JP2011014527A5 - - Google Patents

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図5は、タッチセンサ用IC1のレイアウトを示す図である。図5において、タッチセンサ用IC1は、半導体基板20を含む。半導体基板20の表面は、アナログ領域20aとディジタル領域20bに2分割されている。図5では、半導体基板20の四角形の表面のうち、四角形の3辺に沿ったコの字型の領域がアナログ領域20aにされ、残りの四角形の領域がディジタル領域20bにされている。アナログ領域20aにはIC1のアナログ回路部が配置され、ディジタル領域20bにはIC1のディジタル回路部が配置される。
<第2の実施の形態>
図3(a)〜(c)では、HiZで示す期間、すなわちドライバ2〜4の出力ノードをHiZ状態にして電圧VOを測定する計測期間において、電圧VOが一定レベルである状態が示されている。しかしながら、この計測期間にノイズが発生すると電圧VOが変動するため、誤った計測結果が得られる場合がある。
図7は、本発明の第2の実施の形態に係るタッチセンサがタッチ検出を行なう際の動作手順を定めたフローチャートである。図8は、本発明の第の実施の形態に係るタッチセンサの電圧判定動作を示す波形図である。図8は、外部端子TA2,TA3の電圧レベルを示している。図9(a)(b)は、本発明の第2の実施の形態に係る制御回路におけるプライマリカウンタ21およびセカンダリカウンタ22のカウント動作を示す図である。
図16(a)(b)は、本発明の第4の実施の形態に係るタッチセンサにおける制御回路5による計測動作の一例を示す図である。図16(a)(b)では、制御回路5がMain計測動作を行なうに際し、そのMain計測動作を行なうタイミングを変化させるために、クロック遅延選択回路DLYが16個の遅延素子を含む場合を示している。
その他の構成および動作は第の実施の形態に係るタッチセンサと同様であるため、ここでは詳細な説明を繰り返さない。
図20(a)(b)は、本発明の第の実施の形態に係るタッチセンサにおける制御回路5による計測動作の一例を示す図である。
図24(a)(b)は、本発明の第1の実施の形態に係るタッチセンサにおける制御回路による計測動作の一例を示す図である。
<第17の実施の形態>
本実施の形態は、第2の実施の形態〜第6の実施の形態に係るタッチセンサにおける各種タッチ検出方法の少なくとも2つを組み合わせたタッチセンサに関する。以下で説明する内容以外は第の実施の形態に係るタッチセンサと同様である。
<第20の実施の形態>
本実施の形態は、第2の実施の形態〜第6の実施の形態に係るタッチセンサにおける各種タッチ検出方法の少なくとも2つを組み合わせたタッチセンサに関する。以下で説明する内容以外は第の実施の形態に係るタッチセンサと同様である。
そして、タッチセンサ用IC51は、コンデンサCr1,CX11の充電電荷を放電する放電動作と、コンデンサCc1の充電電荷の一部をコンデンサCr1,CX11に分配する分配動作とを交互に行ない、タッチセンサ用IC51と同様の方法により、タッチ電極EL11への人体の接触の有無を判別するか、若しくは判別するためのデータを生成し、判別結果を示す信号若しくは判別するためのデータが生成されたことを示す信号をマイクロコンピュータ9に出力する。
制御回路5は、残りのタッチ電極EL2およびEL3を1つずつ順次選択し、タッチ電極EL1と同様にして、各タッチ電極ELへの人体の接触の有無を判別する。制御回路5は、各タッチ電極ELへの人体の接触の有無を示す信号をマイクロコンピュータ9に出力する。なお、タッチ電極EL12およびEL13の周辺回路は、タッチ電極EL11の周辺回路における抵抗素子およびコンデンサを共通化したものであり、外部端子TA12およびTA13のレベル判定方法は上記の外部端子TA11のレベル判定方法と同様であるため、ここでは詳細な説明を繰り返さない。
その他の構成および動作は第の実施の形態に係るタッチセンサと同様であるため、ここでは詳細な説明を繰り返さない。

Claims (1)

  1. 前記充放電回路は、前記充電動作を行なった後に前記放電動作と前記分配動作を交互に行ない、
    さらに、前記分配動作が開始されてから次の前記放電動作が開始されるまでの間の計測期間において、前記所定のノードの電圧と前記予め定められたしきい値電圧を互いに異なるタイミングでN回(ただし、Nは2以上の整数である)比較し、N回の比較結果に基づいて前記選択されたタッチ電極への人体の接触の有無を示す信号を生成する検出回路を備える、請求項13または請求項14に記載のタッチセンサ。
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