JP2014068316A5 - - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
- 230000000875 corresponding Effects 0.000 description 6
- 241001442055 Vipera berus Species 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 230000000295 complement Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 101710010104 sty1 Proteins 0.000 description 1
Description
またこの発振装置は、制御回路部200から出力される出力周波数の温度補償を行う機能も備えている。温度補償を行う回路部分については符号を付していないが、図1における制御回路部200よりも左側部分に相当し、前記ヒータ回路5を制御するための回路部分と共用化している。
制御回路部200は、DDS(Direct Digital Synthesizer)回路部201から出力する参照信号(リファレンスクロック)と、電圧制御発振器100の出力を分周器204で分周したクロックの位相とを位相比較部205にて比較し、その比較結果である位相差がチャージポンプ202によりアナログ化される。アナログ化された信号はループフィルタ206に入力され、PLL(Phase locked loop)が安定するように制御される。従って制御回路部200は、PLLを含んでいる。ここでDDS回路部201は、後述の第1の発振回路1から出力される周波数信号をクロック信号として用い、目的とする周波数の信号を出力するための周波数設定値(ディジタル値)が入力されている。
制御回路部200は、DDS(Direct Digital Synthesizer)回路部201から出力する参照信号(リファレンスクロック)と、電圧制御発振器100の出力を分周器204で分周したクロックの位相とを位相比較部205にて比較し、その比較結果である位相差がチャージポンプ202によりアナログ化される。アナログ化された信号はループフィルタ206に入力され、PLL(Phase locked loop)が安定するように制御される。従って制御回路部200は、PLLを含んでいる。ここでDDS回路部201は、後述の第1の発振回路1から出力される周波数信号をクロック信号として用い、目的とする周波数の信号を出力するための周波数設定値(ディジタル値)が入力されている。
フリップフロップ回路31の後段には、ワンショット回路32が設けられ、ワンショット回路32では、フリップフロップ回路31から得られたパルス信号における立ち上がりにてワンショットのパルスを出力する。図3はここまでの一連の信号を示したタイムチャートである。
ワンショット回路32の後段にはPLL(Phase Locked Loop)が設けられ、このPLLは、ラッチ回路33、積分機能を有するループフィルタ34、加算部35及びDDS回路部36により構成されている。ラッチ回路33はDDS回路部36から出力された鋸波をワンショット回路32から出力されるパルスによりラッチするためのものであり、ラッチ回路33の出力は、前記パルスが出力されるタイミングにおける前記鋸波の信号レベルである。ループフィルタ34は、この信号レベルである直流電圧を積分し、加算部35はこの直流電圧とΔfr(基準温度例えば25℃におけるf1(f1r)とf2(f2r)との差分)に対応する直流電圧と加算する。Δfrに対応する直流電圧のデータは図1に示すメモリ30に格納されている。
ワンショット回路32の後段にはPLL(Phase Locked Loop)が設けられ、このPLLは、ラッチ回路33、積分機能を有するループフィルタ34、加算部35及びDDS回路部36により構成されている。ラッチ回路33はDDS回路部36から出力された鋸波をワンショット回路32から出力されるパルスによりラッチするためのものであり、ラッチ回路33の出力は、前記パルスが出力されるタイミングにおける前記鋸波の信号レベルである。ループフィルタ34は、この信号レベルである直流電圧を積分し、加算部35はこの直流電圧とΔfr(基準温度例えば25℃におけるf1(f1r)とf2(f2r)との差分)に対応する直流電圧と加算する。Δfrに対応する直流電圧のデータは図1に示すメモリ30に格納されている。
またフリップフロップ回路31においてf2をf1によりラッチする動作は非同期であることから、メタステーブル(入力データをクロックのエッジでラッチする際、ラッチするエッジの前後一定時間は入力データを保持する必要があるが、クロックと入力データとがほぼ同時に変化することで出力が不安定になる状態)など不定区間が生じる可能性もあり、ループフィルタ34の出力には瞬間誤差が含まれる可能性がある。このためループフィルタ34の出力側に、予め設定した時間における入力値の移動平均を求める平均化回路37を設け、前記瞬間誤差が生じても取り除くようにしている。平均化回路37を設けることにより、最終的に変動温度分の周波数ずれ情報を高精度に取得することができるが、平均化回路37を設けない構成としてもよい。
更にループフィルタ61の後段には、PWM内挿部62が設けられている。PWM内挿部62は、ループフィルタ61から出力される14ビットのディジタル信号(−213から+213 −1までの2の補数)を一定時間のパルス信号で表現する変換を行う。例えば最小Hパルス幅が10nsecの場合には、214 *10−9 =16.384msecを一定時間とし、その間のパルス数ディジタル信号を表現する。具体的には次のように表される。14ビットのディジタル値がゼロのときには、16.384msec間のHパルス数は213 個である。14ビットのディジタル値が−213のときには、16.384msec間のHパルス数はゼロ個である。14ビットのディジタル値が213 −1のときには、16.384msec間のHパルス数は214 −1個である。
ローパスフィルタ(LPF)63の後段には、加熱部に相当するヒータ回路5が設けられている。このヒータ回路5は、図11に示すようにローパスフィルタ63の出力端がベースに接続されると共に電源部Vcからコレクタに電圧が供給されるトランジスタ64とこのトランジスタ64のエミッタとアースとの間に接続された抵抗65とからなる。トランジスタ64のベースに供給される電圧と、トランジスタ64の消費電力及び抵抗65の消費電力との合計電力と、の関係は直線関係になっており、このため既述の温度データと設定温度との差分に応じて発熱温度が直線的に制御される。この例では、トランジスタ64も加熱部の一部であることから、ヒータとヒータ制御回路とが兼用されたヒータ回路5という表現を用いている。
増幅器411は、図14に示した周波数偏差の実線がキャンセルされるように、周波数偏差が0の位置の横軸に対して線対称な補正量算出線(同図中、破線で示してある)に比例する周波数補正値が加算されるように前記ディジタル信号の符号を反転させる。また、増幅器411のゲインの大きさは、周波数補正値が周波数設定値に加算されたとき、正確なクロック信号が入力された場合と同様の出力周波数を発振可能な大きさに調整されている。
後段のデシメーションフィルタ412は、急激な環境温度の変化があった場合などに、周波数設定値の値が高い頻度で大幅に補正された結果、出力周波数が急激に変動するのを防ぐため、ディジタル信号が出力される間隔よりも加算部42にて周波数設定値に周波数補正値を加算する間隔が長くなるように、周波数補正値の出力を予め設定された間隔で間引きし、大幅な変動を補間して滑らかにする。
後段のデシメーションフィルタ412は、急激な環境温度の変化があった場合などに、周波数設定値の値が高い頻度で大幅に補正された結果、出力周波数が急激に変動するのを防ぐため、ディジタル信号が出力される間隔よりも加算部42にて周波数設定値に周波数補正値を加算する間隔が長くなるように、周波数補正値の出力を予め設定された間隔で間引きし、大幅な変動を補間して滑らかにする。
この差分はループフィルタ61で積分され、その後直流電圧に変換されてヒータ回路5の制御電力が調整される。図10に示す特性図からわかるように、50℃のときのOSC2−OSC1の値を−1.5×105とすると、加算部6の出力は、温度が50℃よりも低いときには正の値であって、温度が下がるに従って大きくなる。従って、この値の積分値を出力するループフィルタ61の作用によれば、水晶振動子10、20が置かれている環境温度が50℃よりも低くなるほど、ヒータ回路5の供給される電圧(制御電力)が大きくなる。また環境温度が50℃よりも高いときには加算部6の出力は負の値になり、この値が積分されることにより、温度が上がるにつれてループフィルタ61の出力の絶対値は大きくなる。従って前記環境温度が50℃よりも高くなるほど、ヒータの供給電力が小さくなるように作用する。このため水晶振動子10、20が置かれる環境温度は設定温度である50℃に維持されようとするので、発振出力である第1の発振回路1の発振周波数が安定する。この結果、第1の発振回路1からの出力をクロック信号として用いている制御回路部200において、位相比較部205に供給される参照信号の周波数が安定するので、発振装置(周波数シンセサイザ)の出力である電圧制御発振器100からの出力周波数も安定する。
また、ループフィルタ61の積分値は補正値取得部41にも出力され、内部の増幅器411にてゲイン調整された後、デシメーションフィルタ412により出力間隔を間引きして、加算部42にて周波数設定値との加算を行う。
図1に示すように第1の水晶振動子10及び第2の水晶振動子20は共通の水晶片Xbを用いて構成され、互いに熱的に結合されていることから、発振回路1、2の周波数差は、環境温度に極めて正確に対応した値であり、従って周波数差検出部3の出力は、水晶振動子10、20が置かれている環境温度と基準温度(この例では25℃)との温度差を示す情報である。よって、この温度検出値から温度設定値(設定温度におけるOSC2−OSC1)を差し引いた加算部6の出力は、環境温度と設定温度(この例では50℃)との差を示す情報となり、この値を積分して得たループフィルタ61の出力は、環境温度に対応する情報となる。
図1に示すように第1の水晶振動子10及び第2の水晶振動子20は共通の水晶片Xbを用いて構成され、互いに熱的に結合されていることから、発振回路1、2の周波数差は、環境温度に極めて正確に対応した値であり、従って周波数差検出部3の出力は、水晶振動子10、20が置かれている環境温度と基準温度(この例では25℃)との温度差を示す情報である。よって、この温度検出値から温度設定値(設定温度におけるOSC2−OSC1)を差し引いた加算部6の出力は、環境温度と設定温度(この例では50℃)との差を示す情報となり、この値を積分して得たループフィルタ61の出力は、環境温度に対応する情報となる。
上述の実施形態において、図8、図9では、周波数の変化分を「ppm」単位で表示しているが、実際のディジタル回路では全て2進数での扱いとなるため、DDS回路部36の周波数設定精度は構成ビット数で計算され、例えば34ビットである。一例を挙げると、図1に示す制御回路部200に含まれるDDS回路部201に10MHzのクロックを供給する場合においてこのクロックの変動周波数が100Hzの場合
〔変動比率計算〕
100Hz/10MHz=0.00001
〔ppm換算〕
0.00001*1e6=10〔ppm〕
〔DDS設定精度換算〕
0.00001*2^34≒171,799〔ratio−34bit(仮称)〕となる。
〔変動比率計算〕
100Hz/10MHz=0.00001
〔ppm換算〕
0.00001*1e6=10〔ppm〕
〔DDS設定精度換算〕
0.00001*2^34≒171,799〔ratio−34bit(仮称)〕となる。
上記の構成の場合、前記周波数設定精度は次の(1)式で表わされる。
1×〔ratio−34bit〕=10M〔Hz〕/2^34≒0.58m〔Hz/bit〕 ……(1)
従って100〔Hz〕/0.58m〔Hz/bit〕≒171,799〔bit(ratio−34bit)〕となる。
また、0.58mHzは10MHzに対して、次の(2)式のように計算できる。
0.58m〔Hz〕/10M〔Hz〕*1e9≒0.058〔ppb〕…(2)
従って(1)、(2)式から、(3)式の関係が成り立つ。
1×〔ratio−34bit〕=10M〔Hz〕/2^34≒0.58m〔Hz/bit〕 ……(1)
従って100〔Hz〕/0.58m〔Hz/bit〕≒171,799〔bit(ratio−34bit)〕となる。
また、0.58mHzは10MHzに対して、次の(2)式のように計算できる。
0.58m〔Hz〕/10M〔Hz〕*1e9≒0.058〔ppb〕…(2)
従って(1)、(2)式から、(3)式の関係が成り立つ。
1e9/2^34=0.058〔ppb/ratio−34bit〕…(3)
即ちDDS回路部36で処理した周波数は消え、ビット数のみの関係となる。
即ちDDS回路部36で処理した周波数は消え、ビット数のみの関係となる。
周波数差検出部3のDDS回路部36の出力信号は、鋸波に限ることなく、時間と共に信号値が増加、減少を繰り返す周波数信号であればよく、例えば正弦波であってもよい。また周波数差検出部3としては、f1とf2とをカウンタによりカウントし、そのカウント値の差分値からΔfrに相当する値を差し引いて、得られたカウント値に対応する値を出力するようにしてもよい。
以上の実施の形態では、第1の水晶振動子10及び第1の発振回路1は温度検出値を取り出す役割と水晶発振器の出力を作成する役割とを持っている。即ち発振回路1は温度検出のための発振回路と、水晶発振器の出力用の発振回路とを共用している。しかし本発明は、例えば水晶振動子を3個用意すると共に発振回路を3個用意し、例えば図1の構成において、第3の水晶振動子と当該水晶振動子に接続された第3の発振回路とを用意し、第3の発振回路の出力を水晶発振器の出力とし、残りの第1の発振回路及び第2の発振回路の発振出力を周波数差検出部に入力し温度検出値を得るようにしてもよい。この場合、OCXOとTCXOとを組み合わせたものとするならば、第3の発振回路の出力がDDS回路部201のクロック信号として使用されることになる。
以上の実施の形態では、第1の水晶振動子10及び第1の発振回路1は温度検出値を取り出す役割と水晶発振器の出力を作成する役割とを持っている。即ち発振回路1は温度検出のための発振回路と、水晶発振器の出力用の発振回路とを共用している。しかし本発明は、例えば水晶振動子を3個用意すると共に発振回路を3個用意し、例えば図1の構成において、第3の水晶振動子と当該水晶振動子に接続された第3の発振回路とを用意し、第3の発振回路の出力を水晶発振器の出力とし、残りの第1の発振回路及び第2の発振回路の発振出力を周波数差検出部に入力し温度検出値を得るようにしてもよい。この場合、OCXOとTCXOとを組み合わせたものとするならば、第3の発振回路の出力がDDS回路部201のクロック信号として使用されることになる。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012214196A JP5946737B2 (ja) | 2012-09-27 | 2012-09-27 | 発振装置 |
CN201310452048.1A CN103701461B (zh) | 2012-09-27 | 2013-09-25 | 振荡装置 |
TW102134832A TWI577129B (zh) | 2012-09-27 | 2013-09-26 | 振盪裝置 |
US14/037,400 US9019027B2 (en) | 2012-09-27 | 2013-09-26 | Oscillation device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012214196A JP5946737B2 (ja) | 2012-09-27 | 2012-09-27 | 発振装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014068316A JP2014068316A (ja) | 2014-04-17 |
JP2014068316A5 true JP2014068316A5 (ja) | 2015-08-20 |
JP5946737B2 JP5946737B2 (ja) | 2016-07-06 |
Family
ID=50338262
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012214196A Active JP5946737B2 (ja) | 2012-09-27 | 2012-09-27 | 発振装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9019027B2 (ja) |
JP (1) | JP5946737B2 (ja) |
CN (1) | CN103701461B (ja) |
TW (1) | TWI577129B (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB201200219D0 (en) * | 2012-01-09 | 2012-02-22 | Calder Martin | A clock signal generator for a digital circuit |
JP6089011B2 (ja) * | 2014-08-20 | 2017-03-01 | 日本電波工業株式会社 | 発振装置及び発振装置の製造方法 |
JP6564244B2 (ja) * | 2015-05-28 | 2019-08-21 | 日本電波工業株式会社 | 発振装置および発振装置の製造方法 |
JP6504561B2 (ja) * | 2015-06-10 | 2019-04-24 | セイコーNpc株式会社 | ディジタル温度電圧補償型発振器 |
JP6570915B2 (ja) * | 2015-08-06 | 2019-09-04 | セイコーNpc株式会社 | ディジタル温度電圧補償型発振器 |
JP6707366B2 (ja) * | 2016-02-19 | 2020-06-10 | 日本電波工業株式会社 | 発振装置 |
JP2017175203A (ja) * | 2016-03-18 | 2017-09-28 | セイコーエプソン株式会社 | 発振器、電子機器および移動体 |
JP7117119B2 (ja) * | 2018-03-26 | 2022-08-12 | 日本電波工業株式会社 | 発振装置 |
JP2020161921A (ja) | 2019-03-26 | 2020-10-01 | セイコーエプソン株式会社 | 発振回路、発振器、電子機器及び移動体 |
JP7326806B2 (ja) | 2019-03-26 | 2023-08-16 | セイコーエプソン株式会社 | 発振器、電子機器及び移動体 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4079280A (en) * | 1976-06-02 | 1978-03-14 | Hewlett-Packard Company | Quartz resonator cut to compensate for static and dynamic thermal transients |
JPH0468903A (ja) * | 1990-07-07 | 1992-03-04 | Asahi Denpa Kk | 温度検知機能を有する発振器および水晶発振素子並びに温度検出方法 |
US5214668A (en) * | 1990-09-28 | 1993-05-25 | Nec Corporation | Temperature detector and a temperature compensated oscillator using the temperature detector |
JP2001292030A (ja) | 2000-04-05 | 2001-10-19 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 水晶発振回路及び水晶共振子 |
JP4368219B2 (ja) * | 2004-02-20 | 2009-11-18 | 日本電波工業株式会社 | 水晶発振器、発振方法及びヒータ |
US7253694B2 (en) * | 2004-07-15 | 2007-08-07 | C-Mac Quartz Crystals, Limited | Temperature compensated oven controlled crystal oscillator |
US7541878B2 (en) * | 2005-12-29 | 2009-06-02 | Intel Corporation | Temperature compensated crystal oscillator |
JP4796414B2 (ja) * | 2006-03-14 | 2011-10-19 | 日本電波工業株式会社 | 水晶発振器 |
US7800457B2 (en) * | 2007-12-05 | 2010-09-21 | Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Self-calibrating temperature-compensated oscillator |
US8686799B2 (en) * | 2007-12-31 | 2014-04-01 | Texas Instruments Incorporated | Low noise wide range voltage-controlled oscillator with transistor feedback |
JP5782724B2 (ja) * | 2011-01-28 | 2015-09-24 | 日本電波工業株式会社 | 発振装置 |
TWI465032B (zh) * | 2011-01-28 | 2014-12-11 | Nihon Dempa Kogyo Co | 振盪裝置 |
TWI473418B (zh) * | 2011-02-28 | 2015-02-11 | Nihon Dempa Kogyo Co | 振盪裝置 |
JP5931628B2 (ja) | 2011-08-01 | 2016-06-08 | 日本電波工業株式会社 | 水晶発振器 |
US8729978B2 (en) * | 2011-08-01 | 2014-05-20 | Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. | Quartz-crystal controlled oscillator |
JP5863395B2 (ja) | 2011-11-02 | 2016-02-16 | 日本電波工業株式会社 | 発振器 |
-
2012
- 2012-09-27 JP JP2012214196A patent/JP5946737B2/ja active Active
-
2013
- 2013-09-25 CN CN201310452048.1A patent/CN103701461B/zh active Active
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- 2013-09-26 US US14/037,400 patent/US9019027B2/en active Active
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