JP2011024207A - タイミング・モジュールのホールドオーバのための内蔵自己検査のシステム及び方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】方法は、外部レファレンス信号によって統制される局所発振器について外部レファレンス信号にロックされている間に、外部レファレンス信号の関数であり、発振器におけるドリフトを統制するために使用される関数である補正信号に少なくとも部分的に基づいて数学的モデル毎の予測補正信号を求めるよう発振器の少なくとも2つの数学的モデルを訓練する工程を含む。方法は更に、外部レファレンス信号が利用可能でなく、発振器におけるドリフトを統制するために別の補正信号を使用する場合に最小の時間誤差を少なくとも2つの数学的モデルのうちの数学的モデルも含む。方法は、訓練に使用される期間に加えた検査持続時間の必要なしに、選択された数学的モデルを使用することが可能であるように、補正信号のサンプリングされたバージョンを使用して、選択された数学的モデルを検査する工程を更に含む。
【選択図】図1
Description
1. 最小訓練期間が完了していなければならないという基準、及び
2. 局所発振器モデルの1つが最小時間数及び最大時間数を有する検査時間を、特定値より少ない値だけ上回る絶対時間誤差をもたらすということをTIE検査は宣言しなければならないという基準
を満たしている場合、NTSモジュールは、ホールドオーバの準備ができていると判定される。
120 制御ループ・フィルタ
125 DAC制御セレクタ
140 温度センサ
145 TIECサンプリング・データ・バッファ
150 OCXOモデル
160 TIEC
Claims (20)
- 方法であって、
外部レファレンス信号によって統制される装置に対して局所の発振器について、一定の持続時間の間、前記発振器が前記外部レファレンス信号にロックされる工程と、
前記外部レファレンス信号の関数であり、前記発振器を統制するために使用される補正信号を判定する工程と、
前記補正信号をサンプリングする工程と、
前記補正信号のサンプルを記憶する工程と、
前記発振器の少なくとも1つの数学的モデルについて、前記発振器が前記外部レファレンス信号にロックされている持続時間の間、
少なくとも、前記補正信号の前記サンプルを含まない前記補正信号に基づいて、前記少なくとも1つの数学的モデルを訓練する工程と、
前記発振器が前記外部レファレンス信号にロックされている特定された持続時間後に、
予測補正信号を判定する工程と、
前記補正信号の前記サンプルと、前記予測補正信号との間の差を求めて、前記発振器におけるドリフトを統制するために前記予測補正信号が使用された場合に生じる誤差を表す周波数誤差を生成する工程と、
前記周波数誤差を経時的に積分して、前記発振器におけるドリフトを統制するために前記予測補正信号が使用された場合に生じる誤差を表す時間誤差を生成する工程と、
前記時間誤差を出力する工程と
を含む方法。 - 請求項1記載の方法であって、
前記特定された持続時間の間に、前記時間誤差が、許容可能な時間誤差の閾値未満であるか否かを判定する工程を更に含む方法。 - 請求項2記載の方法であって、
前記周波数誤差、前記時間誤差、及び前記特定された持続時間後の特定の間隔における閾値よりも前記時間誤差が少ないか否かを定期的に更新する工程を含む方法。 - 請求項2記載の方法であって、前記周波数誤差、前記時間誤差、及び前記許容可能な時間誤差の閾値よりも前記時間誤差が少ないか否かを判定する工程は、
前記周波数誤差、前記時間誤差、及び前記特定された持続時間よりも少ない特定の持続時間後の、前記許容可能な時間誤差の閾値よりも前記時間誤差が少ないか否かを判定する工程を含む方法。 - 請求項3記載の方法であって、
前記周波数誤差、前記時間誤差、及び前記時間誤差が閾値よりも少ないか否かを定期的に更新する工程は、
前記外部レファレンス信号に前記発振器がロックされている持続時間が、前記特定された持続時間よりも大きくなった場合に、前記特定された持続時間以上の移動性一時ウィンドウの閾値よりも前記時間誤差が少ないか否か、前記周波数誤差、及び前記時間誤差を更新する工程を含む方法。 - 請求項1乃至5の何れか一項に記載の方法であって、
前記少なくとも1つの数学的モデルのうちの2つ以上の数学的モデルについて、
前記発振器を統制するために使用された場合に、最小の時間誤差をもたらす時間誤差を、どの数学的モデルがもたらすかを判定する工程とを含む方法。 - 請求項6記載の方法であって、
前記発振器を統制するために使用された場合に、最小の時間誤差をもたらす時間誤差を、どの数学的モデルがもたらすかを判定する工程は、
数学的モデル毎の前記判定された時間誤差を比較する工程と、
許容可能な時間誤差の閾値よりも少ない最小累積時間誤差を備えた数学的モデルを選択する工程とを含む方法。 - 請求項6記載の方法であって、
前記最小の時間誤差をもたらす前記数学的モデルについて、前記外部レファレンス信号が利用可能でない場合に前記発振器を統制するよう補正信号としてその数学的モデルを選択する工程を更に含む方法。 - 請求項8記載の方法であって、
前記特定の持続時間の間、最小の時間誤差を有しているとして選択された数学的モデルの識別情報を維持する工程と、
間隔毎に前記最小の時間誤差を有するとして選択される数学的モデルの識別情報を、特定された持続時間後の少なくとも一間隔の間、維持する工程とを含む方法。 - 請求項9記載の方法であって、
前記識別された数学的モデルに関連付けられた数学的モデル・パラメータを維持する工程を更に含む方法。 - 請求項10記載の方法であって、
前記特定された持続時間後に間隔毎に、数学的モデルそれぞれについて、その間隔の時間誤差を出力する工程と、
その間隔について、数学的モデル毎に、前記識別された数学的モデルに関連付けられた前記数学的モデル・パラメータを出力する工程とを含む方法。 - 請求項1乃至11の何れか一項に記載の方法であって、外部レファレンス信号にロックされている間に前記補正信号をサンプリングする工程は、前記補正信号のレートよりも低いレートで前記補正信号をサンプリングする工程を含む方法。
- 請求項7記載の方法であって、
前記選択された数学的モデルを検査するための更なる検査期間なしで、最小の時間誤差を有していると判定された前記選択された数学的モデルを使用して、早ければ、前記特定された持続時間の終了時に前記発振器を統制する工程を更に含む方法。 - 請求項1乃至11の何れか一項に記載の方法であって、少なくとも1つの数学的モデルの何れもが、許容可能な時間誤差の閾値よりも少ないと判定された場合、数学的モデルが閾値を超えない持続時間を数学的モデル毎に求める工程を含む方法。
- 請求項14記載の方法であって、
閾値を超える前の最長持続時間を備えた数学的モデルを選択する工程と、
少なくとも、前記選択された数学的モデルが閾値を超えない持続時間の間、前記外部レファレンス信号が利用可能でない場合に、前記発振器を統制するよう、補正信号として、前記選択された数学的モデルを使用する工程と
を更に含む方法。 - 方法であって、
外部レファレンス信号にロックされている間、外部レファレンス信号によって統制される、装置に対して局所の発振器について、
前記外部レファレンス信号の関数であり、前記発振器におけるドリフトを統制するために使用される補正信号に少なくとも部分的に基づいて、予測補正信号を数学的モデル毎に判定するよう前記発振器の少なくとも2つの数学的モデルを訓練する工程と、
前記外部レファレンス信号が利用可能でない場合に、前記発振器におけるドリフトを統制するよう、最小時間誤差を有する前記少なくとも2つの数学的モデルのうちの数学的モデルを選択する工程と、
訓練に使用される期間に加え、検査持続時間の必要なしで、前記選択された数学的モデルを使用することが可能であるように前記補正信号のサンプリングされたバージョンを使用して、前記選択された数学的モデルを検査する工程と
を含む方法。 - 装置であって、
外部レファレンス信号を受信するための受信器と、
タイミング情報、周波数情報、位相情報、及びそれらの組合せのうちの少なくとも1つを備えた第1の信号を生成するよう構成された局所発振器(LO)と、
前記外部レファレンス信号の関数であり、前記LOを統制するために使用される補正信号を生成する制御ループ・フィルタと、
外部レファレンス信号からのタイミング情報、温度情報、及び補正信号のサンプルを記憶するサンプル・データ・バッファと、
前記補正信号、前記外部レファレンス信号からの前記タイミング情報、及び前記温度情報を受信するよう構成された前記LOの少なくとも1つの数学的モデルであって、予測補正信号を生成するよう構成された少なくとも1つの数学的モデルと、
前記補正信号のサンプルと、前記予測補正信号との間の差を求めて、前記発振器におけるドリフトを統制するために前記予測補正信号が使用された場合に生じる誤差を表す周波数誤差を生成し、
前記周波数誤差を経時的に積分して、前記発振器におけるドリフトを統制するために前記予測補正信号が使用された場合に生じる誤差を表す時間誤差を生成し、
最小時間誤差を有する数学的モデルを選択するよう構成された時間間隔誤差チェッカ(TIEC)と、
前記選択された数学的モデルの関数である、前記TIECからの補正信号及び前記制御ループからの補正信号出力を受信するよう構成されたディジタル・アナログ制御(DAC)セレクタと、
DACセレクタからの出力を受信し、信号をLOに供給するよう構成された選択された数学的モデルの関数である、TIECからの補正信号及び制御ループからの補正信号出力を受信するよう構成されたディジタル・アナログ制御(DAC)セレクタと、
前記DACセレクタからの出力を受信し、信号を前記LOに供給するよう構成されたDACとを備え、
DAC制御セレクタは、前記外部レファレンス信号が利用可能な場合、前記外部レファレンス信号の関数として前記発振器が統制されるように制御信号をDACに供給し、前記少なくとも1つの数学的モデルは、予測補正信号を生成するよう訓練され、前記TIECは、特定された持続時間後の時間誤差を求め、特定の持続時間後の特定の間隔における時間誤差を定期的に更新する装置。 - 請求項17記載の装置であって、前記LOが恒温槽付水晶発振器である装置。
- 請求項17又は18記載の装置であって、前記少なくとも1つの数学的モデルは再帰的最小二乗フィット・モデルである装置。
- 請求項17乃至19の何れか一項に記載の装置であって、前記少なくとも1つの数学的モデルは、
温度及び経年劣化依存性パラメータを含むモデル、
温度依存性パラメータを含むモデル、
定数を含むモデル、及び
先行する特定の間隔における最小の時間誤差を有していると選択されたモデルのパラメータを含むモデルのうちの少なくとも1つである装置。
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