JP2011027995A - 検査装置 - Google Patents
検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011027995A JP2011027995A JP2009173516A JP2009173516A JP2011027995A JP 2011027995 A JP2011027995 A JP 2011027995A JP 2009173516 A JP2009173516 A JP 2009173516A JP 2009173516 A JP2009173516 A JP 2009173516A JP 2011027995 A JP2011027995 A JP 2011027995A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- inspection
- inspection apparatus
- base
- slide block
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 115
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 128
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 94
- 239000000725 suspension Substances 0.000 claims description 47
- 230000002265 prevention Effects 0.000 claims description 33
- 230000009471 action Effects 0.000 claims description 4
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 85
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 10
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 229920002379 silicone rubber Polymers 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
【解決手段】検査対象板を検査する検査装置である。前記検査対象板に接触して検査信号を印可するプローブユニットを備えた。このプローブユニットは、装置のフレーム側に固定されるプローブベースと、基端が当該プローブベースに支持され、先端に備えたプローブを前記検査対象板の各端子に臨ませて正確に位置決めして支持するプローブブロックと、前記検査対象板を支持してこの検査対象板のズレを防止する位置ズレ防止機構とを備えて構成した。
【選択図】図1
Description
Claims (11)
- 検査対象板を検査する検査装置において、
前記検査対象板に接触して検査信号を印可するプローブユニットを備え、
当該プローブユニットが、装置のフレーム側に固定されるプローブベースと、基端が当該プローブベースに支持され、先端に備えたプローブを前記検査対象板の各端子に臨ませて正確に位置決めして支持するプローブブロックと、前記検査対象板を支持してこの検査対象板のズレを防止する位置ズレ防止機構とを備えて構成されたことを特徴とする検査装置。 - 請求項1に記載の検査装置において、
前記位置ズレ防止機構が、前記検査対象板に当接して当該検査対象板を弾性的に支持する弾性支持機構と、当該弾性支持機構を前記検査対象板に設定圧力で付勢する付勢機構とを備えたことを特徴とする検査装置。 - 請求項2に記載の検査装置において、
前記位置ズレ防止機構がさらに、全体を支持するサスペンションベースと、当該サスペンションベースを前記プローブベースの任意の位置に直接取り付けて固定する固定機構と、スライド機構によって前記サスペンションベースにスライド可能に支持されると共に先端部に前記弾性支持機構を支持してこの弾性支持機構を前記検査対象板に設定圧力で当接させるスライドブロックとを備えたことを特徴とする検査装置。 - 請求項2に記載の検査装置において、
前記付勢機構が、前記スライドブロックの位置を調整する調整ネジと、前記スライドブロックを設定圧力で付勢する支持用スプリングとを備えて構成されたことを特徴とする検査装置。 - 請求項3に記載の検査装置において、
前記固定機構が、前記プローブベースに下側から当接する下側板部と、前記プローブベースに上側から当接する上側板部と、前記上側板部を前記プローブベースに押し付けて前記サスペンションベースを前記プローブベースに固定する固定ネジとを備えて構成されたことを特徴とする検査装置。 - 請求項3に記載の検査装置において、
前記固定機構が、前記サスペンションベースを前記プローブベースに簡単に固定、固定解除できる簡易固定機構によって構成されたことを特徴とする検査装置。 - 請求項6に記載の検査装置において、
前記簡易固定機構が、前記プローブベースに下側から当接する下側板部と、前記プローブベースに上側から当接する上側板部と、前記上側板部を前記プローブベースに押し付けて前記サスペンションベースを前記プローブベースに固定するカムと、当該カムを回動させるレバーとを備えて構成されたことを特徴とする検査装置。 - 請求項3に記載の検査装置において、
前記スライドブロックに接続されて、当該スライドブロックの高さを調整する簡易高さ調整手段をさらに設けたことを特徴とする検査装置。 - 請求項3に記載の検査装置において、
前記付勢機構が、前記スライドブロックの位置を調整するカムと、当該カムを回動させるレバーと、前記スライドブロックを設定圧力で付勢する支持用スプリングとを備えて構成されたことを特徴とする検査装置。 - 請求項1に記載の検査装置において、
前記位置ズレ防止機構が、全体を支持するサスペンションベースと、当該サスペンションベースを前記プローブベースの任意の位置に直接取り付けて固定する固定機構と、スライド機構によって前記サスペンションベースにスライド可能に支持されると共に先端部に前記弾性支持機構を支持してこの弾性支持機構を前記検査対象板に設定圧力で当接させるスライドブロックと、当該スライドブロックの先端部に支持されて前記検査対象板に当接して当該検査対象板を弾性的に支持する弾性支持機構と、リンク機構で前記スライドブロックに連結されて少なくとも待機状態と作用状態の2箇所の位置に高さを調整する簡易高さ調整手段とを備えて構成されたことを特徴とする検査装置。 - 請求項10に記載の検査装置において、
前記簡易高さ調整手段が、回動させて前記スライドブロックの高さを調整するレバーと、当該レバーを前記スライドブロックに連結するリンク機構とを備えて構成されたことを特徴とする検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009173516A JP5289224B2 (ja) | 2009-07-24 | 2009-07-24 | 検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009173516A JP5289224B2 (ja) | 2009-07-24 | 2009-07-24 | 検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011027995A true JP2011027995A (ja) | 2011-02-10 |
JP5289224B2 JP5289224B2 (ja) | 2013-09-11 |
Family
ID=43636817
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009173516A Active JP5289224B2 (ja) | 2009-07-24 | 2009-07-24 | 検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5289224B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107957635A (zh) * | 2017-12-11 | 2018-04-24 | 苏州精濑光电有限公司 | 一种具有探针压合的宏观检测设备 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09281001A (ja) * | 1996-04-08 | 1997-10-31 | Nippon Maikuronikusu:Kk | 液晶表示パネルの検査装置 |
JPH10293150A (ja) * | 1997-04-16 | 1998-11-04 | Enplas Corp | 電気部品用ソケット |
JP2002040383A (ja) * | 2000-07-19 | 2002-02-06 | Display Technologies Inc | 液晶表示装置の検査工具 |
JP2006023139A (ja) * | 2004-07-07 | 2006-01-26 | Micronics Japan Co Ltd | 液晶パネル検査装置 |
JP2008185570A (ja) * | 2007-01-31 | 2008-08-14 | Micronics Japan Co Ltd | プローブユニット及び検査装置 |
JP2008304257A (ja) * | 2007-06-06 | 2008-12-18 | Micronics Japan Co Ltd | プローブユニット及び検査装置 |
JP2009016745A (ja) * | 2007-07-09 | 2009-01-22 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体 |
JP2009162692A (ja) * | 2008-01-09 | 2009-07-23 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ装置 |
-
2009
- 2009-07-24 JP JP2009173516A patent/JP5289224B2/ja active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09281001A (ja) * | 1996-04-08 | 1997-10-31 | Nippon Maikuronikusu:Kk | 液晶表示パネルの検査装置 |
JPH10293150A (ja) * | 1997-04-16 | 1998-11-04 | Enplas Corp | 電気部品用ソケット |
JP2002040383A (ja) * | 2000-07-19 | 2002-02-06 | Display Technologies Inc | 液晶表示装置の検査工具 |
JP2006023139A (ja) * | 2004-07-07 | 2006-01-26 | Micronics Japan Co Ltd | 液晶パネル検査装置 |
JP2008185570A (ja) * | 2007-01-31 | 2008-08-14 | Micronics Japan Co Ltd | プローブユニット及び検査装置 |
JP2008304257A (ja) * | 2007-06-06 | 2008-12-18 | Micronics Japan Co Ltd | プローブユニット及び検査装置 |
JP2009016745A (ja) * | 2007-07-09 | 2009-01-22 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体 |
JP2009162692A (ja) * | 2008-01-09 | 2009-07-23 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107957635A (zh) * | 2017-12-11 | 2018-04-24 | 苏州精濑光电有限公司 | 一种具有探针压合的宏观检测设备 |
CN107957635B (zh) * | 2017-12-11 | 2024-04-09 | 苏州精濑光电有限公司 | 一种具有探针压合的宏观检测设备 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5289224B2 (ja) | 2013-09-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4860242B2 (ja) | プローブ装置 | |
JP5137336B2 (ja) | 可動式プローブユニット機構及び電気検査装置 | |
JP4808135B2 (ja) | プローブ位置合わせ方法及び可動式プローブユニット機構並びに検査装置 | |
TWI389229B (zh) | Probe card adjustment mechanism and probe device | |
WO2010064487A1 (ja) | プローブカード | |
JP5826466B2 (ja) | プローブカードの平行調整機構及び検査装置 | |
CN108663546B (zh) | 测试插座 | |
KR102033886B1 (ko) | 디스플레이 패널 테스트 지그용 컨택소켓 | |
KR100664777B1 (ko) | 부품실장장치 및 부품실장방법 | |
JP7476926B2 (ja) | 検査治具 | |
JP5289224B2 (ja) | 検査装置 | |
KR102149703B1 (ko) | 디스플레이 패널의 사이즈에 따른 간격 가변 검사장치 | |
KR20180083731A (ko) | 표시 패널 검사 장치 | |
KR101014780B1 (ko) | 프로브 유닛 | |
JP5459673B2 (ja) | プローブユニット及び検査装置 | |
JP4674151B2 (ja) | 点灯検査装置 | |
KR100862887B1 (ko) | 평탄도 조절 어셈블리와 이를 포함하는 전기 검사 장치 및이를 이용한 평탄도 조절 방법 | |
JP4246010B2 (ja) | 検査装置 | |
JP3110608B2 (ja) | ディスプレイパネル用検査装置 | |
JP3997044B2 (ja) | 表示パネル検査用ソケット | |
KR20200109402A (ko) | 웨이퍼 검사 장치 | |
JP2006019537A (ja) | プローブ装置 | |
JP4385403B2 (ja) | Icハンドラー装置 | |
JP2012083156A (ja) | プローブユニット及び検査装置 | |
KR101000750B1 (ko) | 클램프스테이지 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120608 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130227 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130312 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130510 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130528 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130604 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5289224 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |