JP2011020903A - 結晶製造方法および結晶製造装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】液相成長にて形成したGaN単結晶などのIII族元素窒化物結晶を原料液の中から短時間で取り出すことができる結晶製造方法および装置を提供する。
【解決手段】坩堝1を処理容器8内に入れる前、あるいは、入れた後に、処理容器8内に固体原料処理液9を流入させ、坩堝1内には、種基板2と、この種基板2上に生成された結晶基板3と、これらの種基板2および結晶基板3を覆った固体原料4とが収納された状態とし、坩堝1の底面7もしくは側面に少なくとも1つ以上の孔6を設けている。
【選択図】図2

Description

本発明は、結晶製造方法および結晶製造装置に関するものである。
化合物半導体、そのなかでも窒化ガリウム(GaN)などのIII族元素窒化物(以下、III族窒化物、III族窒化物半導体、またはGaN系半導体という場合がある)は、青色や紫外光を発光する半導体素子の材料として注目されている。青色レーザダイオード(LD)は高密度光ディスクやディスプレイなどに応用され、青色発光ダイオード(LED)はディスプレイや照明などに応用されている。また、紫外線LDはバイオテクノロジなどへの応用が期待され、紫外線LEDは蛍光灯の紫外線源として期待されている。
LDやLED用のIII族窒化物半導体(例えば、GaN)の基板は、通常、サファイア基板上に、気相エピタキシャル成長法を用いて、III族窒化物単結晶をヘテロエピタキシャル成長させることによって形成されている。気相成長方法としては、有機金属化学気相成長法(MOCVD法)、水素化物気相成長法(HVPE法)、分子線エピタキシー法(MBE法)などがある。
一方、気相エピタキシャル成長ではなく、液相で結晶成長を行う方法も検討されてきた。GaNやAlNなどのIII族窒化物単結晶の融点における窒素の平衡蒸気圧は1万気圧以上であるため、従来、窒化ガリウムを液相で育成させるためには1200℃で8000気圧(8000×1.01325×10Pa)の条件が必要とされてきた。これに対し、近年、Naなどのアルカリ金属を用いることで、750℃、50気圧(50×1.01325×10Pa)という比較的低温低圧でGaNを合成できることが明らかにされた。
最近では、アンモニアを含む窒素ガス雰囲気下においてGaとNaとの混合物を800℃、50気圧(50×1.01325×10Pa)で溶融させ、この融解液を用いて96時間の育成時間で、最大結晶サイズが1.2mm程度の単結晶が得られている(例えば、特許文献1参照)。
従来の液相成長によるIII族元素窒化物結晶製造装置を図6に示す。説明のため、GaN結晶を作製する場合を例に取る。13は原料ガスである窒素ガスを供給する原料ガス供給装置、14は結晶育成を行うための密閉性の結晶成長容器、15は原料ガス供給装置13と結晶成長容器14とを接続する接続配管、23は加熱手段を具備した育成炉である。接続配管15は、圧力調整器16、ストップバルブ17、リーク弁18、切り離し部分19を有している。育成炉23は、断熱材20とヒータ21とを備える電気炉として構成されており、熱電対22により温度管理され、全体を揺動可能である。
かかる構成の製造装置において、坩堝1内に、種基板2をセットする。この種基板2を、坩堝1の底面に平行な向きに配置する。また、原料である金属ガリウムとNaとを所定の量だけ秤量し、坩堝1内にセットする。
そして坩堝1を結晶成長容器15に挿入し、さらにこの結晶成長容器14を、育成炉23内にセットし、接続パイプ15を介して原料ガス供給装置に接続させて、育成温度850℃、窒素雰囲気圧力50気圧(50×1.01325×10Pa)とし、Ga/Na融解液(以下、原料液という)に窒素ガスを溶解させて、種基板2の上にGaN単結晶の育成を行う。
作製されたGaN単結晶は、固化した原料液とともに坩堝の中にあるので、この状態からGaN単結晶を取り出さなければならない。
図7から図8に、図6の製造装置で製造したGaN単結晶の取り出し方法を示す。室温で坩堝1を結晶成長容器14から取り出した状態では、原料液は固体状態の固体原料4となっており、そのままでは種基板2の上に成長させたGaN単結晶を取り出すことが出来ない。そこで、図7に示すように固体原料処理液9が満たされている処理容器8に坩堝1を入れ、固体原料処理液9と固体原料4を化学反応させることにより固体原料4を上面より溶かしていく。ここで、原料としてGa/Na処理液を使用する場合は、固体原料処理液9としてエタノールを使用することにより、反応気体10として水素を発生させながら、固体原料4を溶かすことが可能となる。
また、原料液は坩堝1の底面と種基板2との間に入り込んでおり、薄い層状に固体原料4が存在している。図8に示すように、GaN単結晶より上側の固体原料4が処理されたあとは、種基板2の外周側から固体原料処理液9が回り込み、坩堝1の底面とGaN単結晶2の間に存在する固体原料4を溶かしていく。そして、固体原料4が全て処理されるとGaN単結晶2と坩堝1が分離され、GaN単結晶2を坩堝1から取り出すことが可能となる。
特開2002−293696号公報
しかしながら、前記従来の構成では、坩堝からGaN単結晶を除去する際、固化した固体原料をエタノールなどの固体原料処理液で処理して取り除くため、坩堝の底部にGaN単結晶があるために長時間を要していた。特に、種基板の下方底面に形成された種基板と坩堝内底面との隙間に形成された固体原料は、種基板の下方底面全体が坩堝の内底面に当接した状態になっているので、固体原料処理液が接する固体原料の表面範囲がこの隙間の垂直方向の狭い範囲に限られるため、処理に時間がかかってしまう。さらには、坩堝の内底面に当接した固体原料の面積が大きいので、この範囲の固体原料を溶解するのに数日かかってしまっていて、生産性が悪いという問題があった。
本発明は、前記従来の課題を解決するもので、結晶を固体原料から短時間で取り出すことができる生産性が高い結晶製造方法およびその装置を提供することを目的とする。
そしてこの目的を達成するために本発明は、坩堝を処理容器内に入れる前、あるいは、入れた後に、前記処理容器内に固体原料処理液を流入させ、前記坩堝内には、種基板と、この種基板上に生成された結晶基板と、これらの種基板および結晶基板を覆った固体原料とが収納された状態とし、前記坩堝の底面もしくは側面に少なくとも1つ以上の孔を設けた状態にした。
これにより所期の目的を達成するものである。
以上のように本発明は、坩堝を処理容器内に入れる前、あるいは、入れた後に、前記処理容器内に固体原料処理液を流入させ、前記坩堝内には、種基板と、この種基板上に生成された結晶基板と、これらの種基板および結晶基板を覆った固体原料とが収納された状態とし、前記坩堝の底面もしくは側面に少なくとも1つ以上の孔を設けた状態にしたものであるので、生産性を高くすることができるものである。
すなわち、坩堝の底面もしくは底面に少なくとも1つ以上の孔が設けられているので、孔からも固体原料処理液を流入できるので、固体原料処理液が固体原料に接する範囲が広くなり、固体原料を速く溶解させることができる。
しかも、底面に孔を開けた場合は、最も時間がかかる種基板と坩堝内底面の間に存在する固体原料を、初期から溶解可能であるので、数時間で種基板を取り出すことが出来るようになり、生産性を高くすることができるのである。
実施の形態1の結晶製造装置の一部の断面図 実施の形態1の結晶製造装置を用いた初期の固体原料処理工程図 実施の形態1の坩堝固定台の斜面・断面図 実施の形態1の結晶製造装置を用いた後期の固体原料処理工程図 実施の形態2の結晶製造装置の一部の断面図 一般的なIII族窒化物単結晶製造方法を行う装置の概略構成断面図 従来の初期の固体原料処理工程図 従来の後期の固体原料処理工程図
以下に本発明の物結晶製造方法および装置の実施の形態を図面とともに詳細に説明する。
(実施の形態1)
図1に、本発明の実施の形態における結晶製造装置の一部を示す。図1に示すように、アルミナ等の耐熱材料で作成されたカップ状の坩堝1と、同様に耐熱材料で作成された種基板位置決め冶具5と、表面に窒化物結晶を成長させる種基板2で構成されている。坩堝1の坩堝内底面7に種基板位置決め冶具5を設置し、種基板位置決め冶具5によって種基板2を坩堝内底面7の所定の位置に保持している。
次に、結晶の製造方法を説明する。まず、図1に示す坩堝1に原料である結晶元素材料(例えば、ガリウム、アルミニウム、インジウム)とアルカリ金属(例えば、リチウム、ナトリウム、カリウム)またはアルカリ土類金属(例えば、カルシウム、ストロンチウム、バリウム、ラジウム、ベリリウム、マグネシウム)を供給する。これらアルカリ金属およびアルカリ土類金属は、1種類を単独で用いてもよいし、2種類以上を併用してもよい。結晶元素材料およびアルカリ金属の秤量や取り扱いは、アルカリ金属の酸化や水分吸着を回避するために、窒素ガスやアルゴンガスやネオンガスなどで置換されたグローブボックス中で行うことが好ましい。
次に、図8に示す結晶成長容器14に坩堝1挿入し、密閉状態でグローブボックスから取り出し、結晶成長容器14を育成炉23内に固定する。その後、結晶成長容器14と接続管15を接続し、ストップバルブ17を開放して、原料ガス供給装置13から結晶成長容器14に原料ガスを注入する。
そして、熱電対22や圧力調整器16によって、育成炉23の温度および育成雰囲気の圧力を制御しながら加圧・加熱を行う。なお、結晶を生成するための原料の溶融および育成の条件は、原料である結晶材料やアルカリ金属の成分、および原料ガスの成分およびその圧力に依存するが、例えば、温度は700℃〜1100℃、好ましくは700℃〜900℃の低温が用いられる。圧力は20気圧(20×1.01325×105Pa)以上、好ましくは30気圧(5×1.01325×105Pa)〜100気圧(100×1.01325×105Pa)が用いられる。
このように、育成温度に昇温することにより、坩堝1内で、結晶元素材料/アルカリ金属の融解液、つまり原料液が形成され、この原料液中に原料ガスが溶け込み、結晶元素材料と原料ガスとが反応して、種基板2の上に結晶基板が育成される。
所定の時間が経過してIII族元素窒化物単結晶の育成が終了した後に、育成炉23を常圧・常温に戻し、結晶成長容器14と接続管15を取り外し、育成炉23から結晶成長容器14を取り出す。さらに、結晶成長容器23から坩堝1を取り出す。
ここで図2に示す、結晶成長後の坩堝1内の原料液中には結晶元素材料は5〜30%程度しか残存せず、殆どがアルカリ金属である。また、原料液は常温では固体原料4として存在し、結晶基板3が一体に形成された種基板2や種基板位置決め冶具5を覆っている。この坩堝1の側面や底面を、ドリルなどを用いて坩堝孔6を開ける。このとき、種基板位置決め冶具5で種基板2を位置決めしているので、種基板2や結晶基板3の坩堝内での位置が把握でき、坩堝孔6を開けるときに誤って種基板2や結晶基板3を傷つける恐れが無い。特に、種基板位置決め冶具5によって坩堝内底面7の中心部に種基板2を位置決めすると、坩堝側面のどの位置にドリルで孔を開けても、坩堝内周面と種基板外周との隙間の寸法を考慮して、ドリルの移動量を制御さえすればよい。また、坩堝内底面にドリルで孔を開ける場合は、種基板位置決め冶具5の位置に孔を開ければよい。
次に、結晶基板3が一体に形成された種基板2を取り出すために固体原料4の処理を行う。切断した坩堝1を処理容器8に設置した坩堝固定台11に固定し、水酸基(-OH)を含む任意の固体原料処理液9、たとえばエタノール、メタノール、イソプロピルアルコールなどのアルコール類や水などを注入する。固体原料4を固体原料処理液9に浸漬させることで、処理液中に溶解する金属アルコキシド(水を用いる場合は金属水酸化物)と反応気体10である水素を生成させて、固体原料4を処理する。坩堝1に坩堝孔6を形成しているため、固体原料4の上面だけでなく、坩堝孔6の部分でも固体原料処理液8と接するため、処理時間の短縮が可能となる。
図2に示すように、処理容器8の内底面に対して前記坩堝を支持する坩堝固定台11を備えており、この坩堝固定台11は、所定間隔離して配置した複数の支持部を有している。
これら坩堝固定台11の支持部は、坩堝固定台11を部分的に切断して形成することもできるし、また、坩堝固定台11を複数に分割して形成することもできる。
より具体的には、図3に一部が切断されている坩堝固定台11を示す。この切断部から、坩堝内底面7に形成された坩堝孔6に固体原料処理液9を供給する事が可能となっている。図3では1部品で坩堝固定台11を形成しているが、複数個の坩堝固定台11を使用しても、それぞれの坩堝固定台11の支持部間から、坩堝内底面7に形成された坩堝孔6に固体原料処理液9を供給する事が可能である。
固体原料4の処理が進むと、図4に示すように種基板2と種基板支持台3の間の隙間に固体原料4が残るが、坩堝内底面7に坩堝孔6を形成した場合、処理開始直後から隙間の固体原料4に固体原料処理液9が浸漬するので、処理時間の更なる短縮が可能となる。
固体原料4の処理が完全に終了すると、結晶基板3が一体に形成された種基板2と坩堝1及び種基板支持台4は分離されているので、結晶基板10及び種基板2を坩堝1から取り出すことが可能となる。
内径90mmの坩堝1に直径50mmの種基板2を入れて、原料としてガリウムとナトリウムを使用してGaN単結晶を育成し、固体原料4の上面と結晶基板10上面の距離が10mmである固体原料4をエタノール処理する実験を行った。従来例では種基板2や結晶基板10の周りの固体原料4を処理する時間(図7から図8になる時間)が4時間、坩堝内底面7と種基板2との隙間に存在する固体原料4を処理するのに50時間ほどかかる。それに対し本実施例では、坩堝側面と坩堝内底面にそれぞれ直径10mmの坩堝孔6を4ヶ所形成した場合、種基板2周りの固体原料4を処理する時間(図2から図4になる時間)が3時間、坩堝1の底面15と種基板支持台3との隙間に存在する固体原料4を処理するのに30時間程度で可能となり、大幅な時間短縮が可能となった。
(実施の形態2)
本発明の実施の形態2の結晶製造装置を、図5に示す。図5において、実施の形態1の構成と異なる所は、坩堝1の坩堝内底面7を加工して、種基板位置決め部12を坩堝1と一体で形成された点である。このように、種基板位置決め部12を坩堝1と一体形成して、種基板位置決め冶具を無くしても、実施の形態1と同様の効果が得られ、結晶基板3や種基板2を短時間で取り出す事ができる。さらには、坩堝と一体形成されているので、部品点数を減少でき、生産性を高くする事ができる。
本発明にかかる結晶製造方法及び装置は、液相成長にて形成したGaN単結晶などのIII族元素窒化物結晶を原料液の中から短時間で取り出すことに効果を有し、青色レーザーダイオードや青色発光ダイオードなどに使用される半導体素子の基板製造に有用である。
1 坩堝
2 種基板
3 結晶基板
4 固体原料
5 種基板位置決め冶具
6 坩堝孔
7 坩堝内底面
8 処理容器
9 固体原料処理液
10 反応気体
11 坩堝固定台
12 種基板位置決め部
13 原料ガス供給装置
14 結晶成長容器
15 接続管
16 圧力調整器
17 ストップバルブ
18 リーク弁
19 切り離し部
20 断熱材
21 ヒータ
22 熱伝対
23 育成炉

Claims (8)

  1. 坩堝内で育成された結晶基板を固体原料から取り出す結晶の製造方法であって、
    坩堝を処理容器内に入れる前、あるいは、入れた後に、前記処理容器内に固体原料処理液を流入させ、前記坩堝内には、種基板と、この種基板上に生成された結晶基板と、これらの種基板および結晶基板を覆った固体原料とが収納された状態とし、前記坩堝の底面もしくは側面に少なくとも1つ以上の孔を設けた結晶製造方法。
  2. 前記処理容器の内底面に対して前記坩堝を支持する坩堝固定台を備え、この坩堝固定台は、
    所定間隔離して配置した複数の支持部を有する請求項1に記載の結晶製造方法。
  3. 前記坩堝固定台の支持部は、坩堝固定台を部分的に切断して形成した請求項2に記載の結晶製造方法。
  4. 前記坩堝固定台の支持部は、坩堝固定台を複数に分割して形成した請求項2に記載の結晶製造方法。
  5. 前記種基板は、種基板位置決め冶具によって位置決めされている請求項1に記載の結晶製造方法。
  6. 前記種基板は、前記坩堝内底面形成された種基板位置決め部によって位置決めされている請求項1に記載の結晶製造方法。
  7. 種基板を窒化ガリウム基板とした請求項1〜6のいずれか一つに記載の結晶製造方法。
  8. 請求項1〜7の結晶基板の製造方法に用いる結晶基板の製造装置であって、前記処理容器台と、前記処理容器内に前記固体原料処理液を流入させるための流入手段と、前記坩堝内の前記固体原料を前記固体原料処理液で溶解させた後に、前記処理容器内から前記結晶基板と前記種基板を取り出す取り出し手段と、を備えた結晶製造装置。
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Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04300284A (ja) * 1991-03-27 1992-10-23 Mitsubishi Electric Corp 液相エピタキシャル成長装置
JP2005263622A (ja) * 2004-02-19 2005-09-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd 化合物単結晶の製造方法、およびそれに用いる製造装置
JP2006131454A (ja) * 2004-11-05 2006-05-25 Ngk Insulators Ltd Iii属窒化物単結晶およびその製造方法
WO2007094126A1 (ja) * 2006-02-13 2007-08-23 Ngk Insulators, Ltd. フラックスからナトリウム金属を回収する方法
JP2008297153A (ja) * 2007-05-30 2008-12-11 Toyoda Gosei Co Ltd Iii族窒化物半導体製造装置、およびiii族窒化物半導体の製造方法
JP2009007207A (ja) * 2007-06-28 2009-01-15 Sharp Corp 結晶成長方法、および結晶成長装置
JP2009062231A (ja) * 2007-09-06 2009-03-26 Sharp Corp 結晶成長方法、結晶成長装置、積層型結晶成長装置およびこれらによって製造された結晶薄膜を有する半導体デバイス。
WO2009041053A1 (ja) * 2007-09-28 2009-04-02 Panasonic Corporation Iii族元素窒化物の結晶の製造方法および製造装置
JP2010285306A (ja) * 2009-06-10 2010-12-24 Panasonic Corp 結晶製造方法および結晶製造装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04300284A (ja) * 1991-03-27 1992-10-23 Mitsubishi Electric Corp 液相エピタキシャル成長装置
JP2005263622A (ja) * 2004-02-19 2005-09-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd 化合物単結晶の製造方法、およびそれに用いる製造装置
JP2006131454A (ja) * 2004-11-05 2006-05-25 Ngk Insulators Ltd Iii属窒化物単結晶およびその製造方法
WO2007094126A1 (ja) * 2006-02-13 2007-08-23 Ngk Insulators, Ltd. フラックスからナトリウム金属を回収する方法
JP2008297153A (ja) * 2007-05-30 2008-12-11 Toyoda Gosei Co Ltd Iii族窒化物半導体製造装置、およびiii族窒化物半導体の製造方法
JP2009007207A (ja) * 2007-06-28 2009-01-15 Sharp Corp 結晶成長方法、および結晶成長装置
JP2009062231A (ja) * 2007-09-06 2009-03-26 Sharp Corp 結晶成長方法、結晶成長装置、積層型結晶成長装置およびこれらによって製造された結晶薄膜を有する半導体デバイス。
WO2009041053A1 (ja) * 2007-09-28 2009-04-02 Panasonic Corporation Iii族元素窒化物の結晶の製造方法および製造装置
JP2010285306A (ja) * 2009-06-10 2010-12-24 Panasonic Corp 結晶製造方法および結晶製造装置

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