JP2014191808A - 温度制御装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】温度制御が適切に行われていない状態に対応するしきい値を高精度にかつ容易に設定することができる温度制御装置を提供する。
【解決手段】温度制御装置は被加熱体10、20の温度をヒータ5により制御し、温度検出部10、20は、前記被加熱体10、20の温度を検出し、差分演算部6は、その温度検出値と温度設定値との差分値を求め、調節部61、62は、前記差分値をゼロにするための操作量の演算を行う。比較部72は、差分演算部6にて求められた差分値と所定のしきい値とを比較し、差分値がしきい値を超えているときに第1の信号を出力し、異常検出部73は、第1の信号が所定の設定時間を超えて出力されたときに異常検出信号である第2の信号を出力する。給電停止部64は、第2の信号が出力されたときに、調節部61、62にて得られた操作量に基づいて給電量が制御されるヒータ5への給電を停止する。
【選択図】図1
【解決手段】温度制御装置は被加熱体10、20の温度をヒータ5により制御し、温度検出部10、20は、前記被加熱体10、20の温度を検出し、差分演算部6は、その温度検出値と温度設定値との差分値を求め、調節部61、62は、前記差分値をゼロにするための操作量の演算を行う。比較部72は、差分演算部6にて求められた差分値と所定のしきい値とを比較し、差分値がしきい値を超えているときに第1の信号を出力し、異常検出部73は、第1の信号が所定の設定時間を超えて出力されたときに異常検出信号である第2の信号を出力する。給電停止部64は、第2の信号が出力されたときに、調節部61、62にて得られた操作量に基づいて給電量が制御されるヒータ5への給電を停止する。
【選択図】図1
Description
本発明は、ヒータにより加熱される被加熱体の温度を目標温度に制御する温度制御装置であって、温度制御に異常が生じたときにヒータへの給電を停止する技術分野に関する。
電子部品をヒータにより一定の温度に加熱して、電子部品の特性の安定化を図る場合があり、その一例としていわゆるオーブン付きの水晶発振器(OCXO)が挙げられる。水晶振動子は、温度により周波数が変動することから、出力周波数について高い安定度が要求される場合には、このようなタイプの水晶発振器が用いられる。
OCXOにおいては、電子回路やヒータの不具合などにより適切な温度制御ができなくなった場合に備えてヒータの過熱を防止する必要がある。そこで、例えばサーミスタによる温度検出値が異常値に対応するしきい値になったときにヒータへの給電を停止するアナログ回路が設けられる。
OCXOにおいては、電子回路やヒータの不具合などにより適切な温度制御ができなくなった場合に備えてヒータの過熱を防止する必要がある。そこで、例えばサーミスタによる温度検出値が異常値に対応するしきい値になったときにヒータへの給電を停止するアナログ回路が設けられる。
ところで上記のしきい値が通常使用される温度範囲から離れすぎていると、温度制御の異常検出が遅れてしまう一方、上記のしきい値が通常の温度範囲に近すぎると、温度制御ループに異常が生じているのか、突発的な温度変化であるのかの区別が困難である。そしてOCXOは機種に応じて筐体の大きさや電子部品の配置レイアウトが異なり、このため機種ごとに温度検出値が異常であると判断するしきい値を設定する必要がある。更に異常検出回路がアナログ回路であることも加わって、製造メーカ側で初期の調整時において上記のしきい値を高精度に調整する作業が煩雑で、困難である。
特許文献1には、電子写真装置の熱定着部の近傍の温度をサーミスタで検出し、温度検出値が異常高温に相当するときに強制的にヒータへの通電を停止する回路が記載されている。しかしこのような異常検出方式では、上記の課題を解決できない。
特許文献2には、温度センサーの温度検出値と温度基準値との誤差値を温度比較部にて求め、この誤差値をA/D(アナログ/ディジタル)にてディジタル化し、ディジタル信号に変換された誤差値がゼロになるようにPID制御を行う回路が記載されている。しかしながら、特許文献2には、温度制御部の異常を検出する技術については記載されていない。
特許文献3には、水晶振動子を利用してディジタル値として温度検出することが記載されているが、その適用に関しての開示は限定されている。
特許文献2には、温度センサーの温度検出値と温度基準値との誤差値を温度比較部にて求め、この誤差値をA/D(アナログ/ディジタル)にてディジタル化し、ディジタル信号に変換された誤差値がゼロになるようにPID制御を行う回路が記載されている。しかしながら、特許文献2には、温度制御部の異常を検出する技術については記載されていない。
特許文献3には、水晶振動子を利用してディジタル値として温度検出することが記載されているが、その適用に関しての開示は限定されている。
本発明はこのような事情の下になされたものであり、その目的は、温度制御が適切に行われていない状態に対応するしきい値を高精度にかつ容易に設定することができる温度制御装置を提供することにある。
本発明に係る温度制御装置は、ヒータにより加熱される被加熱体の温度を目標温度に制御する温度制御装置において、
前記被加熱体の温度を検出する温度検出部と、
前記温度検出部にて検出された温度検出値と目標温度に対応する温度設定値との差分値を求める差分演算部と、
前記差分演算部にて演算された差分値をゼロにするための操作量の演算を行う調節部と、
前記差分演算部にて求められた差分値と、温度制御の異常を検出するために予め設定されたしきい値とを比較し、差分値がしきい値を超えているときに第1の信号を出力する比較部と、
前記第1の信号が予め設定された設定時間を超えて出力されたときに異常検出信号である第2の信号を出力する異常検出部と、
前記第2の信号が出力されたときに前記ヒータへの給電を停止する給電停止部と、を備え、
前記ヒータは、前記調節部にて得られた操作量に基づいて給電量が制御されることを特徴とする。
前記被加熱体の温度を検出する温度検出部と、
前記温度検出部にて検出された温度検出値と目標温度に対応する温度設定値との差分値を求める差分演算部と、
前記差分演算部にて演算された差分値をゼロにするための操作量の演算を行う調節部と、
前記差分演算部にて求められた差分値と、温度制御の異常を検出するために予め設定されたしきい値とを比較し、差分値がしきい値を超えているときに第1の信号を出力する比較部と、
前記第1の信号が予め設定された設定時間を超えて出力されたときに異常検出信号である第2の信号を出力する異常検出部と、
前記第2の信号が出力されたときに前記ヒータへの給電を停止する給電停止部と、を備え、
前記ヒータは、前記調節部にて得られた操作量に基づいて給電量が制御されることを特徴とする。
上述の温度制御装置は、下記の特徴を備えていてもよい。
(a)前記被加熱体は電子部品であること。
(b)前記調節部は、前記差分値に対してPI演算により操作量を演算すること。
(c)前記差分演算部は差分値をディジタル信号として出力するものであり、前記温度設定値及び前記差分値は、ディジタル信号であり、前記比較部は、ディジタル信号であるしきい値と前記差分値とを比較するものであること。
(d)(c)において、前記温度検出部は、水晶片に第1の電極を設けて構成した第1の水晶振動子と、水晶片に第2の電極を設けて構成した第2の水晶振動子と、これら第1の水晶振動子及び第2の水晶振動子に夫々接続された第1の発振回路及び第2の発振回路と、第1の発振回路の発振周波数をf1、基準温度における第1の発振回路の発振周波数をf1r、第2の発振回路の発振周波数をf2、基準温度における第2の発振回路の発振周波数をf2rとすると、f1とf1rとの差分に対応する値と、f2とf2rとの差分に対応する値と、の差分値に対応する値を温度検出値として求める周波数差検出部と、を備え、前記周波数差検出部は、前記f1とf2との差分に対応する周波数のパルスを作成するパルス作成部と、入力された直流電圧の大きさに応じた周波数で時間と共に信号値が増加、減少を繰り返す周波数信号を出力するDDS回路部と、このDDS回路部から出力された周波数信号を前記パルス作成部にて作成されたパルスによりラッチするラッチ回路と、このラッチ回路にてラッチされた信号値を積分してその積分値を前記差分値に対応する値として出力するループフィルタと、このループフィルタの出力とf1rとf2rとの差分に対応する値との差分を取り出して、前記DDS回路部に入力値とする加算部と、を備え、前記ヒータにより加熱される被加熱体は、水晶振動子であること。
(a)前記被加熱体は電子部品であること。
(b)前記調節部は、前記差分値に対してPI演算により操作量を演算すること。
(c)前記差分演算部は差分値をディジタル信号として出力するものであり、前記温度設定値及び前記差分値は、ディジタル信号であり、前記比較部は、ディジタル信号であるしきい値と前記差分値とを比較するものであること。
(d)(c)において、前記温度検出部は、水晶片に第1の電極を設けて構成した第1の水晶振動子と、水晶片に第2の電極を設けて構成した第2の水晶振動子と、これら第1の水晶振動子及び第2の水晶振動子に夫々接続された第1の発振回路及び第2の発振回路と、第1の発振回路の発振周波数をf1、基準温度における第1の発振回路の発振周波数をf1r、第2の発振回路の発振周波数をf2、基準温度における第2の発振回路の発振周波数をf2rとすると、f1とf1rとの差分に対応する値と、f2とf2rとの差分に対応する値と、の差分値に対応する値を温度検出値として求める周波数差検出部と、を備え、前記周波数差検出部は、前記f1とf2との差分に対応する周波数のパルスを作成するパルス作成部と、入力された直流電圧の大きさに応じた周波数で時間と共に信号値が増加、減少を繰り返す周波数信号を出力するDDS回路部と、このDDS回路部から出力された周波数信号を前記パルス作成部にて作成されたパルスによりラッチするラッチ回路と、このラッチ回路にてラッチされた信号値を積分してその積分値を前記差分値に対応する値として出力するループフィルタと、このループフィルタの出力とf1rとf2rとの差分に対応する値との差分を取り出して、前記DDS回路部に入力値とする加算部と、を備え、前記ヒータにより加熱される被加熱体は、水晶振動子であること。
本発明によれば、ヒータにより加熱される被加熱体の温度を設定温度に制御する温度制御装置において、温度検出値と温度設定値との差分値をゼロにするための操作量の演算を行い、その演算結果に基づいてヒータへの給電量を決定するようにしている。従って、前記差分値は通常時はゼロ付近の値であるが、温度制御が適切に行われないときには通常時よりも大きな値を持つことに着目し、この値がしきい値を設定時間超えたときに温度制御に異常があると判断し、ヒータの給電を停止している。従って、温度制御が適切に行われていない状態に対応するしきい値を高精度にかつ容易に設定することができる。
図1は本発明の実施形態にかかる温度制御装置の全体を示すブロック図である。この温度制御装置は、水晶発振器(OCXO)内に設けられた被加熱体である水晶振動子10、20が置かれる雰囲気の温度を調整するためのヒータ5への給電量を調節する機能を備えている。
この水晶発振器は、第1の水晶振動子10及び第2の水晶振動子20を備えており、これら第1の水晶振動子10及び第2の水晶振動子20は、共通の水晶片Xbを用いて構成されている。例えば短冊状の水晶片Xbを長さ方向に2分割し、各分割領域(振動領域)の表裏両面に励振用の電極を設ける。従って一方の分割領域と一対の電極11、12とにより第1の水晶振動子10が構成され、他方の分割領域と一対の電極21、22とにより第2の水晶振動子20が構成される。このため第1の水晶振動子10及び第2の水晶振動子20は熱的に結合されたものということができる。
第1の水晶振動子10及び第2の水晶振動子20には夫々第1の発振回路1及び第2の発振回路2が接続されている。これら発振回路1、2の出力は、いずれについても例えば水晶振動子10、20のオーバートーン(高調波)であってもよいし、基本波であってもよい。オーバートーンの出力を得る場合には、例えば水晶振動子と増幅器とからなる発振ループ内にオーバートーンの同調回路を設けて、発振ループをオーバートーンで発振させてもよい。あるいは発振ループについては基本波で発振させ、発振段の後段、例えばコルピッツ回路の一部である増幅器の後段にC級増幅器を設けてこのC級増幅器により基本波を歪ませると共にC級増幅器の後段にオーバートーンに同調する同調回路を設けて、結果として発振回路1、2からいずれも例えば3次オーバートーンの発振周波数を出力するようにしてもよい。
ここで便宜上、第1の発振回路1から周波数f1の周波数信号が出力され、第2の発振回路2から周波数f2の周波数信号が出力されるものとすると、周波数f1の周波数信号は、本水晶発振器の発振出力として外部へと出力される。図1中、3は周波数差検出部であり、この周波数差検出部3は概略的な言い方をすれば、f1とf2との差分と、Δfrとの差分である、f2−f1−Δfrを取り出すための回路部である。Δfrは、基準温度例えば25℃におけるf1(f1r)とf2(f2r)との差分である。f1とf2との差分の一例を挙げれば、例えば数MHzである。本発明は、周波数差検出部3によりf1とf2との差分に対応する値と、基準温度例えば25℃におけるf1とf2との差分に対応する値との差分であるΔFを計算することにより成り立つ。この実施形態の場合、より詳しく言えば、周波数差検出部3で得られる値は、{(f2−f1)/f1}−{(f2r−f1r)/f1r}である。
図2は、周波数差検出部3の具体例を示している。31はフリップフロップ回路(F/F回路)であり、このフリップフロップ回路31の一方の入力端に第1の発振回路1からの周波数f1の周波数信号が入力され、他方の入力端に第2の発振回路2から周波数f2の周波数信号が入力され、第1の発振回路1からの周波数f1の周波数信号により第2の発振回路2からの周波数f2の周波数信号をラッチする。以下において記載の冗長を避けるために、f1、f2は、周波数あるいは周波数信号そのものを表しているとして取り扱う。フリップフロップ回路31からは、f1とf2との周波数差に対応する値である(f2−f1)/f1の周波数をもつ信号が出力される。
フリップフロップ回路31の後段には、ワンショット回路32が設けられ、ワンショット回路32では、フリップフロップ回路31から得られたパルス信号における立ち上がりにてワンショットのパルスを出力する。図3(a)〜(d)はここまでの一連の信号を示したタイムチャートである。ワンショット回路32は、本例の周波数差検出部3に設けられたパルス作成部に相当する。
ワンショット回路32の後段にはPLL(Phase Locked Loop)が設けられ、このPLLは、ラッチ回路33、積分機能を有するループフィルタ34、加算部35及びDDS(Direct Digital Synthesizer)回路部36により構成されている。ラッチ回路33はDDS回路部36から出力された鋸波をワンショット回路32から出力されるパルスによりラッチするためのものであり、ラッチ回路33の出力は、前記パルスが出力されるタイミングにおける前記鋸波の信号レベルである。ループフィルタ34は、この信号レベルである直流電圧を積分し、加算部35はこの直流電圧とΔfr(基準温度例えば25℃におけるf1とf2との差分)に対応する直流電圧とを加算する。Δfrに対応する直流電圧のデータ不図示のメモリに格納されている。
この例では加算部35における符号は、Δfrに対応する直流電圧の入力側が「+」であり、ループフィルタ34の出力電圧の入力側が「−」となっている。DDS回路部36には、加算部35にて演算された直流電圧、即ちΔfrに対応する直流電圧からループフィルタ34の出力電圧を差し引いた電圧が入力され、この電圧値に応じた周波数の鋸波が出力される。PLLの動作の理解を容易にするために図4に極めて模式的に各部の出力の様子を示し、かつ直感的に把握できるようにするために極めて模式的な説明をしておく。装置の立ち上げ時には、Δfrに対応する直流電圧が加算部35を通じてDDS回路部36に入力され、例えばΔfrが5MHzであるとすると、この周波数に応じた周波数の鋸波がDDL36から出力される。
前記鋸波がラッチ回路33により(f2−f1)に対応する周波数のパルスでラッチされるが、(f2−f1)が例えば6MHzであるとすると、鋸波よりもラッチ用のパルスの周期が短いことから、鋸波のラッチポイントは図4(a)に示すように徐々に下がっていき、ラッチ回路33の出力及びループフィルタ34の出力は図4(b)、(c)に示すように−側に徐々に下がっていく。加算部35におけるループフィルタ34の出力側の符号が「−」であることから、加算部35からDDS回路部36に入力される直流電圧が上昇する。このためDDS回路部36から出力される鋸波の周波数が高くなり、DDS回路部36に6MHzに対応する直流電圧が入力されたときに、鋸波の周波数が6MHzとなって図5(a)〜(c)に示すようにPLLがロックされる。このときにループフィルタ34から出力される直流電圧は、Δfr−(f2−f1)=−1MHzに対応した値となる。つまりループフィルタ34の積分値は、5MHzから6MHzへ鋸波が変化するときの1MHzの変化分の積分値に相当するということができる。
この例とは逆に、Δfrが6MHz、(f2−f1)が5MHzの場合には、鋸波よりもラッチ用のパルスの周期が長いためにことから、図4(a)に示すラッチポイントは徐々に高くなり、これに伴い、ラッチ回路33の出力及びループフィルタ34の出力も上昇する。このため加算部35において差し引かれる値が大きくなるので、鋸波の周波数が徐々に下がり、やがて(f2−f1)と同じ5MHzとなったときにPLLがロックされる。このときにループフィルタ34から出力される直流電圧は、Δfr−(f2−f1)=1MHzに対応した値となる。なお、図6は実測データであり、この例では時刻t0にてPLLがロックしている。
ところで実際には周波数差検出部3の出力、即ち図2に示す平均化回路37の出力は、{(f2−f1)/f1}−{(f2r−f1r)/f1r}の値を34ビットのディジタル値で表した値である。−50℃付近から100℃付近までのこの値の集合は、(f1−f1r)/f1=OSC1(単位はppmあるいはppb)、(f2−f2r)/f2r=OSC2(単位はppmあるいはppb)とすると、温度に対する変化はOSC2−OSC1と実質同じカーブとなる。従って周波数差検出部3の出力は、OSC2−OSC1=温度データとして取り扱うことができる。
またフリップフロップ31においてf2をf1によりラッチする動作は非同期であることから、メタステーブル(入力データをクロックのエッジでラッチする際、ラッチするエッジの前後一定時間は入力データを保持する必要があるが、クロックと入力データとがほぼ同時に変化することで出力が不安定になる状態)など不定区間が生じる可能性もあり、ループフィルタ34の出力には瞬間誤差が含まれる可能性がある。このためループフィルタ34の出力側に、予め設定した時間における入力値の移動平均を求める平均化回路37を設け、前記瞬間誤差が生じても取り除くようにしている。平均化回路37を設けることにより、最終的に変動温度分の周波数ずれ情報を高精度に取得することができるが、平均化回路37を設けない構成としてもよい。
図7は、周波数差検出部3の出力と温度との関係を示しており、当該出力が温度に対して直線関係にあることが分かる。従って周波数差検出部3の出力値は水晶振動子10、20が置かれている温度の検出値に対応しているということができる。
図1に説明を戻すと、周波数差検出部3の後段に加算器(差分演算部)6を設け、周波数差検出部3の出力と温度設定値との差分値(いずれもディジタル信号である)を取り出すようにしている。温度設定値は、水晶振動子10、20の目標温度に対応して決定され、後述の制御部8により設定される。温度設定値は、水晶発振器の出力を得るための第1の水晶振動子10から得られるOSC1の値が温度変化により変動しにくい目標温度に対応して設定することが好ましい。本例の温度制御装置においては、目標温度は例えば50℃である。
加算器6の後段には、前記加算器6にて演算された差分値をゼロにするためヒータ5への給電量を調節する操作量の演算を行う調節部であるP調節部61とI調節部62とを備えている。
P調節部61は、差分値の大きさに比例した操作量を得るために、当該差分値に比例ゲインK1を乗算する乗算器である。差分値を相殺する操作量が得られるように、比例ゲインK1は、負の値が設定される。
P調節部61は、差分値の大きさに比例した操作量を得るために、当該差分値に比例ゲインK1を乗算する乗算器である。差分値を相殺する操作量が得られるように、比例ゲインK1は、負の値が設定される。
I調節部62は、差分値の時間積分値に比例した操作量を得るための積分回路であり、前記差分値に積分ゲインK2を乗算する乗算器621と、後段のラッチ部623の出力を取得して、前記乗算器621の出力に加算する加算器622と、一つ前の加算器622の出力をラッチし、今の乗算器621の出力と加算するために、ラッチされた値を加算器622に出力すると共に、ラッチされた値を操作量として出力するラッチ部623と、を備えている。P調節部61の場合と同様に、積分ゲインK2は負の値が設定される。
P調節部61、I調節部62の出力は、加算部63にて加算され、後述のセレクタ64を経てPWM内挿部65に入力される。PWM内挿部65は、14ビットのディジタル信号(−213から+213 までの2の補数)を一定時間のパルス信号で表現する変換を行う。例えば最小Hパルス幅が10nsecの場合には、214 *10−9 =16.384msecを一定時間とし、その間のパルス数ディジタル信号を表現する。具体的には次のように表される。14ビットのディジタル値がゼロのときには、16.384msec間のHパルス数は213 個である。14ビットのディジタル値が−213のときには、16.384msec間のHパルス数はゼロ個である。14ビットのディジタル値が213 −1のときには、16.384msec間のHパルス数は214 −1個である。
PWM内挿部65の後段には、ローパスフィルタ(LPF)66が設けられ、PWM内挿部65からの出力を平均化して当該出力であるパルス数に応じた直流電圧を出力する。即ち、この例ではPWM内挿部65及びLPF66は、ディジタル値をアナログ値に変換するためのものであり、これらを用いることに代えてディジタル/アナログ変換器を用いてもよい。
LPF66の後段には、加熱部に相当するヒータ5が設けられている。このヒータ5は、LPF66の出力によって給電され、その給電量に応じて発熱温度を制御し、水晶振動子10、20の温度を制御することができる。例えばヒータ5は、LPF66の出力端がベースに接続されると共に不図示の電源部からコレクタに電圧が供給されるトランジスタとこのトランジスタのエミッタとアースとの間に接続された抵抗とにより構成される。トランジスタのベースに供給される電圧と、トランジスタの消費電力及び抵抗の消費電力との合計電力と、の関係は直線関係になっており、このためP調節部61、I調節部62にて得た操作量に基づいてヒータ5の発熱温度を直線的に制御することができる。この例では、トランジスタもヒータ5の一部となっており、水晶振動子10、20とヒータ5とは、共通の筐体内に格納されている。
上述の構成を備えた温度制御装置は、温度制御に異常があると判断した場合には、ヒータ5の給電を停止する機能を備えている。以下、当該機能の構成について説明する。
上記機能に関し温度制御装置は、加算器6の出力を絶対値に変換する絶対値変換部71と、ディジタルコンパレータ72にて得られた差分値の絶対値を予め設定されたしきい値と比較するディジタルコンパレータ72と、前記絶対値がしきい値を超えた状態となっている時間が予め設定された設定時間内であるか否かを判断するタイマ73と、ディジタルコンパレータ72判断結果に基づいてヒータ5への給電の給断を行うセレクタ64と、これらの各機器6、72、73へ設定信号を出力する制御部8と、を備えている。
上記機能に関し温度制御装置は、加算器6の出力を絶対値に変換する絶対値変換部71と、ディジタルコンパレータ72にて得られた差分値の絶対値を予め設定されたしきい値と比較するディジタルコンパレータ72と、前記絶対値がしきい値を超えた状態となっている時間が予め設定された設定時間内であるか否かを判断するタイマ73と、ディジタルコンパレータ72判断結果に基づいてヒータ5への給電の給断を行うセレクタ64と、これらの各機器6、72、73へ設定信号を出力する制御部8と、を備えている。
絶対値変換部71はP調節部61、I調節部62へと入力される加算器6の出力(差分値)を取得して絶対値に変換し、後段のディジタルコンパレータ72へと出力する。周波数差検出部3にて検出した温度検出値が、温度設定値と一致している場合には、絶対値変換部71の出力はゼロとなる。
ディジタルコンパレータ72は、絶対値変換部71から取得した差分値の絶対値と、制御部8により設定されたディジタル信号であるしきい値とを比較し、前記絶対値がしきい値を超えている場合には、そのことを示す信号(第1の信号)をタイマ73に出力する。例えばディジタルコンパレータ72は、前記絶対値がしきい値を超えていない場合には「0」、超えている場合には「1」をタイマ73に向けて出力する。本例の温度制御装置においては、しきい値は、例えば目標値に対して±1〜10℃の範囲内の値が設定される。これらの観点において絶対値変換部71、ディジタルコンパレータ72は本実施の形態の比較部に相当する。
タイマ73は、ディジタルコンパレータ72から第1の信号(差分値の絶対値がしきい値を超えていることを示す信号)が入力されている状態の継続時間と、制御部8により設定された設定時間とを比較し、前記継続時間が設定時間を超えている場合には、そのことを示す異常検出信号(第2の信号)をセレクタ64に出力する。例えばディジタルコンパレータ72は、前記継続時間が設定時間を超えていない場合には「0」、超えている場合には異常検出信号として「1」をセレクタ64に向けて出力する。本例の温度制御装置においては、設定時間は、例えば10〜600秒の範囲内の値が設定される。タイマ73は、本実施の形態の異常検出部に相当する。
セレクタ64は、タイマ73の出力に基づき、PWM内挿部65に向けて出力される信号を、P調節部61及びI調節部62から出力された操作量と、ヒータ5への給電を停止する信号との間で切り替える。ヒータ5への給電を停止する信号は、制御部8により設定され、例えばPWM内挿部65の出力を「0」とする信号を入力する(図1中に「*a」と記してある)。
そして、セレクタ64は、タイマ73から「0」が入力されているとき(継続時間が設定時間を超えていない場合)はP調節部61及びI調節部62から得た操作量をPWM内挿部65に出力する。一方、異常検出信号である「1」が入力されているとき(継続時間が設定時間を超えている場合)は、ヒータ5への給電を停止するための信号をPWM内挿部65に出力する。
この観点において、セレクタ64は本実施の形態の給電停止部に相当する。
この観点において、セレクタ64は本実施の形態の給電停止部に相当する。
以上に説明した構成を備えた本例の温度制御装置の作用について説明する。まず、この温度制御装置にて水晶振動子10、20の温度制御が行われる水晶発振器に着目すると、既述のように水晶発振器の発振出力は第1の発振回路1から出力される周波数信号に相当する。そしてヒータ5により水晶振動子10、20の置かれる雰囲気が目標温度になるように加熱されている。第1の水晶振動子10及び第1の発振回路1は、水晶発振器の出力である周波数信号を生成するものであるが、第2の水晶振動子20及び第2の発振回路2と共に温度検出部としての役割も持っている。これら発振回路1、2から各々得られる周波数信号の周波数差に対応する値OSC2−OSC1(周波数差検出部3の出力)は、既述のように温度検出値に対応し、加算器6にて温度設定値(例えば50℃におけるOSC2−OSC1の値)との差分値が取り出される。
この差分値に基づき、P調節部61、I調節部62にて操作量が演算され、セレクタ64を介してPWM内挿部65、LPF66に供給されることにより直流電圧に変換されてヒータ5の制御電力が調整される。操作量は、水晶振動子10、20の温度が目標温度(本例では50℃)を超えている場合には給電量を低下させ、目標温度を下回っている場合には給電量を増大させる調節が行われる。この結果、水晶振動子10、20が置かれる雰囲気の温度は目標温度である50℃に維持されようとするので、発振出力である第1の発振器1からの出力周波数が安定する。
一方、周波数差検出部3からの出力と温度設定値との差分値(加算器6の出力)は、絶対値変換部71にて絶対値に変換され、ディジタルコンパレータ72にて監視される。ここで例えば、電子回路やヒータ5の不具合などにより適切な温度制御ができなくなり、図8に示すように加算器6の出力が経時的に上昇を始めたとする。ディジタルコンパレータ72は、加算器6から出力された差分値の絶対値が、予め設定されたしきい値を超えたタイミング(時刻t1)にて、そのことを示す第1の信号「1」をタイマ73に出力する。
タイマ73は、ディジタルコンパレータ72から第1の信号が継続して出力される時間(継続時間)を計測し、この時間を予め設定された設定時間と比較し、継続時間が設定時間を超えたタイミング(時刻t2)にて、そのことを示す第2の信号「1」をセレクタ64に出力する。セレクタ64は、第2の信号を取得した時点でPWM内挿部65に出力する信号をP調節部61、I調節部62にて演算した操作量から、制御部8による設定値(PWM内挿部65からの出力を「0」とする信号)に切り替える。この結果、ヒータ5への給電が停止される。なお、PWM内挿部65、LPF66に替えてディジタル/アナログ変換回路を設ける場合には、アナログ出力を0とする。
本実施の形態に係る温度制御装置によれば以下の効果がある。ヒータ5により加熱される水晶振動子10、20の温度を設定温度に制御するにあたり、温度検出値と温度設定値との差分値をゼロにするための操作量の演算をP調節部61、I調節部62にて行い、その演算結果に基づいてヒータ5への給電量を決定するようにしている。従って、前記差分値は通常時はゼロ付近の値であるが、温度制御が適切に行われないときには通常時よりも大きな値を持つことに着目し、この値がしきい値を超え、その時間が設定時間超えて継続されたときに温度制御に異常があると判断し、ヒータ5の給電を停止している。従って、サーミスタなどを用いて検出した温度がしきい値を超えたか否かを判断する代わりに、検出温度と温度設定値との差分値が所定のしきい値を超えたか否かの判断を行っている。このため、温度制御が適切に行われていない状態に対応するしきい値を高精度にかつ容易に設定することができる。
図9は、本例の温度制御装置と、この温度制御装置により水晶振動子10、20の温度制御が行われる水晶発振器とを備えた発振装置のブロック図を示している。図9において、図1に示したものと共通の構成要素には、当該図と共通の符号を付してある。また図1に示したP調節部61、I調節部62、加算部63、セレクタ64、PWM内挿部65、LPF66は、図9において、ヒータ制御回路60として総括表示し、同じくディジタルコンパレータ72、タイマ73は、ヒータ異常検出回路70として総括表示してある。
図9に示すように、発振装置は、第1の発振回路1からの周波数信号をクロック信号として動作するPLLを構成する制御回路部200を備え、設定された周波数の周波数信号を出力する周波数シンセサイザとして構成されている。制御回路部200は、DDS回路部201から出力するリファレンス(参照用)クロックと、電圧制御発振器100の出力を分周器204で分周したクロックの位相とを位相比較部205にて比較し、その比較結果である位相差がチャージポンプ204によりアナログ化される。アナログ化された信号はループフィルタ206に入力され、PLL(Phase locked loop)が安定するように制御される。
従って制御回路部200は、PLL部であると言うこともできる。ここでDDS回路部201は、後述の第1の発振回路1から出力される周波数信号を基準クロックとして用い、目的とする周波数の信号を出力するための周波数データ(ディジタル値)が入力される。
次いで、上述の実施形態のバリエーションについて説明する。調節部は、P調節部61とI調節部62とによって構成する場合に限らず、さらに微分制御を行うD調節部を設けてもよいし、これらのPID調節部に替えて積分回路であるループフィルタを設けもよい。また、比較部は絶対値変換部71を備えることは必須の要件ではなく、差分値が上限値と下限値とからなるしきい値範囲内に入っているか否かを判断する比較部を設け、差分値がこのしきい値範囲から外れた場合に第1の信号を出力する構成としてもよい。さらに、給電停止部の構成についてもセレクタ64により構成する場合に限定されず、タイマ73から出力される第2の信号に基づいて開閉動作を実行するスイッチ回路を用いてもよい。
さらに、上述の実施の形態では、温度検出値、温度設定値やこれらの差分値、この差分値と比較されるしきい値をディジタル信号として入出力するディジタル回路として構成した場合について説明した。しかしながら、これらの信号をディジタル信号によって構成することは必須の要件ではなく、これらの信号の一部またはすべてをアナログ信号で入出力するアナログ回路を用いてもよいことは勿論である。
また、本発明の温度制御装置により温度制御可能な被加熱体は、水晶振動子10、20などの電子機器に限定されるものではなく、例えばアレイ導波路回折格子(arrayed‐waveguide grating)などの光学部品であってもよい。
1 第1の発振回路
2 第2の発振回路
10 第1の水晶振動子
20 第2の水晶振動子
3 周波数差検出部
5 ヒータ
61 P調節部
62 I調節部
63 加算部
64 セレクタ
72 ディジタルコンパレータ
73 タイマ
8 制御部
2 第2の発振回路
10 第1の水晶振動子
20 第2の水晶振動子
3 周波数差検出部
5 ヒータ
61 P調節部
62 I調節部
63 加算部
64 セレクタ
72 ディジタルコンパレータ
73 タイマ
8 制御部
Claims (5)
- ヒータにより加熱される被加熱体の温度を目標温度に制御する温度制御装置において、
前記被加熱体の温度を検出する温度検出部と、
前記温度検出部にて検出された温度検出値と目標温度に対応する温度設定値との差分値を求める差分演算部と、
前記差分演算部にて演算された差分値をゼロにするための操作量の演算を行う調節部と、
前記差分演算部にて求められた差分値と、温度制御の異常を検出するために予め設定されたしきい値とを比較し、差分値がしきい値を超えているときに第1の信号を出力する比較部と、
前記第1の信号が予め設定された設定時間を超えて出力されたときに異常検出信号である第2の信号を出力する異常検出部と、
前記第2の信号が出力されたときに前記ヒータへの給電を停止する給電停止部と、を備え、
前記ヒータは、前記調節部にて得られた操作量に基づいて給電量が制御されることを特徴とする温度制御装置。 - 前記被加熱体は電子部品であることを特徴とする請求項1に記載の温度制御装置。
- 前記調節部は、前記差分値に対してPI演算により操作量を演算することを特徴とする請求項1または2に記載の温度制御装置。
- 前記差分演算部は差分値をディジタル信号として出力するものであり、
前記温度設定値及び前記差分値は、ディジタル信号であり、
前記比較部は、ディジタル信号であるしきい値と前記差分値とを比較するものであることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか一つに記載の温度制御装置。 - 前記温度検出部は、
水晶片に第1の電極を設けて構成した第1の水晶振動子と、
水晶片に第2の電極を設けて構成した第2の水晶振動子と、
これら第1の水晶振動子及び第2の水晶振動子に夫々接続された第1の発振回路及び第2の発振回路と、
第1の発振回路の発振周波数をf1、基準温度における第1の発振回路の発振周波数をf1r、第2の発振回路の発振周波数をf2、基準温度における第2の発振回路の発振周波数をf2rとすると、f1とf1rとの差分に対応する値と、f2とf2rとの差分に対応する値と、の差分値に対応する値を温度検出値として求める周波数差検出部と、を備え、
前記周波数差検出部は、
前記f1とf2との差分に対応する周波数のパルスを作成するパルス作成部と、入力された直流電圧の大きさに応じた周波数で時間と共に信号値が増加、減少を繰り返す周波数信号を出力するDDS回路部と、このDDS回路部から出力された周波数信号を前記パルス作成部にて作成されたパルスによりラッチするラッチ回路と、このラッチ回路にてラッチされた信号値を積分してその積分値を前記差分値に対応する値として出力するループフィルタと、このループフィルタの出力とf1rとf2rとの差分に対応する値との差分を取り出して、前記DDS回路部に入力値とする加算部と、を備え、
前記ヒータにより加熱される被加熱体は、水晶振動子であることを特徴とする請求項4記載の温度制御装置。
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