光を集光させるための第1fθレンズ
5、第2fθレンズ6及び各色に対応した第3fθレン
ズ7(7B,7C,7M,7Y)と、集光された各レー
ザ光によりそれぞれ各色での描画が行われる4本の感光
ドラム8(8B,8C,8M,8Y)と、偏向された各
レーザ光をそれぞれ対応する感光ドラムに向けるための
複数のミラー9(9B,9C,9M,9Y)が設けられ
る。また、走査ユニット部100には回路部10が設け
られている。
【0010】前記走査ユニット部100では、前記光源
ユニット1の4個のLD1B,1C,1M,1Yはそれ
ぞれ黒、シアン、マゼンタ、イエロの各画像データに対
応した光出力のレーザ光を出射し、これらのレーザ光は
それぞれコリメータレンズ2B,2C,2M,2Yで平
行ビームとされ、シリンドリカルレンズ3によって副走
査方向に収束されて高速回転動作されるポリゴンミラー
4に投射され、さらに各レーザ光はこのポリゴンミラー
4によって反射されて、今度は拡散されながら主走査方
向に偏向される。偏向された各レーザ光は第1ないし第
3のfθレンズ5,6,7を順次透過するとともに、ミ
ラー9により反射されることで、前記各色に対応して設
けられている4本の感光ドラム8の表面に集光され、か
つ表面上に走査される。なお、偏向されたレーザ光の一
部は図外の同期用PD(フォトダイオード)で受光さ
れ、この受光信号に基づいて生成される同期信号により
前記ポリゴンミラーの回転が制御され、前記レーザ光の
走査の同期が取られるがここではその説明は省略する。
【0011】図2は前記走査ユニット部100とコント
ローラ部200の内部回路構成を示すブロック回路図で
ある。前記コントローラ部200は各種制御を行うCP
U210と、描画する画像データを記憶している画像メ
モリ220とを備えている。また、前記CPU210は
内蔵メモリ230を有しており、この内蔵メモリ230
には各種制御データ、例えば前記走査ユニット部100
の各LDのバイアス制御とAPC制御を行うための設定
値データを記憶しており、その記憶された設定値データ
に基づいて、後述するように周期的に周波数が変化され
る所要のデューティ比の矩形信号からなるデューティ信
号を出力する。また、前記画像メモリ220は前記CP
U210からの信号を受けて描画タイミングに対応して
黒、シアン、マゼンタ、イエローの各色の画像データを
出力する。この画像データは各色の描画濃度に対応する
ものであり、走査ユニット部100の前記各LD1B,
1C,1M,1Yの発光強度を制御するためのものであ
る。
【0012】一方、前記走査ユニット部100の回路部
10は、前記4つのLD1B,1C,1M,1Yをそれ
ぞれ制御するための4つの駆動回路を備えている。すな
わち、黒色に対応するLD1Bを駆動するためのB駆動
回路110Bと、シアン色に対応するLD1Cを駆動す
るためのC駆動回路110Cと、マゼンタ色に対応する
LD1Mを駆動するためのM駆動回路110Mと、イエ
ロー色に対応するLD1Yを駆動するためのY駆動回路
110Yである。前記各駆動回路には、それぞれAPC
基準電圧回路120B,120C,120M,120Y
とバイアス基準電圧回路130B,130C,130
M,130Yとが設けられており、各駆動回路110
B,110C,110M,110Yにおいてバイアス制
御及びAPC制御を行う際の基準となる基準電圧を生成
してそれぞれ対応する駆動回路に入力する。また、前記
各APC基準電圧回路120B,120C,120M,
120Yとバイアス基準電圧回路130B,130C,
130M,130Yに対して後述するデューティ電圧を
入力するためのデューティ電圧回路140が設けられて
いる。そして、前記コントローラ部200と走査ユニッ
ト部100とは、前記CPU210からのデューティ信
号を伝送するための1本の制御ラインL10と、前記画
像メモリ220からの画像データを伝送するための4本
の画像制御ラインL1B,L1C,L1M,L1Yとに
より接続されている。
【0013】前記デューティ電圧回路140は、前記コ
ントローラ部200からのデューティ信号を平均化する
ことで、当該デューティ信号のデューティ比に対応した
電圧レベルのアナログ電圧、すなわちデューティ電圧を
出力するDC変換回路で構成されている。そして、この
デューティ電圧は前記各駆動回路110B,110C,
110M,110Yにそれぞれ対応する各APC基準電
圧回路120B,120C,120M,120Yとバイ
アス基準電圧回路130B,130C,130M,13
0Yに入力される。
【0014】図3は前記各色の駆動回路110B,11
0C,110M,110Yと、それぞれのAPC基準電
圧回路120B,120C,120M,120Yとバイ
アス基準電圧回路130B,130C,130M,13
0Yの内部構成を示す回路図であり、各色についての構
成は同様であるので、B駆動回路110BとそのAPC
基準電圧回路120B及びバイアス基準電圧回路130
Bについて代表して示している。B駆動回路110Bで
は、画像制御ラインL1Bから入力される画像データは
後述するスイッチ回路111Bをオン,オフ制御する。
また、バイアス電圧Vref2はアナログ加算器112
Bの一方の入力端に入力され、その出力はV/I変換器
113Bにより駆動電流IDに変換されてLD1Bに供
給される。LD1Bは供給された駆動電流の電流値に応
じた出力で発光される。また、LD1BにはモニタPD
1Xが内蔵されており、このモニタPD1XによりLD
1Bの発光強度に比例した電流がI/V変換器114B
によりモニタ電圧VMとして検出される。モニタ電圧V
Mは比較器115BにおいてAPC基準電圧Vref1
との比較が行われて比較出力が前記スイッチ回路111
Bを通して前記アナログ加算器112Bの他方の入力端
に入力され、ここで前記バイアス電圧Vref2が加算
され、前述のようにV/I変換器113Bから出力され
る駆動電流IDとなる。
【0015】そのため、このB駆動回路10Bでは、画
像データに基づいて駆動電流IDが制御され、画像デー
タの画像濃度(カラー濃度)に対応した発光出力でLD
1Bが発光されることになる。これに加えて、バイアス
電圧Vref2によってLD1Bの電流−発光出力特性
の適正な領域での発光動作を行うための基準点が設定さ
れ、高速時の変調特性が改善される。また、モニタPD
1Xにより検出されるLD1Bの発光出力に基づいてL
D1Bの駆動電流IDの制御が行われ、これによりLD
1BのAPC制御が行われ、LD1Bにおける発光出力
の変動に追従した制御が行われ、発光出力の安定化が達
成される。
【0016】一方、前記APC基準電圧回路120Bは
特定の周波数、ここではB駆動回路110BのAPC基
準電圧回路の例を示しているので特定の周波数として周
波数f1を検出するf1検出器121Bと、この周波数
f1検出器121Bの検出信号をタイミング信号として
前記デューティ電圧回路140からのデューティ電圧を
サンプルし、かつこの電圧をf1検出器121Bからの
次の検出信号が入力されるまで保持してAPC基準電圧
Vref1として出力するf1サンプル・ホールド回路
122Bとを備えている。また、前記バイアス基準電圧
回路130Bは、B駆動回路110Bのバイアス基準回
路として、前記周波数f1とは異なる周波数である周波
数f2を検出するf2検出器131Bと、このf2検出
器131Bの検出信号に基づいて前記デューティ電圧回
路140からのデューティ電圧をサンプルし、かつこの
電圧を保持してバイアス基準電圧Vref2として出力
するf2サンプル・ホールド回路132Bとを備えてい
る。
【0017】なお、C駆動回路110C、M駆動回路1
10M、Y駆動回路110Yについても前記B駆動回路
110Bと同様の構成である。また、これらC,M,Y
の各駆動回路に設けられたAPC基準電圧回路120
C,120M,120Y及びバイアス基準電圧回路13
0C,130M,130Yについても同様の構成であ
る。ただし、C駆動回路110CのAPC基準電圧回路
120Cでは周波数の検出器として周波数f3を検出す
るf3検出器として構成され、バイアス基準電圧回路1
30Cは周波数f4を検出するf4検出器として構成さ
れている。M駆動回路110M、Y駆動回路110Yの
各APC基準電圧回路120M,120Yとバイアス基
準電圧回路130M,130Yも同様であり、それぞれ
f5検出器、f6検出器、並びにf7検出器、f8検出
器として構成されている。
【0018】以上の構成のマルチビーム走査装置におい
ては、コントローラ部200の画像メモリ220から出
力される画像データが走査ユニット部100の各色の駆
動回路110B,110C,110M,110Yに入力
され、画像データの値に基づいて各色の駆動回路が各色
のLD1B,1C,1M,1Yの発光出力を制御し、そ
れぞれ感光ドラム8B,8C,8M,8Yに対して描画
を行うことはこれまでのマルチビーム走査装置と同じで
ある。そして、この各色での描画に際しては、各色のL
Dの特性の相違、あるいはLDの劣化の程度の違い等に
より、各色の駆動回路においてそれぞれ独立してAPC
制御とバイアス制御を実行する。このAPC制御とバイ
アス制御は、コントローラ部200から制御ラインL1
0を通して出力されるデューティ信号に基づいて行われ
る。
【0019】すなわち、前記コントローラ部200のC
PU210では、前述のように周波数が周期的に変化す
るとともに、所要のデューティ比に設定された矩形信号
であるデューティ信号が生成されて出力される。ここで
は、走査ユニット部100の前記4つの駆動回路110
B,110C,110M,110Yの各APC基準電圧
回路120B,120C,120M,120Yとバイア
ス基準電圧回路130B,130C,130M,130
Yにデューティ信号を送出するために、前記各APC基
準電圧回路120B,120C,120M,120Yと
バイアス基準電圧回路130B,130C,130M,
130Yのf1〜f8検出器に対応して8つの異なる周
波数f1〜f8のデューティ信号を所定の周期で出力す
る。このように周波数の異なるデューティ信号を生成す
るために、例えばCPU210には、図4に示すよう
に、予め設定した基準周波数f0の鋸歯歯信号を生成す
る鋸歯波生成部211と、生成された鋸歯波信号をデュ
ーティ比設定値と比較し、このデューティ比設定値をし
きい値として得られるデューティ比の矩形信号として出
力する比較部212と、出力された矩形信号をf1〜f
8の周波数設定値に基づいて周波数f1〜f8の矩形信
号に周波数変換する周波数変換部213とを備えるもの
とする。なお、これらの各部はCPU210内において
ソフトウェアによって構成することも可能である。
【0020】そして、図5にフローチャートを示すよう
に、各色の駆動回路に対してAPC制御を行うためのA
PC基準電圧のデューティ比設定値と、バイアス制御を
行うためのバイアス基準電圧のデューティ比設定値を内
蔵メモリ230から読み込んだ上で(S101)、変数
iを初期値のi=1に設定する(S102)。そして、
最初にfiデューティ比設定値、すなわちB駆動回路1
10BのAPC基準電圧に対応するデューティ比設定値
であるf1デューティ比設定値を前記比較部212に入
力し、当該f1デューティ比設定値で設定されるデュー
ティ比の矩形信号を生成する(S103)。次いでfi
周波数設定値、すなわち同じくB駆動回路110Bのバ
イアス基準電圧に対応するf1周波数設定値を周波数変
換部213に入力し、前記矩形信号の周波数をf1にし
て出力する(S104)。そして、予め設定した時間が
経過したことを検出すると(S105)、変数iをi+
1にインクリメントし(S106)、iが9以上でない
ことを確認した上で(S107)、再びステップS10
3〜S106を実行する。変数iが9以上となったとき
には、ステップS102に戻り、変数i=1からのステ
ップを繰り返す。これにより、CPU210からは図6
(a)に示すように、各駆動回路のAPC基準電圧、バ
イアス基準電圧に対応した所要のデューティ比に設定さ
れ、かつそれそれ異なる周波数f1〜f8のデューティ
信号が時間軸上に並んで周期的に出力されることにな
る。
【0021】そして、前記デューティ信号が制御ライン
L10を通して走査ユニット部100に伝送されると、
走査ユニット部100はデューティ電圧回路140にお
いてデューティ信号をデューティ電圧に変換する。この
デューティ電圧は、デューティ比の大きなデューティ信
号の電圧は高く、デューティ比の小さなデューティ信号
の電圧は低くなる。これにより、図6(b)のように、
周波数f1〜f8のデューティ信号に対応したデューテ
ィ電圧が時間軸上に並んだデューティ電圧が得られる。
【0022】また、これと同時に各駆動回路110B,
110C,110M,110Yの各APC基準電圧回路
120B,120C,120M,120Yとバイアス基
準電圧回路130B,130C,130M,130Yで
は、それぞれの周波数検出器121B〜121Y,13
1B〜131Yにおいてそれぞれに対応した周波数のデ
ューティ信号を検出して検出信号を出力し、その検出信
号に基づいてサンプル・ホールド回路122B〜122
Y,132B〜132Yにおいてデューティ電圧を保持
し、各駆動回路に入力する。例えば、図3に示したB駆
動回路110BのAPC基準電圧回路120Bは、図6
(a)のデューティ信号からf1検出器121Bが周波
数f1のデューティ信号を検出したときに検出信号を出
力し、この検出信号を受けて図6(b)の周波数f1に
対応するデューティ電圧をf1サンプル・ホールド回路
122Bにおいてサンプルかつホールドし、このホール
ドしたデューティ電圧をAPC基準電圧Vref1とし
てB駆動回路110Bに入力する。また、同様にB駆動
回路110Bのバイアス基準電圧回路130Bは、図6
(a)のデューティ信号からf2検出器131Bが周波
数f2のデューティ信号を検出したときに、図6(b)
の周波数f2に対応するデューティ電圧をf2サンプル
・ホールド回路132Bにおいてサンプルかつホールド
し、これをバイアス基準電圧Vref2としてB駆動回
路110Bに入力する。
【0023】以上と同様に、C駆動回路110CのAP
C基準電圧回路120Cとバイアス基準電圧回路130
Cでは周波数f3,f4の各周波数のデューティ信号を
検出し、かつ周波数f3,f4に対応するデューティ電
圧をAPC基準電圧、バイアス基準電圧としてそれぞれ
C駆動回路110Cに入力する。また、M駆動回路11
0MのAPC基準電圧回路120Mとバイアス基準電圧
回路130Mでは周波数f5,f6のデューティ信号に
より周波数f5,f6に対応するデューティ電圧をAP
C基準電圧、バイアス基準電圧としてそれぞれM駆動回
路に入力させる。同様にY駆動回路110YのAPC基
準電圧回路120Yとバイアス基準電圧回路130Yで
は周波数f7,f8のデューティ信号により周波数f
7,f8に対応するデューティ電圧をAPC基準電圧、
バイアス基準電圧としてそれぞれY駆動回路110Yに
入力する。
【0024】したがって、コントローラ部200から走
査ユニット部100に1本の制御ラインL10を用いて
伝送されるデューティ信号により、走査ユニット部10
0ではデューティ信号を周波数弁別するとともに、各周
波数に対応して設定されているデューティ比に対応した
デューティ電圧をサンプル・ホールドすることにより、
それぞれ独立に制御された複数のデューティ電圧を得る
ことが可能になる。そして、このようにして個別に制御
されたデューティ電圧が各色の駆動回路110B,11
0C,110M,110YにそれぞれAPC基準電圧V
ref1とバイアス基準電圧Vref2として入力され
ると、各駆動回路110B,110C,110M,11
0Yでは図3に示したように、所要のバイアス基準電圧
が設定されてLDの高速時の変調特性の改善が可能にな
り、また、所要のAPC基準電圧によりLDの発光強度
がAPC制御される。
【0025】以上のように、本実施形態のタンデム方式
の走査装置では、コントローラ部200と走査ユニット
部100との間には、走査ユニット部100に設けられ
ている4つのLD1B,1C,1M,1Yを発光制御し
て画像を描画するための4本の画像制御ラインL1B,
L1C,L1M,L1Yと、各色のLDを駆動するため
の各駆動回路のAPC電圧とバイアス電圧を制御するた
めの1本の制御ラインL10を配設するだけで、各色の
LD1B,1C,1M,1Yに対するAPC制御とバイ
アス制御が実現できる。これにより、コントローラ部2
00と走査ユニット部100との間の制御ラインの本数
を低減し、マルチビーム走査装置の構成の簡易化が実現
できる。また、複数の各駆動回路110B,110C,
110M,110Yには同一の制御ラインL10を通し
てデューティ信号が伝送されるため、異なる制御ライン
を通して信号を伝送するような場合におけるライン間の
誤差やばらつきが生じることはなく、適正な制御が可能
になる。
【0026】ここで、前記実施形態では、CPU210
から出力されるデューティ信号のデューティ比は内蔵メ
モリ230に記憶した設定値に基づいて一義的に設定し
ているが、走査ユニット部100での描画状況に応じて
フィードバック制御を行い、走査ユニット部での経時変
化や状況変化に対応した適正なAPC制御とバイアス制
御を行うようにすることも可能である。例えば、走査ユ
ニット部100において、描画特性に影響を与える感光
ドラム8の表面電位を測定する図外の表面電位センサを
設け、この表面電位センサで測定した表面電位をコント
ローラ部200にフィードバックし、CPU210にお
ける設定値を変化制御するようにしてもよい。
【0027】図7はその一例のフローチャートであり、
図5のフローチャートと同様に、各色の駆動回路に対し
てAPC制御を行うためのAPC基準電圧のデューティ
比設定値と、バイアス制御を行うためのバイアス基準電
圧のデューティ比設定値を内蔵メモリから読み込んだ上
で(S201)、変数iを初期値のi=1に設定する
(S202)。そして、最初にB駆動回路のAPC基準
電圧に対応するデューティ比設定値であるfiデューテ
ィ比設定値(f1デューティ比設定値)を入力し、当該
f1デューティ比設定値で設定されるデューティ比の矩
形信号を生成する(S203)。次いで、B駆動回路の
バイアス基準電圧に対応するfi周波数設定値(f1周
波数設定値)を入力し、前記矩形信号の周波数をf1に
して出力する(S204)。そして、予め設定した時間
が経過したことを検出すると(S205)、B駆動回路
でのAPC動作を実行する(S206)。そして、感光
ドラム8にレーザ光を走査した上で当該感光ドラムの表
面電位を測定し(S207)、表面電位が規定値と比較
する(S208)。表面電位が規定値と異なる場合に
は、表面電位と規定値との大小を比較し(S209)、
表面電位が規定値よりも高い場合にはデューティ比の設
定値を所定値分だけ減少させ(S210)、表面電位が
規定値よりも低い場合にはデューティ比の設定値を所定
値分だけ増加させ(S211)、ステップS203に戻
る。すなわち、表面電位が基準値となるまで、ステップ
S203〜S208:S209、S210またはS21
1の処理が繰り返される。そして、ステップS208に
おいて表面電位が規定値となった場合には、変数iをi
=i+1にインクリメントし(S212)、ステップS
203に戻り次の周波数f2について同様の処理を行
う。以下、iが9以上となる周波数f8までステップS
203以降の処理を同様に行い、iが9以上になるとス
テップS202に戻り、最初から繰り返す(S21
3)。
【0028】このフローチャートで示す実施形態では、
走査ユニット部100での描画状況に応じてフィードバ
ック制御を行いCPU210における設定値を変化制御
することにより、走査ユニット部100でのLDの劣化
や環境の変化等によりLDの発光出力に対する適正なA
PC基準電圧やバイアス基準電圧が変化された場合にに
おいても、適正なAPC制御とバイアス制御を行うよう
にすることが可能になる。
【0029】なお、本発明はタンデム方式の走査装置に
限られるものではなく、複数のレーザビームを同一の感
光ドラムに対して描画する狭義のマルチビーム方式の走
査装置についても本発明を同様に適用することが可能で
ある。また、本発明は前記実施形態のように4個のLD
を用いるマルチビーム走査装置に限られるものではな
く、LD及びこれを制御するための駆動回路の数に限定
されるものでないことは明らかである。
【0030】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、複数のL
Dを備える走査装置において、コントローラ部では複数
のLDに対してそれぞれ異なる周波数のデューティ信号
を生成し、このデューティ信号を1本の制御ラインを通
して走査ユニットに伝送し、走査ユニット部ではデュー
ティ信号の周波数を弁別し、対応する周波数のデューテ
ィ信号からデューティ電圧を得て、これを各駆動回路の
基準電圧として取り込むことが可能になる。したがっ
て、1本の制御ラインを設けるのみで複数のLDをそれ
ぞれ個別に制御することが可能になり、コントローラ部
と走査ユニット部との間の制御ラインの本数を低減し、
マルチビーム走査装置の構成の簡易化が実現できるとと
もに、異なる制御ラインを通して信号を伝送するような
場合におけるライン間の誤差やばらつきが生じることは
なく、適正な制御が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のマルチビーム走査装置の概略構成の斜
視図である。
【図2】本発明のマルチビーム走査装置のブロック回路
図である。
【図3】走査ユニット部の駆動回路及び基準回路の回路
図である。
【図4】CPUでのデューティ信号を生成する回路構成
を示すブロック図である。
【図5】CPUでのデューティ信号を生成する動作を示
すフローチャートである。
【図6】デューティ信号とデューティ電圧のタイミング
図である。
【図7】CPUでのデューティ信号を生成する動作の他
の例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
1 光源ユニット 1B,1C,1M,1Y LD(半導体レーザ) 2B,2C,2M,2Y コリメータレンズ 3 シリンドリカルレンズ 4 ポリゴンミラー 5,6,7 fθレンズ 8 感光ドラム 10 回路部 100 走査ユニット部 110B,110C,110M,110Y 駆動回路 120B,120C,120M,120Y APC基準
電圧回路 130B,130C,130M,130Y バイアス基
準電圧回路 140 デューティ電圧回路 200 コントローラ部 210 CPU 220 画像メモリ 230 内蔵メモリ
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成14年12月16日(2002.12.
16)
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図7
【補正方法】変更
【補正内容】
【図7】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H04N 1/113 H04N 1/04 104A Fターム(参考) 2C362 AA03 AA12 AA16 AA55 AA61 AA63 BA51 BA56 BA60 BA66 CA18 CA39 CB74 DA09 DA41 2H045 BA34 2H076 AB06 AB12 AB16 AB22 DA04 DA05 DA17 EA01 5C051 AA02 CA07 DA02 DB02 DB06 DB08 DC03 DE03 EA01 FA01 5C072 AA03 BA02 HA02 HA06 HA09 HA13 HB01 HB11 QA14 XA01 XA05

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の半導体レーザから出射される各レ
    ーザ光を感光体に対して走査する走査ユニット部と、前
    記走査ユニット部に前記半導体レーザを制御するための
    基準信号を送出するコントローラ部とを備えるマルチビ
    ーム走査装置において、前記コントローラ部は前記複数
    の半導体レーザをそれぞれ制御するための複数のデュー
    ティ信号を生成し、かつ各デューティ信号を時間軸上に
    並べて前記走査ユニット部に出力するデューティ信号生
    成手段を備え、前記走査ユニット部は、前記複数の半導
    体レーザをそれぞれ個別に駆動するための複数の駆動回
    路と、前記各デューティ信号を電圧に変換するデューテ
    ィ電圧回路と、前記各デューティ信号から各駆動回路に
    対応するデューティ信号を検出し、検出したデューティ
    信号に同期して前記デューティ電圧回路から出力される
    デューティ電圧を基準電圧として対応する駆動回路に入
    力する基準電圧回路とを備えることを特徴とするマルチ
    ビーム走査装置。
  2. 【請求項2】 前記デューティ信号生成手段は前記各駆
    動回路で使用される基準電圧に対してそれぞれ異なる周
    波数のデューティ信号を生成し、前記基準電圧回路は前
    記駆動回路にそれぞれ対応する周波数のデューティ信号
    を検出して各駆動回路のデューティ信号を得ることを特
    徴とする請求項1に記載のマルチビーム走査装置。
  3. 【請求項3】 前記デューティ電圧回路は、前記各デュ
    ーティ信号を平均化して当該デューティ信号のデューテ
    ィ比に対応した電圧を出力することを特徴とする請求項
    1又は2に記載のマルチビーム走査装置。
  4. 【請求項4】 前記基準電圧回路は、前記デューティ信
    号から駆動回路に対応するデューティ信号を検出する
    デューティ信号検出回路と、前記デューティ信号検出回
    路で検出された各デューティ信号の出力タイミング時に
    前記デューティ電圧回路から出力されるデューティ電圧
    をサンプルし、かつサンプルしたデューティ電圧をホー
    ルドするサンプル・ホールド回路を備えていることを特
    徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載のマルチビ
    ーム走査装置。
  5. 【請求項5】 前記基準電圧回路は、前記各駆動回路に
    おいて半導体レーザのバイアス電圧を設定するためのバ
    イアス基準電圧と、半導体レーザの発光出力を制御する
    ためのAPC基準電圧であることを特徴とする請求項1
    ないし4のいずれかに記載のマルチビーム走査装置。
  6. 【請求項6】 前記複数個の半導体レーザは、カラー描
    画を行うタンデム方式の走査装置の各異なる色に対応す
    る半導体レーザであることを特徴とする請求項1ないし
    5のいずれかに記載のマルチビーム走査装置。
  7. 【請求項7】 前記複数個の半導体レーザは、同一の感
    光体に対して描画を行うマルチビーム方式の複数のレー
    ザ光に対応する半導体レーザであることを特徴とする請
    求項1ないし5のいずれかに記載のマルチビーム走査装
    置。
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